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抵抗率測定プローブ

抵抗率測定プローブは全部で 398 項標準に関連している。

抵抗率測定プローブ 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 金属材料試験、 地質学、気象学、水文学、 金属腐食、 建物の保護、 総合電子部品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 プラスチック、 導体材料、 半導体ディスクリートデバイス、 放射線測定、 原子力工学、 非鉄金属、 電子管、 ゴム、 ガラス、 熱力学と温度測定、 断熱材、 絶縁流体、 電子機器、 電気工学総合、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 セラミックス、 保護具、 複合強化素材、 土壌品質、土壌科学、 医療機器、 塗料成分、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 抵抗器、 長さと角度の測定、 電気および電子試験、 表面処理・メッキ、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 フィルター、 磁性材料、 バッテリーと蓄電池、 分析化学、 電子表示装置、 感電保護、 太陽工学、 物理学、化学、 鉄鋼製品。


American Society for Testing and Materials (ASTM), 抵抗率測定プローブ

  • ASTM F672-88(1995)e1 分布抵抗プローブを使用して、表面に垂直な縦断面のシリコンウェーハの抵抗率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM D6431-99 直流比抵抗法による地下検出の標準ガイド
  • ASTM D6431-99(2005) 直流比抵抗法による地下検出の標準ガイド
  • ASTM D6431-99(2010) 直流比抵抗法による地下検出の標準ガイド
  • ASTM F397-93(1999) 点プローブを使用してシリコンロッドの抵抗率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM B826-03 抵抗プローブを使用した大気腐食試験の標準試験方法
  • ASTM B826-97 抵抗プローブを使用した大気腐食試験の標準試験方法
  • ASTM B667-97 電気接触抵抗測定用検出器の構造と標準操作手順
  • ASTM B667-97(2003)e1 電気接触抵抗を測定するためのプローブの構築と使用に関する標準的な慣行
  • ASTM B667-97(2019) 電気接触抵抗を測定するためのプローブの構築と使用に関する標準的な慣行
  • ASTM B667-97(2014) 電気接触抵抗を測定するためのプローブの構築と使用に関する標準的な慣行
  • ASTM B667-97(2009) 電気接触抵抗を測定するためのプローブの構築と使用に関する標準的な慣行
  • ASTM G57-95a(2001) ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM G57-95A ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM F81-00 シリコンウェーハの半径方向の抵抗率変化を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM G57-20 ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM G187-23 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM D3215-93 クラッド発熱体に使用される電気グレードの酸化マグネシウムの電気抵抗率の測定方法
  • ASTM F76-86(1996)e1 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM F76-86(2002) 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM F76-08 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM G187-18 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM G57-06(2012) ウェナー 4 電極法を使用した土壌抵抗率の現場測定の標準試験方法
  • ASTM G187-05 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM G187-12 2電極土壌ボックス法を使用した土壌抵抗率測定の標準試験法
  • ASTM G187-12a 2電極土壌ボックス法を使用した土壌抵抗率測定の標準試験法
  • ASTM G57-06 ウェナー四電極法を使用した現場での土壌抵抗率測定の標準試験方法
  • ASTM F76-08(2016)e1 単結晶半導体の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F76-08(2016) 単結晶半導体の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための標準的な試験方法
  • ASTM D7148-19 電解液槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D7148-19a 電解液槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D2448-85(2007) 顔料浸出溶液の抵抗率を測定することにより、顔料中の水溶性塩を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D2448-85(2002) 顔料浸出溶液の抵抗率を測定することにより、顔料中の水溶性塩を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D2448-85(1996)e1 顔料浸出溶液の抵抗率を測定することにより、顔料中の水溶性塩を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D2448-85(2012) 顔料浸出溶液の抵抗率を測定することにより、顔料中の水溶性塩を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F1711-96(2016) 点プローブ法を使用してフラット パネル ディスプレイの製造に使用される薄膜導体のシート抵抗を測定するための標準的な手法
  • ASTM D7148-13 電解槽測定システムで炭素電極を使用するアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための標準試験方法 40; ER41
  • ASTM F1527-00 シリコン抵抗率測定器の校正および制御におけるシリコン標準物質および標準シリコンウェーハの使用に関する標準ガイド

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 抵抗率測定プローブ

  • GB/T 26074-2010 ゲルマニウム単結晶抵抗率直流四探針測定法
  • GB/T 25838-2010 原子力発電所における安全グレード測温抵抗体の品質評価
  • GB/T 11073-2007 シリコンウェーハの面内抵抗率変化の測定方法
  • GB/T 17949.1-2000 接地システムにおける土壌抵抗率、接地インピーダンス、および接地電位を測定するためのガイドライン パート 1: 一般測定
  • GB/T 19289-2003 電磁鋼板（条）の密度、比抵抗、積層係数の測定方法
  • GB/T 5654-2007 液体絶縁材料の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定
  • GB 4793.5-2001 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全性 電気技術測定および試験用のハンドヘルドプローブの特定の要件
  • GB4793.5-2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 5: 電気技術測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • GB 4793.5-2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 5: 電気技術測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • GB 4793.5-2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 5: 電気技術測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件

American National Standards Institute （ANSI), 抵抗率測定プローブ

  • ANSI/ASTM B826:1996 抵抗プローブによる大気腐食試験のモニタリング方法
  • ANSI/SCTE 152-2008 メインプラグインターフェースの接触抵抗測定の試験手順
  • ANSI/ASTM D7148:2013 電解槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための試験方法

UY-UNIT, 抵抗率測定プローブ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 抵抗率測定プローブ

