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二極試験電圧

二極試験電圧は全部で 500 項標準に関連している。

二極試験電圧 国際標準分類において、これらの分類:半導体ディスクリートデバイス、 電気および電子試験、 感電保護、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 電子管、 環境を守ること、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 送配電網、 特殊な作業条件下で使用される電気機器、 土壌品質、土壌科学、 造船と海洋構造物の一体化、 電気工学総合、 燃料電池、 分析化学、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 電子および通信機器用の電気機械部品、 絶縁流体、 無機化学、 航空宇宙製造用の材料、 電子機器、 プリント回路およびプリント回路基板、 バッテリーと蓄電池、 金属材料試験、 表面処理・メッキ、 水質、 電気、磁気、電気および磁気測定、 非金属鉱物、 総合電子部品、 太陽工学、 化学製品、 光ファイバー通信、 建材、 非破壊検査、 金属腐食、 エネルギー・伝熱工学総合、 抵抗器、 原子力工学、 医療機器、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 粉末冶金、 機械的試験、 電子部品および部品、 バーナー、ボイラー、 地質学、気象学、水文学、 用語(原則と調整)、 発電所総合、 道路車両装置、 セラミックス、 電灯および関連器具、 非鉄金属製品、 鉄鋼製品、 ガラス・セラミックス製造設備、 ゴム・プラスチック製品、 電磁両立性 (EMC)、 断熱材。


RU-GOST R, 二極試験電圧

  • GOST 18604.27-1986 高出力・高耐圧バイポーラトランジスタ エミッタ(コレクタ)電流ゼロ時のコレクタ・ベース(エミッタ・ベース)耐圧の測定方法
  • GOST 21107.3-1975 ガス排出計、二重陽極管、多陽極管、電気的パラメータの測定方法。
  • GOST 18604.3-1980 バイポーラトランジスタのコレクタ・エミッタ段間の結合容量の測定方法
  • GOST 18604.15-1977 超高周波発振バイポーラトランジスタ 限界電流測定法
  • GOST 18604.14-1977 超高周波発振バイポーラトランジスタ ベース接地高周波回路の逆電圧伝達係数の測定方法
  • GOST 18604.22-1978 バイポーラトランジスタ - コレクタ・エミッタ間およびベース・エミッタ間飽和電圧の測定方法
  • GOST 18604.10-1976 バイポーラトランジスタの入力抵抗の測定方法
  • GOST 21011.2-1976 高電圧整流ダイオード。 パルス状アノード電流の測定方法
  • GOST 18604.0-1983 バイポーラ トランジスタ 電気パラメータ測定の一般要件
  • GOST IEC 61243-3-2014 ライブワーク 検電器 その3 2極低圧タイプ
  • GOST 18604.16-1978 バイポーラトランジスタ 小信号モードにおける電圧帰還係数の測定方法
  • GOST 18986.24-1983 半導体ダイオードの耐圧測定方法
  • GOST 19138.2-1985 3極サイリスタ 制御極開度直流およびパルス電流、制御極開度直流およびパルス電圧の測定方法
  • GOST 18604.2-1980 バイポーラトランジスタ 静止電流伝達係数の測定方法
  • GOST 21011.4-1977 高電圧整流ダイオード 耐電圧試験方法
  • GOST 21011.6-1978 高電圧整流ダイオード フィラメント電圧多重スイッチング試験方法
  • GOST 19138.7-1974 サイリスタ 制御電極パルス遮断電流、制御電極パルス遮断電圧、パルス遮断係数の求め方
  • GOST 21011.3-1977 高電圧整流ダイオード フィラメント電流の測定方法
  • GOST 21011.7-1980 高電圧整流ダイオード、放出電流の測定方法
  • GOST 22091.12-1984 X線装置、パルス動作時の各電極の電流、電圧の測定方法
  • GOST 18604.1-1980 バイポーラトランジスタ。 高周波帰還回路の時定数の測定方法
  • GOST 18986.13-1974 トンネル型半導体ダイオード。 ピーク電流、バレー電流、ピーク電圧、バレー電圧、溶液電圧の測定方法
  • GOST 18485-1973 パルスモードで動作する変調ランプ 電極パルス電圧の決定方法
  • GOST 25995-1983 生体電位測定電極 一般的な技術条件と試験方法
  • GOST 24613.8-1983 光電子集積回路とフォトカプラ。 絶縁電圧変化の限界速度の測定方法
  • GOST 18604.24-1981 高周波発振バイポーラトランジスタの出力電力測定方法と電力増幅係数、コレクタ実効係数の求め方
  • GOST 18986.3-1973 半導体ダイオード 定直流電圧と定直流電流の決定方法
  • GOST 21011.0-1975 高電圧整流ダイオード。 電気パラメータの測定方法。 一般原理
  • GOST R 53919-2010 心臓ペースメーカー用の植込み型電極 技術要件と試験方法
  • GOST 28106-1989 銅カソード サンプリングとサンプル前処理、抵抗率測定用のサンプル
  • GOST 18604.9-1982 バイポーラトランジスタ 電流伝達係数の遮断周波数と臨界周波数の測定方法
  • GOST 18604.13-1977 超高周波発振バイポーラトランジスタ 出力電力の測定方法と電力増幅係数、コレクタ実効利用係数の求め方
  • GOST 18986.16-1972 半導体整流ダイオードの平均直流電圧、平均逆電流の測定方法
  • GOST 18986.9-1973 半導体ダイオード、パルス順電圧および順方向回復時間の測定方法
  • GOST 19656.1-1974 超高周波混合検波半導体ダイオード 電圧定在波係数測定法
  • GOST 28106-2015 銅陰極 抵抗率測定のためのサンプルと試験片のサンプリングと準備
  • GOST 21106.5-1977 アノード損失が 25 W を超える放射変調管および制御管。 フィラメントの電流および電圧の測定方法

CZ-CSN, 二極試験電圧

  • CSN 35 8757 Cast.12-1989 バイポーラトランジスタ。 コレクタ。 エミッタ耐圧のパルス測定方法
  • CSN 35 8757 Cast.1-1985 トランジスタ。 コレクタ。 ベースとエミッター。 ベース耐圧の測定方法
  • CSN 35 8741-1964 トランジスタ。 コレクタ・エミッタ間残留電圧の測定
  • CSN 35 8757 Cast.8-1985 トランジスタ。 ベース。 エミッタ電圧の測定方法
  • CSN 35 8539-1968 電子管陽極抵抗の試験方法
  • CSN 35 8542-1968 電子管の電極間容量の試験方法
  • CSN 35 8771-1970 半導体サイリスタ。 ゲートトリガ電圧とゲートトリガ電流の測定方法
  • CSN 35 8735-1964 半導体ダイオード。 直流電流および直流電圧の測定
  • CSN 35 8733-1975 半導体装置。 ダイオード。 逆電圧(動作電圧)の測定
  • CSN 35 8760-1973 半導体。 ツェナーダイオード。 電圧温度係数測定
  • CSN 35 8766-1976 半導体デバイス。 スイッチングダイオード。 順電圧測定
  • CSN 35 8731-1975 半導体装置。 ダイオード。 直流順電圧の測定
  • CSN 35 8763-1973 半導体装置。 ダイオード。 逆耐電圧の測定

