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Difractómetro de película fina
Difractómetro de película fina, Total: 172 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Difractómetro de película fina son: Óptica y medidas ópticas., Productos de la industria textil., Protección de radiación, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Químicos orgánicos, Fotografía, pruebas de metales, Productos de caucho y plástico., Química analítica, Optoelectrónica. Equipo láser, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Plástica, Pruebas no destructivas, Materiales y accesorios de embalaje., Productos de metales no ferrosos., Productos de la industria química., producción de metales, Cerámica, Equipo medico, Tratamiento superficial y revestimiento., Accesorios electricos, Minerales no metalíferos, Dispositivos de visualización electrónica., Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Tecnología de vacío, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, Aplicaciones de la tecnología de la información., Pruebas mecánicas, Protección de y en edificios, Procesos de fabricación en las industrias del caucho y del plástico., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., químicos inorgánicos, Contenedores de aerosoles, Análisis del tamaño de partículas. tamizado.
Professional Standard - Machinery, Difractómetro de película fina
IT-UNI, Difractómetro de película fina
- UNI 7577-1976 Textiles de película. Caracterización de textiles a partir de películas y productos manufacturados más habituales.
- UNI 7578-1976 Textiles de película. Ensayos en bolsas fabricadas con cintas tejidas de poliolefina.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difractómetro de película fina
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- GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
- GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 26598-2011 Especiación de película delgada conductora transparente para instrumentos ópticos.
- GB/T 20724-2006 Método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.
- GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
- GB/T 28609-2012 Películas funcionales ópticas. Tereftalato de polietileno (PET). Determinación de birrefringencia.
- GB/T 26332.6-2022 Óptica y fotónica. Recubrimientos ópticos. Parte 6: Requisitos mínimos para recubrimientos reflectantes.
- GB/T 26332.1-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 1: Definiciones
- GB/T 26332.5-2022 Óptica y fotónica. Recubrimientos ópticos. Parte 5: Requisitos mínimos para recubrimientos antirreflectantes.
- GB/T 29658-2013 Objetivo de aleación de aluminio y aluminio de pulverización catódica de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- GB/T 27583-2011 Películas funcionales ópticas. Determinación del deslumbramiento reflejado.
- GB/T 25898-2010(英文版) Prueba de nanoindentación instrumentada: dureza de indentación y módulo de película delgada
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
- GB/T 25898-2010 Prueba de nanoindentación instrumentada. Dureza de indentación y módulo de película delgada.
- GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Difractómetro de película fina
- GJB/J 5463-2005 Reglamento de verificación para equipos de medición del índice de refracción y espesor de películas ópticas.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Difractómetro de película fina
- GJB 8687-2015 Procedimientos de calibración para probadores de espesor e índice de refracción de películas ópticas.
- GJB 3032-1997 Especificación para películas sólidas autolubricantes a base de disulfuro de molibdeno pulverizadas
RU-GOST R, Difractómetro de película fina
- GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
- GOST R 53655.2-2009 Películas y láminas de plástico. Determinación de la resistencia al impacto por el método del peso en caída libre. Parte 2. Prueba de punción instrumentada
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
Professional Standard - Education, Difractómetro de película fina
- JY 141-1982 Interferencia de luz, difracción, demostrador de polarización.
