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キャリア濃度分布

キャリア濃度分布は全部で 88 項標準に関連している。

キャリア濃度分布 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、金属材料試験、絶縁流体、粒度分析、スクリーニング、流体の流れの測定、天文学、測地学、地理学、半導体ディスクリートデバイス、分析化学、空気の質、航空宇宙用の流体システムおよびコンポーネント、航空宇宙システムおよび操作装置、電子および通信機器用の電気機械部品、電気、磁気、電気および磁気測定、導体材料、燃料、計測学と測定の総合。

Professional Standard - Electron, キャリア濃度分布

SJ 3244.4-1989 ガリウムヒ素およびインジウムリン材料のキャリア濃度プロファイル分布の試験方法電気化学的電圧容量法
SJ 2757-1987 高濃度ドープ半導体のキャリア濃度の赤外線反射試験方法
SJ 3248-1989 高濃度ドープガリウムヒ素およびインジウムリンのキャリア濃度の赤外線反射試験方法
SJ 3244.1-1989 ガリウムヒ素およびインジウムリン材料のホール移動度およびキャリア濃度の測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, キャリア濃度分布

GB/T 8757-2006 ガリウムヒ素中のキャリア濃度のプラズマ共鳴測定法
GB/T 36705-2018 ラマン分光法による窒化ガリウム基板のキャリア濃度の検査
GB/T 14146-1993 シリコンエピタキシャル層キャリア濃度測定とプローブ容量電圧法
GB/T 11068-2006 ガリウムヒ素エピタキシャル層キャリア濃度容量電圧測定法
GB/T 14146-2009 シリコンエピタキシャル層のキャリア濃度の測定水銀プローブ容量電圧法
GB 11068-1989 ガリウムヒ素エピタキシャル層キャリア濃度容量電圧測定法
GB/T 14863-2013 ゲートダイオードと非ゲートダイオードの電圧と容量の関係を使用して、シリコンエピタキシャル層の正味キャリア濃度を決定する方法
GB/T 14863-1993 ゲートダイオードおよび非ゲートダイオードの電圧と容量の関係を使用してシリコンエピタキシャル層の正味キャリア濃度を決定する標準的な方法
GB/T 42732-2023 ナノテクノロジーにおける無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度測定水相単一粒子誘導結合プラズマ質量分析

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, キャリア濃度分布

GB/T 14146-2021 シリコンエピタキシャル層のキャリア濃度の試験容量-電圧法
GB/T 39843-2021 電子特性により、局所的な臨界電流密度と大面積超電導膜の分布を測定します

Group Standards of the People's Republic of China, キャリア濃度分布

T/IAWBS 003-2017 炭化珪素エピタキシャル層のキャリア濃度の測定_水銀プローブ静電容量-電圧法
T/CASAS 010-2019 二次イオン質量分析による窒化ガリウム材料中の微量不純物濃度と分布の検出方法
T/CASAS 009-2019 二次イオン質量分析による半絶縁性炭化ケイ素材料中の微量不純物濃度と分布の検出方法

International Organization for Standardization (ISO), キャリア濃度分布

ISO/DIS 19430 粒子追跡分析 (PTA) による粒子サイズ分布と個数濃度の測定
ISO 21501-3:2019 粒度分布の測定単一粒子光相互作用法パート 3: 消滅型液体媒介粒子計数器
ISO 21501-2:2019 粒度分布の測定単一粒子光相互作用法パート 2: 光散乱液体粒子計数器
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO 14952-3:2003 航空宇宙システム流体システムの表面清浄度パート 3: 不揮発性残留物および粒子濃度を測定するための分析方法。
ISO/TS 19590:2017 ナノテクノロジー単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定
ISO 28439:2011 職場環境、超微細エアロゾル/ナノエアロゾルの特性評価、示差電気流量解析システムを使用した粒子サイズ分布およびカウント濃度の測定。