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 二極試験電圧

  • CNS 8105-1981 トランジスタのコレクタ・エミッタ間飽和電圧試験方法
  • CNS 5764-1980 ツェナーダイオードノイズ電圧の測定方法

Defense Logistics Agency, 二極試験電圧

  • DLA SMD-5962-05219 REV D-2011 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレーター、正および負、調整可能
  • DLA SMD-5962-05219 REV C-2008 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレーター、正および負、調整可能
  • DLA SMD-5962-09201-2009 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレーター、正および負、低ドロップアウト、調整可能
  • DLA SMD-5962-09201 REV A-2009 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレーター、正および負、低ドロップアウト、調整可能
  • DLA SMD-5962-10213-2012 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレータ、3アンペア、正および負、低ドロップアウト、調整可能
  • DLA SMD-5962-10213 REV A-2013 マイクロ回路、ハイブリッド、デュアル電圧レギュレータ、3アンペア、正および負、低ドロップアウト、調整可能
  • DLA SMD-5962-78019 REV E-2006 シリコンモノリシック高速電圧コンパレータ、バイポーラリニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89930 REV C-2003 シリコンモノリシック、バイポーラトラッキングレギュレータ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88763-1990 シリコンモノリシックバイポーラトラッキングレギュレータリニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88763 REV A-2010 マイクロ回路、リニア、バイポーラ トラッキング レギュレータ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89930 REV D-2011 マイクロ回路、リニア、バイポーラ トラッキング レギュレータ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89930 REV E-2013 マイクロ回路、リニア、バイポーラ トラッキング レギュレータ、モノリシック シリコン
  • DLA MIL-PRF-19500/507 F-2011 半導体デバイス、ダイオード、シリコン、バイポーラ過渡電圧サプレッサ、タイプ 1N6036A ~ 1N6072A JAN、JANTX および JANTXV
  • DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 1-2008 半導体デバイス、ダイオード、シリコン、バイポーラ過渡電圧サプレッサ、タイプ 1N6950 ~ 1N6986、JAN、JANTX、JANTXV、JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 2-2013 半導体デバイス、ダイオード、シリコン、バイポーラ過渡電圧サプレッサ、タイプ 1N6950 ~ 1N6986、JAN、JANTX、JANTXV、JANS
  • DLA SMD-5962-97541 REV A-2006 バイポーラ低電圧クワッド 2 入力ポジティブ AND ゲート バッファシリコンモノリシック回路デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87602 REV A-1988 シリコンモノリシック 16 ビットエラー監視および修正ユニット、バイポーラマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 8DラッチバイポーラCMOSデジタルマイクロ回路を備えたモノリシックシリコン三相出力スキャンテストデバイス
  • DLA SMD-5962-88742 REV A-2004 シリコンモノリシックヘックススピーカーバッファ低電圧ショットキーTTLは二重偏波デジタルマイクロ回路を促進
  • DLA MIL-DTL-32139/3 A-2006 コネクタ、電気、角形、ナノミニチュア、2列、プラグ、極性ハウジング、ピンコンタクト、圧着タイプ
  • DLA MIL-DTL-32139/3 A (2)-2011 コネクタ、電気、角形、ナノミニチュア、2列、プラグ、極性ハウジング、ピンコンタクト、圧着タイプ
  • DLA MIL-DTL-32139/3 A (3)-2013 コネクタ、電気、角形、ナノミニチュア、2列、プラグ、極性ハウジング、ピンコンタクト、圧着タイプ
  • DLA MIL-DTL-32139/3 A (1)-2008 圧着式ピンコンタクト極性ハウジングプラグ式複列超小型角型電気コネクタ
  • DLA MIL-DTL-32139/4 A (1)-2008 圧着式ソケットコンタクト 極性ハウジングソケットタイプ複列超小型角型電気コネクタ
  • DLA MIL-DTL-32139/4 A (2)-2013 コネクタ、電気、角型、ナノマイクロ、2列、ソケット、極性ハウジング、ソケットコンタクト、圧着タイプ
  • DLA SMD-5962-91667 REV E-2006 シリコンモノリシック正電圧レギュレータ、1アンペア調整可能なリニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 シリコンモノリシック電圧レギュレータ発振器、低電力ショットキートランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA MIL-PRF-19500/516 E-2009 半導体デバイス、ダイオードシリコン、バイポーラ過渡電圧サプレッサ、タイプ 1N6102 ~ 1N6137、1N6102A ~ 1N6137A、1N6138 ~ 1N6173、1N6138A ~ 1N6173A、1 N6102US ~ 1N6137us、1N6102AUS ~ 1N6137AUS、 1 N6138us ~ 1N61
  • DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 マイクロ回路、デジタル、バイポーラCMOS、オクタルバッファ付きスキャンテスト装置、反転トライステート出力、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-98617 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ TTL、オープンコレクタ高電圧出力 6 ウェイ リバース バッファ/ドライバ、単一シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット ユニバーサル バス トランシーバ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット ユニバーサル バス トランシーバ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット トランシーバおよびレジスタ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-91671 REV C-2003 シリコンモノリシック降圧スイッチングレギュレータ、ポジティブリニアマイクロ回路のデバッグが可能
  • DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラCMOS、オクタルレジスタードバストランシーバを備えたスキャンテスト装置、トライレベル出力、TTL互換入力、モノリシックシリコン
  • DLA MIL STD 750 4 E-2012 試験方法 半導体デバイス用ダイオードの標準電気試験方法 パート 4: 試験方法 4000 ~ 4999
  • DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 スリーステート出力モノリシックオクタルバッファを備えたマイクロ回路デジタルバイポーラCMOSスキャニングテスト装置

Association Francaise de Normalisation, 二極試験電圧

  • NF C18-314-3:2010 ライブワーク 検電器 その3 バイポーラ低圧タイプ
  • NF C18-314-3*NF EN 61243-3:2015 ライブワーク 検電器 その3 バイポーラ低圧タイプ
  • NF EN ISO 2376:2019 陽極酸化アルミニウムおよびその合金の絶縁破壊電圧および耐電圧の測定
  • NF T90-008:1953 水試験 ガラス電極ポテンショメータによる pH 値の測定
  • NF EN 60512-5-1:2002 電子機器のコネクタ試験および測定 パート 5-1: 限界電流試験: 試験 5a: 温度上昇
  • NF A91-483:2010 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化 - 絶縁破壊電圧の測定
  • NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 半導体デバイス、微小電気機械デバイス、パート 10: MEMES 材料の微小極圧縮試験
  • NF A91-405:1983 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化処理、絶縁破壊電圧測定による電気絶縁試験
  • NF EN 62374:2008 半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊試験 (TDDB)
  • NF C18-311:1986 1000Vを超え420kV以下のAC電圧のネットワーク、設備および機器で使用するユニポーラ検電器
  • NF C57-338*NF EN 62116:2014 相互接続効果を伴うフォトトランスデューサの絶縁バリア測定のテスト手順
  • NF A05-403*NF EN ISO 17475:2008 金属および合金の腐食、電気化学的試験方法、定電位分極および動電位分極測定の実践ガイド。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 二極試験電圧

