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光電流半導体

光電流半導体は全部で 97 項標準に関連している。

光電流半導体 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 半導体ディスクリートデバイス、 整流器、コンバータ、安定化電源、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 光学および光学測定、 金属材料試験、 医療機器、 造船と海洋構造物の一体化、 光ファイバー通信。


American National Standards Institute （ANSI), 光電流半導体

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 光電流半導体

CZ-CSN, 光電流半導体

  • CSN 35 8761-1973 半導体装置。 フォトトランジスタフォトダイオード。 光電流測定
  • CSN 35 8762-1973 半導体装置。 フォトトランジスタフォトダイオード。 暗電流測定
  • CSN 35 8773-1977 半導体デバイスの測定。 半導体サイリスタ。 阻止電流および逆阻止電流の測定
  • CSN 35 1531-1973 シリコン半導体整流器
  • CSN 35 8735-1964 半導体ダイオード。 直流電流および直流電圧の測定
  • CSN 35 8732-1964 半導体ダイオード。 順電流測定
  • CSN 35 8772-1970 半導体サイリスタ。 保持電流の測定方法
  • CSN 35 8742-1973 半導体装置。 トランジスタ。 遮断電流の測定
  • CSN 35 8770-1970 半導体サイリスタ。 オン電圧測定方法
  • CSN 35 8734-1975 半導体デバイス。 ダイオード。 逆電流測定。

British Standards Institution (BSI), 光電流半導体

  • BS IEC 60747-5-4:2022 半導体デバイス-光電子デバイス 半導体レーザー
  • BS IEC 60747-5-4:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、光電子デバイス、半導体レーザー
  • BS IEC 60747-6:2000 個別半導体デバイスおよび集積回路、半導体サイリスタ
  • BS IEC 60747-6:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路、半導体サイリスタ
  • BS EN IEC 60747-5-5:2020 半導体デバイス 光電子デバイス フォトカプラ
  • 19/30404095 DC BS EN IEC 60747-5-4 半導体デバイス パート 5-4 光電子デバイス 半導体レーザー
  • BS EN 62415:2010 半導体デバイスの定電流エレクトロマイグレーション試験
  • 23/30473272 DC BS IEC 60747-5-4 AMD 1. 半導体デバイス パート 5-4 光電子デバイス 半導体レーザー
  • BS IEC 60747-18-3:2019 半導体デバイス 半導体バイオセンサー レンズレスCMOSフォトニックアレイセンサーの流体流特性 流体システムを備えたパッケージモジュール
  • BS EN 62007-2:2000 光ファイバーシステム用半導体光電子デバイス.測定方法
  • BS IEC 60092-304:2002 船上電気設備および機器 - 半導体コンバータ
  • BS EN 62007-2:2009 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス。 測定方法

Professional Standard - Electron, 光電流半導体

  • SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
  • SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
  • SJ 2214.8-1982 半導体フォトトランジスタの暗電流試験方法
  • SJ 2215.10-1982 半導体フォトカプラの直流電流伝達率の試験方法
  • SJ 1795-1981 50～1000mA 小電流半導体サイリスタ（仮）
  • SJ 20642-1997 半導体光電子モジュールの一般仕様
  • SJ 20786-2000 半導体光電子部品の一般仕様
  • SJ 2215.3-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の順電流試験方法
  • SJ 2215.4-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の逆電流試験方法
  • SJ 50033/109-1996 半導体光電子デバイス 半導体レーザーダイオード タイプ GJ9031T、GJ9032T、GJ9034T 詳細仕様
  • SJ/T 2214-2015 半導体フォトダイオードおよびフォトトランジスタの試験方法
  • SJ 2355.3-1983 半導体発光素子の試験方法 逆電流試験方法
  • SJ/T 2215-2015 半導体フォトカプラの試験方法
  • SJ 2247-1982 半導体光電子デバイスの寸法
  • SJ 2215.9-1982 半導体フォトカプラ（トランジスタ）の逆方向遮断電流の試験方法
  • SJ 50033/111-1996 半導体光電子デバイス詳細仕様 GTI6型シリコンNPNフォトトランジスタ

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 光電流半導体

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 光電流半導体

  • GJB 33/17-2011 半導体光電子デバイス詳細仕様書 GO11型半導体フォトカプラ
  • GJB 33/16-2011 半導体光電子デバイス詳細仕様書 3DU32型半導体フォトトランジスタ
  • GJB 33/18-2011 半導体光電子デバイスの詳細仕様 GO417 双方向半導体光電結合アナログスイッチ
  • GJB/Z 41.3-1993 軍用半導体ディスクリートデバイスシリーズスペクトル半導体光電子デバイス
  • GJB 8121-2013 半導体光電子部品の一般仕様
  • GJB 8120-2013 半導体光電子モジュールの一般仕様
  • GJB 8119-2013 半導体光電子デバイスの一般仕様
  • GJB 33/15-2011 半導体光電子デバイス詳細仕様書 BT401型半導体赤外発光ダイオード

