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光学測定システム

光学測定システムは全部で 19 項標準に関連している。

光学測定システム 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、 光学機器、 長さと角度の測定、 金属材料試験、 放射線測定。

Group Standards of the People's Republic of China, 光学測定システム

• T/ZS 0110-2020 構造幾何パラメータ光学測定システム

German Institute for Standardization, 光学測定システム

• DIN ISO 10109-7:2002 光学および光学機器 環境要件 パート 7: 光学測定システムのテスト要件 (ISO 10109-7:2001)
• DIN EN ISO 16808:2022-08 光学測定システムによる膨張試験による金属材料シートおよびストリップの二軸応力-ひずみ曲線の測定
• DIN EN ISO 16808:2014 金属材料 薄いシートおよびストリップ 光学測定システムによる拡張試験法を使用した二軸応力-ひずみ曲線の測定 (ISO 16808-2014)、ドイツ語版 EN ISO 16808-2014

Association of German Mechanical Engineers, 光学測定システム

• VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 光学式3D測定システム エリアスキャンベースの光学系
• VDI/VDE 2634 Blatt 1-2002 光学式3D測定システム 点ごとの検出を備えたイメージングシステム
• VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 光学式3D測定システム エリアスキャンによるマルチビューシステム
• VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 光学式三次元測定システム エリアスキャンベースの光学系

ES-UNE, 光学測定システム

• UNE-EN ISO 16808:2023 光学測定システムによる膨張試験による金属材料シートおよびストリップの二軸応力-ひずみ曲線の測定

International Organization for Standardization (ISO), 光学測定システム

• ISO 16808:2022 金属材料、シートおよびストリップ、光学測定システムによる膨張試験による二軸応力-ひずみ曲線の決定。
• ISO 16808:2014 金属材料 薄いシートおよびストリップ 光学測定システムによる膨張試験法を使用した二軸応力-ひずみ曲線の決定

British Standards Institution (BSI), 光学測定システム

• BS EN ISO 16808:2022 光学測定システムを使用したバルジ試験による金属材料シートおよびストリップの二軸応力-ひずみ曲線の測定
• BS EN ISO 16808:2014 金属材料 薄いシートおよびストリップ 光学測定システムによる膨張試験法を使用した二軸応力-ひずみ曲線の決定

European Committee for Standardization (CEN), 光学測定システム

• EN ISO 16808:2022 金属材料、薄板および薄片、光学測定システムの双方向応力-ひずみ曲線の決定および拡張試験方法
• EN ISO 16808:2014 金属材料、薄板および薄片、光学測定システムの双方向応力-ひずみ曲線の決定および拡張試験方法 (ISO 16808:2014)

Association Francaise de Normalisation, 光学測定システム

• NF A03-005*NF EN ISO 16808:2014 光学測定システムによる膨張試験法を使用した、金属材料の薄板およびストリップの二軸応力-ひずみ曲線の測定

AENOR, 光学測定システム

• UNE-EN ISO 16808:2015 光学測定システムを使用したバンプテストによる金属材料のシートおよびストリップの二軸応力-ひずみ曲線の決定 (ISO 16808:2014)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 光学測定システム

• JIS Z 4339:2004 光刺激発光線量測定システム

RO-ASRO, 光学測定システム

• STAS SR ISO 8624:1993 光学および光学機器。 眼鏡の光学系。 メガネフレーム測定システム

その他：   光学イメージングシステム, ビーム光学系, 光学測定, 光学測定システムおよび光学イメージング システム, 光学測定システム, 光学式検出システム, 光学測定システム, 航空光学系の光学測定, 光学系, 光学系の構成, 非接触光学測定システム, 電子光学系, 光学系測定, レーザー光学系, システム光学系, 光学検査システム, 光学系機能, 光学補正システム, 光学システムの信号対雑音比, 光学的に薄いシステム.