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光学系

光学系は全部で 225 項標準に関連している。

光学系 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、 光学機器、 通信システム、 語彙、 長さと角度の測定、 電子管、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 半導体ディスクリートデバイス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光ファイバー通信、 写真撮影のスキル、 船内機器および計器類、 電気工学総合、 計測学と測定の総合、 製図、 鉄道・ロープウェイ建設・保守用機器、 無線通信、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 医療機器、 文字セットとメッセージエンコーディング、 娯楽機器。

Association of German Mechanical Engineers, 光学系

• VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015 光線光学系回折格子
• VDI/VDE 5575 Blatt 6-2011 光線光学系反射テープ板
• VDI/VDE 5575 Blatt 5-2011 光線光学系透過ゾーンプレート
• VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 光線光学系モノクロメーター結晶
• VDI/VDE 5575 Blatt 1-2009 光線光学系の用語と定義
• VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 光学式3D測定システム エリアスキャンベースの光学系
• VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015 光線光学系の測定方法 X線光学系の評価装置および評価方法
• VDI/VDE 5575 Blatt 9-2012 光線光学系 X線フィルター
• VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 光学式三次元測定システム エリアスキャンベースの光学系
• VDI/VDE 5575 Blatt 7-2011 光線光学系屈折X線レンズ
• VDI/VDE 5575 Blatt 3-2011 光線光学システム キャピラリ X 線レンズ
• VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 光線光学系 X線ミラー 全反射ミラーおよび多層膜ミラー

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光学系

• GB/T 10988-2009 光学系迷光測定方法
• GB/T 10987-2009 光学システム、パラメータの決定
• GB/T 11168-2009 光学系画質試験方法
• GB/T 27667-2011 光学系の画質評価、ディストーションの判定
• GB/T 22057.2-2008 顕微鏡. 機械的基準面に対する結像距離. パート 2: 無限遠補正光学系
• GB/T 20151-2006 Photometry.CIE 物理測光システム
• GB/T 18904.2-2002 半導体デバイス パート 12-2; 光電子デバイス用ピグテール レーザー ダイオード モジュールの空白の詳細仕様 光ファイバー システムまたはサブシステム

British Standards Institution (BSI), 光学系

• BS ISO 9039:2007 光学およびフォトニクス、光学システムの品質評価、歪みの測定
• BS ISO 9039:2008 光学およびフォトニクス光学システムの品質評価歪み測定
• PD ISO/TR 16743:2013 光学システムおよび光学コンポーネントの特性を評価するための光学およびフォトニクス波面センサー
• PD ISO/TR 14999-2:2019 光学およびフォトニクスにおける光学部品および光学システムの干渉法測定および評価技術
• PD ISO/TR 14999-1:2005 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよび光学システムの干渉計の用語、定義、および基本的な関係
• BS ISO 15795:2002 光学および光学機器 光学系の品質評価 色収差による画質劣化の評価
• BS EN 4533-002:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、試験および測定
• BS ISO 20954-1:2019 デジタルカメラ光学系の手ぶれ補正性能の測定方法
• BS EN 4533-001:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、ハンドブック、端末の方法とツール
• BS EN 4533-004:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、修理・保守・点検
• BS ISO 14999-4:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 ISO 10110 で指定された公差の解説と評価
• BS ISO 14999-4:2015 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉計 ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
• 19/30382650 DC BS EN IEC 60728-115 放送信号伝送用屋内光システム (TA 5)
• 20/30414818 DC BS EN IEC 60728-115 放送信号伝送用屋内光システム (TA 5)
• PD ISO/TR 14999-3:2005 光学およびフォトニクスの干渉計 光学部品および光学システム 干渉計テスト機器および測定の校正および検証
• BS EN 4533-003:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、航行灯および機器の使用。
• BS ISO 9345-2:2014 顕微鏡、機械的基準面に対する結像距離、無限遠補正光学システム
• BS ISO 10110-1:2006 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの描画の準備 一般原則
• BS ISO 10110-1:2019 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよびシステムの図面作成の概要
• BS ISO 10110-7:2008 光学およびフォトニクス、光学コンポーネントおよびシステムの図面、表面欠陥公差
• BS ISO 10110-12:2019 光学およびフォトニクス用の光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成
• BS ISO 14132-3:2014 光学とフォトニクス、望遠鏡システムの用語、スコープの用語
• BS ISO 14132-3:2021 光学およびフォトニクス望遠鏡システムの用語集 範囲の用語
• BS ISO 10110-12:2008 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 非球面
• BS ISO 10110-12:2007+A1:2013 光学およびフォトニクス、光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成、非球面
• BS ISO 10110-8:2019 光学コンポーネントおよび光学およびフォトニクスにおけるシステム図面の表面テクスチャの準備
• BS EN 60728-13:2010 テレビ信号、音声信号、双方向サービス用のケーブル ネットワーク、放送信号伝送用の光システム
• BS ISO 10110-5:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの製図の準備 表面形状公差
• BS ISO 14490-5:2021 光学およびフォトニック望遠鏡システムの試験方法 透過率試験方法
• BS ISO 14490-8:2011 光学および光学機器 システムテスト方法 暗視装置テスト方法

