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半導体寿命

半導体寿命は全部で 6 項標準に関連している。

半導体寿命 国際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、 半導体ディスクリートデバイス。

IN-BIS, 半導体寿命

• IS 7412-1974 半導体デバイスの寿命試験

JP-JEITA, 半導体寿命

• JEITA EDR-4704A-2007 半導体デバイスの加速寿命試験アプリケーションガイド

Group Standards of the People's Republic of China, 半導体寿命

• T/ZAQ 10113-2022 半導体デバイス断続寿命試験装置

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 半導体寿命

• JEDEC JESD74A-2007 半導体デバイスの初期故障価格計算プログラム

British Standards Institution (BSI), 半導体寿命

• PD IEC TR 62240-2:2018 アビオニクス機器のプロセス管理 電子部品の運用能力 半導体微細回路の寿命

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体寿命

• DB61/T 1448-2021 高出力半導体ディスクリートデバイスの間欠寿命試験手順

その他：   デザインライフ, サイクル寿命, 蛍光寿命, 寿命の延長, 寿命を延ばす, スイッチの寿命, キャリアの寿命, 膜寿命, 機器の寿命, 半導体寿命, ライフサイクル, 機器の寿命, 動物の寿命, バルブ寿命, エイアの寿命, 集中生活, 寿命試験, 生涯イメージング, 生涯イメージング, 試験寿命.