  • KS C 0263-2002 ゲルマニウムの比抵抗測定方法
  • KS D 0260-1999 単結晶シリコンウェーハの抵抗率を検査するための四探針法
  • KS C 0256-2002(2022) シリコン結晶およびシリコンウェーハの抵抗率の四探針試験方法
  • KS D 0260-1989(1994) 四探針による単結晶シリコンウェーハの抵抗率検査方法
  • KS M ISO 3915:2002 プラスチック. 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • KS M 3034-1980(2011) 導電性プラスチックの抵抗率の測定方法
  • KS M ISO 3915-2002(2022) プラスチック - 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • KS M 3034-1985 導電性プラスチックの抵抗率の測定方法
  • KS C 2607-1974(2000) 半導体の抵抗率を測定する方法
  • KS C 2607-1980 半導体の抵抗率を測定する方法
  • KS C IEC 60468-2003(2018) 金属材料の抵抗率の測定方法
  • KS C 0256-2002(2017) 四探針を用いたシリコン結晶およびシリコンウェーハの抵抗率試験方法
  • KS C IEC 61788-11:2005 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率
  • KS L 2109-2006(2021) ガラス基板の表面抵抗率の測定方法
  • KS D 0240-2010(2020) 非鉄金属の比抵抗測定方法
  • KS D 0240-1971 非鉄金属の比抵抗測定方法
  • KS L 2109-2006(2016) ガラス基板の表面抵抗率の測定方法
  • KS M ISO 1853:2018 導電性および散逸性ゴムの加硫または熱可塑性 - 抵抗率の測定
  • KS D 0290-2009 埋設金属構造物の腐食に対する土壌抵抗率測定手順
  • KS L 1620-2013(2018) ヴァンダーバーグ法による導電性セラミック薄膜の抵抗率測定試験方法
  • KS M ISO 1853:2008 加硫または熱可塑性の導電性ゴムおよびエネルギー散逸ゴム 抵抗率の測定
  • KS D 0290-2018 埋設金属構造物の腐食推定 土壌抵抗率測定プロセス
  • KS C IEC 61788-16:2020 超電導 - パート 16: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗
  • KS C IEC 62220-1-2:2020 医用電気機器 - デジタル X 線撮影装置の特徴 - 第 1-2 部：検出量子効率の決定 - マンモグラフィーに使用される検出器
  • KS C 6111-3-2007(2022) 電子特性測定 - マイクロ波周波数における高 TC 超電導体膜の固有表面インピーダンス
  • KS C 6111-3-2007(2017) マイクロ波周波数における高温超伝導膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定
  • KS C IEC 62220-1-1:2020 医用電気機器 - デジタル X 線撮影装置の特性 - 第 1-1 部：検出量子効率の決定 - 放射線画像撮影用検出器
  • KS C IEC 62220-1-2005(2016) 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特徴その1：検出量子効率の求め方
  • KS C IEC 60404-13:2002 磁性材料 第13部：電子鋼帯および板の密度、比抵抗および積層係数の測定方法
  • KS C IEC 60404-13-2002(2022) 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び充填係数の測定方法
  • KS C 5115-62-2001 電子機器用固定抵抗器 パート 6: ブランク 詳細仕様: 固定抵抗器ネットワークは個別に測定可能、2 つの異なる抵抗値または異なる消費電力評価基準 E
  • KS C IEC 60404-13-2002(2017) 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び充填係数の測定方法
  • KS C IEC 60811-302:2016 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 充填コンパウンドの 23°C および 100°C での直流抵抗率の測定
  • KS C 1010-2-31-2000(2020) 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 2-31: ハンドヘルド プローブ アセンブリの電気測定およびテストに関する特定の要件
  • KS C 5115-61-2001 電子機器用固定抵抗器 パート 6: ブランク 詳細仕様: 個別に測定可能な固定抵抗器ネットワーク、等しい値と等損失電力 E の評価基準

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 抵抗率測定プローブ

  • GB/T 1551-2021 直流四探針法および直流二探針法によるシリコン単結晶の比抵抗測定
  • GB/T 19289-2019 電磁鋼帯（板）の比抵抗、密度、積層係数の測定方法
  • GB/T 40007-2021 ナノテクノロジー・ナノマテリアルの抵抗率の接触測定法の一般規則

International Organization for Standardization (ISO), 抵抗率測定プローブ

  • ISO/FDIS 9869-3:2023 建築部材の断熱抵抗・熱伝導率の現場測定 その3 プローブ挿入法
  • ISO 9869-3:2023 建築部材の断熱抵抗・熱伝導率の現場測定 その3 プローブ挿入法
  • ISO 3915:2022 プラスチック. 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • ISO 3915:1981 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • ISO/DIS 9869-3 建築部材断熱材の熱抵抗・熱伝導率の現場測定 その3：プローブ挿入法
  • ISO 1853:1975 導電性および帯電防止ゴム - 抵抗率の測定
  • ISO 1853:1998 導電性ゴム、帯電防止ゴムの抵抗率測定
  • ISO 1853:2018 加硫または熱可塑性の導電性ゴムおよびエネルギー散逸ゴム 抵抗率の測定
  • ISO 1853:2011 加硫または熱可塑性の導電性ゴムおよびエネルギー散逸ゴム 抵抗率の測定
  • ISO 14571:2020 非金属基材上の金属コーティング コーティング厚さの測定 微小抵抗率法
  • ISO 787-14:2019 顔料および増量剤の一般的な試験方法 - パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定
  • ISO 11929-3:2000 電離放射線測定の検出限界と判定バルブの決定 第 3 部：基本原理とサンプル処理を行わない高分解能ガンマ線計数測定への応用

Professional Standard - Electron, 抵抗率測定プローブ

  • SJ/T 10481-1994 シリコンエピタキシャル層抵抗率の表面接触スリープローブ 試験方法
  • SJ/T 11487-2015 半絶縁性半導体ウエハの非接触抵抗率測定法
  • SJ/Z 9156-1987 フィルタ水晶部品の寄生共振の周波数と等価抵抗の測定方法