SAE - SAE International, 光学系

• SAE J1757-2-2018 標準車載光学系HUD

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 光学系

• KS B ISO 9039:2018 光学およびフォトニクス - 光学システムの品質評価 - 歪みの測定
• KS B ISO 21094:2011 光学とフォトニクス、フォトニクス システム、暗視装置の仕様
• KS B ISO 9039:2013 光学および光学機器、光学システムの品質評価、たわみ測定
• KS B ISO 9039:2003 光学および光学機器、光学システムの品質評価、たわみ測定
• KS B ISO 15795:2011 光学およびフォトニクス 光学システムの品質評価 色位相差による画質劣化の評価
• KS B ISO 15795-2011(2016) 光学およびフォトニクスにおける光学システムの品質評価色収差による画質劣化の評価
• KS B ISO 15795-2011(2021) 光学およびフォトニクス 光学システムの品質評価 色収差による画質劣化の評価
• KS B ISO TR 14999-2-2011(2021) 光学およびフォトニクスにおける光学部品および光学システムの干渉計測パート 2: 測定および評価技術
• KS B ISO TR 14999-2-2011(2016) 光学およびフォトニクスにおける光学部品および光学システムの干渉法 第 2 部: 測定および評価技術
• KS B ISO TR 14999-1-2011(2021) 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよび光学システムの干渉法パート 1: 用語、定義、および基本的な関係
• KS B ISO TR 14999-1-2011(2016) 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよび光学システムの干渉法パート 1: 用語、定義、および基本的な関係
• KS B ISO 14999-4-2016(2021) 光学およびフォトニクス - 光学素子および光学システムの干渉法 - パート 4: KS B ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
• KS B ISO 14999-4:2011 光学およびフォトニクス 光学素子および光学システムの干渉測定 パート 4: KS B ISO 10110 で指定された公差のコメントと評価
• KS B ISO 14999-4:2016 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定パート 4: KS B ISO 10110 で指定された公差のコメントと評価
• KS B ISO 9345-2-2016(2021) 光学および光学機器 顕微鏡: 機械的基準に関連する結像距離 パート 2: 無限に補正された光学システム
• KS B ISO 10110-1:2017 光学とフォトニクス - 光学コンポーネントとシステムの図面の準備パート 1: 概要
• KS B ISO 10110-1-2017(2022) 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 パート 1: 一般原則
• KS B ISO 21094-2011(2021) 光学およびフォトニクス望遠鏡システム用暗視装置の仕様
• KS B ISO 21094-2011(2016) 光学およびフォトニクス望遠鏡システム用暗視装置の仕様
• KS B ISO 10110-12:2018 光学とフォトニクス 光学素子とシステム図の作成 パート 12: 非球面
• KS B ISO 14132-3:2019 光学およびフォトニクス - 望遠鏡システム用語集 - パート 3: 望遠鏡照準の用語

KR-KS, 光学系

• KS B ISO 9039-2018 光学およびフォトニクス - 光学システムの品質評価 - 歪みの測定
• KS B ISO 9039-2023 光学およびフォトニクス光学システムの品質評価 歪みの測定
• KS B ISO 15795-2023 光学および光学機器 光学系の品質評価 色収差による画質劣化の評価
• KS B ISO 14999-4-2016 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよび光学システムの干渉法パート 4: KS B ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
• KS B ISO 9345-2-2023 顕微鏡 機械基準に関連した結像距離 パート 2: 無限に正しい光学システム
• KS B ISO 9345-2-2016 光学および光学機器 顕微鏡: 機械的基準に関連する結像距離 パート 2: 無限に補正された光学システム
• KS B ISO 10110-12-2023 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの描画 パート 12: 非球面
• KS B ISO 10110-1-2017 光学とフォトニクス - 光学コンポーネントとシステムの図面の準備パート 1: 概要
• KS B ISO 10110-11-2023 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面 パート 11: 非公差データ
• KS B ISO 10110-12-2018 光学とフォトニクス 光学素子とシステム図の作成 パート 12: 非球面
• KS B ISO 10110-5-2023 光学部品およびシステムの光学およびフォトニクス図面パート 5: 表面形状公差
• KS B ISO 10110-10-2023 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面パート 10: 光学コンポーネントおよび接着アセンブリ データシート
• KS B ISO 14132-3-2019 光学およびフォトニクス - 望遠鏡システム用語集 - パート 3: 望遠鏡照準の用語

