ZH
RU
EN
ES

蛍光分光シリコン

蛍光分光シリコンは全部で 14 項標準に関連している。

蛍光分光シリコン 国際標準分類において、これらの分類：ブラックメタル、 分析化学、 ガラス、 耐火物、 食品の検査と分析の一般的な方法。

European Committee for Standardization (CEN), 蛍光分光シリコン

• CEN/TR 10354:2011 鉄金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 シリコンとアルミニウムの定量
• PD CEN/TR 10354:2011 鉄系材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるシリコンとアルミニウムの定量

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 蛍光分光シリコン

• KS D ISO 14706:2003 表面化学分析 全反射蛍光X線分析法を使用したシリコンウェーハ表面の主な汚染物質の測定
• KS E 3076-2017 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法
• KS E 3076-2022 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法

Association Francaise de Normalisation, 蛍光分光シリコン

• FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 鉄系金属材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるフェロシリコン中のSi、Alの定量

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 蛍光分光シリコン

• GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測定
• GB/T 40915-2021 蛍光X線分析によるソーダ石灰シリカガラス中のSiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaOおよびMgO含有量の測定

British Standards Institution (BSI), 蛍光分光シリコン

• BS ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
• BS ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
• BS ISO 14706:2001 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
• BS 1902-9.2:1987 耐火物の試験方法 パート 9.2: 機器化学分析法 セクション 2: 蛍光 X 線分析による珪質耐火物の分析

Group Standards of the People's Republic of China, 蛍光分光シリコン

• T/CQCAA 0005-2020 原子蛍光分析によるシリカ中の水銀の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 蛍光分光シリコン

• GB/T 21191-2007 原子蛍光分析装置

その他：   蛍光分光シリコン, 蛍光 蛍光スペクトル, シリコンの蛍光スペクトル, シリコン + メチル + スペクトル, 蛍光分光シリコン, シリコンスペクトル, シリコンの吸収スペクトル, シリコンスペクトル, シリコンの分光吸収, シリコン原子スペクトル, シリコン蛍光スペクトル, シリコン分光法, シリコン+スペクトル, シリコン材料のスペクトル, スペクトルシリコン, ケイ素元素スペクトル, シリコン蛍光スペクトル, シリコンスペクトル, 蛍光スペクトル 蛍光, シリコン蛍光.