British Standards Institution (BSI), 抵抗率測定プローブ

  • BS EN ISO 3915:1999 プラスチック. 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • BS EN ISO 3915:2022 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • BS EN 61788-11:2003 超電導、残留抵抗率の測定、Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率
  • BS EN 61788-4:2007 超電導、残留抵抗率の測定、Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • 22/30441984 DC BS ISO 9869-3 建築コンポーネントの断熱抵抗と熱伝導率の現場測定 パート 3: プローブ挿入法
  • BS ISO 9869-3:2023 建築部材の断熱抵抗と熱伝導率のその場測定 - プローブ挿入法
  • 21/30427395 DC BS EN ISO 3915 プラスチック 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • BS EN IEC 61788-23:2021 超電導残留抵抗率 空洞グレードニオブ超電導体の残留抵抗率の測定
  • BS ISO 1853:2011 導電性とエネルギー散逸性を備えた加硫ゴムまたは熱可塑性ゴム。
  • PD IEC/TS 62607-4-3:2015 ナノファブリケーションの重要な制御特性 ナノ電気エネルギー貯蔵 ナノマテリアルの接触抵抗率およびコーティング抵抗率の測定
  • BS EN 1149-1:2006 防護服 静電気特性 表面抵抗率測定の試験方法
  • BS EN 60247:2004 絶縁性液体 比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定
  • 19/30390197 DC BS EN 61788-23 超電導パート 23: ニオブ超電導体の残留抵抗率の残留抵抗率測定
  • 22/30427246 DC BS ISO 22007-7 プラスチックの熱伝導率および熱拡散率の測定 パート 7: 規則的な形状の過渡平面ソース プローブを使用したサーマル ジェット速度の測定
  • 19/30402599 DC BS EN IEC 61788-23 超電導パート 23: ニオブ超電導体の残留抵抗率の残留抵抗比測定
  • BS EN 62220-1-3:2008 医用電気機器 デジタル X 線撮像装置の特性 検出量子効率の決定 ダイナミックイメージング用検出器
  • BS EN ISO 787-14:2019 顔料および体質顔料の一般的な試験方法 - 水抽出物の抵抗率の測定
  • BS EN 61788-7:2002 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導体の表面抵抗。
  • BS EN 61788-7:2007 超電導の電子特性 マイクロ波周波数での超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN IEC 61788-7:2020 超電導の電子特性 マイクロ波周波数での高温超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN 61788-16:2013 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導体の動的表面抵抗
  • BS ISO 14571:2020 非金属基材上の金属皮膜の皮膜厚さの測定 微小抵抗率法
  • BS EN ISO 14571:2022 非金属基材上の金属皮膜の皮膜厚さの測定 微小抵抗率法
  • BS EN IEC 60404-13:2018 磁性材料電磁鋼板の比抵抗、密度、充填係数の測定方法
  • 23/30473276 DC BS EN IEC 61788-23 超電導パート 23 残留抵抗率 空洞グレードのニオブ超電導体の残留抵抗率の測定
  • BS EN 62220-1-1:2015 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 量子効率の検出測定 放射線画像撮影用検出器
  • BS EN 60404-13:2007 磁性材料、電磁鋼板および電磁鋼帯の密度、比抵抗、占積率の測定方法
  • BS EN 14571:2005 非金属基材上の金属皮膜 皮膜厚さの測定 微小抵抗率法
  • 20/30402481 DC BS ISO 14571 非金属基材上の金属コーティングのコーティング厚さの測定 微小抵抗率法
  • BS EN 61788-15:2011 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導膜の固有表面インピーダンス。
  • BS EN IEC 61010-031:2023 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件
  • 18/30370111 DC BS EN 61788-7 超電導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN 60811-302:2012 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル 非金属材料の試験方法 電気試験 23 0dC および 100°C でのフィラーの DC 抵抗率の測定
  • BS 6404-13:1996 磁性材料 第13回 電磁鋼板及び硬質帯の密度、比抵抗、積層係数の測定方法
  • BS EN 62788-1-2:2016 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順 封止材料 太陽電池封止材料およびその他の高分子材料の体積抵抗率の測定
  • 21/30441897 DC BS EN 61010-031 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • BS PD IEC/TS 62607-4-3:2015 ナノ加工、重要な制御特性、ナノスケールの電気エネルギー貯蔵、ナノマテリアルの接触およびコーティング抵抗率の測定
  • BS EN 60444-1:1997 水晶振動子のパラメータ測定 πネットワークにおけるゼロフェーズ技術を用いた水晶振動子の共振周波数と共振抵抗の基本的な測定方法
  • 20/30403864 DC BS EN 61010-031 AMD AA 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定およびテスト用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件

Danish Standards Foundation, 抵抗率測定プローブ

  • DS/EN ISO 3915:1999 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • DS/ISO 1853:1980 導電性・帯電防止ゴム 抵抗率の測定
  • DS/EN 1149-1:2006 防護服の静電気特性 その1：表面抵抗率測定の試験方法
  • DS/EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • DS/IEC 247:1979 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定
  • DS/EN 14571:2005 非金属基材上の金属皮膜の膜厚測定 微小抵抗率法
  • DS/EN 61262-5:2013 医用電気機器用電子光学式X線イメージ増強管の特性 その5：検出量子効率の決定
  • DS/EN 62220-1-3:2008 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-3：検出量子効率の決定 ダイナミックイメージングに使用される検出器
  • DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定
  • DS/EN 61788-7:2007 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定
  • DS/ISO 14571:2020 非金属基材上の金属皮膜の皮膜厚さを測定する微小抵抗率法
  • DS/EN 62220-1:2004 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1：検出量子効率の求め方
  • DS/EN 60404-13:2008 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び帯の密度、比抵抗及び充填係数の測定方法
  • DS/EN 61010-031:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • DS/EN 61788-15:2012 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定