German Institute for Standardization, 光学系

• DIN ISO 9039:2008-08 光学およびフォトニクスにおける光学システムの品質評価 歪みの測定
• DIN 58186:1982 光学系の品質評価、グレアの判定
• DIN ISO 15795:2008-04 光学およびフォトニクスにおける光学システムの品質評価色収差による画質劣化の評価
• DIN 58172-1:2007 光学システムのテスト パート 1: 対称性のずれ
• DIN 58172-1:2007-07 光学システムのテスト パート 1: 対称性のずれ
• DIN ISO 15795:2008 光学およびフォトニクス 光学システムの品質評価 色収差による画質劣化の評価
• DIN 58170-54:1980 光学系の寸法と公差の説明 パート 54: 汚染
• DIN ISO 15795:2006 光学および光学機器 光学システムの品質評価 色位相差による画質劣化の評価 (ISO 15795-2002)
• DIN EN 4533-002:2008 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、パート 002: テストと測定
• DIN EN 4533-001:2008 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、ハンドブック、パート 001: 端末の方法とツール
• DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学とフォトニクス - 光学素子と光学システムの干渉法 - パート 4: ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
• DIN EN 4533-004:2008 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、パート004: 修理、保守、点検
• DIN ISO 14999-4:2016 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4-2015) で指定された公差の説明と評価
• DIN EN 4533-003:2008 航空宇宙シリーズ. 光ファイバー システム. マニュアル. パート 003: 航行灯および機器の使用
• DIN ISO 9345-2:2005 光学および光学機器 顕微鏡 機械的基準面に対する画像距離 パート 2: 完全に補正された光学システム
• DIN ISO 14999-4:2016-04 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉法 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4:2015) で指定された公差の解釈と評価
• DIN ISO 14999-4:2008 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4-2007) で指定された公差の説明と評価 英語版 DIN ISO 14999-4-2008
• DIN ISO 10110-1:2020-09 光学およびフォトニクス用の光学部品およびシステムの図面の作成 パート 1: 概要
• DIN ISO 10110-1:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 1: 一般原則
• DIN ISO 10110-12:2021-09 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 12: 非球面
• DIN ISO 10110-6:2016 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステム パターンの準備 パート 6: 中心公差
• DIN ISO 10110-6:2016-06 光学部品および光学およびフォトニクス用システムの図面の作成パート 6: 中心公差
• DIN ISO/TR 21477:2018-08*DIN SPEC 13477:2018-08 光学およびフォトニクスにおける光学部品およびシステムの図面の作成 表面欠陥の仕様および測定システム
• DIN ISO 10110-12:2009 光学とフォトニクス 光学素子とシステム図の作成 パート 12: 非球面
• DIN ISO 10110-17:2004 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの描画の準備 パート 17: レーザー照射による損傷のしきい値
• DIN 15560-1:2003 映画およびテレビのスタジオ、舞台、写真用のスポットライト、0.25 ～ 20Kw の白熱ランプおよび 0.125 ～ 18KW のメタルハライド ランプおよび光学システムおよびデバイス用のスポットライト