  • KS C IEC 61243-3-2017(2022) 活電検電器その3:バイポーラ低圧タイプ
  • KS C 6050-1985(2000) バイポーラデジタル集積回路のテスト方法
  • KS C 6050-1985 バイポーラデジタル集積回路のテスト方法
  • KS B 0891-1974 すみ肉溶接被覆電極試験方法
  • KS C IEC 61243-3:2005 ライブワーク 検電器 その3 2極低圧タイプ
  • KS C IEC 61243-3:2017 活電工事用検電器 その3 2極低圧タイプ
  • KS C 6991-2013 光ファイバー伝送フォトダイオードのテスト方法
  • KS B 0892-1971 隅肉溶接被覆電極の溶着速度試験方法
  • KS F 2736-2015 コンクリート中の鉄筋の耐分極性試験方法
  • KS C 2712-2001 負温度係数サーミスタの試験方法
  • KS L 1640-2021 電流遮断技術を使用してセラミックベースの電気化学セルの分極を測定する試験方法
  • KS C 6991-2001(2011) 光透過率の試験方法に記載されているフォトダイオード
  • KS D 0269-2020 ステンレス鋼の臨界孔食温度を決定するための電位差分極試験法
  • KS L 3403-1999(2019) 円筒形加工黒鉛電極のねじ精度試験方法
  • KS D 0269-2009 定電位分極試験によるステンレス鋼の臨界孔食温度の決定方法
  • KS D ISO 17475-2017(2022) 金属および合金の腐食に関する電気化学的試験方法 静電位分極および動電位分極測定のガイド
  • KS C IEC 62116:2010 絶縁バリアを備えた相互接続効果フォトトランスデューサの測定のためのテスト手順
  • KS C IEC 62116:2015 絶縁バリアを備えた相互接続効果フォトトランスデューサの測定のためのテスト手順
  • KS D ISO 17475:2008 金属および合金の腐食、電気化学的試験方法、定電位分極および動電位分極測定の実践ガイド。
  • KS D ISO 17475:2017 金属および合金の腐食に関する電気化学的試験方法の実践ガイド - 静電位分極および動電位分極測定

Professional Standard - Electron, 二極試験電圧

  • SJ 2140-1982 シリコンツェナーダイオードの制限電圧試験方法
  • SJ 2214.6-1982 半導体フォトトランジスタのコレクタ・エミッタ逆耐圧試験方法
  • SJ 444-1973 高圧整流器のアノード電流と過熱時アノード電流の試験方法
  • SJ 2215.7-1982 半導体フォトカプラのコレクタ・エミッタ間逆耐圧試験方法
  • SJ 1388-1978 ノイズダイオードのアノードコンダクタンスの試験方法
  • SJ 431-1973 O型帰還波管の各極の電圧と電流の試験方法
  • SJ 1389-1978 ノイズダイオードの電極間漏れ電流試験方法
  • SJ 2141-1982 シリコンツェナーダイオードの耐圧試験方法
  • SJ 420-1973 低雑音進行波管の各極の電圧と電流の試験方法
  • SJ/Z 9009-1987 電子管の電極間容量の試験方法
  • SJ 1387-1978 ノイズダイオードのフィラメント電流とフィラメント電圧の試験方法
  • SJ 2354.2-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ 445-1973 高圧整流器カソードパルス放出電流および過熱カソードパルス放出電流の試験方法
  • SJ 455-1973 高圧整流器の静電電極間容量の試験方法
  • SJ 363-1973 反射クライストロンの総反射鏡電流、反射鏡イオン流、および反射鏡漏れ電流の試験方法
  • SJ 1395-1978 ガス放電ノイズ管の陽極電流と管電圧降下の試験方法
  • SJ 2354.4-1983 PINとアバランシェフォトダイオードの順方向電圧降下の試験方法
  • SJ 966-1975 シリコンスイッチングダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ/Z 9010.1-1987 電子管の電気的特性の試験 その1: 電極電流の試験
  • SJ 421-1973 低雑音進行波管の終端陽極と各極間の漏れ電流の試験方法
  • SJ 1391-1978 ノイズダイオードの冷間電圧定在波係数の試験方法
  • SJ 2354.12-1983 アバランシェフォトダイオードの逆耐圧温度係数の試験方法
  • SJ 2658.3-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 逆電圧試験方法
  • SJ/T 2354-2015 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
  • SJ/T 2354-2015/0352 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
  • SJ 2354.5-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオード静電容量のテスト方法
  • SJ 2214.4-1982 半導体フォトダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
  • SJ/Z 1171-1977 電気めっき液の分極曲線の試験方法
  • SJ/T 10740-1996 半導体集積回路のバイポーラランダムアクセスメモリの試験方法の基本原理
  • SJ 365-1973 反射クライストロンのフィラメント電圧が変化したときのカソード電流の変化率の試験方法
  • SJ 2672.7-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA307 175 MHZ ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 364-1973 反射クライストロンカソード電流の試験方法
  • SJ 2215.5-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)の逆耐圧試験方法
  • SJ 50033/162-2003 半導体ディスクリートデバイス 2CW1022タイプ シリコン双方向電圧調整ダイオード 詳細仕様
  • SJ/T 2214-2015 半導体フォトダイオードおよびフォトトランジスタの試験方法
  • SJ 2354.1-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの光電パラメータのテスト方法 一般原理
  • SJ 2672.2-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA302 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.3-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA303 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.4-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA304 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.5-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA305 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.6-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA306 175 MHZ ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.8-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA308 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2672.9-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA309 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2673.1-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA311 470 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2673.2-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA312 470 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2673.3-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA313 470 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2673.4-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA314 470 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ 2673.5-1986 電子部品詳細仕様 3DA3l5タイプ 470MHzケース定格低電圧バイポーラパワートランジスタ
  • SJ 2673.6-1986 電子部品詳細仕様 3DA3l6タイプ 470MHzケース定格低電圧バイポーラパワートランジスタ
  • SJ 2672.1-1986 電子部品の詳細仕様 タイプ 3DA301 175 MHz ケース定格低電圧バイポーラ パワー トランジスタ
  • SJ/Z 9010.15-1987 電子管の電気的特性の試験 パート 15: 寄生電極電流および不要な電極電流の試験方法
  • SJ 2138-1982 シリコン安定化ダイオードの電流安定化試験方法
  • SJ/Z 9010.9-1987 電子管の電気的特性の試験 その9: 陰極中間層のインピーダンスの試験
  • SJ 2354.6-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの応答性のテスト方法
  • SJ 1718-1981 パワークライストロンのカソードパルス電流試験方法
  • SJ 366-1973 反射クライストロンの電極間の漏れ電流の試験方法
  • SJ 2354.13-1983 アバランシェフォトダイオード増倍率の試験方法
  • SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
  • SJ 2214.5-1982 半導体フォトダイオードの接合容量の試験方法
  • SJ 2214.8-1982 半導体フォトトランジスタの暗電流試験方法
  • SJ/Z 9010.24-1987 電子管の電気的特性の試験 第24部:陰極線電荷蓄積管の試験方法
  • SJ 1230-1977 ゲルマニウム検波ダイオードの高周波整流電流の試験方法
  • SJ 2142-1982 シリコンツェナーダイオードの電流温度係数の試験方法
  • SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
  • SJ 1386-1978 ノイズダイオードとガス放電ノイズ管の試験条件
  • SJ 2658.4-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 静電容量の試験方法
  • SJ/Z 9010.13-1987 電子管の電気的特性の試験 第13部:高真空電子管の熱陰極放出電流の試験方法
  • SJ 1393-1978 ガス放電騒音管の陰極予熱時間の試験方法
  • SJ 2354.14-1983 アバランシェフォトダイオードの過剰ノイズ指数の試験方法
  • SJ 2215.6-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)接合容量の試験方法
  • SJ/Z 9010.14-1987 電子管の電気的特性の試験 パート 14: レーダーおよびオシログラフィック陰極線管の試験方法
  • SJ/Z 9010.22-1987 電子管の電気的特性の試験 第22部 冷陰極計数管および表示管の試験方法
  • SJ 2354.10-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードアレイストリングの光因子の試験方法
  • SJ 2354.11-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードアレイのブラインドゾーン幅のテスト方法
  • SJ 2215.3-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)の順電流試験方法
  • SJ 2215.4-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)の逆電流試験方法
  • SJ 2354.9-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードのノイズ等価電力の試験方法
  • SJ/Z 9010.12-1987 電子管の電気的特性の試験 第12部:電極抵抗、相互コンダクタンス、増幅率、可変周波数抵抗、可変周波数相互コンダクタンスの試験方法
  • SJ/Z 9010.8-1987 電子管の電気特性試験その8:陰極加熱時間と熱線加熱時間の試験
  • SJ/T 2658.2-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法その2:順電圧
  • SJ/T 2658.3-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 第3部 逆電圧・逆電流
  • SJ 2658.5-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 順直列抵抗の試験方法
  • SJ 2354.8-1983 PINとアバランシェフォトダイオードのパルス立ち上がり時間と立ち下がり時間の試験方法
  • SJ 2215.9-1982 半導体フォトカプラ(トランジスタ)の逆方向遮断電流の試験方法