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
American Society for Testing and Materials (ASTM), Difractómetro de película fina
- ASTM E2444-05 Terminología relacionada con las mediciones tomadas en películas delgadas y reflectantes
- ASTM E2244-05 Método de prueba estándar para mediciones de longitud en el plano de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2244-11 Método de prueba estándar para mediciones de longitud en el plano de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2244-11(2018) Método de prueba estándar para mediciones de longitud en el plano de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2444-11 Terminología relacionada con las mediciones tomadas en películas delgadas y reflectantes
- ASTM E2444-11(2018) Terminología estándar relacionada con las mediciones tomadas en películas delgadas y reflectantes
- ASTM E2246-02 Método de prueba estándar para mediciones del gradiente de deformación de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2246-05 Método de prueba estándar para mediciones del gradiente de deformación de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2244-02 Método de prueba estándar para mediciones de longitud en el plano de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2245-05 Método de prueba estándar para mediciones de deformación residual de películas delgadas y reflectantes utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2245-02 Método de prueba estándar para mediciones de deformación residual de películas delgadas y reflectantes utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2246-11 Método de prueba estándar para mediciones del gradiente de deformación de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2244-11e1 Método de prueba estándar para mediciones de longitud en el plano de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2245-11e1 Método de prueba estándar para mediciones de deformación residual de películas delgadas y reflectantes utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2246-11e1 Método de prueba estándar para mediciones del gradiente de deformación de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2444-05e1 Terminología relacionada con las mediciones tomadas en películas delgadas y reflectantes
- ASTM E2444-11e1
- ASTM E2246-11(2018) Método de prueba estándar para mediciones del gradiente de deformación de películas reflectantes delgadas utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E2245-11(2018) Método de prueba estándar para mediciones de deformación residual de películas delgadas y reflectantes utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM F136-98e1 Especificación estándar para aleación forjada de titanio-6 aluminio-4 vanadio ELI (intersticial extra bajo) (UNS R56401) para aplicaciones de implantes quirúrgicos
- ASTM F136-08 Especificación estándar para aleación forjada de titanio-6 aluminio-4 vanadio ELI (intersticial extra bajo) para aplicaciones de implantes quirúrgicos (UNS R56401)
- ASTM F136-13(2021)e1 Especificación estándar para aleación forjada de titanio-6aluminio-4vanadio ELI (intersticial extra bajo) para aplicaciones de implantes quirúrgicos (UNS R56401)
- ASTM F1367-98(2011) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de cromo para aplicaciones de película delgada
- ASTM F2187-02 Método de prueba estándar para determinar el efecto de la vibración de frecuencia aleatoria en un interruptor de membrana o un conjunto de interruptor de membrana
- ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM F1709-97 Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de titanio de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM F1709-97(2016) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de titanio de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM F1709-97(2002) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de titanio de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM F1709-97(2008) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de titanio de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM E2120-00 Práctica estándar para la evaluación del rendimiento del espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil para la medición de plomo en películas de pintura
- ASTM F2359-04(2011) Método de prueba estándar para determinar el color de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
- ASTM F2360-08(2015)e1 Método de prueba estándar para determinar la luminancia de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
- ASTM F2359-04(2019) Método de prueba estándar para determinar el color de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
- ASTM E1458-92 Método de prueba estándar para la verificación de la calibración de instrumentos de dimensionamiento de partículas por difracción láser utilizando retículas de fotomáscara
- ASTM E2872-14 Guía estándar para determinar las características promediadas de la sección transversal de una pulverización utilizando instrumentos de difracción láser en un aparato de túnel de viento
- ASTM E2872-14(2019) Guía estándar para determinar las características promediadas de la sección transversal de una pulverización utilizando instrumentos de difracción láser en un aparato de túnel de viento
- ASTM F2359-04 Método de prueba estándar para determinar el color de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
- ASTM F2360-04 Método de prueba estándar para determinar la luminancia de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
- ASTM E2245-11 Método de prueba estándar para mediciones de deformación residual de películas delgadas y reflectantes utilizando un interferómetro óptico
- ASTM E1458-12(2022) Método de prueba estándar para la verificación de la calibración de instrumentos de dimensionamiento de partículas por difracción láser utilizando retículas de fotomáscara
工业和信息化部, Difractómetro de película fina
- HG/T 5854-2021 Película reflectante tipo revestimiento de película delgada funcional óptica
- YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
- JB/T 13935-2020 Instrumento de prueba no destructivo, detección ultrasónica, detector de tiempo de sonido por difracción ultrasónica
PL-PKN, Difractómetro de película fina
- PN C99282-06-1989 Películas médicas radiográficas Característica cualitativa y utilizable de las películas para radiografía de rayos X.
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
- CNS 13788-1996 Métodos de prueba para la tasa de transmisión de vapor de agua de películas y láminas de plástico (método instrumental)
Association Francaise de Normalisation, Difractómetro de película fina
- NF S10-133:2005 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica difractiva - Vocabulario.