Association Francaise de Normalisation, 光学系

• NF ISO 9039:2009 光学とフォトニクス。 光学システムの品質の評価。 歪みの測定
• NF S10-042:1998 光学および光学機器、光学システムの品質評価、歪みの測定
• NF ISO 15795:2002 光学とフォトニクス。 光学システムの品質評価。 色収差による画質劣化の推定
• NF S10-051*NF ISO 15795:2002 光学および光学機器の品質評価 光学システム 色あせによる画質劣化の評価
• NF L50-210-002:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、パート 002: テストと測定
• NF S10-009-4:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 で指定された公差のコメントと評価
• NF S10-009-4*NF ISO 14999-4:2015 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉法 パート 4: ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
• NF L50-210-004:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、パート004: 修理、保守、点検
• NF L50-210-001:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、ハンドブック、パート 001: 端子方法とツール
• NF L50-210-003:2007 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、パート 003: 航海灯と設置方法
• NF ISO 10110-1:2020 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの描画ガイド パート 1: 概要
• NF S10-008-1:2006 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 1: 一般原則
• NF S10-008-1*NF ISO 10110-1:2020 光学およびフォトニクス用の光学部品およびシステムの図面の作成 パート 1: 一般原則
• NF C90-101-13*NF EN 60728-13:2010 テレビ信号、音声信号、双方向サービス用のケーブル ネットワーク パート 13: 放送信号伝送用の光システム
• NF S10-008-5:2008 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面 パート 5: 表面形状公差
• NF S10-008-5*NF ISO 10110-5:2015 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面 パート 5: 表面形状公差
• NF ISO 10110-12:2020 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 12: 非球面
• NF ISO 10110-7:2017 光学およびフォトニクス - 光学コンポーネントおよびシステムの図面ガイド - パート 7: 表面欠陥
• NF ISO 10110-6:2015 光学およびフォトニクス - 光学コンポーネントおよびシステムの図面に関するガイドライン - パート 6: 位置合わせ公差
• NF ISO 10110-8:2020 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面に関するガイド パート 8: 表面仕上げ
• NF S10-008-6*NF ISO 10110-6:2015 光学とフォトニクス 図面からの光学コンポーネントとシステムの準備 パート 6: センタリング公差
• NF S10-008-7*NF ISO 10110-7:2017 光学およびフォトニクス用の光学部品およびシステムの図面の作成パート 7: 表面欠陥
• NF S10-008-8*NF ISO 10110-8:2020 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 8: 表面テクスチャ
• NF S10-008-12:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムのグラフィカルな準備 パート 12: 非球面
• NF S10-008-11*NF ISO 10110-11:2016 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 パート 11: 非公差データ
• NF ISO 10110-5:2015 光学およびフォトニクス - 光学コンポーネントおよびシステムの図面に関するガイドライン - パート 5: 表面形状公差
• NF S10-008-17*NF ISO 10110-17:2005 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面作成パート 17: レーザー照射損傷閾値

International Telecommunication Union (ITU), 光学系

• ITU-T G SUPP 39-2016 光学システムの設計とエンジニアリングに関する考慮事項
• ITU-T SERIES G SUPP 39-2008 光学系設計・エンジニアリング検討研究会 15
• ITU-T SERIES G SUPP 39-2016 光学システムの設計と工学的考慮事項 (研究グループ 15)
• ITU-T SERIES G SUPP 39-2012 光学システムの設計と工学的考慮事項 研究グループ 15
• ITU-T G.640 ARABIC-2006 自由空間光学システム用に同じ場所に配置された垂直互換性のあるインターフェイス
• ITU-T G.640 CHINESE-2006 自由空間光学システム用に同じ場所に配置された垂直互換性のあるインターフェイス
• ITU-T G.640 RUSSIAN-2006 自由空間光学システム用に同じ場所に配置された垂直互換性のあるインターフェイス
• ITU-T G.664 CHINESE-2006 光伝送システムの光安全手順と要件
• ITU-T G.664 FRENCH-2006 光伝送システムの光安全手順と要件
• ITU-T G.664 RUSSIAN-2006 光伝送システムの光安全手順と要件
• ITU-T G.664 SPANISH-2006 光伝送システムの光安全手順と要件

