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薄膜回折計

薄膜回折計は全部で 170 項標準に関連している。

薄膜回折計 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、繊維製品、放射線防護、長さと角度の測定、語彙、有機化学、写真撮影のスキル、金属材料試験、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、ゴム・プラスチック製品、分析化学、電子機器用機械部品、労働安全、労働衛生、プラスチック、非破壊検査、包装資材および副資材、非鉄金属製品、化学製品、金属の生産、セラミックス、医療機器、表面処理・メッキ、電子機器、非金属鉱物、電子表示装置、放射線測定、非鉄金属、真空技術、溶接、ロウ付け、低温溶接、教育する、情報技術の応用、機械的試験、建物の保護、ゴムおよびプラスチック産業の生産プロセス、電子および通信機器用の電気機械部品、無機化学、半導体材料、エアゾールタンク。

Professional Standard - Machinery, 薄膜回折計

JB/T 11144-2011 X線回折装置
JB/T 9400-1999 X線回折装置技術的条件
JB/T 9400-2010 X線回折装置の技術的条件
JB/T 4167-1999 薄膜空気圧測定器

IT-UNI, 薄膜回折計

UNI 7577-1976 フィルムから派生した生地。フィルム由来のファブリックの特性と最も一般的な製品
UNI 7578-1976 フィルムから派生した生地。ポリオレフィンシート布袋試験

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 薄膜回折計

GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
GB/T 26598-2011 光学機器用透明導電フィルムの規格
GB/T 20724-2006 結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法
GB/T 28609-2012 光学機能フィルムポリエチレンテレフタレート（PET）フィルム複屈折測定法
GB/T 26332.6-2022 光学およびフォトニクス光学フィルムパート 6: 反射フィルムの基本要件
GB/T 26332.1-2010 光学および光学機器用光学フィルム第 1 部: 定義
GB/T 26332.5-2022 光学およびフォトニクス光学フィルムパート 5: 反射防止コーティングの基本要件
GB/T 29658-2013 電子薄膜用高純度アルミニウムおよびアルミニウム合金スパッタリングターゲット
GB/T 27583-2011 光学機能フィルムの反射ぎらつき性能試験方法
GB/T 25898-2010(英文版) フィルムの押し込み硬度と弾性率に関する計測器付きナノインデンテーション試験
GB/T 31227-2014 原子間力顕微鏡を用いたスパッタ膜の表面粗さの測定方法
GB/T 25898-2010 計測器付きナノインデンテーション試験法フィルムの貫入硬度と弾性率
GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法デルタ相の定性分析層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 薄膜回折計

JJG 629-2014 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG 629-1989 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG(地质) 1014-1990 多結晶X線回折装置の校正手順

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 薄膜回折計

GJB 8687-2015 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順
GJB 3032-1997 二硫化モリブデン系自己潤滑性スパッタリング固体膜の仕様

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 薄膜回折計

GJB/J 5463-2005 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順

RU-GOST R, 薄膜回折計

GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度ナノ粒子および膜の空間パラメータ小角X線散乱回折装置を用いた測定方法
GOST R 53655.2-2009 プラスチックフィルムおよびシート自由落下重量法による耐衝撃性の測定第 2 部器械衝撃試験

Professional Standard - Education, 薄膜回折計

JY 141-1982 光の干渉、回折、偏光のデモンストレーター
JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 薄膜回折計

