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スペクトルシリコン

スペクトルシリコンは全部で 95 項標準に関連している。

スペクトルシリコン 国際標準分類において、これらの分類：粉末冶金、半導体材料、非金属鉱物、分析化学、非鉄金属、ブラックメタル、皮革技術、金属鉱石、導体材料、セラミックス、ガラス、光ファイバー通信、天然ガス、無機化学、金属材料試験、耐火物、化学製品、燃料。

RO-ASRO, スペクトルシリコン

STAS 11359/8-1980 国内の硫黄鉱石および精鉱中のアルミニウム、カルシウム、マグネシウム、鉄、ケイ素のスペクトル分析

RU-GOST R, スペクトルシリコン

GOST 16412.9-1991 鉄粉、ケイ素とマンガンの分光測定
GOST 23687.2-1979 銅ベリリウム合金マグネシウム、鉄、アルミニウム、シリコン鉛の分光分析
GOST 9853.6-1979 分光法によるスポンジチタンシリコン、鉄、ニッケルの定量
GOST 18385.2-1979 ニオブ：ケイ素、チタン、鉄含有量の分光測定
GOST R ISO 7530-8-2017 ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8 シリコン含有量の測定
GOST R 50233.4-1992 五酸化ニオブ原子発光分析によるチタン、シリコン、鉄、ニッケル、アルミニウム、マグネシウム、マンガン、コバルト、クロム、鉛、ジルコニウムの定量。
GOST 23201.1-1978 アルミナ、スペクトル分析法、シリカ、酸化鉄、酸化ナトリウムと酸化カルシウムの含有量の測定
GOST 23862.4-1979 希土類金属とその酸化物、バナジウム、鉄、コバルト、シリコン、マンガン、銅、ニッケル、チタン、クロムを測定するための分光法

Professional Standard - Electron, スペクトルシリコン

SJ/T 11491-2015 短ベースライン赤外吸収分光法を使用したシリコン内の格子間酸素含有量の測定
SJ/T 11552-2015 ブリュースター角入射 P 偏光赤外吸収分光法を使用したシリコン内の格子間酸素含有量の測定
SJ 3198-1989 真空シリコン・アルミニウム合金中のシリコン、鉄、マグネシウム、銅の発光スペクトル分析法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), スペクトルシリコン

JIS H 0615:2021 フォトルミネッセンス分光法によるシリコン結晶中の不純物濃度の測定方法
JIS H 0615:1996 フォトルミネッセンス分光法によるシリコン結晶中の不純物濃度の測定方法
JIS K 0164:2010 表面化学分析再生イオン質量の分光測定シリコン中のホウ素を深くプレスする方法

GOSTR, スペクトルシリコン

GOST 9853.23-1996 スポンジチタンシリコン、鉄、ニッケルの分光測定

British Standards Institution (BSI), スペクトルシリコン

BS ISO 17560:2002 表面化学分析、再生イオン質量分析、シリコン中のホウ素のディーププロファイリング分析。
BS ISO 17560:2014 表面化学分析、再生イオン質量分析、シリコン中のホウ素のディーププロファイリング分析。
BS ISO 14706:2000 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコンウェーハ表面の元素汚染物質の測定
BS ISO 14706:2014 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコンウェーハ表面の元素汚染物質の測定
BS ISO 14706:2001 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコンウェーハ表面の元素汚染物質の測定
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析シリコン酸化膜厚測定
23/30433267 DC BS EN ISO 2613-2 天然ガスバイオメタンの分析パート 2: ガスクロマトグラフィーイオン移動度分光分析によるシロキサン含有量の測定
BS 1902-9.2:1987 耐火物の試験方法パート 9.2: 機器化学分析法セクション 2: 蛍光 X 線分析による珪質耐火物の分析
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
DD ENV 14226:2002 先端技術セラミックスセラミックス粉末の試験方法フレーム原子吸光分析法による窒化ケイ素中のカルシウム、マグネシウム、鉄、アルミニウムの定量

