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誘電損失試験方法

誘電損失試験方法は全部で 13 項標準に関連している。

誘電損失試験方法 国際標準分類において、これらの分類：絶縁流体、 電気、磁気、電気および磁気測定、 プリント回路およびプリント回路基板、 総合電子部品、 断熱材、 電気工学総合、 送配電網。

Professional Standard - Electron, 誘電損失試験方法

• SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法

British Standards Institution (BSI), 誘電損失試験方法

• BS EN 61620:1999 絶縁液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより誘電正接を決定する試験方法

Association Francaise de Normalisation, 誘電損失試験方法

• NF EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスの測定により誘電正接を決定するための液体絶縁体の試験方法

Lithuanian Standards Office , 誘電損失試験方法

• LST EN 61620-2001 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁性液体の誘電正接を決定するための試験方法 (IEC 61620:1998)

Group Standards of the People's Republic of China, 誘電損失試験方法

• T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法
• T/CSEE 0032-2017 容量性機器の相対誘電損率と静電容量比のライブテスト方法

German Institute for Standardization, 誘電損失試験方法

• DIN EN 61620:1999 絶縁液体 導電率と静電容量の測定による誘電損率の決定 試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 誘電損失試験方法

• GB/T 11297.9-2015 焦電材料の誘電正接tanδの試験方法
• GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 誘電損失試験方法

• ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
• ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法

未注明发布机构, 誘電損失試験方法

• BS 7663:1993(2000) シート状または管状の電気絶縁材料の誘電率および誘電正接を測定するための試験方法

Professional Standard - Electricity, 誘電損失試験方法

• DL/T 2603-2023 容量性機器の相対誘電損率と静電容量比のライブテスト方法

その他：   誘電損失の測定方法, 誘電損失試験方法, 誘電損失試験方法, 誘電損失試験, 誘電試験用の誘電損失, 誘電特性試験方法, 誘電特性試験方法, 誘電損失試験方法, 誘電損失試験.