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電子顕微鏡の校正

電子顕微鏡の校正は全部で 16 項標準に関連している。

電子顕微鏡の校正 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 計測学と測定の総合、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡の校正

• ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
• ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡の校正

• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
• BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 電子顕微鏡の校正

• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡の校正

• T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡の校正

• DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法
• DB31/T 315-2004 透過型電子顕微鏡の倍率校正方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡の校正

• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡の校正

• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡の校正

• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

その他：   電子顕微鏡の校正, サンプルの校正, XPSのキャリブレーション, ph計の校正, 電子顕微鏡の校正, 校正エラー, 検量線の解析, 質量分析計の校正, 蛍光装置の校正, ドームメーターの校正, 写真測量のキャリブレーション, 蛍光のスペクトル校正, LAN 機器の校正済み, 標準曲線の校正, 調整されたサイト, 時間校正, 電子顕微鏡の校正, XPSでのキャリブレーション, 機器の校正基準, 校正の役割.