ASTM E2444-05 反射膜測定用語
ASTM E2244-05 光学干渉計を用いた薄膜反射膜の面内長さを測定する標準的な試験方法
ASTM E2244-11 光学干渉計を用いた薄膜反射膜の面内長さを測定する標準的な試験方法
ASTM E2244-11(2018) 光学干渉計を用いた薄膜反射膜の面内長さを測定する標準的な試験方法
ASTM E2444-11 反射膜測定に関する用語
ASTM E2444-11(2018) 薄膜反射コーティングの測定に関する標準用語
ASTM E2246-02 光学干渉法を使用して反射フィルムのひずみ勾配を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2246-05 光学干渉法を使用して反射フィルムのひずみ勾配を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2244-02 光学干渉計を使用して反射膜の共面長を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2245-05 光干渉法を使用して反射膜の残留応力を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2245-02 光干渉法を使用して反射膜の残留応力を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2246-11 光学干渉法を使用して反射フィルムのひずみ勾配を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2244-11e1 光学干渉法を使用して反射フィルムの共面長を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2245-11e1 光干渉法を使用して反射膜の残留歪みを測定するための標準的な試験方法
ASTM E2246-11e1 光学干渉法を使用して反射フィルムのひずみ勾配を測定するための標準的な試験方法
ASTM E2444-05e1 反射膜の測定に関する用語
ASTM E2444-11e1 反射膜の測定に関する用語
ASTM E915-96 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E915-16 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E915-96(2002) 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E2246-11(2018) 光学干渉計を使用した反射薄膜のひずみ勾配測定の標準的な試験方法
ASTM E2245-11(2018) 光学干渉計を用いた反射薄膜の残留ひずみ測定の標準試験方法
ASTM F136-98e1 薄膜装置用クロムスパッタリング電極の標準仕様
ASTM F136-08 薄膜装置用クロムスパッタリング電極の標準仕様
ASTM F136-13(2021)e1 薄膜装置用クロムスパッタリング電極の標準仕様
ASTM F1367-98(2011) 薄膜装置用クロムスパッタリング電極の標準仕様
ASTM F2187-02 メンブレンスイッチまたはメンブレンスイッチの組み合わせに対する高周波振動の影響を検出するための標準的な試験方法
ASTM E915-19 残留応力測定用X線回折装置の校正検証のための標準試験方法
ASTM E915-10 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証のための標準試験方法
ASTM E915-21 残留応力測定用の X 線回折装置の校正と検証の標準的な方法
ASTM F1709-97 電子薄膜用高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様
ASTM F1709-97(2016) 電子薄膜用高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様
ASTM F1709-97(2002) 電子薄膜用高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様
ASTM F1709-97(2008) 電子薄膜用高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様
ASTM E2120-00 塗膜中の鉛含有量を測定するためのポータブル蛍光X線分析計の性能評価の標準的な手法
ASTM F2360-08(2015)e1 拡散光源を備えたメンブレンスイッチのバックライト輝度を測定するための標準試験方法
ASTM F2359-04(2019) 拡散光源を使用したメンブレンスイッチのバックライトの色を決定するための標準的な試験方法
ASTM F2359-04(2011) 拡散光源メンブレンスイッチのバックライト色の標準試験方法
ASTM E1458-92 フォトマスクネットを使用したレーザー回折粒子サイズ測定の校正検証のための標準試験方法
ASTM E2872-14 レーザー回折計を使用してダクト設備における平均スプレー断面特性を決定するための標準ガイド
ASTM E2872-14(2019) 風洞装置でレーザー回折計を使用して噴霧断面の平均特性を決定するための標準ガイド
ASTM F2359-04 拡散光源を備えたメンブレンスイッチのバックライトの色を決定するための標準的な試験方法
ASTM F2360-04 拡散光源を使用したメンブレンスイッチのバックライトの輝度を測定するための標準試験方法

工业和信息化部, 薄膜回折計

HG/T 5854-2021 光学機能性薄膜塗布型反射フィルム
YB/T 5338-2019 X線回折装置による鋼中のオーステナイトの定量法
JB/T 13935-2020 非破壊検査器超音波検出器超音波回折音時間検出器

PL-PKN, 薄膜回折計

PN C99282-06-1989 医療用放射線写真フィルム。 X線写真の品質とフィルム利用機能

Association Francaise de Normalisation, 薄膜回折計

NF S10-133:2005 光学および光学機器、回折光学、語彙
NF T54-199:1999 プラスチック、工業用高分子フィルム、シート、着色フィルム、シートの光透過率低下率の測定。
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
NF EN ISO 18452:2016 テクニカルセラミックス接触式粗面計を使用したセラミックフィルムの厚さの測定

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 薄膜回折計

CNS 13788-1996 プラスチックフィルム・シートの透湿性試験方法（機器法）

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 薄膜回折計

GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

Group Standards of the People's Republic of China, 薄膜回折計

T/ZZB 0514-2018 薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ用光学反射フィルム
T/CPIA 0036.1-2022 太陽光発電モジュール用指向性反射光学フィルムパート 1: 錫めっきはんだ表面用フィルム
T/GDCA 018-2023 高周波機器の使用に適したフェイスマスクに関する一般規則
T/ZZB 1790-2020 銅インジウムガリウムセレン化物太陽電池薄膜スパッタリング成膜装置
T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 薄膜回折計