Association Francaise de Normalisation, 抵抗率測定プローブ

  • NF T51-080*NF EN ISO 3915:2022 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • NF C31-888-4:2012 超電導 パート 4: 残留抵抗率の測定 ニオブチタン複合超電導体の残留抵抗率
  • NF C27-210:1979 絶縁流体の比誘電率、誘電損失、直流抵抗率の測定
  • NF C31-888-11:2003 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 ニオブ錫複合超電導体の残留抵抗率
  • NF C31-888-11:2011 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 ニオブ錫複合超電導体の残留抵抗率
  • NF T46-099*NF ISO 1853:2019 加硫ゴムまたは熱可塑性ゴムの導電性および散逸性ゴムの電気抵抗率の測定
  • NF C27-210*NF EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 超電導パート 16: マイクロ波周波数での超電導体の電力依存表面抵抗の電気的特性の測定
  • NF EN ISO 14571:2022 非金属材料上の金属皮膜の膜厚測定 微小抵抗率法
  • FD X07-029-1:2002 計測用温度計の校正および検証手順 パート 1: プローブおよび測温抵抗体の校正および検証手順
  • NF C74-220-1-3*NF EN 62220-1-3:2008 医用電気機器 デジタル X 線撮像装置の特性 パート 1-3: 量子検出効率の決定 ダイナミックイメージング用検出器
  • NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • NF C31-888-7:2003 超伝導 パート 7: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超伝導体の表面抵抗
  • NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定
  • NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定
  • NF EN 61010-031/A1:2021 電気測定、規制および実験装置の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルドプローブの安全要件
  • NF EN 61010-031/A11:2021 電気測定、規制および実験装置の安全規則パート 031: 電気測定および試験用ハンドヘルドプローブの安全要件
  • NF EN IEC 60404-13:2018 磁性材料 第13部 電磁鋼板の比抵抗、密度及び膨張係数の測定方法
  • NF EN 61788-16:2013 超伝導 - パート 16: 電子特性の測定 - 電力の関数としてのマイクロ波に対する超伝導体の表面抵抗
  • NF C28-901-13:2008 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び占積率の測定方法
  • NF C28-901-13*NF EN IEC 60404-13:2018 磁性材料 第13部 電磁鋼板の比抵抗、密度及び充填係数の測定方法
  • NF EN IEC 61788-7:2020 超伝導 - パート 7: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における高臨界温度超伝導体の表面抵抗
  • NF C27-251:1987 pH と抵抗率を測定することによる液体誘電体の煙による腐食性を日常的に評価するための試験方法
  • NF C42-020-031/A1*NF EN 61010-031/A1:2021 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件
  • NF C42-020-031/A11*NF EN 61010-031/A11:2021 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルドおよびハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • NF C31-888-15*NF EN 61788-15:2012 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定
  • NF EN 61788-15:2012 超電導 - パート 15: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンス
  • NF EN 62220-1-3:2008 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特性 その1-3：ダイナミックイメージングに使用される検出器の量子効率の決定
  • NF EN 62220-1-1:2015 医療用電気機器。 X線撮影装置の特徴パート 1-1: 量子効率の決定。 放射線画像撮影に使用される検出器
  • NF EN 60444-4:2001 ゼロフェーズ法によるパイ回路の圧電水晶パラメータの測定 その4: 負荷fLでの共振周波数と負荷RLでの共振抵抗の測定方法

German Institute for Standardization, 抵抗率測定プローブ

  • DIN EN ISO 3915:1999 プラスチック. 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • DIN EN ISO 3915:2022-05 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • DIN 50431:1988 半導体材料の検査 プローブを直線に並べた4探針/DC法を使用した単結晶シリコンまたはゲルマニウム単結晶の抵抗率測定
  • DIN EN 61788-11:2012 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率
  • DIN EN 61788-4:2012 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • DIN EN 61788-4:2008 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • DIN EN ISO 3915:2021 導電性プラスチックの抵抗率の測定 (ISO/DIS 3915:2021)
  • DIN 50435:1988 半導体材料試験: 4 プローブ/DC 法を使用して、シリコン ウェーハおよびゲルマニウム ウェーハの抵抗率の半径方向の変化を測定します。
  • DIN EN 60247:2005 絶縁性液体 比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 光学放射線および電子放射線のプローブ検出器線量測定手順 パート 2: 高エネルギー光学放射線および電子放射線の電離箱線量測定
  • DIN 6800-2:2008 光学放射線および電子放射線のプローブ検出器線量測定手順 パート 2: 高エネルギー光学放射線および電子放射線の電離箱線量測定
  • DIN EN 61967-6:2008 集積回路 150 kHz ～ 1 GHz の周波数の電磁放射の測定 パート 6: 伝導放射の測定 磁気プローブ法
  • DIN 50448:1998 半導体プロセス材料の試験、容量性検出器を使用した半絶縁半導体スライスの抵抗率の非接触測定
  • DIN EN 1149-1:2006-09 防護服の静電気特性 その1：表面抵抗率測定の試験方法
  • DIN EN ISO 14571:2023-01 非金属基材上の金属皮膜の皮膜厚さの測定 微小抵抗率法
  • DIN EN 62220-1-3:2011-04 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-3：ダイナミックイメージングに使用される検出器の量子効率の決定
  • DIN 45105-4:1981 圧電水晶デバイス、測定方法、フィルター結晶の付加共振の周波数と共振インピーダンスの測定
  • DIN EN ISO 787-14:2019-06 顔料および体質顔料の一般的な試験方法 パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定
  • DIN EN 62220-1-2:2009 医用電気機器 デジタル X 線撮影装置の特性 第 1-2 部：検出量子効率の決定 X 線撮影用検出器
  • DIN EN 62220-1-1:2021-11 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-1：放射線画像撮影に使用される検出器の量子効率の求め方
  • DIN EN 14571:2005 非金属基材上の金属コーティング コーティング厚さの測定 微小抵抗率法
  • DIN EN ISO 14571:2023 非金属基材上の金属コーティングのコーティング厚さの測定 微小抵抗率法 (ISO 14571:2020)
  • DIN EN 62220-1-2:2009-02 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-2：マンモグラフィーに使用される検出器の検出量子効率の求め方
  • DIN EN IEC 60404-13:2020-06 磁性材料 第13部 電磁鋼板の比抵抗、密度及び充填係数の測定方法
  • DIN EN 60404-13:2008 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び占積率の測定方法
  • DIN EN 61010-031:2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • DIN EN 61788-7:2007 超電導 パート 7: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗 (IEC 61788-7-2002)
  • DIN EN ISO 787-14:2019 顔料および増量剤の一般試験方法パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定 (ISO 787-14:2019)
  • DIN EN 61788-16:2013 超電導パート 16 電気的特性 測定値 マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗 (IEC 61788-16-2013) ドイツ語版 EN 61788-16-2013
  • DIN EN 62220-1-1:2021 医用電気機器 X 線デジタル画像装置の特性 パート 1-1: 量子検出効率の決定 放射線画像用検出器 (IEC 62220-1-1-2015)、ドイツ語版 EN 62220-1-1 -2015