International Organization for Standardization (ISO), スペクトルシリコン

ISO 17560:2002 表面化学分析再生イオン質量の分光測定シリコン中のホウ素のディーププロファイリング法
ISO 5400:1984 皮革中のケイ素含有量の測定 - 還元ケイモリブデン酸分光分析
ISO 9502:1993 還元ケイモリブデン酸分光分析による冶金蛍石中のケイ素含有量の測定
ISO 7530-8:1992 ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8：シリコン含有量の測定
ISO 5438:1993 還元ケイモリブデン酸分光分析による酸性およびセラミック蛍石中のケイ素含有量の測定
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
ISO 9502:1989 冶金グレードの蛍石、シリカ含有量の測定、還元ケイモリブデン酸塩分光分析法
ISO 2613-1 天然ガス分析「バイオメタンのシリコン含有量」パート 1: 原子発光分光法 (AES) による全シリコンの測定
ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
ISO 2613-1:2023 天然ガスのバイオメタン中のシリコン含有量の分析パート 1: 原子発光分光法 (AES) による総シリコンの測定
ISO 5438:1985 酸性およびセラミックグレードの蛍石、シリカ含有量の測定、還元ケイモリブデン酸塩分光分析法
ISO 5935:1980 ケイモリブデン酸分光法を用いた工業用粗ホウ酸ナトリウムの総シリカ含有量とアルカリ可溶性シリカ含有量の測定
ISO 5935:1984 ケイモリブデン酸分光法を用いた工業用粗ホウ酸ナトリウムの総シリカ含有量とアルカリ可溶性シリカ含有量の測定
ISO 10136-1:1993 ガラスおよびガラス製品からの抽出溶液の分析パート 1: 分子吸光分析によるシリカの測定

Association Francaise de Normalisation, スペクトルシリコン

NF X21-051*NF ISO 17560:2006 表面化学分析シリコン中のホウ素の再生イオン質量分析測定ディーププロファイリング法
NF A07-520:1971 アルミニウム-シリコンおよびアルミニウム-シリコン-銅合金の発光スペクトル分析
FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 鉄系金属材料の化学分析フェロシリコンの分析蛍光X線分析によるフェロシリコン中のSi、Alの定量
NF T90-053*NF EN ISO 16264:2004 流動分析 (FIA および CFA) および分光法による可溶性ケイ酸塩の水質測定
NF EN ISO 2613-1:2023 天然ガス分析 - バイオメタンのシリコン含有量 - パート 1: 原子発光分光法 (AES) による総シリコン含有量の測定
NF ISO 7530-8:2007 ニッケル合金フレーム原子吸光分析による分析パート 8: シリコンの測定
NF A08-908*NF ISO 7530-8:2007 ニッケル合金フレーム原子吸光分析法パート 8: シリコン含有量の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), スペクトルシリコン

KS D ISO 17560:2003 表面化学分析再生イオン質量の分光測定シリコン中のホウ素のディーププロファイリング法
KS M ISO 5400-2012(2022) 還元ケイモリブデン酸分光分析による皮革中の総ケイ素含有量の測定
KS M ISO 5400:2012 皮革総ケイ素含有量の測定還元ケイ素モリブデン酸分光分析法
KS D ISO 14706:2003 表面化学分析全反射蛍光X線分析法を使用したシリコンウェーハ表面の主な汚染物質の測定
KS E 3076-2017 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法
KS E 3076-2022 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法
KS D ISO 7530-8:2012 ニッケル合金、フレーム原子吸光分析、パート 8: シリコン含有量の測定
KS D ISO 7530-8-2012(2017) ニッケル合金のフレーム原子吸光分析その 8: シリコン含有量の測定
KS D ISO 7530-8-2012(2022) ニッケル合金のフレーム原子吸光分析その 8: シリコン含有量の測定

European Committee for Standardization (CEN), スペクトルシリコン

CEN/TR 10354:2011 鉄金属材料の化学分析フェロシリコン分析蛍光X線分析分析シリコンとアルミニウムの定量
PD CEN/TR 10354:2011 鉄系材料の化学分析フェロシリコンの分析蛍光X線分析によるシリコンとアルミニウムの定量
prEN ISO 2613-2 天然ガスのバイオメタン分析パート 2: ガスクロマトグラフィーイオン移動度分析によるシロキサン含有量の測定 (ISO/DIS 2613-2:2023)
FprEN ISO 2613-1 天然ガス分析 - バイオメタンのシリコン含有量 - パート 1: 原子発光分析 (AES) による総シリコンの測定 (ISO/FDIS 2613-1:2023)

AENOR, スペクトルシリコン

UNE 59027:1988 皮革中の総ケイ素含有量の測定還元ケイモリブデン酸分析

ES-UNE, スペクトルシリコン

UNE 59027:1988 ERRATUM 皮革中の総ケイ素含有量の測定還元ケイ酸モリブデン分光分析
UNE-EN ISO 2613-1:2023 天然ガスのバイオメタンのシリコン含有量の分析パート 1: 原子発光分光法 (AES) による総シリコンの測定 (ISO 2613-1:2023)

American National Standards Institute （ANSI), スペクトルシリコン

BS EN ISO 2613-1:2023 天然ガス分析バイオメタンのシリコン含有量原子発光分析法 (AES) による全シリコンの測定 (英国標準)