KS M 3088-1994 プラスチックフィルム・シートの水蒸気透過率の試験方法（機器法）
KS M 3088-2013 プラスチックフィルム・シートの水蒸気透過率の試験方法（機器法）
KS A ISO/ASTM 51275:2005 放射性クロム膜線量測定システムの使用説明書
KS D ISO 16413:2021 線反射率計による膜厚、密度、界面幅の評価、機器要件、校正と位置決め、データ収集、データ分析、レポート作成
KS M 3088-2009 プラスチックフィルム・シートの水蒸気透過性試験方法測定器法
KS M ISO 7765-2-2002(2017) 自由落下ダート法によるプラスチックフィルムおよびシートの耐衝撃性の測定その2: 器具付き突刺試験
KS M ISO 7765-2-2002(2022) プラスチックフィルム・シート自由落下ダーツ法による耐衝撃性の測定その2 器具突刺試験

Society of Automotive Engineers (SAE), 薄膜回折計

SAE AMS2521C-2013 計器ガラスコーティング、反射防止

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 薄膜回折計

JJF 1447-2014 回折通過時間法を用いた超音波探傷器の校正仕様書
JJF 1488-2014 ゴム・プラスチック膜厚計の校正仕様書
JJF 1613-2017 斜入射X線反射膜厚測定器の校正仕様書

American National Standards Institute （ANSI), 薄膜回折計

ANSI/ASTM E915:1996 残留応力測定用X線回折装置の検証方法
ANSI/ISO/ASTM 51275E 1275:2012 ラジオクロミックフィルム投与システムの使用に関する実践規範
ANSI/ASTM D5946:2001 透水計を用いたポリマーフィルムのコロナ処理試験方法
ANSI/ASTM D4272:1999 測定器を備えた落雷によるプラスチックフィルムの耐衝撃性の測定方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 薄膜回折計

GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法
GB/T 40023-2021 非破壊検査装置用超音波回折音時間検出器の技術要件
GB/T 39849-2021 非破壊検査装置超音波回折音時間検出器性能試験方法
GB/T 40293-2021 赤外カルコゲナイド光学膜の屈折率試験方法
GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析収束ビーム電子回折薄い結晶の厚さの測定
GB/T 40279-2021 光反射法によるシリコンウェーハ表面の膜厚測定
GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 薄膜回折計

YB/T 5337-2006 金属格子定数の決定方法 X線回折装置法
YB/T 5338-2006 X線回折法を用いた鋼中の残留オーステナイトの定量
YB/T 5336-2006 X線回折法を用いたハイス中の炭化物相の定量分析

British Standards Institution (BSI), 薄膜回折計

BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス）平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
20/30360821 DC BS ISO 22278 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス）平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質を判定する試験方法
BS ISO 13424:2013 表面化学分析・X線分光分析・薄膜分析レポート
PD IEC TR 63258:2021 ナノスケールの膜厚を評価するためのナノテクノロジー偏光解析アプリケーションのガイド
BS ISO 16413:2013 線反射率測定を使用した膜厚、密度、界面幅の評価機器要件校正と位置決め、データ収集、データ分析とレポート
BS ISO 16413:2020 X 線反射率測定によるフィルムの厚さ、密度、界面幅の評価機器要件、位置合わせと位置決め、データ収集、データ分析、およびレポート作成
PD ISO/TS 25138:2019 表面化学分析金属酸化膜のグロー放電発光分析
BS ISO 7765-2:2022 自由落下ダート法によるプラスチックフィルムおよびシートの耐衝撃性の測定器具付き突刺試験

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 薄膜回折計

YS/T 819-2012 電子薄膜用高純度銅スパッタリングターゲット
YS/T 893-2013 電子薄膜用高純度チタンスパッタリングターゲット
YS/T 718-2009 平面マグネトロンスパッタリングターゲット、光学薄膜用ニオブターゲット
YS/T 719-2009 平面マグネトロンスパッタリングターゲット、光学薄膜用シリコンターゲット
YS/T 1025-2015 電子薄膜用高純度タングステンおよびタングステン合金スパッタリングターゲット
YS/T 839-2012 シリコン基板上の絶縁膜の厚さと屈折率の楕円偏光試験方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 薄膜回折計

JIS K 7129:2008 プラスチック、フィルムおよびシート、水蒸気透過率の測定、機器による方法
JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法
JIS K 7129:1992 プラスチックフィルム・シートの水蒸気透過率の試験方法（機器法）
JIS R 1635:1998 ファインセラミックス膜の可視光線透過率の試験方法
JIS R 1694:2012 ファインセラミックス膜の高湿下での分光透過率測定
JIS R 1698:2015 ファインセラミックス膜の湿潤環境下での分光反射率測定

