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パラメータ機器のパフォーマンス

パラメータ機器のパフォーマンスは全部で 28 項標準に関連している。

パラメータ機器のパフォーマンス 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 電気、磁気、電気および磁気測定、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 歯車と歯車伝動装置。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, パラメータ機器のパフォーマンス

• GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現

British Standards Institution (BSI), パラメータ機器のパフォーマンス

• BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
• BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ

International Organization for Standardization (ISO), パラメータ機器のパフォーマンス

• ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), パラメータ機器のパフォーマンス

• KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明
• KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), パラメータ機器のパフォーマンス

• JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

German Institute for Standardization, パラメータ機器のパフォーマンス

• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析

Group Standards of the People's Republic of China, パラメータ機器のパフォーマンス

• T/GDCKCJH 065-2022 酸化亜鉛アレスタDCパラメータテスターの性能要件と検出方法

Standard Association of Australia （SAA）, パラメータ機器のパフォーマンス

• AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

KR-KS, パラメータ機器のパフォーマンス

• KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), パラメータ機器のパフォーマンス

• IEEE 2700-2014 センサー性能パラメータの定義

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., パラメータ機器のパフォーマンス

• IEEE 2700-2017 センサー性能パラメータの定義

RU-GOST R, パラメータ機器のパフォーマンス

• GOST 25678-1983 パルスレーザーエネルギー測定器の種類基本パラメータ基本パラメータの測定方法

AT-ON, パラメータ機器のパフォーマンス

• ONORM M 6773-2001 歯の表面の表面特性。 粗さパラメータ、触針による粗さパラメータの決定、測定器および測定条件

その他：   パフォーマンスパラメータ, 楽器のパラメータ, 楽器の演奏, パラメータ試験器, パラメトリック試験装置, 機器の測定パラメータ, 楽器の演奏, 楽器の性能パラメータ, パラメータ機器のパフォーマンス, パラメータ測定器, ホットプレス装置のパラメータ, 楽器のパラメータ, 楽器の性能パラメータ, 試験装置の性能パラメータ, 楽器の演奏, パラメータパラメータ測定器, ファイバーの性能パラメータ, 楽器の性能パラメータ, パフォーマンスパラメータ, パラメトリック計器.