- NF T54-199:1999 Plásticos - Películas y láminas hechas de polímeros para uso industrial - Medición del índice de reducción de la transmisión de luz de una película o lámina pigmentada
- NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
- NF EN ISO 18452:2016 Cerámica técnica - Determinación del espesor de películas cerámicas con perfilómetro de contacto
Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
- GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
Group Standards of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
- T/ZZB 0514-2018 Película reflectora óptica para pantalla de panel TFT-LCD
- T/CPIA 0036.1-2022 Películas ópticas retrorreflectantes para módulos fotovoltaicos Parte 1: Películas para superficies de cintas estañadas
- T/GDCA 018-2023 Principios generales de mascarilla facial para aparato de radiofrecuencia.
- T/ZZB 1790-2020 Equipos de pulverización catódica para células solares de película fina de Cu-In-Ga-Se
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Difractómetro de película fina
- KS M 3088-1994 Métodos de prueba para la tasa de transmisión de vapor de agua de películas y láminas de plástico (método instrumental)
- KS M 3088-2013 Métodos de prueba para la tasa de transmisión de vapor de agua de películas y láminas de plástico (método instrumental)
- KS A ISO/ASTM 51275:2005 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica
- KS D ISO 16413:2021 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- KS M 3088-2009 Métodos de prueba para la tasa de transmisión de vapor de agua de películas y láminas de plástico (método instrumental)
- KS M ISO 7765-2-2002(2017) Películas y láminas de plástico - Determinación de la resistencia al impacto mediante el método del dardo en caída libre - Parte 2: Prueba de punción instrumentada
- KS M ISO 7765-2-2002(2022) Películas y láminas de plástico - Determinación de la resistencia al impacto mediante el método del dardo en caída libre - Parte 2: Prueba de punción instrumentada
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
- JJF 1447-2014 Especificación de calibración para detectores de fallas ultrasónicos mediante difracción de tiempo de vuelo
- JJF 1488-2014 Especificación de calibración para calibre de película de caucho y plástico
- JJF 1613-2017 Especificación de calibración para instrumentos de medición de espesor de película delgada mediante reflectividad de rayos X de incidencia rasante
Society of Automotive Engineers (SAE), Difractómetro de película fina
American National Standards Institute （ANSI), Difractómetro de película fina
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ANSI/ISO/ASTM 51275E 1275:2012 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica
- ANSI/ASTM D5946:2001 Método de prueba para películas poliméricas tratadas con corona utilizando mediciones del ángulo de contacto con el agua
- ANSI/ASTM D4272:1999 Película plástica mediante caída de dardo instrumentada, método de prueba para resistencia al impacto de (08.03)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de película fina
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
- GB/T 40023-2021 Instrumentos de prueba no destructivos—Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo—Requisitos técnicos
- GB/T 39849-2021 Instrumentos de prueba no destructivos. Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo. Métodos de pruebas de rendimiento.
- GB/T 40293-2021 Método de prueba para el índice de refracción de películas de calcogenuro óptico infrarrojo.
- GB/T 20724-2021 Análisis de microhaz: método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.
- GB/T 40279-2021 Método de prueba para determinar el espesor de películas sobre la superficie de una oblea de silicio: método de reflexión óptica
- GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Difractómetro de película fina
- YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
- YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
- YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
British Standards Institution (BSI), Difractómetro de película fina
- BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
- PD IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías. Una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
- BS ISO 16413:2013 Evaluación de espesor, densidad y ancho de interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Alineación y posicionamiento de requisitos instrumentales, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- BS ISO 16413:2020 Evaluación de espesor, densidad y ancho de interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difractómetro de película fina
- JIS K 7129:2008 Plásticos --Películas y láminas -- Determinación de la tasa de transmisión de vapor de agua -- Método instrumental
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
- JIS K 7129:1992 Métodos de prueba para la tasa de transmisión de vapor de agua de películas y láminas de plástico (método instrumental)
- JIS R 1635:1998 Método de prueba para la transmitancia de luz visible de películas finas de cerámica.
- JIS R 1694:2012 Medición de la transmitancia espectral de películas finas de cerámica en condiciones húmedas.
- JIS R 1698:2015 Medición de la reflectancia espectral de películas delgadas de cerámica fina en condiciones húmedas.