GOSTR, 二極試験電圧

Professional Standard - Energy, 二極試験電圧

  • NB/T 42007-2013 オールバナジウムレドックスフロー電池用双極板の試験方法
  • NB/T 20322-2014 加圧水型原子炉原子力発電所における埋設金属構造物の陰極防食システムの試運転および運用ガイドライン

Canadian Standards Association (CSA), 二極試験電圧

Group Standards of the People's Republic of China, 二極試験電圧

  • T/AHEMA 002-2020 二重電極法によるHDPEジオメンブレン漏洩点測定
  • T/CEEIA 579-2022 鉄クロムフロー電池用バイポーラプレートの技術要件と試験方法
  • T/ZJCX 0034-2023 固体高分子型燃料電池用黒鉛双極板特性試験基準
  • T/CESA 1054-2018 スーパーキャパシタ電極用多孔質カーボンの試験方法
  • T/CAAMTB 12-2020 固体高分子型燃料電池の膜電極試験方法
  • T/CSTM 00461-2022 結晶シリコン太陽電池の電極剥離強度試験方法
  • T/CEC 155-2018 柔軟な電力伝送を実現するプレスフィット絶縁ゲート バイポーラ トランジスタ (IGBT) デバイスの一般要件
  • T/CEEIA 577-2022 鉄クロムフロー電池用電極材料の技術要件と試験方法
  • T/CSA 048-2019 一般照明用発光ダイオードの電流・温度可変光電特性試験方法
  • T/CASME 520-2023 固体高分子形燃料電池の被覆金属板の試験方法
  • T/CES 084-2021 フレキシブル DC 伝送用の絶縁ゲート バイポーラ トランジスタ (IGBT) モジュールのアプリケーション信頼性テスト仕様
  • T/CPIA 0051-2023 結晶シリコン太陽電池の金属電極接触抵抗率試験法 伝送線路モデル法(TLM)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 二極試験電圧

British Standards Institution (BSI), 二極試験電圧

  • BS EN 61243-3:1999 ライブワーク 検電器 2極低圧タイプ
  • BS EN 61243-3:2010 ライブワーク 検電器 2極低圧タイプ
  • BS EN 61243-3:2014 ライブワーク 検電器 2極低圧タイプ
  • BS IEC 60747-5-16:2023 半導体デバイス - オプトエレクトロニクスデバイス 発光ダイオード GaNベースの発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
  • BS IEC 60747-5-8:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの光電効率の試験方法
  • BS 6043-3.6:2000 アルミニウムの製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよびテスト方法 電極周囲温度でのカソード ブロックおよびプリベークされたアノードの抵抗率の決定
  • BS 6043-3.2:1997 アルミニウムの製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法 電極カソードブロックおよびプリベークされたアノードの密度の測定
  • PD IEC/TS 62916:2017 太陽電池モジュールのバイパスダイオードの静電気放電感受性試験
  • BS EN ISO 2376:2019 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化破壊電圧および耐電圧の測定
  • BS IEC 60747-5-15:2022 電気反射スペクトルに基づく半導体デバイス・光電子デバイス発光ダイオードのフラットバンド電圧試験方法
  • BS IEC 60747-5-11:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの放射電流および非放射電流の試験方法
  • BS 6043-3.1.2:1999 アルミニウム製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法 電極のサンプリング 陽極のサンプリング
  • BS 6043-3.1.1:1999 アルミニウム製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法 電極のサンプリング 陰極のサンプリング
  • 21/30408318 DC BS ISO 3079。 酢酸を使用した塩化物溶液中でのアルミニウムおよびアルミニウム合金の孔食電位を測定するための 2 電極法
  • 18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 半導体デバイス パート 5-8 光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオードの光電効率の試験方法
  • BS 6043-3.3:2000 アルミニウム産業で使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法 電極 寸法法によるカソード カーボン ブロックおよびプリベークされたアノードのかさ密度 (見掛け密度) の測定
  • PD IEC TR 60747-5-12:2021 半導体デバイス・光電子デバイス・発光ダイオード・LED効率試験方法
  • BS 5049-2:1994 架空線と高圧電気機器の電波障害特性 第2部:限界値の決定手順と方法
  • 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 半導体デバイス パート 5-11 光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオード 放射電流および非放射電流の試験方法
  • BS EN 62116:2014 相互接続効果を備えたフォトトランスデューサ 絶縁バリア測定のテスト手順
  • 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 半導体デバイス パート 5-16 光電子デバイス 発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
  • 20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15 半導体デバイス パート 5-15 光電子デバイス 発光ダイオード 電気反射分光法に基づくフラットバンド電圧試験方法
  • BS EN ISO 17475:2006 金属および合金の腐食に関する電気化学的試験方法の実践ガイド - 静電位分極および動電位分極測定
  • BS EN ISO 17475:2008 金属および合金の腐食、電気化学的試験方法、定電位分極および動電位分極測定の実践ガイド。

Professional Standard - Military and Civilian Products, 二極試験電圧

  • WJ 2100-2004 シリコンフォトダイオード、シリコンアバランシェフォトダイオードの試験方法
  • WJ 2506-1998 フォトダイオードダイナミックテスターの校正手順

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 二極試験電圧

  • HD 48 S1-1988 ケーブルおよび付属品のインパルス電圧テスト
  • EN 61243-3:2010 ライブワーク 検電器 その3 2極低圧タイプ
  • EN 61243-3:2014 ライブワーク 検電器 その3 2極低圧タイプ
  • EN 60230:2002 ケーブルおよびアクセサリのインパルス電圧テスト IEC 60230-1966; HD 48 S1-1977 を置き換える