Lithuanian Standards Office , 薄膜回折計

LST EN ISO 15902:2005 光学および光学機器に関する回折光学用語 (ISO 15902:2004)
LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
LST EN ISO 17636-1:2013 溶接部の非破壊検査放射線検査パート 1: 薄膜を使用した X 線およびガンマ線技術 (ISO 17636-1-2013)

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 薄膜回折計

DB32/T 3792-2020 グラフェンフィルムの透過率試験透過率計法

Professional Standard - Chemical Industry, 薄膜回折計

HG/T 5854～5857-2021 光学機能フィルムを塗布した反射フィルム、トリアセチルセルロース（TAC）防眩フィルム、防汚硬化膜、カバー用透明硬化膜（2021年）
HG/T 5297～5300-2018 拡散複合ポリエチレンテレフタレート（PET）フィルム、耐高温透明ハイバリアフィルム、酸化インジウムスズ（ITO）コーティング用透明ポリエチレンテレフタレート（PET）硬化膜とインジウムスズ酸化物（ITO）コーティング用屈折率整合硬化膜（2018年）

International Organization for Standardization (ISO), 薄膜回折計

ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス）平行X線ビームX線回折法による単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
ISO/ASTM 51275:2002 放射性クロム膜線量測定システムの使用説明書
ISO/ASTM 51275:2004 放射性クロム膜線量測定システムの使用説明書
ISO/ASTM 51275:2013 放射性クロム膜線量測定システムの使用説明書
IEC TR 63258:2021 ナノテクノロジー. ナノフィルムの厚さを推定するためのエリプソメトリーの応用ガイド
IEC/TR 63258:2021 ナノテクノロジー. ナノフィルムの厚さを推定するためのエリプソメトリーの応用ガイド
ISO 17636-1:2013 溶接部の非破壊 X 線検査第 1 部薄膜を用いた X 線およびガンマ線技術
ISO 16413:2013 X線反射率測定で使用される薄膜の厚さ、密度、界面幅の評価、機器の設置、校正と位置決め、データ収集、データ分析とレポート作成
ISO 16413:2020 X線反射率測定による膜厚密度と界面幅の評価 - 機器の位置合わせと位置決めが必要データ収集データ分析とレポート作成
ISO 7765-2:2022 プラスチックフィルムおよびシート自由落下ダーツ法による耐衝撃性の測定その2: 器具付き突刺試験
ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告

German Institute for Standardization, 薄膜回折計

DIN 15551-3:2013-12 放射線感受性フィルムニトロセルロースフィルムパート 3: 用語と定義、特性、用途、保管
DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
DIN ISO 7765-2:2009 自由落下法によるプラスチックフィルム・シートの耐衝撃性の測定その2：器械パンチ試験
DIN ISO 7765-2:2023 落下ダート法によるプラスチックフィルムおよびシートの耐衝撃性の測定パート 2: 器具突刺試験 (ISO 7765-2:2022)

European Committee for Standardization (CEN), 薄膜回折計

EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器

Danish Standards Foundation, 薄膜回折計

DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

Professional Standard - Customs, 薄膜回折計

HS/T 12-2006 X線回折法によるタルク、亜塩素酸塩、マグネサイト混合相の定量分析

AENOR, 薄膜回折計

UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

(U.S.) Ford Automotive Standards, 薄膜回折計

FORD FLTM BO 015-03-2000 木目調フィルムの高強度紫外線耐性
FORD FLTM BU 101-07-2000 ポリカーボネートフィルム計器ダイヤルデカールのせん断接着力の測定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 薄膜回折計

GB/T 33826-2017 ガラス基板上のナノフィルムの厚さを測定する触針式表面形状測定法
GB/T 36053-2018 線反射率測定による膜厚、密度、界面幅の測定機器要件、視準と位置決め、データ収集、データ分析とレポート

KR-KS, 薄膜回折計

KS D ISO 16413-2021 線反射率計による膜厚、密度、界面幅の評価、機器要件、校正と位置決め、データ収集、データ分析、レポート作成

未注明发布机构, 薄膜回折計

NF A89-510-1*NF EN ISO 17636-1:2013 溶接部の非破壊 X 線検査パート 1: 薄膜を使用した X 線およびガンマ線技術

RO-ASRO, 薄膜回折計

STAS 10157-1975 塗料とワニス。鏡面反射を測定することによるフィルムの光沢の決定

Standard Association of Australia （SAA）, 薄膜回折計

AS/NZS 4201.5:1994 柔軟な建築用フィルムおよびライナー試験方法方法 5: 放射率

CZ-CSN, 薄膜回折計

CSN 02 3400-1986 滑り軸受。静荷重と流体計算 - 薄膜ラジアル滑り軸受