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Difractómetro de película fina
- YS/T 819-2012 Objetivo de cobre de pulverización catódica de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- YS/T 893-2013 Objetivo de titanio de pulverización catódica de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- YS/T 718-2009 Objetivo de pulverización catódica magnético plano. Objetivo de niobio para recubrimiento óptico
- YS/T 719-2009 Objetivo de pulverización catódica magnético plano. Objetivo de silicio para recubrimiento óptico
- YS/T 1025-2015 Objetivo de pulverización catódica de tungsteno y aleación de tungsteno de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- YS/T 839-2012 Método de prueba para la medición del espesor de aisladores y del índice de refracción sobre sustratos de silicio mediante elipsometría.
Lithuanian Standards Office , Difractómetro de película fina
- LST EN ISO 15902:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Óptica difractiva. Vocabulario (ISO 15902:2004)
- LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
- LST EN ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras. Ensayos radiográficos. Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película (ISO 17636-1:2013)
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de película fina
- DB32/T 3792-2020 Método del instrumento de transmisión de luz de prueba de transmitancia de luz de película de grafeno
Professional Standard - Chemical Industry, Difractómetro de película fina
- HG/T 5854～5857-2021 Películas reflectantes revestidas para películas funcionales ópticas, películas antideslumbrantes de triacetilcelulosa (TAC), películas curadas antiincrustantes y películas curadas transparentes para placas de cubierta (2021)
- HG/T 5297～5300-2018 Película de tereftalato de polietileno (PET) compuesta de difusión, película transparente de alta barrera resistente a altas temperaturas, película endurecida de tereftalato de polietileno (PET) transparente para recubrimiento de óxido de indio y estaño (ITO) y cur
International Organization for Standardization (ISO), Difractómetro de película fina
- ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- ISO/ASTM 51275:2002 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica
- ISO/ASTM 51275:2004 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica
- ISO/ASTM 51275:2013 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica
- IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
- IEC/TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
- ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos radiográficos - Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película
- ISO 16413:2013 Evaluación del espesor, densidad y ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- ISO 16413:2020 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- ISO 7765-2:2022 Películas y láminas de plástico. Determinación de la resistencia al impacto mediante el método del dardo en caída libre. Parte 2: Ensayo de punción instrumentada.
- ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
German Institute for Standardization, Difractómetro de película fina
- DIN 15551-3:2013-12 Películas sensibles a la radiación. Película de nitrato de celulosa. Parte 3: Términos y definiciones, propiedades, utilización, almacenamiento.
- DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN ISO 7765-2:2009 Películas y láminas de plástico. Determinación de la resistencia al impacto mediante el método del dardo en caída libre. Parte 2: Ensayo de punción instrumentada (ISO 7765-2:1994); Versión en inglés de DIN ISO 7765-2:2009-02
- DIN ISO 7765-2:2023 Películas y láminas de plástico. Determinación de la resistencia al impacto mediante el método del dardo en caída libre. Parte 2: Ensayo de punción instrumentada (ISO 7765-2:2022)
European Committee for Standardization (CEN), Difractómetro de película fina
- EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Danish Standards Foundation, Difractómetro de película fina
- DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Professional Standard - Customs, Difractómetro de película fina
- HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X
AENOR, Difractómetro de película fina
- UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
(U.S.) Ford Automotive Standards, Difractómetro de película fina
- FORD FLTM BO 015-03-2000 RESISTENCIA DE LAS PELÍCULAS DE MADERA A LA EXPOSICIÓN ULTRAVIOLETA DE ALTA INTENSIDAD
- FORD FLTM BU 101-07-2000 DETERMINACIÓN DE LA ADHESIÓN POR CORTE DE APLICACIONES DE PELÍCULA DE POLICARBONATO PARA ESFERAS DE INSTRUMENTOS
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de película fina
- GB/T 33826-2017 Medición del espesor de nanopelículas sobre sustrato de vidrio: método perfilométrico
- GB/T 36053-2018 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
KR-KS, Difractómetro de película fina
- KS D ISO 16413-2021 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
未注明发布机构, Difractómetro de película fina
RO-ASRO, Difractómetro de película fina
- STAS 10157-1975 PINTURAS Y BARNICES Determinación del brillo de una película midiendo la reflexión especular
Standard Association of Australia （SAA）, Difractómetro de película fina
- AS/NZS 4201.5:1994 Membranas y capas base de construcción flexibles - Métodos de prueba - Emitancia
CZ-CSN, Difractómetro de película fina
- CSN 02 3400-1986 Cojinetes lisos. Cálculo de carga estática y fluidez: cojinetes lisos radiales de película