American Society for Testing and Materials (ASTM), 二極試験電圧

  • ASTM G187-23 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM G187-18 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM G5-94(1999)e1 静電ポテンシャルマーキングおよび動電位アノード分極測定のベンチマークテスト方法
  • ASTM G5-94(2004) 静電ポテンシャルマーキングおよび動電位アノード分極測定のベンチマークテスト方法
  • ASTM G187-05 2電極土壌ボックス法による土壌抵抗率の標準試験法
  • ASTM G187-12 2電極土壌ボックス法を使用した土壌抵抗率測定の標準試験法
  • ASTM G187-12a 2電極土壌ボックス法を使用した土壌抵抗率測定の標準試験法
  • ASTM G5-94 定電位および動電位アノード分極測定の標準参照試験法
  • ASTM G5-94(1999) 定電位および動電位アノード分極測定の標準参照試験法
  • ASTM D1816-12 VDE電極を用いた絶縁油の絶縁破壊電圧測定の標準試験方法
  • ASTM G5-14(2021) 動電位アノード分極測定の標準参照試験法
  • ASTM D1816-12(2019) VDE電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D877-00 ディスク電極を使用した電気絶縁性液体の絶縁破壊電圧を測定するための標準試験方法
  • ASTM D877-87(1995) ディスク電極を使用した電気絶縁性液体の絶縁破壊電圧を測定するための標準試験方法
  • ASTM D877-02e1 ディスク電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D877-02 ディスク電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D877/D877M-19 ディスク電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D877-02(2007) ディスク電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM G5-14e1 動電位アノード分極測定を行うための標準参照試験方法
  • ASTM G5-14 動電位アノード分極測定を行うための標準参照試験方法
  • ASTM G5-94(2011)e1 定電位および動電位アノード分極測定のための標準参照試験法の開発
  • ASTM D877/D877M-13 ディスク電極を用いた絶縁性液体の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM G5-13e2 動電位アノード分極測定のための標準参照試験法の開発
  • ASTM G5-13 動電位アノード分極測定のための標準参照試験法の開発
  • ASTM G59-97e1 起電力分極抵抗測定の標準試験方法
  • ASTM G59-97(2009) 起電力分極抵抗測定の標準試験方法
  • ASTM G5-12 起電力分極抵抗測定の標準試験方法
  • ASTM G100-89(2004) 循環電流のカスケード分極試験方法
  • ASTM D1816-97 VDE電極を用いた石油系絶縁油の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D1816-03 VDE電極を用いた石油系絶縁油の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D1816-04 VDE電極を用いた石油系絶縁油の絶縁破壊電圧の標準試験方法
  • ASTM D6120-97(2002) 室温におけるアノードおよびカソード炭素材料の抵抗率の標準試験方法
  • ASTM G5-13e1 動電位アノード分極測定を行うための試験方法の標準的な実践
  • ASTM D6120-97(2017)e1 室温におけるアノードおよびカソード炭素材料の抵抗率の標準試験方法
  • ASTM G59-97(2003) 電位差分極抵抗測定を行うための標準的な試験方法
  • ASTM G59-97(2020) 電位差分極抵抗測定を行うための標準的な試験方法
  • ASTM G59-97(2014) 動電分極抵抗測定を実行するための標準的な試験方法
  • ASTM G59-23 電位差動的分極抵抗測定の標準テスト方法
  • ASTM G57-95a(2001) ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM G57-95A ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM D6745-06(2011) 電極カーボンの線熱膨張の標準試験方法
  • ASTM D6745-01 電極カーボンの線熱膨張の標準試験方法
  • ASTM D6745-06 電極カーボンの線熱膨張の標準試験方法
  • ASTM C1025-91(2005) 黒鉛電極の曲げ破壊係数の標準試験方法
  • ASTM C1025-15(2020) 黒鉛電極の曲げ破壊係数の標準試験方法
  • ASTM F1113-87(2005)e1 鋼中の拡散性水素の電気化学的測定の標準試験方法(フジツボ電極)
  • ASTM G57-20 ウェナー四電極法を使用した土壌抵抗率の標準試験方法
  • ASTM F1113-87(2011) 鋼中の拡散性水素の電気化学的測定の標準試験方法(フジツボ電極)
  • ASTM G57-06(2012) ウェナー 4 電極法を使用した土壌抵抗率の現場測定の標準試験方法
  • ASTM G57-06 ウェナー四電極法を使用した現場での土壌抵抗率測定の標準試験方法
  • ASTM E70-97 ガラス電極を使用して水溶液のpHを測定するための標準的な試験方法
  • ASTM E70-19 ガラス電極を使用して水溶液のpHを測定するための標準的な試験方法
  • ASTM E70-24 ガラス電極を使用して水溶液のpHを測定するための標準的な試験方法
  • ASTM E70-07 ガラス電極を用いた水溶液のpH測定の標準試験方法
  • ASTM F1113-87(1999) 鉄鋼製品中の拡散性水素含有量を電気化学的に定量するための標準試験法(フジツボ電極法)
  • ASTM D7148-19 電解液槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D7148-19a 電解液槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための標準試験方法
  • ASTM F769-00 トランジスタおよびダイオードの漏れ電流を測定するための標準試験方法 (2006 年に廃止)
  • ASTM D5288-97(2004) 多電極材料を使用した電気絶縁材料の追跡写真係数を決定するための標準試験方法
  • ASTM D1830-17 湾曲電極法による電気絶縁用フレキシブルシートの耐熱性の標準試験方法
  • ASTM B764-04 多層ニッケルめっきにおける単層の膜厚と電極電位を同時に測定するための標準試験方法(STEP試験)
  • ASTM B764-04(2021) 多層ニッケルめっきにおける単層膜厚と電極電位を同時に測定する標準試験方法(ステップ試験)
  • ASTM D1830-99 アーク電極法による電気絶縁性フレキシブルシート材の熱安定性の標準試験方法
  • ASTM D1830-99(2005) アーク電極法による電気絶縁性フレキシブルシート材の熱安定性の標準試験方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 二極試験電圧

Professional Standard-Ships, 二極試験電圧

  • CB/T 3794-2014 圧電セラミックス材料の性能試験方法 電極接合強度試験
  • CB/T 3794-1997 圧電セラミックス電極の接合強度試験方法

CU-NC, 二極試験電圧

  • NC 66-29-1984 電子回路。 バイポーラトランジスタの測定方法
  • NC 66-17-1987 電気および電子産業。 高電圧および中出力のバイポーラ トランジスタ。 品質仕様書
  • NC 66-18-1984 電子回路。 中電力および高電圧バイポーラ トランジスタ BC328 および BC338。 品質仕様書
  • NC 66-19-1984 電子回路。 中電力および高電圧バイポーラ トランジスタ BC135、BC136、3D 137、BD 138、BD 139、および BD 140。 品質仕様書

