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半导体 寿命
本专题涉及半导体 寿命的标准有7条。
国际标准分类中，半导体 寿命涉及到长度和角度测量、半导体分立器件。
在中国标准分类中，半导体 寿命涉及到半导体分立器件综合、、半导体整流器件。
IN-BIS，关于半导体 寿命的标准
- IS 7412-1974 半导体器件的寿命测试
JP-JEITA，关于半导体 寿命的标准
- JEITA EDR-4704A-2007 半导体器件用加速寿命试验的应用指南
中国团体标准，关于半导体 寿命的标准
- T/ZAQ 10113-2022 半导体器件间歇工作寿命试验设备
- T/ZZB Q063-2022 半导体器件间歇工作寿命试验设备
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于半导体 寿命的标准
- JEDEC JESD74A-2007 半导体器件的早期寿命故障运价计算程序
英国标准学会，关于半导体 寿命的标准
- PD IEC TR 62240-2:2018 航空电子设备的流程管理 电子元件运行能力 半导体微电路寿命
陕西省标准，关于半导体 寿命的标准
- DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