International Organization for Standardization (ISO), 光学系

• ISO 21094:2008 光学とフォトニクス、フォトニクス システム、暗視装置の仕様
• ISO 9039:1994 光学および光学機器における光学システムの品質評価 歪み測定
• ISO/TR 16743:2013 光学とフォトニクス: 波面センサーを使用した光学システムと光学コンポーネントの特性評価
• ISO 9039:1994/Cor 1:2004 光学および光学機器 光学システムの品質評価 歪みの測定 技術的訂正事項 1
• ISO 15795:2002 光学およびフォトニクス 光学システムの品質評価 色位相差による画質劣化の評価
• ISO/TR 14999-2:2019 光学とフォトニクス - 光学部品と光学システムの干渉法 - 第 2 部: 測定と評価技術
• ISO/TR 14999-2:2005 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 2: 測定および評価技術
• ISO/TR 14999-1:2005 光学とフォトニクス 光学コンポーネントと光学システムの干渉測定 パート 1: 用語、定義、および基本的な関係
• ISO 15795:2002/cor 1:2007 光学および光学機器 光学系の品質評価 色位相差による画質劣化の評価 技術修正点1
• ISO 20954-1:2019 デジタルカメラ 手ぶれ補正性能の測定方法 その1 光学系
• ISO 14999-4:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 で指定された公差のコメントと評価
• ISO 14999-4:2015 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 で指定された公差のコメントと評価
• ISO/TR 14999-3:2005 光学とフォトニクス 光学コンポーネントと光学システムの干渉測定 パート 3: 干渉テスト機器と測定の校正と検証
• ISO 9345-2:2014 顕微鏡法. 機械的基準面に対する結像距離 パート 2: 無限遠補正光学系
• ISO 10110-1:2019 光学とフォトニクス - 光学コンポーネントとシステムの図面の準備パート 1: 概要
• ISO 9345:2019 顕微鏡 - 機械的基準面に関連した結像距離 - パート 2: 無限遠補正光学システム
• ISO 10110-12:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図 パート 12: 非球面
• ISO 10110-12:2019 光学とフォトニクス 光学素子とシステム図の作成 パート 12: 非球面
• ISO 10110-6:2015 光学およびフォトニクス - 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備パート 6: 中心公差
• ISO/FDIS 10110-16 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 16: 回折面
• ISO 1011:1973 光学とフォトニクス 光学部品とシステム図面の作成 パート 8: 表面構造
• ISO 10110-8:2019 光学とフォトニクス 光学部品とシステム図面の作成 パート 8: 表面構造
• ISO 10110-16:2023 光学およびフォトニクス 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 16: 回折面
• ISO 14132-3:2014 光学とフォトニクス 望遠鏡システムの用語 パート 3: 望遠鏡の用語
• ISO/TR 21477:2017 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 表面欠陥の仕様および測定システム
• ISO 10110-5:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 5: 表面形状公差
• ISO/CD 10110-11.2 光学およびフォトニクス用の光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成パート 11: 非公差データ
• ISO 10110-5:2015 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 5: 表面形状公差
• ISO 10110-11:2016 光学とフォトニクス 図面からの光学コンポーネントとシステムの準備 パート 11: 非公差データ

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 光学系

• GJB 9791-2020 光学系用カルコゲナイドガラス材料の規格
• GJB 8703-2015 赤外線光学系の焦点距離測定装置の校正手順

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 光学系

• GJB 5437-2005 照準ポッド光学システムの一般的な設計要件
• GJB/J 6220-2008 赤外線光学系の焦点距離測定装置の校正仕様書

未注明发布机构, 光学系

• BS 4995:1973(2011) レンズおよび光学システムの迷光指数を測定するための推奨事項
• ASTM F658-00a(2006) 減光ベースの光学システムを使用した液体媒介粒子計数器の校正の標準的な手法

U.S. Military Regulations and Norms, 光学系

• ARMY MIL-PRF-32062-2000 M198/M119射撃指揮光学システム運用用コンテナ

GB-REG, 光学系

• REG NASA-LLIS-0754--2000 宇宙光学システムの汚染制御から学んだ教訓
• REG NASA-LLIS-0804--2000 宇宙光学システムの汚染予算から学んだ教訓
• REG NASA-LLIS-0755--2000 航空宇宙光学システムの精密ダイヤモンド旋削加工から学んだ教訓

Professional Standard - Electron, 光学系

• SJ/T 958-2000 電子ビーム管の電子光学系における電極の命名方法

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 光学系

• SERIES G SUPP 39-2016 光学システムの設計と工学的考慮事項 (研究グループ 15)
• SERIES G SUPP 39-2008 光学システムの設計と工学的考慮事項 (研究グループ 15)
• SERIES G SUPP 39-2006 光学システムの設計と工学的考慮事項 (研究グループ 15)
• SERIES G SUPP 39-2012 光学システムの設計と工学的考慮事項 (研究グループ 15)
• SERIES G SUPP 39-2003 光学システムの設計とエンジニアリングに関する考慮事項 G シリーズ: 伝送システムとメディア デジタル システムとネットワーク (研究グループ 15)