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 二極試験電圧

  • GB/T 7274-2015 電子管の電極間容量の試験方法
  • GB/T 20042.6-2011 固体高分子形燃料電池 第 6 部:バイポーラプレート特性の試験方法
  • GB/T 41760-2022 トルマリンの自発分極性能の試験方法
  • GB/T 23729-2009 シンチレーション検出器用フォトダイオード テスト方法
  • GB/T 43092-2023 リチウムイオン電池正極材料の電気化学的性能試験のための高温性能試験方法
  • GB/T 24488-2009 マグネシウム合金犠牲陽極の電気化学的性能試験方法
  • GB/T 18134.1-2000 極急速インパルス高電圧試験技術 第1部 ガス絶縁変電所における前面急峻過電圧測定システム
  • GB/T 20042.5-2009 固体高分子型燃料電池 第 5 部:膜電極の試験方法
  • GB/Z 27753-2011 固体高分子形燃料電池の膜電極作動条件適合性試験方法
  • GB/T 24196-2009 金属および合金の腐食 電気化学的試験方法 定電位分極および動電位分極測定のガイドライン

HU-MSZT, 二極試験電圧

  • MNOSZ 1301-1952 K、E、O 極の抵抗のテスト
  • MSZ 20862-1958 最大600ボルトの高電圧電気機器用の単相電圧試験および電極検査装置
  • MSZ 451-1963 電圧 1000 ボルト、ポイント 6 200 A 向けの耐久性の高い電極取り付け材料の一般技術仕様とテスト
  • MSZ 05 33.0505-1984 MSZ-05 33.0505 T (80.11.) 芯電極線サブマージ アーク溶接構造。 技術要件のテスト

RO-ASRO, 二極試験電圧

  • STAS 12123/3-1983 半導体デバイスの基準電圧ダイオードおよび電圧調整ダイオードの電気的特性の測定方法
  • STAS 3184-1969 最大 250V ca.、220Vc.c、16A の電圧に対応する機器ソケットとバイポーラ プラグ
  • STAS 12124/1-1982 半導体装置。 バイポーラトランジスタ。 静電気パラメータの測定方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 二極試験電圧

  • IPC TM-650 2.6.25B-2016 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗テスト: XY 軸
  • IPC TM-650 2.6.25A-2012 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗テスト: XY 軸
  • IPC 9691A CHINESE-2007 IPC-TM-650 メソッド 2.6.25 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗試験 (電気化学的移行試験) ユーザーガイド
  • IPC 9691A CD-2007 IPC-TM-650 メソッド 2.6.25 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗試験 (電気化学的移行試験) ユーザーガイド
  • IPC 9691A CHINESE CD-2007 IPC-TM-650 メソッド 2.6.25 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗試験 (電気化学的移行試験) ユーザーガイド
  • IPC 9691B CHINESE-2016 IPC-TM-650 メソッド 2.6.25 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗およびその他の内部電気化学的移行テストのユーザー ガイド

国家能源局, 二極試験電圧

  • NB/T 42082-2016 オールバナジウムレドックスフロー電池の電極試験方法
  • NB/T 42146-2018 亜鉛臭素フロー電池の電極、セパレーター、電解質の試験方法

SE-SIS, 二極試験電圧

  • SIS SS 428 91 05-1985 最大システム電圧 3.6 ~ 420 kV のポータブルユニポーラ電圧テスター。 設計とテスト
  • SIS SS 428 91 05-1982 3.6 - 420 kV 高電圧システム用のポータブルユニポーラ電圧テスター。 設計とテスト
  • SIS SS-ISO 2376:1985 アルマイトおよびその合金の絶縁破壊電圧測定のための絶縁検査
  • SIS SS 428 91 06-1982 110 ~ 440 V AC および DC のポータブル 2 極検電器。 設計とテスト
  • SIS SS 06 11 01-1990 溶接電極。 炭素鋼、炭素マンガン合金鋼、微量合金鋼、低合金鋼のガスメタルアーク溶接およびメタルアーク溶接用の溶接電極および管状電極。 溶融金属試験片の溶接金属試験
  • SIS SS 436 01 13-1981 架空送電線用集成材ポール。 設計とテスト
  • SIS SS 06 11 02-1990 溶接電極。 炭素鋼、炭素マンガン合金鋼、微量合金鋼、低合金鋼のガスメタルアーク溶接およびメタルアーク溶接用の溶接電極および管状電極。 溶接および金属突合せ溶接試験棒
  • SIS SS 06 17 10-1984 溶接電極。 溶接金属組成測定用サンプル

PL-PKN, 二極試験電圧

  • PN T01504-10-1987 トランジスタのコレクタ・エミッタ間保持電圧の測定方法: UCEO (SUS) および UCER (SUS)
  • PN E08509-1988 最大 250 ボルトまでの電気保護装置。 ユニポーラ検電器
  • PN T06516-1990 選択性電極。 一般的な要件とテスト
  • PN T04812-1971 水平偏向回路におけるダイオードブースターおよびライン出力管の耐電圧試験
  • PN T80006-1988 電子部品。 アルミ電解コンデンサの電極コンデンサです。 一般的な要件とテスト
  • PN C82055-21-1992 炭素成形品の試験方法、電極における抵抗率の測定
  • PN M69161-1990 手動溶接用の絶縁溶接電極クランプ。 要件とテスト
  • PN C04576-10-1986 上下水の窒素検査 イオン選択電極 電位差による硝酸性窒素の測定
  • PN T01504-60-1987 ダイオード。 測定方法。 瞬時およびピーク回復電圧。 回復前の時間
  • PN S76105-1973 3つの電極を備えたスパークギャップ。 自動車の点火装置のテスト。 車両

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 二極試験電圧

  • IPC TM-650 2.6.25-2003 XY軸陽極導電性フィラメント(CAF)抵抗試験
  • IPC 9691-2005 導電性陽極フィラメント (CAF) 抵抗テスト (電気化学的マイグレーション テスト)、方法 2.6.25、IPC-TM-650 ユーザー ガイド

International Electrotechnical Commission (IEC), 二極試験電圧

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 二極試験電圧

Danish Standards Foundation, 二極試験電圧

  • DS/EN 61243-3:2010 活電工事用検電器 その3 2極低圧タイプ
  • DS/EN ISO 17475:2009 定電位分極および動電位分極測定による金属および合金の腐食の電気化学的試験方法のガイド

KR-KS, 二極試験電圧

  • KS C IEC 61243-3-2017 活電工事用検電器 その3 2極低圧タイプ
  • KS D ISO 17475-2017 金属および合金の腐食に関する電気化学的試験方法 静電位分極および動電位分極測定のガイド
  • KS D ISO 17475-2023 金属および合金の腐食 電気化学的試験方法 定電位分極および動電位分極測定を実行するためのガイドライン

未注明发布机构, 二極試験電圧

AENOR, 二極試験電圧

  • UNE-EN 61243-3:2015 活電工事用検電器 その3 2極低圧タイプ
  • UNE-EN ISO 17475:2009 金属および合金の腐食電気化学試験方法のための定電位および動電位分極測定のガイド (ISO 17475:2005/Cor 1:2006)