Professional Standard - Aviation, スペクトルシリコン

HB 7716.12-2002 チタン合金の化学組成のスペクトル分析法第12回フレーム原子吸光分析法シリコン含有量の測定
HB 6731.12-2005 アルミニウム合金の化学組成のスペクトル分析方法第 12 部：誘導結合プラズマ発光分析法によるシリコン含有量の測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), スペクトルシリコン

ASTM E463-98 ケイモリブデン酸塩可視分光法による蛍石中のシリカの定量のための標準試験方法
ASTM E463-08 ケイモリブデン酸塩可視分光法による蛍石中のシリカの定量のための標準試験方法
ASTM E463-14 ケイモリブデン酸可視分光法を使用したホタル石中のシリカの定量のための標準試験方法
ASTM E1614-94(1999) リモートファイバー分光法およびブロードバンドシステム用のシリカベースの光ファイバーケーブルにおける電離放射線誘発減衰の測定手順に関する標準ガイド
ASTM E1614-94(2021) リモート光ファイバー分光法およびブロードバンドシステムで使用されるシリコンベースの光ファイバーおよびケーブルの電離放射線による減衰の測定手順に関する標準ガイド
ASTM E1614-94(2013) リモート光ファイバー分光法およびブロードバンドシステムで使用されるシリコンベースの光ファイバーおよびケーブルの電離放射線による減衰の測定手順に関する標準ガイド
ASTM F1723-96 フローティングゾーン結晶成長と分光法を使用した多結晶シリコンロッドの評価の標準的な手法
ASTM F1724-96 酸抽出原子吸光分析法による多結晶シリコン表面の金属不純物を測定するための標準的な試験方法
ASTM F1619-95(2000) ブリュースター角で入射する p 偏光を使用した赤外吸収分光法によるシリコンウェーハの格子間酸素含有量の測定のための標準的な試験方法
ASTM F1708-96 計測ゾーン精製器分光法を使用した粒状多結晶シリコンの評価の標準的な手法

PL-PKN, スペクトルシリコン

PN C04348-1970 分光法による灰中のケイ素、アルミニウム、鉄、カルシウム、マグネシウムの測定

Professional Standard - Non-ferrous Metal, スペクトルシリコン

YS/T 426.5-2000 アンチモンおよびベリリウムペレットの化学分析方法、誘導結合プラズマ発光分光法によるシリコン含有量の測定。

YU-JUS, スペクトルシリコン

JUS B.G8.305-1988 鉱石と濃縮物。クロム鉱石と精鉱。シリコン含有量を測定します。分光法と重量測定
JUS H.B8.091-1980 天然および人工の氷晶石。シリコン含有量の測定。還元ケイモリブデン酸分光法

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, スペクトルシリコン

YB/T 5159-2007 高純度黒鉛製品中のケイ素と鉄の分光分析粉末法
YB/T 5159-1993 高純度黒鉛製品中のケイ素と鉄の分光分析粉末法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, スペクトルシリコン

GB/T 24579-2009 酸浸出原子吸光分析による多結晶シリコン表面の金属汚染物質の測定。
GB/T 24581-2009 低温フーリエ変換赤外分光法によるシリコン単結晶中のIII族およびV族不純物の含有量の測定方法
GB/T 29057-2023 ゾーンメルトと分光分析による多結晶シリコン棒の評価手順
GB/T 29057-2012 ゾーンメルトと分光分析による多結晶シリコン棒の評価手順

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, スペクトルシリコン

GB/T 40110-2021 表面化学分析全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコンウェーハ表面の元素汚染の測定
GB/T 40915-2021 蛍光X線分析によるソーダ石灰シリカガラス中のSiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaOおよびMgO含有量の測定

Professional Standard - Commodity Inspection, スペクトルシリコン

SN/T 2489-2010 銑鉄中のクロム、マンガン、リン、シリコンの定量光電子発光分析

BE-NBN, スペクトルシリコン

NBN T 03-367-1988 工業用天然ホウ砂中のアルカリ可溶性ケイ素含有量の測定。タングステンモリブデンシリケート分光分析

German Institute for Standardization, スペクトルシリコン

DIN EN ISO 2613-1:2023-11 天然ガスのバイオメタンのシリコン含有量の分析パート 1: 原子発光分析 (AES) による総シリコンの測定 (ISO 2613-1:2023)
DIN 38405-21:1990-10 水、廃水および汚泥のドイツ標準検査法、陰イオン (グループ D)、溶解ケイ酸塩の分光測定 (D 21)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, スペクトルシリコン

GB/T 33465-2016 誘導結合プラズマ発光分析によるガソリン中の塩素とシリコンの定量
GB/T 35309-2017 ゾーンメルト法と分光分析による粒状多結晶シリコンの評価手順

VN-TCVN, スペクトルシリコン

TCVN 7207-1-2002 ガラスとガラス器具抽出溶液の分析パート 1: 分子吸光分析によるシリカの測定