ES-UNE, 抵抗率測定プローブ

  • UNE-EN ISO 3915:2022 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • UNE-EN 1149-1:2007 防護服の静電気特性 その1：表面抵抗率測定の試験方法
  • UNE-EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • UNE-EN 14571:2006 非金属基材上の金属皮膜の皮膜厚さの測定 微小抵抗率法
  • UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
  • UNE-EN ISO 787-14:2020 顔料および体質顔料の一般的な試験方法 パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定
  • UNE-EN 62220-1-1:2015 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-1：放射線画像撮影に使用される検出器の量子効率の求め方
  • UNE-EN ISO 14571:2023 非金属基材上の金属コーティングのコーティング厚さの測定 微小抵抗率法 (ISO 14571:2020)
  • UNE-EN IEC 61788-7:2020 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • UNE-EN IEC 60404-13:2018 磁性材料 第13部 電磁鋼板の比抵抗、密度及び充填係数の測定方法
  • UNE-EN 61010-031:2015 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • UNE-EN 61010-031:2015/A11:2021 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動操作のプローブ アセンブリの安全要件
  • UNE-EN 61010-031:2015/A1:2021 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動操作のプローブ アセンブリの安全要件
  • UNE-EN 61788-15:2011 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 抵抗率測定プローブ

  • JIS H 7312:2007 超電導、残留抵抗率の測定、Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率
  • JIS K 7194:1994 四探針配置法を用いた導電性プラスチックの抵抗率測定方法
  • JIS H 0602:1995 四探針法を用いたシリコン結晶およびシリコンウェーハの抵抗率の試験方法
  • JIS R 3256:1998 ガラス基板の表面抵抗率の測定方法
  • JIS R 1637:1998 四探針配置法による導電性ファインセラミックス薄膜の抵抗率測定方法
  • JIS H 7307:2005 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • JIS H 7307:2010 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • JIS C 1010-31:2006 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 31: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • JIS C 2550-5:2011 電磁鋼棒及び電磁鋼板の試験方法 第5部 電磁鋼棒及び電磁鋼板の密度、比抵抗及び積層係数の測定方法

KR-KS, 抵抗率測定プローブ

  • KS L 1619-2013(2023) 4点プローブアレイを使用した導電性セラミック薄膜の抵抗率の検査方法
  • KS M ISO 1853-2018 導電性および散逸性ゴムの加硫または熱可塑性 - 抵抗率の測定
  • KS L 1620-2013(2023) ファンデルボー法による導電性セラミックス薄膜の抵抗率測定試験方法
  • KS C IEC 61788-16-2020 超電導 - パート 16: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗
  • KS C IEC 62220-1-2-2020 医用電気機器 - デジタル X 線撮影装置の特徴 - 第 1-2 部：検出量子効率の決定 - マンモグラフィーに使用される検出器
  • KS C IEC 62220-1-1-2020 医用電気機器 - デジタル X 線撮影装置の特性 - 第 1-1 部：検出量子効率の決定 - 放射線画像撮影用検出器
  • KS C IEC 60811-302-2016 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 充填コンパウンドの 23°C および 100°C での直流抵抗率の測定

RU-GOST R, 抵抗率測定プローブ

  • GOST 17038.6-1979 電離線シンチレーション検出器 検出器の固有分解能と換算分解能の測定方法
  • GOST 19438.9-1975 小電力電子管の内部抵抗の測定方法
  • GOST 19438.15-1977 小電力電子管の雑音等価抵抗の測定方法
  • GOST 19438.16-1977 小電力電子管の入力抵抗の測定方法
  • GOST 17038.3-1979 電離線シンチレーション検出器、光電増幅管のカソード電流から検出器の光効率を測定する方法
  • GOST 30501-1997 固体電気絶縁材料。 温度上昇時の抵抗と比抵抗の測定方法
  • GOST 17038.7-1979 電離線シンチレーション検出器、検出器におけるシンチレーション光減衰指示薬の効率を測定する方法
  • GOST R IEC 60247-2013 絶縁性液体 比誘電率、誘電正接 (tan d)、直流抵抗率の測定
  • GOST 17038.4-1979 電離線シンチレーション検出器、シンチレータの相対的なシンチレーション効率の測定方法
  • GOST 29068-1991 電子機器用の固定抵抗器 パート 6. 同じ公称抵抗と電力損失の個々の測定抵抗器を備えた固定抵抗器グループの技術条件の形式
  • GOST 17038.2-1979 電離線シンチレーション検出器、完全吸収ピークまたはコンプトン分布限界に基づく検出器の光学効率の測定方法
  • GOST 29043-1991 電子機器で使用する固定抵抗器 パート 6. 公称抵抗値または公称電力損失が異なる個別の測定抵抗器を備えた固定抵抗器グループの技術条件の形式。
  • GOST IEC 61262-5-2011 医用電気機器 光電X線イメージ増強管の特性 第5部 量子検出効率の決定
  • GOST IEC 62220-1-2011 医用電気機器 デジタル X 線画像装置の特性 その 1: 検出量子効率の決定
  • GOST R IEC 62220-1-3-2013 医用電気機器 X線デジタル画像撮影装置の特性 その1-3 量子検出効率の決定
  • GOST R IEC 61010-2-031-1999 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 2-031 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの特定要件
  • GOST IEC 61010-031-2013 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031. 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • GOST 19438.3-1974 連続アノード消費電力が 25 W 以内の受信増幅管および発振管。 電極間の絶縁抵抗および管の他の部分間の絶縁抵抗の測定方法
  • GOST IEC 61010-031-2011 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件