German Institute for Standardization, 二極試験電圧

  • DIN 51919:2013-05 炭素質材料の試験 電流電圧法による電極の抵抗率の測定 固体材料
  • DIN 51919:1999 炭素質材料の試験 電流電圧法による電極の抵抗率の測定 固体材料
  • DIN 51919:2013 炭素材料の試験 電流測定法および電圧法による電極の抵抗率の決定 固体材料
  • DIN EN ISO 2376:2019-07 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化 - 破壊電圧および耐電圧の決定
  • DIN IEC 62088:2002-09 原子力機器のシンチレーション検出器フォトダイオードのテスト手順
  • DIN EN ISO 2376:2019 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化 - 破壊電圧および耐電圧の決定 (ISO 2376:2019)
  • DIN EN ISO 2376:2010 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化 - 絶縁破壊電圧の測定
  • DIN 51932:2010-06 炭素材料の試験 円筒加工用電極の充填密度の決定
  • DIN 44402-14:1971 電子管の電気的特性の試験 パート 14: 高真空電子管の加熱陰極の放出電流の試験方法
  • DIN EN 62374:2008-02 半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
  • DIN EN 61243-3:2011 ライブワーク 検電器 パート 3: 2 極低電圧タイプ (IEC 61243-3-2009)、ドイツ語版 EN 61243-3-2010
  • DIN EN 61243-3:2015 ライブワーク、検電器、パート 3: 2 極低電圧タイプ (IEC 61243-3-2014+Cor.-2015)、ドイツ語版 EN 61243-3-2014
  • DIN EN ISO 17475:2008-07 金属および合金の腐食 - 電気化学的試験方法 - 定電位分極および動電位分極測定の実施ガイド
  • DIN 51932:2010 炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極体の密度の測定
  • DIN 51932:1998 炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極の体積密度の測定

Professional Standard - Machinery, 二極試験電圧

  • JB/T 6307.4-1992 パワー半導体モジュールのテスト方法 バイポーラトランジスタアームとアームペア
  • JB/T 6307.5-1994 パワー半導体モジュールの試験方法 バイポーラトランジスタ単相ブリッジと三相ブリッジ
  • JB/T 7704.6-1995 電気めっき溶液の試験方法、分極曲線の測定

United States Navy, 二極試験電圧

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 二極試験電圧

  • IEEE Std C37.103-1990 差動および分極リレー回路テストガイド
  • IEEE Std 433-2009 超低周波および高電圧 AC モーターの絶縁試験に関する IEEE 推奨手法
  • IEEE Std C37.103-2004 差動および有極リレー回路のテストのための IEEE ガイド
  • IEEE Std C37.103-2015 差動および有極リレー回路のテストのための IEEE ガイド
  • IEEE Unapproved Draft Std P433/D16 Oct 2009 極低周波および高電圧 AC モーターの絶縁試験に関する推奨手順の草案
  • IEEE PC37.103/D5, July 2014 差動および有極リレー回路のテストに関する IEEE 草案ガイドライン
  • IEEE PC37.103/D7.0, April 2015 IEEE が承認した差動および有極リレー回路のテストに関するガイドライン草案
  • IEEE 433-2022 非常に低い周波数で最大 30 kV の定格電圧を備えた AC 機械の絶縁試験に関する IEEE 推奨手法
  • IEEE Std C37.45-2016 高電圧 (>1000 V) 密閉型単極空気分配スイッチの設計およびテスト仕様
  • IEEE P433/D9, December 2021 非常に低い周波数で最大 30 kV の定格電圧を備えた AC 機械の絶縁試験に関する IEEE 承認草案推奨実践
  • IEEE P433/D7, June 2020 非常に低い周波数で最大 30 kV の定格電圧を備えた AC モーターの絶縁試験に関する IEEE 草案の推奨実施方法
  • IEEE P433/D8, October 2021 非常に低い周波数で最大 30 kV の定格電圧を備えた AC モーターの絶縁試験に関する IEEE 草案の推奨実施方法
  • IEEE PC37.45/D5, June 2015 高電圧 (>1000 V) 配電グレード密閉型単極エア スイッチの IEEE 規格草案の設計テストと仕様
  • IEEE PC37.45/D6, December 2015 IEEE 承認の高電圧 (>1000 V) 配電レベル密閉型単極エア スイッチの標準設計テストおよび仕様

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 二極試験電圧

  • IEEE C37.103-1990 差動および有極リレー回路テストガイド
  • IEEE C37.103-2004 差動および有極リレー回路テストガイド
  • IEEE C37.103-2015 差動および有極リレー回路テストガイド
  • IEEE C37.45-2016 高電圧 (>1000 V) 配電レベル密閉型単極エア スイッチの設計およびテスト仕様
  • IEEE C62.37-1996 サイリスタ ダイオード サージ プロテクターの標準試験仕様
  • IEEE C37.45 ERTA-2017 高電圧 (>1000 V) 配電レベル密閉型単極エア スイッチの設計およびテスト仕様に関する IEEE 規格の修正点
  • IEEE C37.41-1981 高電圧ヒューズ 設計試験 配電 密閉型単極エアスイッチ ヒューズ 絶縁スイッチおよびアクセサリ
  • IEEE C37.41-2000 高電圧ヒューズ 標準設計試験配電 密閉型単極エアスイッチ ヒューズ 絶縁スイッチおよびアクセサリ

工业和信息化部, 二極試験電圧

  • SJ/T 11792-2022 リチウムイオン電池電極材料の導電性試験方法
  • XB/T 702-2022 水素吸蔵合金・ニッケル電池負極用希土類水素吸蔵合金粉末の電気化学的特性を試験する三電極式試験方法
  • SJ/T 11793-2022 リチウムイオン電池電極材料の電気化学的特性の試験方法
  • SJ/T 11795-2022 リチウムイオン電池電極材料中の磁性異物含有量試験方法
  • SJ/T 11794-2022 リチウムイオン電池正極材料中の遊離リチウムの試験方法
  • QC/T 1136-2020 電気自動車用絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)モジュールの環境試験要件と試験方法

ZA-SANS, 二極試験電圧

  • SANS 61243-3:1998 ライブワーク。 電圧検出器。 パート 3: 低電圧ネットワーク用バイポーラ タイプ

TR-TSE, 二極試験電圧

  • TS 2441-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 パート 1: 電極電流のテスト
  • TS 2449-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 パート 9: カソード層間インピーダンスのテスト
  • TS 2455-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 パート 15: 寄生および不要な電極電流のテスト方法
  • TS 2453-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 第13部:高真空電子管の熱陰極放出電流の試験方法
  • TS 2454-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 パート 14: レーダーおよびオシロメトリック陰極線管の試験方法
  • TS 2642-1977 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 第 22 部: 冷陰極計数管および表示管の試験方法
  • TS 2448-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 その8: 陰極加熱時間と熱線加熱時間のテスト
  • TS 2452-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。 パート 12: 電極抵抗、相互コンダクタンス、増幅率、可聴抵抗および可変周波数相互コンダクタンスの試験方法

AR-IRAM, 二極試験電圧

  • IRAM 2075-1948 電気接地カード (標準動作電圧 220V の双極不可逆産業用固定設置タイプ)
  • IRAM 2065-1953 暖房器具用プラグ(双極型、使用標準電圧220V、アースプラグ付き)
  • IRAM 2074-1948 ソケット付き電気プラグ、産業用設備用の両面 2 極、定格 220 ボルト

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 二極試験電圧

  • QC 750105-1986 半導体装置、ディスクリートデバイス パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナーダイオードセクション 温度補償された高精度基準ダイオードを除く、電圧調整ダイオードおよび電圧基準ダイオードのダブルブランク詳細仕様 (IEC)