International Electrotechnical Commission (IEC), 光学系

• IEC 62007-2:1999 光ファイバーシステム用半導体光電子デバイス 第 2 部: 測定方法
• IEC 62007-1:2015 光ファイバーシステムで使用する半導体オプトエレクトロニクスデバイス パート 1: 基本的な定格と特性の仕様テンプレート
• IEC 62007-1:2008 光ファイバーシステムで使用する半導体オプトエレクトロニクスデバイス パート 1: 基本的な定格と特性の仕様テンプレート
• IEC 60728-13:2010 テレビ信号、音声信号、双方向サービス用のケーブル ネットワーク パート 13: 放送信号伝送用の光システム
• IEC 60728-115:2022 テレビ信号、音声信号、インタラクティブ サービス用のケーブル ネットワーク - パート 115: 放送信号伝送用の屋内光システム

Standard Association of Australia （SAA）, 光学系

• AS ISO 20954.1:2019 デジタルカメラの手ぶれ補正性能の測定その1：光学系

GOSTR, 光学系

• GOST R 58566-2019 光学およびフォトニクス光学および電子システムのレンズ試験方法

European Committee for Standardization (CEN), 光学系

• EN 4533-002:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、パート 002: テストと測定
• EN 4533-001:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、ハンドブック、パート 001: 端末の方法とツール
• EN 4533-004:2006 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、パート004: 修理、保守、点検
• EN 4533-003:2006 航空宇宙シリーズ. 光ファイバー システム. マニュアル. パート 003: 航行灯および機器の使用

CEN - European Committee for Standardization, 光学系

• EN 4533-002:2017 航空宇宙シリーズ、光ファイバー システム、マニュアル、パート 002: テストと測定
• EN 4533-004:2018 航空宇宙シリーズ、光ファイバーシステム、マニュアル、パート004: 修理、保守、点検
• EN 4533-003:2017 航空宇宙シリーズ. 光ファイバー システム. マニュアル. パート 003: 航行灯および機器の使用

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 光学系

• ETR 268-1996 伝送と多重化 (TM)、10 Gbit/s 容量の長距離光システムの物理的側面

AT-OVE/ON, 光学系

• OVE EN IEC 60728-115:2020 放送信号伝送用屋内光システム (TA 5) (IEC 100/3472/CDV) (英語版)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 光学系

• JIS B 0091:2010 光学コンポーネントと光学システムの干渉法、表面形状と波面変形許容差の用語と定義
• JIS B 7132-2:2022 機械的基準面に対する顕微鏡の結像距離 パート 2: 無限遠補正光学系

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光学系

• ASTM F3615-23 積層造形の標準プラクティス 条件定義 粉末床融合光学システムのメンテナンス
• ASTM F658-00a 消光ベースの光学システムを使用した液体媒介粒子計数器の校正の標準的な手法
• ASTM F658-00 減光ベースの光学システムを使用した液体媒介粒子計数器の校正の標準的な手法

RU-GOST R, 光学系

• GOST R 8.745-2011 国家測定一貫性保証システム 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 2: 測定および評価技術
• GOST R 8.743-2011 国家測定一貫性保証システム 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 1: 用語、定義、および基本的な関係
• GOST R 56057-2014 鉄道信号警報用の発光ダイオード (LED) ライト光学システム 一般的な技術要件と試験方法
• GOST R 8.744-2011 国家測定一貫性保証システム 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉測定 パート 3: 干渉試験装置および測定の校正および検証

Group Standards of the People's Republic of China, 光学系

• T/SZIEIA 02-2022 AOI自動光学検査装置
• T/GDSBME 007-2023 医療用近赤外線光学位置決めシステム

American National Standards Institute （ANSI), 光学系

• ANSI/IEEE 1594:2008 架空電線用スパイラル光ファイバケーブルシステム（WRAPケーブル）の規格
• ANSI X3.62-1987 情報システム 光学式文字認識 (OCR) システムで使用される紙

Danish Standards Foundation, 光学系

• DS/EN 60728-13:2010 テレビ信号、音声信号、双方向サービス用のケーブル ネットワーク パート 13: 放送信号伝送用の光システム

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 光学系

• EN 60728-13:2010 テレビ信号、音声信号、双方向サービス用のケーブル ネットワーク パート 13: 放送信号伝送用の光システム

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 光学系

• TIA SP 3-0142-2003 光ファイバー通信システムの設計ガイドライン パート 6: 並列光相互接続システムの非対称設計

その他：   光学イメージングシステム, ビーム光学系, 光学測定システム, 光学式検出システム, 光学測定システム, 光学系, 光学系の構成, 電子光学系, 光学系測定, レーザー光学系, 色収差光学系, 光学式検出システム, 分光光学系, 光電子システム, システム光学系, 光学検査システム, 光学系機能, 光学補正システム, 光学システムの信号対雑音比, 光学的に薄いシステム.