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誘電試験用の誘電損失

誘電試験用の誘電損失は全部で 61 項標準に関連している。

誘電試験用の誘電損失 国際標準分類において、これらの分類：非金属鉱物、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 断熱材、 通信機器の部品および付属品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 ゴム、 プリント回路およびプリント回路基板、 絶縁流体、 コンデンサ、 総合電子部品、 ワイヤーとケーブル。


CZ-CSN, 誘電試験用の誘電損失

  • CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。 誘電率と誘電損失率の測定
  • CSN 34 6317-1984 電気材料やセラミックスの検査。 誘電率と誘電損失率の求め方
  • CSN 34 6466-1983 電気絶縁材料の誘電率と誘電損失率の求め方

Professional Standard - Electron, 誘電試験用の誘電損失

  • SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
  • SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 誘電試験用の誘電損失

  • ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 誘電試験用の誘電損失

  • KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
  • KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法
  • KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の試験方法

RO-ASRO, 誘電試験用の誘電損失

  • STAS 2740-1969 電気絶縁材料。 誘電率と誘電損失角の決定

ES-UNE, 誘電試験用の誘電損失

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 誘電試験用の誘電損失

  • IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
  • IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
  • IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二流体セル法）

Association Francaise de Normalisation, 誘電試験用の誘電損失

  • NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
  • NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
  • NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 誘電試験用の誘電損失

  • EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定

German Institute for Standardization, 誘電試験用の誘電損失

  • DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DIN 57472-505:1983 ケーブル、導体、コードの試験、誘電正接、誘電損失係数、漏れ率 (VDE 仕様)

PL-PKN, 誘電試験用の誘電損失

  • PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。 誘電率・誘電損失率の測定
  • PN E04410-22-1986 電気絶縁ワニス。 テスト方法。 損失係数と誘電率の決定

British Standards Institution (BSI), 誘電試験用の誘電損失

  • BS EN 60512-25-2:2002 電子機器用コネクタ 試験および測定 試験 25b. 減衰 (挿入損失) セクション 2: 減衰 (挿入損失)
  • BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法 誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
  • BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • 21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブル パート 1-125 電気的試験方法 誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
  • BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 誘電試験用の誘電損失

  • JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

KR-KS, 誘電試験用の誘電損失

  • KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法

Danish Standards Foundation, 誘電試験用の誘電損失

  • DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定

American National Standards Institute （ANSI), 誘電試験用の誘電損失

  • ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性と比誘電率の試験方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 誘電試験用の誘電損失

  • IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
  • IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定

Group Standards of the People's Republic of China, 誘電試験用の誘電損失

  • T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法
  • T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法

RU-GOST R, 誘電試験用の誘電損失

  • GOST 22372-1977 誘電体材料 周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
  • GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 誘電試験用の誘電損失

HU-MSZT, 誘電試験用の誘電損失

IEC - International Electrotechnical Commission, 誘電試験用の誘電損失

  • PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 誘電試験用の誘電損失

Lithuanian Standards Office , 誘電試験用の誘電損失

  • LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)

未注明发布机构, 誘電試験用の誘電損失

  • DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 誘電試験用の誘電損失

  • JJF 1095-2002 コンデンサ誘電損失測定器の校正仕様書

AENOR, 誘電試験用の誘電損失

  • UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定

Standard Association of Australia （SAA）, 誘電試験用の誘電損失

  • AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法 比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定

  銅の誘電損失角, 誘電損失試験方法, 誘電損失試験方法, 誘電損失の測定, ポリマーの誘電損失, 回転電機の固定子巻線絶縁の誘電損率測定, 誘電損失試験, モーターの誘電損失, モーターの誘電損失, コンデンサの誘電損失, 誘電試験用の誘電損失, 巻線絶縁体の誘電損率測定, 誘電損失試験方法, 誘電損失試験, セラミックスの誘電損失, 液体の誘電損失.

 



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