Lithuanian Standards Office , 抵抗率測定プローブ

  • LST EN ISO 3915:2001 導電性プラスチックの抵抗率の測定 (ISO 3915:1981)
  • LST EN 61788-11-2011 超電導パート 11: 残留抵抗率 Nb3Sn 複合超電導体の残留抵抗率の測定 (IEC 61788-11:2011)
  • LST EN 61788-4-2011 超電導パート 4: 残留抵抗率 Nb-Ti 複合超電導体の残留抵抗率の測定 (IEC 61788-4:2011)
  • LST EN 1149-1-2006 防護服の静電気特性 その1：表面抵抗率測定の試験方法
  • LST EN 14571-2005 非金属基材上の金属皮膜の膜厚測定 微小抵抗率法
  • LST EN 62220-1-1-2015 医用電気機器 デジタル X 線画像装置の特性 パート 1: 検出量子効率の決定 放射線画像用検出器 (IEC 62220-1-1-2015)
  • LST EN 62220-1-3-2008 医用電気機器 デジタル X 線撮影装置の特性 パート 1-3: ダイナミック イメージングに使用される検出器の検出量子効率の決定 (IEC 62220-1-3:2008)
  • LST EN ISO 787-14:2002 顔料および増量剤の一般試験方法パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定 (ISO 787-14:2002)
  • LST EN 61788-7-2007 超電導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗の測定 (IEC 61788-7:2006)
  • LST EN 61010-031-2003 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件 (IEC 61010-031:2002)
  • LST EN 61010-031-2015 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件パート 031: 電気技術測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件 (IEC 61010-031-2015)
  • LST EN 60404-13-2008 磁性材料 第 13 部: 電磁鋼板および帯の密度、比抵抗および充填係数の測定方法 (IEC 60404-13:1995)
  • LST EN 61010-031-2003/A1-2008 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件 (IEC 61010-031:2002/A1:2008)

AENOR, 抵抗率測定プローブ

  • UNE-EN ISO 3915:2000 導電性プラスチックの抵抗率の測定 (ISO 3915:1981)
  • UNE-EN 62220-1-3:2009 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-3：検出量子効率の決定 ダイナミックイメージングに使用される検出器
  • UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
  • UNE-EN 62220-1:2004 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特性 その1：検出量子効率の求め方
  • UNE-EN 61010-031:2004/A1:2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • UNE-EN 61010-031:2004 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • UNE-EN ISO 787-14:2003 顔料および増量剤の一般試験方法パート 14: 水性抽出物の抵抗率の測定 (ISO 787-14:2002)

International Electrotechnical Commission (IEC), 抵抗率測定プローブ

  • IEC 61788-11:2011 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 61788-4:2001 超電導その4：残留抵抗率測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 61788-4:2007 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 61788-4:2011 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 61224:1993 原子炉測温抵抗体（RTD）の応答時間の現場測定
  • IEC 61788-4:2016 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti および Nb3Sn 複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 61788-11:2003 超電導 その11: 残留抵抗率の測定 NbSn複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 60247:1978 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定
  • IEC 60247:2004 液体絶縁材料、比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定
  • IEC 61788-4:2020 超電導 - パート 4: 残留抵抗率の測定 - Nb-Ti および Nb3sn 複合超電導体の残留抵抗率
  • IEC 62220-1-3:2008 医用電気機器 デジタル X 線画像装置の特性 パート 1-3: 検出量子効率の決定 ダイナミック イメージング用検出器
  • IEC 61788-7:2002 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • IEC 61788-7:2006 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • IEC TR 60283:1968 フィルタ水晶振動子の不要共振周波数と等価抵抗の測定方法
  • IEC 62220-1-2:2007 医用電気機器 デジタル X 線画像装置の特性 第 1-2 部：検出量子効率の決定 X 線検出用検出器
  • IEC 61788-7:2020 RLV 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • IEC 61788-7:2020 超伝導 パート 7: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における高温超伝導体の表面抵抗
  • IEC 60404-13:1995 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び占積率の測定方法
  • IEC 60404-13:2018 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び占積率の測定方法
  • IEC 61010-031:2015 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • IEC 61010-031:2008 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • IEC 61010-031:2002+AMD1:2008 CSV 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • IEC 61788-15:2011 超電導 パート 15: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超電導膜の固有表面インピーダンス
  • IEC 61010-031:2022 CMV 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件
  • IEC 61010-031:2022 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件
  • IEC 61010-031/AMD1/COR1:2018 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件; 修正事項 1
  • IEC 61010-031/COR1:2018 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動プローブ アセンブリの安全要件; 修正事項 1
  • IEC 62220-1-1:2015 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-1：X線撮影に使用される検出器の量子効率の求め方
  • IEC 62220-2-1:2023 医用電気機器 デジタル X 線撮影装置の特性 第 2-1 部 デュアルエネルギー減算効率の決定 デュアルエネルギー X 線撮影用検出器