International Organization for Standardization (ISO), 二極試験電圧

  • ISO 2376:2019 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化破壊電圧および耐電圧の測定
  • ISO 3079:2022 酢酸二重電極法を用いた塩化物溶液中でのアルミニウムおよびアルミニウム合金の孔食電位の測定
  • ISO 2376:2010 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化 - 絶縁破壊電圧の測定

YU-JUS, 二極試験電圧

  • JUS N.R1.115-1977 電子管。 電気的特性の測定。 電極故障電流の試験方法
  • JUS N.B2.762-1990 低電圧電気機器。 自動電源遮断状態の検査。 接地電極インピーダンス測定
  • JUS C.T7.240-1984 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化。 絶縁破壊電圧を測定して絶縁を確認する

American National Standards Institute (ANSI), 二極試験電圧

  • ANSI/EIA 307:1992 ツェナーダイオードのノイズ電圧測定 注: 2002-04-00 に承認
  • ANSI/ASTM D1830:1999 アーク電極法による電気絶縁性可撓性シート材の耐熱性試験方法(10.01)
  • ANSI/ASTM D7148:2013 電解槽測定システムで炭素電極を使用したアルカリ電池セパレーターのイオン抵抗率を測定するための試験方法

Lithuanian Standards Office , 二極試験電圧

  • LST EN 61243-3-2010 活電作業用検電器パート3:2極低電圧タイプ(IEC 61243-3:2009)
  • LST EN 62374-2008 半導体デバイスのゲート絶縁膜の時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験 (IEC 62374:2007)
  • LST EN ISO 17475:2008 金属および合金の腐食電気化学試験方法のための定電位および動電位分極測定のガイド (ISO 17475:2005/Cor 1:2006)

ES-UNE, 二極試験電圧

  • UNE-EN ISO 2376:2019 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化破壊電圧および耐電圧の測定

TH-TISI, 二極試験電圧

  • TIS 1971-2000 半導体デバイス ディスクリート パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナー ダイオード セクション 温度補償された高精度基準ダイオードを除く、ツェナー ダイオードおよび電圧基準ダイオードのダブル ブランク詳細仕様

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 二極試験電圧

  • GJB 7675-2012 マイクロ波管の陰極とコンポーネントの試験方法

Professional Standard - Aerospace, 二極試験電圧

  • QJ 483-1990 アルミニウム及びアルミニウム合金絶縁陽極酸化皮膜の耐電圧試験方法

PT-IPQ, 二極試験電圧

  • E 302-1974 陽極酸化アルミニウム、陽極酸化アルミニウムコーティングの継続的なテスト。 硫酸銅試験

Society of Automotive Engineers (SAE), 二極試験電圧

  • SAE AIR1092-1994 陰極線オシロスコープを使用した高電圧励磁器の出力電圧の測定

SAE - SAE International, 二極試験電圧

  • SAE AIR1092-1971 陰極線オシロスコープを使用した高電圧励磁器の出力電圧の測定

IN-BIS, 二極試験電圧

  • IS 6577-1972 膨張式冷陰極電圧調整管および電圧基準管の測定方法
  • IS 4400 Pt.8-1970 半導体デバイスの測定方法 第Ⅷ部 電圧レギュレータと基準電圧ダイオード
  • IS 9844-1981 中性塩水噴霧試験による電気めっきおよび陽極酸化アルミニウム皮膜の耐食性の試験方法

European Committee for Standardization (CEN), 二極試験電圧

  • EN 12373-17:2001 アルミニウムおよびアルミニウム合金、陽極酸化処理、パート 17: 絶縁破壊電圧の測定
  • EN ISO 2376:2019 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化 - 絶縁破壊電圧の測定
  • EN ISO 2376:2010 アルミニウムおよびアルミニウム合金の陽極酸化 - 絶縁破壊電圧の測定
  • EN ISO 17475:2008 金属および合金の腐食、電気化学的試験方法、定電位分極および動電位分極測定の実践ガイド。

CO-ICONTEC, 二極試験電圧

  • ICONTEC 2975-1991 エレクトロニクス。 ディスク電極による絶縁液体中の非導電破壊電圧の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 二極試験電圧

  • GB/T 24488-2021 マグネシウム合金犠牲陽極の電気化学的性能試験方法

Indonesia Standards, 二極試験電圧

  • SNI 05-4006-1996 非磁性熱交換電極管の設置、渦電流試験法
  • SNI 06-6876-2002 イオン選択性電極を用いた水中のアンモニア含有量の検査方法

Professional Standard - Ocean, 二極試験電圧

  • HY/T 192-2015 海水環境における金属材料の動電位分極抵抗試験方法

IEC - International Electrotechnical Commission, 二極試験電圧

  • TS 62916-2017 太陽光発電モジュール - バイパス ダイオードの静電気放電感受性テスト (バージョン 1.0)

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, 二極試験電圧

  • T 373M/T 373-2017 コンクリート鉄筋の定性的腐食特性の比較に関する標準試験方法(直線分極抵抗および動電位分極試験)

Professional Standard - Electricity, 二極試験電圧

  • DL/T 253-2012 DC接地電極の接地抵抗、接地電位分布、ステップ電圧、シャントの測定方法
  • DL/T 1566-2016 DC 送電線および接地極線のパラメータ試験のガイドライン

The American Road & Transportation Builders Association, 二極試験電圧

National Association of Corrosion Engineers (NACE), 二極試験電圧

  • NACE TM0190-2006 アルミニウム合金陽極の現在の実験室テストが印象的 商品番号: 21221
  • NACE TM0294-2007 大気露出鉄筋コンクリートの陰極防食のための埋め込み印加電流陽極の試験プロジェクト番号 21225
  • NACE TM0190-1998 アルミニウム合金陽極強制電流の実験室試験 プロジェクト番号 21221
  • NACE TM0190-2012 アルミニウムおよび亜鉛合金アノードの電流ラボ試験 (カタログ番号 21221)

TIA - Telecommunications Industry Association, 二極試験電圧

European Association of Aerospace Industries, 二極試験電圧

  • AECMA PREN 3002-1990 航空宇宙シリーズのクロム酸アルマイト密着性試験 P1バージョン

Association of German Mechanical Engineers, 二極試験電圧

  • DVS 0923-4-1987 サブマージアーク溶接に使用するフラックスの溶接性能試験、帯状電極肉盛溶接の適性試験

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 二極試験電圧

  • YS/T 480-2005 アルミ電解セルのエネルギーバランス試験と計算方法 4点給電と2点給電のプリベーク陽極アルミ電解セル
  • YS/T 481-2005 アルミ電解セルのエネルギーバランス試験と計算方法 5点給電と6点給電プリベーク陽極アルミ電解セル

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 二極試験電圧

  • ECA EIA-364-86A-2014 TP-86A 電気コネクタおよびレセプタクルの極性/コーディング キー オーバーストレス テスト手順

ECIA - Electronic Components Industry Association, 二極試験電圧

  • EIA-364-86A-2014 TP-86A 電気コネクタおよびレセプタクルの極性/コーディング キー オーバーストレス テスト手順
  • EIA-364-86-1996 TP-86 電気コネクタおよびレセプタクルの極性/コーディング キーの過ストレス テスト手順

BE-NBN, 二極試験電圧

  • NBN F 31-001-1976 人工アーク溶接に使用される被覆電極。 識別記号。 テスト方法。 仕様

  二極試験電圧, 二極試験電圧.

 




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