International Electrotechnical Commission (IEC), 光電流半導体

  • IEC 60747-5-4:2022 半導体デバイス パート 5-4: 光電子デバイス 半導体レーザー
  • IEC 60747-5-4:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 5-4: 光電子デバイス、半導体レーザー
  • IEC TR 60146-6:1992 半導体コンバータ パート 6: ヒューズを使用して半導体コンバータを過電流から保護するためのアプリケーション ガイドライン
  • IEC 62415:2010 半導体デバイスの定電流エレクトロマイグレーション試験
  • IEC 60146-2:1999 半導体コンバータ 第 2 部: 直接 DC コンバータを含む自励式半導体コンバータ
  • IEC TR2 60146-6:1992 半導体コンバータ 第 6 部: ヒューズによる過電流保護のための半導体コンバータの適用ガイドライン

ZA-SANS, 光電流半導体

  • SANS 60146-6:1992 半導体コンバーター。 第6部：半導体コンバータヒューズ過電流保護応用マニュアル
  • SANS 60146-2:1999 半導体コンバーター。 パート 2: DC コンバータを含む自励式半導体コンバータ

RU-GOST R, 光電流半導体

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 光電流半導体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 光電流半導体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光電流半導体

  • GB/T 3859.4-2004 半導体コンバータには、直接DCコンバータを含む半導体自励式コンバータが含まれます。
  • GB/T 17950-2000 半導体コンバータ パート 6: 半導体コンバータを過電流から保護するためのヒューズの使用に関するアプリケーション ガイドライン
  • GB 15651.4-2017 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー
  • GB/T 3859.2-1993 半導体コンバータのアプリケーションガイドライン
  • GB/T 13422-2013 半導体コンバータの電気的試験方法
  • GB/T 13422-1992 半導体パワーコンバータの電気的試験方法
  • GB/T 3859.3-1993 半導体コンバータトランスおよびリアクトル
  • GB/T 6616-2023 半導体ウエハの比抵抗や半導体膜のシート抵抗を非接触で検査する渦電流法
  • GB/T 15167-1994 半導体レーザー光源の一般仕様
  • GB 12565-1990 半導体デバイスおよび光電子デバイスの仕様
  • GB/T 22193-2008 船舶電気機器用半導体コンバータ

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 光電流半導体

  • GB/T 15651.4-2017 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー

German Institute for Standardization, 光電流半導体

  • DIN EN 60146-2:2001 半導体コンバータ 第 2 部: DC コンバータを含む自己整流型半導体コンバータ
  • DIN EN 62415:2010-12 半導体デバイス - 定電流エレクトロマイグレーション試験

Professional Standard - Machinery, 光電流半導体

  • JB/T 7063-1993 パワー半導体デバイスの定格電圧および定格電流
  • JB/T 1505-1975 半導体電力変換器のモデル作成方法

Danish Standards Foundation, 光電流半導体

  • DS/EN 62415:2010 半導体デバイス - 定電流エレクトロマイグレーション試験

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 光電流半導体

  • EN 62415:2010 半導体デバイス - 定電流エレクトロマイグレーション試験

Association Francaise de Normalisation, 光電流半導体

  • NF EN 62415:2010 半導体デバイス – 定電流エレクトロマイグレーション試験
  • NF C53-221*NF EN 60146-2:2002 半導体コンバータ その2: DCコンバータを含む自己変換型半導体コンバータ
  • NF C80-201*NF EN 62415:2010 半導体デバイスの定電流エレクトロマイグレーション試験。
  • NF C86-503:1986 半導体デバイス、電子部品の統一品質評価システム、フォトトランジスタ、太陽電池複合トランジスタおよび光電子半導体回路、空白の詳細仕様書 CESS 20 003

ES-UNE, 光電流半導体

  • UNE-EN 62415:2010 半導体デバイス - 定電流エレクトロマイグレーション試験

YU-JUS, 光電流半導体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 光電流半導体

  • CNS 13805-1997 光電子半導体ウェーハの光レーザースペクトル測定方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 光電流半導体

  • KS C IEC 60146-2:2002 半導体コンバータ 第 2 部: DC コンバータを含む自励式半導体コンバータ
  • KS C IEC 60146-6-2002(2012) 半導体コンバータ パート 6: ヒューズを使用して半導体コンバータを過電流から保護するためのアプリケーション ガイド
  • KS C IEC 60146-6:2002 半導体コンバータ パート 6: 過電流を防止するヒューズを使用した半導体コンバータ保護のアプリケーション ガイド
  • KS C IEC 60146-6:2013 半導体コンバータ パート 6: 過電流を防止するヒューズを使用した半導体コンバータ保護のアプリケーション ガイド

Standard Association of Australia （SAA）, 光電流半導体

  • AS 60146.2:2001 半導体コンバーター。 直接DCコンバータを含む自励式半導体コンバータ

RO-ASRO, 光電流半導体

  • STAS 12258/3-1985 光電子半導体デバイス。 フォトトランジスタの用語と基本的な特性
  • STAS 12258/7-1987 光電子半導体デバイス。 太陽光発電の用語と基本的な特性

Group Standards of the People's Republic of China, 光電流半導体

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 光電流半導体

  • EN 60146-2:2000 半導体コンバータ パート 2: 直接 DC コンバータを含む自己整流半導体コンバータ IEC 60146-2-1999

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 光電流半導体

  光電流, 半導体光電流, 光電流をテストする, ++++光電流, 定常状態の光電流, 高周波光電流, 光電流の測定, 半導体光電流の測定, 半導体光電流, 光電流半導体, 瞬間光電流, 外部光電流, 電気光学電流, 煙の光電流, 半導体光電流, 半導体と光電流, スペクトル電流, 光電流+, 光電流2, 光電流+テスト+.

 



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