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 抵抗率測定プローブ

  • EN 61788-11:2011 超電導 パート 11: 残留抵抗率の測定 Nb3Sn 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 61788-4:2011 超電導 パート 4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 61788-4:2016 超電導 パート 4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 60247:2004 絶縁性液体 比誘電率、誘電正接 (tan $) および DC 抵抗率の測定 IEC 60247-2004
  • EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • EN 61788-7:2006 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • EN 62220-1-3:2008 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-3：検出量子効率の決定 ダイナミックイメージングに使用される検出器
  • EN IEC 61788-7:2020 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • EN 60404-13:2007 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び電磁鋼帯の密度、比抵抗及び占積率の測定方法
  • EN IEC 61010-031:2023 測定、制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気試験および測定用のハンドヘルドおよび手動操作のプローブ アセンブリの安全要件
  • EN 62220-1-1:2015 医用電気機器 デジタルX線撮影装置の特徴 その1-1：X線撮影に使用される検出器の量子効率の求め方

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 抵抗率測定プローブ

  • EN 61788-11:2003 超電導 パート 11: 残留抵抗率の測定 Nb3Sn 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 61788-4:2001 超電導 パート 4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 61788-4:2007 超電導 パート 4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti 複合超電導体の残留抵抗率
  • EN 61788-7:2002 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • EN IEC 60404-13:2018 磁性材料 第13部 電磁鋼板の比抵抗密度及び充填係数の測定方法
  • EN 61010-2-031:1994 測定制御および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 2-031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリに対する特定の要件
  • EN 61788-15:2011 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定

Association of German Mechanical Engineers, 抵抗率測定プローブ

AT-ON, 抵抗率測定プローブ

  • OENORM EN ISO 3915:2021 導電性プラスチックの抵抗率の測定 (ISO/DIS 3915:2021)
  • ONORM M 5802-1955 温度測定。 熱電コーナーと測温抵抗体コネクタ。 コネクティングシート

European Committee for Standardization (CEN), 抵抗率測定プローブ

  • prEN ISO 3915:2021 導電性プラスチックの抵抗率の測定 (ISO/DIS 3915:2021)
  • EN 1149-1:2006 防護服 静電気特性 パート 1: 表面抵抗率を測定するための試験方法。
  • EN 1149-1:1995 防護服 静電気特性 パート 1: 表面抵抗率を測定するための試験方法。
  • EN ISO 14571:2022 非金属基材上の金属コーティング コーティング厚さの測定 微小抵抗率法
  • EN 14571:2005 非金属基材上の金属皮膜 皮膜厚さの測定 微小抵抗率法

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 抵抗率測定プローブ

  • VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 26-1991 誘導測定プローブおよび表示装置を備えた電気長測定装置のテスト手順 (DIN 32876 Part 1 に準拠) 測定プローブおよび測定装置

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 抵抗率測定プローブ

  • IEEE 81-1983 接地システムの接地抵抗率、接地インピーダンス、および接地表面電位を測定するためのガイドライン
  • IEEE 81-2012 接地システムにおける接地抵抗率、接地インピーダンス、地表電位の測定に関する IEEE ガイド
  • IEEE P81/D11, August 2012 接地システムの接地抵抗率、接地インピーダンス、および接地電位を測定するための IEEE ガイド
  • IEEE Std 81-2012 接地システムの接地抵抗率、接地インピーダンス、および接地電位を測定するための IEEE ガイド
  • IEEE Std 81-1983 接地システムの接地抵抗率、接地インピーダンス、接地電位の測定に関する IEEE ガイド パート 1: 一般測定
  • IEEE P81/D10, March, 2012 接地システムの接地抵抗率、接地インピーダンス、接地電位の測定に関する IEEE 草案ガイドライン
  • IEEE P81/D2, December 2023 接地システムにおける接地抵抗率、接地インピーダンス、および地表面電位の測定に関する IEEE ガイドライン草案
  • IEEE Std 402-1974(R1982) 高 DC 電圧でのケーブル絶縁材料の抵抗率を測定するための IEEE ガイド
  • IEEE Std 548-1984 フライアッシュ抵抗率の実験室測定および報告に関する IEEE 規格およびガイドライン
  • IEEE/ANSI N42.31-2003 電離放射線用ワイドバンドギャップ半導体検出器の分解能とエネルギー効率の測定に関する米国国家規格

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 抵抗率測定プローブ

  • IEEE N42.31-2003 ワイドバンドギャップ半導体電離放射線検出器の分解能と効率を測定する手順
  • IEEE 548-1984 飛灰抵抗率の実験室測定および報告のための標準ガイドラインおよびガイドライン

RO-ASRO, 抵抗率測定プローブ

  • STAS 10432-1976 接地装置の接地ガイド板の散逸抵抗と接地抵抗率の測定方法

Indonesia Standards, 抵抗率測定プローブ

  • SNI ISO 1853:2014 加硫ゴムまたは熱可塑性ゴムの導電性および散逸性ゴムの電気抵抗率の測定
  • SNI 04-6542-2001 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定
  • SNI 7751-2012 地下水探査の枠組み内で短法線（SN）および長法線（LN）比抵抗を使用した地電気検層法を使用して帯水層を記録する手順

BE-NBN, 抵抗率測定プローブ

  • NBN-EN 60051-6-1994 電気計測器や付属品を直接展示。 ダイヤル表示付きの測定器です。 パート 6: 抵抗測定器 (インピーダンス測定器) および導電率測定器に対する特別な要件

PL-PKN, 抵抗率測定プローブ

  • PN T01504 ArkusZ26-1974 トランジスタ。 ベース抵抗バジェットコントロール高周波測定法
  • PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の測定 (IEC 61788-7:2020)