British Standards Institution (BSI), キャリア濃度分布

PD IEC TS 62607-5-3:2020 ナノ加工における重要な制御特性薄膜有機/ナノエレクトロニクスデバイスのキャリア濃度の測定
BS ISO 21501-3:2007 粒度分布測定単一粒子光干渉法消滅型液体媒介粒子計数器
BS ISO 21501-2:2007 粒度分布測定単一粒子光干渉法光散乱液体粒子計数器
BS ISO 21501-3:2019 粒度分布の測定単一粒子光相互作用法消滅液中粒子計数器
BS ISO 21501-2:2019 粒度分布測定単一粒子光相互作用法 - 光散乱液体粒子計数器
19/30385918 DC BS ISO 21501-3 粒度分布の測定単一粒子光相互作用法パート 3: 消滅型液体媒介粒子計数器
19/30385915 DC BS ISO 21501-2 粒度分布の測定単一粒子光相互作用法パート 2. 光散乱液体粒子計数器
BS PD CEN/TR 13205-3:2014 職場での暴露浮遊粒子濃度測定用サンプラーの性能評価サンプリング効率データの分析
BS EN IEC 61788-17:2021 大面積超電導膜の局所臨界電流密度と分布の超電導電子物性測定
PD CEN ISO/TS 19590:2019 ナノテクノロジー単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定
19/30391554 DC BS EN 61788-17。超電導。パート 17: 電子特性の測定。大面積超電導膜の局所臨界電流密度と分布

IN-BIS, キャリア濃度分布

IS 6339-1971 河川や水路の底質濃度、粒度分布、比重の分析方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), キャリア濃度分布

KS B ISO 4365:2022 開いた水路内の液体の流れ小川や運河内の堆積物濃度、粒度分布、および相対密度の測定。
KS C IEC 60512-5-2:2003 電子機器用コネクタテストと測定パート 5-2: 電流容量テストテスト 5b: 電流温度降下
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) 電子機器用コネクタの試験および測定パート 5-2: 電流容量試験試験 5b: 電流温度ディレーティング
KS C IEC 60512-5-2:2014 電子機器用コネクタの試験・測定パート5-2：通電容量試験試験5b 電流温度降下
KS C IEC 61788-17:2020 超電導 - パート 17: 電子物性の測定 - 大面積超電導膜における局所臨界電流密度とその分布

KR-KS, キャリア濃度分布

KS B ISO 4365-2022 開いた水路内の液体の流れ小川や運河内の堆積物濃度、粒度分布、および相対密度の測定。
KS C IEC 61788-17-2020 超電導 - パート 17: 電子物性の測定 - 大面積超電導膜における局所臨界電流密度とその分布

RU-GOST R, キャリア濃度分布

GOST 25645.146-1989 地球の電離層衝突電子濃度、温度、実効周波数の全球分布モデル
GOST R 25645.158-1994 地球の最も高い電離層地磁気赤道水平層における電子の濃度分布モデル
GOST R 25645.157-1994 地球下部電離層 VLE-LF 電波による全球濃度分布モデルと電子の実効衝突頻度予測
GOST R 8.775-2011 国家測定一貫性保証制度粒度分布測定エアロゾル粒子の示差電気流動解析

International Electrotechnical Commission (IEC), キャリア濃度分布

IEC TS 62607-5-3:2020 ナノ加工の臨界制御特性パート 5-3: 薄膜有機/ナノ電子デバイスにおける電荷キャリア濃度の測定
IEC TS 62607-6-16:2022 ナノ加工臨界制御特性第6-16部二次元材料キャリア濃度電界効果トランジスタ法
IEC 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下
IEC 61788-17:2021 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定
IEC 61788-17:2021 RLV 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), キャリア濃度分布

ASTM F398-92(1997) プラズモン共鳴の最小波数または波長を測定することにより、半導体内の多数キャリア濃度を決定するための標準的な試験方法
ASTM F1392-00 水銀プローブを用いた静電容量電圧測定によるシリコンウェーハの正味キャリア密度分布を決定するための標準的な試験方法
ASTM D4438-13(2018)e1 電子計数による触媒および触媒担体の粒度分布の標準試験方法
ASTM D4438-13 電子計数による触媒および触媒担体の粒度分布を測定するための標準試験方法
ASTM D8049-17 直接画像化粒子分析装置を使用した軽質中間留分燃料中の固体粒子と水の濃度、個数、粒度分布を測定するための標準試験方法
ASTM D8049-16 直接画像化粒子分析装置を使用した軽質および中留分燃料中の固体粒子と水の濃度、個数、および粒度分布を測定するための標準試験方法
ASTM D8049-16a 直接イメージング粒子分析装置を使用した、軽質および中留分燃料中の固体粒子と水の濃度計数とサイズ分布の標準試験方法

