ZH
RU
EN
ES

膜応力

膜応力は全部で 27 項標準に関連している。

膜応力 国際標準分類において、これらの分類：表面処理・メッキ、 繊維製品、 写真撮影のスキル、 ゴム・プラスチック製品、 半導体ディスクリートデバイス、 電子および通信機器用の電気機械部品。

Group Standards of the People's Republic of China, 膜応力

• T/SZMES 3-2021 薄膜応力測定基板曲げ法

United States Navy, 膜応力

• NAVY UFGS-32 01 17.62-2008 応力吸収フィルムサンドイッチ

German Institute for Standardization, 膜応力

• DIN 53369:1976-02 プラスチックフィルムの試験、収縮応力の測定
• DIN 53369:1976 プラスチックフィルムの検査、収縮応力の測定
• DIN EN ISO 14616:2004 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定
• DIN EN ISO 14616:2004-10 プラスチック - ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮性フィルム - 収縮応力および収縮応力の測定
• DIN EN 62047-16:2015-12 半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 16: MEMS フィルムの残留応力を測定するための試験方法 - ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 膜応力

• ASTM D5397-07 ノッチ付き定引張荷重試験を使用したポリオレフィンジオメンブレンの耐応力引裂性を評価するための標準試験方法
• ASTM D5397-99 ノッチ付き定引張荷重試験を使用したポリオレフィンジオメンブレンの耐応力引裂性を評価するための標準試験方法
• ASTM D5397-07(2012) ノッチ付き定引張荷重試験を使用したポリオレフィンジオメンブレンの耐応力引裂性を評価するための標準試験方法
• ASTM E2245-05 光干渉法を使用して反射膜の残留応力を測定するための標準的な試験方法
• ASTM E2245-02 光干渉法を使用して反射膜の残留応力を測定するための標準的な試験方法

Association Francaise de Normalisation, 膜応力

• NF T54-125*NF EN ISO 14616:2004 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定
• NF T54-125:1993 プラスチック製品 ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定 試験方法
• NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 半導体デバイス 微小電気機械デバイス パート 16: MEMS フィルムの残留応力を測定するための試験方法 ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法
• NF EN 62047-16:2015 半導体デバイス、微小電気機械デバイス、パート 16: MEMS フィルムの残留応力を測定するための試験方法、ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法

British Standards Institution (BSI), 膜応力

• BS EN ISO 14616:1997 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定
• BS EN ISO 14616:2004 プラスチックポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮性フィルムの収縮応力および収縮応力の測定

International Organization for Standardization (ISO), 膜応力

• ISO 14616:1997 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定

Danish Standards Foundation, 膜応力

• DS/EN ISO 14616:2004 プラスチックポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮性フィルムの収縮応力および収縮応力の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 膜応力

• KS M ISO 14616:2002 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定

European Committee for Standardization (CEN), 膜応力

• EN ISO 14616:2004 プラスチック ポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮フィルム 収縮応力の測定 ISO 14616-1997

Lithuanian Standards Office , 膜応力

• LST EN ISO 14616:2005 プラスチックポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮性フィルムの収縮応力および収縮応力の測定 (ISO 14616:1997)

AENOR, 膜応力

• UNE-EN ISO 14616:2005 プラスチックポリエチレン、エチレンコポリマーおよびそれらの混合物の熱収縮性フィルムの収縮応力および収縮応力の測定 (ISO 14616:1997)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 膜応力

• EN 62047-16:2015 半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 16: MEMS フィルムの残留応力を測定するための試験方法 ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 膜応力

• IEC 62047-16:2015 半導体デバイス マイクロ電気機械デバイス パート 16: MEMS フィルムの残留応力を決定するための試験方法 ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法

ES-UNE, 膜応力

• UNE-EN 62047-16:2015 半導体デバイス 微小電気機械デバイス パート 16: MEMS フィルムの残留応力を測定するための試験方法 ウェーハの曲率およびカンチレバーのたわみ方法

その他：   薄膜応力計, 膜応力, 膜応力, 縦方向のフィルム応力, 薄膜応力計, フィルムの内部応力, 中間応力フィルムサンドイッチ, 膜残留応力, ストレスシートフィルム, フィルムの内部応力, 薄膜応力測定, プラスチックフィルム応力, 膜応力, ストレスフィルム, 薄膜応力測定, 膜残留応力, 半導体膜応力, 映画の中のストレス, 薄膜応力測定, フィルムストレスと.