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 抵抗率測定プローブ

  • DB13/T 5026.3-2019 グラフェン導電性スラリーの物性測定法 その3：スラリー磁極片抵抗率の測定 四探針法

Professional Standard - Machinery, 抵抗率測定プローブ

  • JB/T 7780.3-1995 リベット接触用ワイヤの機械的および物理的特性の試験方法 リベット接触用ワイヤの抵抗率の測定方法
  • JB/T 7780.3-2008 リベット型コンタクト用ワイヤの機械的および物理的特性の試験方法 第 3 部: 抵抗率の測定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 抵抗率測定プローブ

  • GB/T 22586-2018 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定
  • GB/T 35680-2017 マイクロ波周波数帯域でオープン同軸プローブを使用して液体材料の電磁パラメータを測定する方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 抵抗率測定プローブ

  • IPC TM-650 2.3.25C-2001 溶媒抽出物の抵抗率によるイオン化可能な表面汚染物質の検出と測定 (ROSE)

BELST, 抵抗率測定プローブ

  • STB 8074-2020 ベラルーシ共和国における測定の一貫性を保証する、電流、電圧、電力、周波数、抵抗の体系的な測定のためのアナログコンバーターの検証方法

ES-AENOR, 抵抗率測定プローブ

  • UNE 21-317-1989 絶縁性液体の誘電率、絶縁損失(tg5)、比抵抗(DC)の測定

Underwriters Laboratories (UL), 抵抗率測定プローブ

  • UL 3111-2-031-2001 電気測定および試験用の安全なハンドヘルドプローブアセンブリに関する UL 規格 (第 1 版)
  • UL 61010B-2-031-2003 測定、制御および実験室で使用する電気機器パート 2: 電気測定およびテスト用のハンドヘルド プローブ アセンブリの特定の要件
  • UL 61010-031-2007 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件
  • UL 61010B-2-031 (ND)-2003 UL 61010B-2-031 測定制御および実験室で使用する電気機器の国別差異、パート 2: 電気測定および試験用ハンドヘルドプローブアセンブリの特定要件 (第 1 版)

YU-JUS, 抵抗率測定プローブ

  • JUS G.E0.049-1977 ポリマーをベースにした製品。 高分子材料で作られた導電性および帯電防止試験片の抵抗率の測定

未注明发布机构, 抵抗率測定プローブ

  • BS EN ISO 14571:2022(2023) 非金属基材上の金属コーティングのコーティング厚さを測定するための微小抵抗法
  • YY 0457.5-2003 医用電気機器 光電X線イメージ増倍管の特性 第5部 検出量子効率の求め方
  • BS 6404-13:1996(1999) 磁性材料 第13部 電磁鋼板及び帯の密度、比抵抗及び充填係数の測定方法
  • BS EN 61010-2-031:1995(1999) 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 2-031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリに対する特定の要件
  • BS EN 61788-15:2011(2012) 超伝導パート 15: 電子特性の測定 – マイクロ波周波数における超伝導薄膜の固有表面インピーダンス

CZ-CSN, 抵抗率測定プローブ

  • CSN 34 6412-1985 電気絶縁材料の試験方法。 表面抵抗率測定による電気材料の防カビ性の判定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 抵抗率測定プローブ

  • IPC TM-650 2.3.25-2001 溶媒抽出によるイオン性外部汚染物質の検出と測定 (ROSE) 抵抗率 Rev. C

IN-BIS, 抵抗率測定プローブ

  • IS 8011-1976 フィルタ水晶振動子の不要共振周波数と等価抵抗の測定方法

国家食品药品监督管理局, 抵抗率測定プローブ

  • YY/T 0590.1-2018 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特性 その1-1：量子検出効率の決定 一般撮影用検出器

Professional Standard - Medicine, 抵抗率測定プローブ

  • YY/T 0590.3-2011 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特性 その1-3：量子検出効率の決定 ダイナミックイメージング用検出器
  • YY/T 0457.5-2003 医用電気機器 光電X線イメージ増倍管の特性 第5部 検出量子効率の求め方
  • YY/T 0590.2-2010 医用電気機器用デジタルX線撮影装置の特性 その1-2：量子検出効率の決定 マンモグラフィ用検出器
  • YY/T 0590.1-2005 医用電気機器 デジタル X 線画像装置の特性 その 1: 量子検出効率の決定

Standard Association of Australia （SAA）, 抵抗率測定プローブ

  • AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法 比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定
  • IEC 61010-031:2015 RLV 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件

Professional Standard - Nuclear Industry, 抵抗率測定プローブ

  • EJ/T 1204.3-2006 電離放射線測定の検出限界と判定閾値の決定その3：試料処理の影響を無視した高分解能ガンマ線計数測定
  • EJ/T 1204.4-2006 電離放射線測定の検出限界と判定閾値の決定 第4部：試料処理の影響を無視したリニアスケールアナログレートメータ測定

Canadian Standards Association (CSA), 抵抗率測定プローブ

  • CAN/CSA-C22.2 NO.61010-031-2007 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件 (第 1 版)
  • CAN/CSA-C22.2 NO.61010-031 AMD 1-2010 測定、制御、および実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用のハンドヘルド プローブ アセンブリの安全要件 (第 1 版)
  • CSA C22.2 No.61010-031-07-CAN/CSA-2007 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 031: 電気測定および試験用の手動プローブ アセンブリの安全要件 第 1 版

GOSTR, 抵抗率測定プローブ

  • GOST EN 1149-1-2018 労働安全基準体系 特殊防護服の静電気特性 第1部 表面抵抗率測定の試験方法

  単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホールを測定します。, マイクロ波周波数帯域でオープン同軸プローブを使用して液体材料の電磁パラメータを測定する方法, 抵抗率測定プローブ, 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法, 接地システムにおける土壌抵抗率、接地インピーダンス、および接地電位を測定するためのガイドライン, 接地抵抗率の測定, 土壌抵抗率の測定, ガラス抵抗率の測定方法, 接地抵抗率の測定方法, ホール抵抗率の測定.

 



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