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ジェデック ジェスド 51-2

ジェデック ジェスド 51-2は全部で 53 項標準に関連している。

ジェデック ジェスド 51-2 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、 電子機器用機械部品、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 情報技術の応用、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 交通機関。

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, ジェデック ジェスド 51-2

• JEDEC JESD51-2-1995 集積回路の熱試験方法 環境条件 自然対流 (静止空気)
• JEDEC JESD51-2A-2008 集積回路の熱試験方法 環境条件 自然対流 (静止空気)
• JEDEC JESD51-51-2012 冷却を露出させた発光ダイオードの実際の熱抵抗とインピーダンスを測定する電気的試験方法の実装
• JEDEC JESD51-51A-2022 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-1995 コンポーネントキット（単一半導体デバイス）の熱試験方法
• JEDEC JESD51-9-2000 表面実装パッケージの熱測定用ゾーン配置テストボード
• JEDEC JESD51-11-2001 ビアエリアにリードを配置したパッケージ熱測定用テストボード
• JEDEC JESD51-31-2008 複数個包装の温度試験環境の改善
• JEDEC JESD51-1-1995 集積回路の熱測定法 - 電気的測定法（単一半導体デバイス）
• JEDEC JESD51-3-1996 リード付き表面実装パッケージ用の非効率的な熱伝導率テストボード
• JEDEC JESD51-4-1997 熱試験チップ ガイダンスの訂正 (ワイヤ ボンド タイプ チップ) 1997 年 12 月; JEP126:1997 に代わる
• JEDEC JESD51-5-1999 熱アクセサリ部品を含むパッケージ化された熱試験プレートの規格の拡張
• JEDEC JESD51-6-1999 集積回路の熱試験方法 環境条件 強制対流（空気の移動）
• JEDEC JESD51-7-1999 リード付き表面実装パッケージの高効率熱伝導率テストボード
• JEDEC JESD51-8-1999 集積回路の熱試験方法の環境条件 - 接合部から基板まで
• JEDEC JESD51-10-2000 スルーホールビューリード付きパッケージの熱測定用テストボード
• JEDEC JESD51-12-2005 電子機器コンポーネントからの熱情報の送信および使用に関するガイドライン
• JEDEC JESD51-14-2010 シングルチャネルサーマルフロー半導体デバイスのジャンクションケース熱抵抗過渡デュアルインターフェース試験方法
• JEDEC JESD51-50-2012 シングルチップおよびマルチチップ、シングルおよびマルチ PN 接合の発光ダイオード (LED) の熱測定方法の概要
• JEDEC JESD51-52-2012 CIE 127-2007 の全光束測定と露出した冷却面を備えた LED の熱測定を組み合わせるためのガイドライン
• JEDEC JESD51-13-2009 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-52A-2022 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-53A-2022 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-4A-2019 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-50A-2022 熱測定の用語と定義の用語集
• JEDEC JESD51-12.01-2012 電子パッケージングの熱情報の報告と使用に関するガイドライン
• JEDEC JESD51-53-2012 LED 熱試験の用語、定義、単位の用語集
• JEDEC JESD51-32-2010 JESD51 サーマルテストボード規格を拡張してマルチチップパッケージに対応
• JEDEC JESD84-B51-2015 組み込みマルチメディア カード (eMMC) 電気規格 (5.1)
• JEDEC JESD2-1982 チップキャリア用デジタルバイポーラロジック端子配置
• JEDEC JESD24-2-1991 JESD24 の補遺 – ドア荷重試験方法
• JEDEC JESD35-2-1996 薄い誘電体を決定するためのウェーハレベルのテストガイドライン、JESD35 の付録 No. 2
• JEDEC JESD8-2-1993 低電圧エミッタ結合ロジック (ECL) 集積回路の動作電圧およびインターフェイス レベルの標準
• JEDEC JESD12-2-1986 セルラーベースの集積回路ベンチマーク設定基準
• JEDEC JESD73-2-2001 統合供給ポンプを備えた 3.3V NFET バス開閉装置の規格の説明
• JEDEC JESD75-2-2001 16 ビット論理関数のボール ネットワーク アレイのピン配置の標準化
• JEDEC JESD76-2-2001 1.2 V CMOS ロジック デバイスの標準説明 (通常範囲動作)
• JEDEC JESD82-2-2001 PC133 登録済み DIMM アプリケーション ソフトウェア 3.3V、18 ビット、LVTTL I/0 レジスタ定義
• JEDEC JESD89-2A-2007 Alpha Source による高速化されたソフト エラー率テスト方法
• JEDEC JESD229-2-2014 ワイドI/O2( WideIO2)
• JEDEC JESD220-2-2016 ユニバーサル フラッシュ ストレージ (UFS) カード拡張バージョン 1.0
• JEDEC JESD220-2B-2020 ユニバーサル フラッシュ ストレージ (UFS) カード拡張バージョン 3.0
• JEDEC JESD79-2C-2006 DDR2 SDRAA 仕様要件
• JEDEC JESD209-2B-2010 低電力ダブル データ レート 2 (LPDDR2)
• JEDEC JESD209-2D-2010 低電力ダブル データ レート 2 (LPDDR2)
• JEDEC JESD209-2F-2012 低電力ダブル データ レート 2 (LPDDR2)
• JEDEC JESD79-2E-2008 DDR2メモリ仕様
• JEDEC JESD79-2F-2009 DDR2メモリ仕様
• JEDEC JESD79-3-2-2011 1.25 V DDR3U-800、DDR3U-1066、DDR3U-1333、および DDR3U-1600 (JESD79-3 付録 2)

CZ-CSN, ジェデック ジェスド 51-2

• CSN IEC 51-2:1992 直動式アナログ指示電気計測器およびその付属品。 パート 2: 電流計と電圧計の特別な要件

未注明发布机构, ジェデック ジェスド 51-2

• EIA JEDEC JESD51-1995
• JEDEC JESD301-2-2022
• JEDEC JESD 79-2F-2009

その他：   ジェスジェデク, ジェデック jesd89a, jedecjesd24-3-1990, jedecjesd51-2, jedecjesd22a121a-2008, ジェデック jesd51, ジェデック jesd35, ジェデック jesd22, ジェデジェスド, ジェデック jesd22-c101, ジェデック jesd22b1, ジェデック jesd94b-2015, ジェデック ジェスド 51-2, ジェデック jesd51-2-1995, ジェデックとジェスド, ジェスド 51-2, ジェデック jesd51-7, jedecjesd22-a114f, ジェデック jesd22-a118, jedecjesd22-a115-a.