ZH
RU
EN
ES

楽器の性能パラメータ

楽器の性能パラメータは全部で 23 項標準に関連している。

楽器の性能パラメータ 国際標準分類において、これらの分類：分析化学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 楽器の性能パラメータ

• GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現

British Standards Institution (BSI), 楽器の性能パラメータ

• BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
• BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ

International Organization for Standardization (ISO), 楽器の性能パラメータ

• ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 楽器の性能パラメータ

• KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明
• KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 楽器の性能パラメータ

• JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Standard Association of Australia （SAA）, 楽器の性能パラメータ

• AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

German Institute for Standardization, 楽器の性能パラメータ

• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析

KR-KS, 楽器の性能パラメータ

• KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

その他：   パフォーマンスパラメータ, 楽器のパラメータ, 楽器の演奏, パラメータ試験器, パラメトリック試験装置, 機器の測定パラメータ, 楽器の演奏, 楽器の性能パラメータ, パラメータ機器のパフォーマンス, パラメータ測定器, ホットプレス装置のパラメータ, 楽器のパラメータ, 楽器の性能パラメータ, 試験装置の性能パラメータ, 楽器の演奏, パラメータパラメータ測定器, ファイバーの性能パラメータ, 楽器の性能パラメータ, パフォーマンスパラメータ, パラメトリック計器.