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jedec jesd 51-2

本专题涉及jedec jesd 51-2的标准有53条。

国际标准分类中，jedec jesd 51-2涉及到半导体分立器件、电子设备用机械构件、集成电路、微电子学、信息技术应用、光电子学、激光设备、运输。

在中国标准分类中，jedec jesd 51-2涉及到半导体分立器件综合、通用电子测量仪器设备及系统、电子设备机械结构件、标志、包装、运输、贮存、半导体集成电路、微电路综合、电真空器件综合、技术管理、数据媒体、光电子器件综合、索道工程、计算机设备、计算机的设计和质量评价。

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于jedec jesd 51-2的标准

• JEDEC JESD51-2-1995 综合电路热测试方法 环境条件 自然对流(静止空气)
• JEDEC JESD51-2A-2008 集成电路热测试方法环境条件 自然对流（静止空气）
• JEDEC JESD51-51-2012 用于测量带暴露冷却的发光二极管的实际热阻和阻抗的电气测试方法的实施
• JEDEC JESD51-51A-2022 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-1995 元件套件的热测方法(单半导体器件)
• JEDEC JESD51-9-2000 区域排列表面安装包装热测量的测试板
• JEDEC JESD51-11-2001 通孔区域排列有引线的封装热测量的测试板
• JEDEC JESD51-31-2008 用于多片包装的热试验环境改善
• JEDEC JESD51-1-1995 集成电路热测方法－电测方法(单半导体器件)
• JEDEC JESD51-3-1996 有引线的表面安装包装的低效导热性测试板
• JEDEC JESD51-4-1997 热测试芯片指导(线焊型芯片)勘误表 1997年12月; 代替JEP126:1997
• JEDEC JESD51-5-1999 带热感式附件部分的包装热测试板标准的扩充
• JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件 强制对流(流动空气)
• JEDEC JESD51-7-1999 有引线的表面安装包装的高效导热性测试板
• JEDEC JESD51-8-1999 集成电路热测试方法环境条件－Junction-to-Board
• JEDEC JESD51-10-2000 通孔视野有引线的封装热测量的测试板
• JEDEC JESD51-12-2005 传送和使用电子仪器组件热信息的指南
• JEDEC JESD51-14-2010 单通道热流半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试方法
• JEDEC JESD51-50-2012 单芯片和多芯片、单 PN 结和多 PN 结发光二极管（LED）的热测量方法概述
• JEDEC JESD51-52-2012 将 CIE 127-2007 总通量测量与带外露冷却表面的 LED 的热测量相结合的指南
• JEDEC JESD51-13-2009 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-52A-2022 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-53A-2022 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-4A-2019 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-50A-2022 热测量术语和定义词汇表
• JEDEC JESD51-12.01-2012 报告和使用电子封装热信息的指南
• JEDEC JESD51-53-2012 LED 热测试的术语、定义和单位词汇表
• JEDEC JESD51-32-2010 扩展 JESD51 热测试板标准以适应多芯片封装
• JEDEC JESD84-B51-2015 嵌入式多媒体卡（e MMC）电气标准（5.1）
• JEDEC JESD2-1982 片式载体的数字双极逻辑引出端排列
• JEDEC JESD24-2-1991 JESD24的补遗－门负荷测试方法
• JEDEC JESD35-2-1996 测定薄电介质的维夫-水平试验（Wafer-Level）测试准则.JESD35的No.2附录
• JEDEC JESD8-2-1993 低压发射极耦合逻辑(ECL)集成电路的运行电压和接口水平标准
• JEDEC JESD12-2-1986 基于蜂窝的集成电路基准设置标准
• JEDEC JESD73-2-2001 带有综合进料泵3.3V NFET公共汽车开关设备的描述标准
• JEDEC JESD75-2-2001 16位逻辑功能的球状网络阵列插脚引线标准化
• JEDEC JESD76-2-2001 1.2 V CMOS逻辑设备的标准描述(常规范围运作)
• JEDEC JESD82-2-2001 PC133注册的DIMM应用软件3.3V, 18位, LVTTL I/0寄存器的定义
• JEDEC JESD89-2A-2007 Alpha 源加速软错误率的测试方法
• JEDEC JESD229-2-2014 宽 I/O 2（WideIO2）
• JEDEC JESD220-2-2016 通用闪存（UFS）卡扩展版本 1.0
• JEDEC JESD220-2B-2020 通用闪存（UFS）卡扩展3.0版
• JEDEC JESD79-2C-2006 DDR2 SDRAA 规范要求
• JEDEC JESD209-2B-2010 低功耗双倍数据速率 2（LPDDR2）
• JEDEC JESD209-2D-2010 低功耗双倍数据速率 2（LPDDR2）
• JEDEC JESD209-2F-2012 低功耗双倍数据速率 2（LPDDR2）
• JEDEC JESD79-2E-2008 DDR2 内存规格
• JEDEC JESD79-2F-2009 DDR2 内存规格
• JEDEC JESD79-3-2-2011 1.25 V DDR3U-800、DDR3U-1066、DDR3U-1333 和 DDR3U-1600（JESD79-3 附录 2）

CZ-CSN，关于jedec jesd 51-2的标准

• CSN IEC 51-2:1992 直接作用模拟指示电气测量仪及其附件．第2部分：电流表和电压表特殊要求

未注明发布机构，关于jedec jesd 51-2的标准

• EIA JEDEC JESD51-1995 EIA JEDEC JESD51-1995
• JEDEC JESD301-2-2022 JEDEC JESD301-2-2022
• JEDEC JESD 79-2F-2009 JEDEC JESD 79-2F-2009

本站其他标准专题： jedec jesd 51-2，jesd jedec，jedec jesd，jesd 51-2，jedec与jesd，jedec jesd89a，jedec jesd51，jedec jesd35，jedec jesd22，jedec jesd51-2，jedec jesd51-7，jedec jesd22-a118，jedec jesd22-a115-a，jedec jesd22a121a-2008，jedec jesd24-3-1990，jedec jesd22-c101，jedec jesd22b112，jedec jesd94b-2015，jedec jesd51-2-1995，jedec jesd22-a114f。

 

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