Association Francaise de Normalisation, キャリア濃度分布

NF X43-283-4*NF EN 13205-4:2014 職場暴露における浮遊粒子濃度測定用サンプラーの性能評価第 4 部：濃度比較に基づく実験室性能試験
XP T16-401*XP CEN ISO/TS 19590:2019 ナノテクノロジー単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定
NF X43-283-1*NF EN 13205-1:2014 職場暴露における浮遊粒子濃度を測定するためのサンプラーの性能評価パート 1: 一般要件
FD X43-711-2*FD CEN/TR 16013-2:2010 職場暴露エアロゾルモニタリング直読装置取扱説明書パート 2: 光学式パーティクルカウンターを使用した浮遊粒子濃度の評価
NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験および測定パート 5-2: 電流容量試験試験 5b: 電流温度降下値
NF X43-283-6*NF EN 13205-6:2014 職場暴露による浮遊粒子濃度測定用サンプラーの性能評価第 6 部：輸送および取扱い試験
XP CEN ISO/TS 19590:2019 ナノテクノロジー - 単一粒子モード誘起プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定
NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定
NF EN IEC 61788-17:2021 超電導 - パート 17: 電子物性の測定 - 大表面超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布

CEN - European Committee for Standardization, キャリア濃度分布

CEN ISO/TS 19590:2019 ナノテクノロジー単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定

German Institute for Standardization, キャリア濃度分布

DIN EN 13205-4:2014 職場暴露浮遊粒子濃度測定用サンプラーの性能評価パート 4: 濃度比較に基づく実験室性能試験、ドイツ語版 EN 13205-4-2014
DIN EN 60512-5-2:2003-01 電子機器へのコネクタ - テストと測定 - パート 5-2: 電流容量テスト、テスト 5b: 電流温度ディレーティング (IEC 60512-5-2:2002)
DIN EN 13205-1:2014 職場暴露浮遊粒子濃度測定用サンプラーの性能評価パート 1: 一般要件、ドイツ語版 EN 13205-1-2014
DIN CEN ISO/TS 19590:2019-11*DIN SPEC 19286:2019-11 ナノテクノロジー単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測定

Danish Standards Foundation, キャリア濃度分布

DS/CEN/TR 16013-2:2010 職場暴露エアロゾルモニタリング直読装置取扱説明書パート 2: 光学式パーティクルカウンターを使用した浮遊粒子濃度の評価
DS/EN 60512-5-2:2002 電子機器コネクタの試験と測定パート 5-2: 電流容量試験試験 5b: 電流温度ディレーティング
DS/ISO 21501-4:2007 粒度分布の測定単一粒子の光相互作用法パート 4: 清掃空間用の光散乱浮遊粒子計数器
DS/EN IEC 61788-17:2021 超電導パート17: 大面積超電導膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定
DS/EN 61788-17:2013 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), キャリア濃度分布

JIS C 5402-5-2:2005 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下

AENOR, キャリア濃度分布

UNE-EN 60512-5-2:2002 電子機器コネクタの試験および測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度ディレーティング

European Committee for Standardization (CEN), キャリア濃度分布

EN ISO 28439:2011 職場環境、超微細エアロゾル/ナノエアロゾルの特性評価、示差電気流量解析システムを使用した粒子サイズ分布およびカウント濃度の測定。

Lithuanian Standards Office , キャリア濃度分布

LST EN 60512-5-2-2003 電子機器コネクタの試験および測定パート 5-2: 電流容量試験試験 5b: 電流温度ディレーティング (IEC 60512-5-2:2002)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, キャリア濃度分布

EN 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下 IEC 60512-5-2:2002
EN IEC 61788-17:2021 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定
EN 61788-17:2013 超電導その17：大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の電子物性測定

ES-UNE, キャリア濃度分布

UNE-EN IEC 61788-17:2021 超電導その17: 電子物性大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の測定
UNE-EN 61788-17:2013 超電導その17: 電子物性大面積超電導薄膜における局所臨界電流密度とその分布の測定