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ホール抵抗率の測定

ホール抵抗率の測定は全部で 33 項標準に関連している。

ホール抵抗率の測定 国際標準分類において、これらの分類:半導体材料、 電気および電子試験、 半導体ディスクリートデバイス、 流体の流れの測定、 プラスチック、 導体材料、 電気、磁気、電気および磁気測定。


American Society for Testing and Materials (ASTM), ホール抵抗率の測定

  • ASTM F76-86(1996)e1 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM F76-86(2002) 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM F76-08 単結晶半導体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度を測定する試験方法
  • ASTM F76-08(2016)e1 単結晶半導体の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F76-08(2016) 単結晶半導体の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための標準的な試験方法
  • ASTM B855-06 アーノルドゲージとホールファンネルを使用した金属粉末本体の流量測定のための標準試験方法
  • ASTM B855-11 アーノルドゲージとホール流量計ファンネルを使用した金属粉末の体積流量の標準試験方法

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, ホール抵抗率の測定

  • CNS 13623-1995 チップ単体の抵抗率、ホール係数、ホール移動度の測定方法(ヴァンダーポンプ法)

Professional Standard - Electron, ホール抵抗率の測定

  • SJ/T 11488-2015 半絶縁ガリウムヒ素の抵抗率、ホール係数、移動度の試験方法
  • SJ 3244.1-1989 ガリウムヒ素およびインジウムリン材料のホール移動度およびキャリア濃度の測定方法

CZ-CSN, ホール抵抗率の測定

  • CSN 34 5941-1984 ガリウムヒ素とガリウムリンの単結晶シリコン。 抵抗率とホール係数の決定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ホール抵抗率の測定

  • GB 11297.7-1989 インジウムアンチモン単結晶の比抵抗とホール係数の試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, ホール抵抗率の測定

  • T/CASAS 027-2023 RF GaN HEMTエピタキシャルウェーハの二次元電子ガス移動度の非接触ホール測定法

UY-UNIT, ホール抵抗率の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ホール抵抗率の測定

British Standards Institution (BSI), ホール抵抗率の測定

Danish Standards Foundation, ホール抵抗率の測定

Association Francaise de Normalisation, ホール抵抗率の測定

International Organization for Standardization (ISO), ホール抵抗率の測定

  • ISO 3915:2022 プラスチック. 導電性プラスチックの抵抗率の測定
  • ISO 3915:1981 プラスチック導電性プラスチックの抵抗率の測定

German Institute for Standardization, ホール抵抗率の測定

ES-UNE, ホール抵抗率の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ホール抵抗率の測定

  • JIS H 7312:2007 超電導、残留抵抗率の測定、Nb3Sn複合超電導体の残留抵抗率




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