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半導体環境試験装置

半導体環境試験装置は全部で 500 項標準に関連している。

半導体環境試験装置 国際標準分類において、これらの分類：産業用オートメーションシステム、 半導体ディスクリートデバイス、 環境試験、 造船と海洋構造物の一体化、 長さと角度の測定、 写真撮影のスキル、 情報技術用の言語、 電気および電子試験、 電気通信端末装置、 電気通信総合、 航空機と宇宙船の統合、 振動、衝撃、振動の測定、 標準化の一般原則、 総合デジタル サービス網 (ISDN)、 インターフェースおよび相互接続機器、 電気、磁気、電気および磁気測定、 通信システム、 絶縁、 電子および通信機器用の電気機械部品、 船内機器および計器類、 分析化学、 電子部品および部品、 電気機器部品、 セラミックス、 特殊な作業条件下で使用される電気機器、 警報および警告システム、 電気通信、オーディオおよびビデオエンジニアリング、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 情報技術の応用、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 医療機器、 病院の設備、 防爆、 電気工学総合、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 無線通信、 情報技術（IT）総合。

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体環境試験装置

• IEC 62526:2007 半導体設計環境向けの標準テストインターフェイス言語 (STIL) 拡張標準
• IEC 60749-1:2002/COR1:2003 半導体デバイス 機械的および環境的試験方法 パート 1: 一般原則
• IEC 60749-8:2002/COR2:2003 半導体デバイス、機械的および環境的試験方法、パート 8: シーリング
• IEC 60749-13:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
• IEC 60749-13:2002/COR1:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
• IEC 60749-30:2011 半導体デバイスの機械的および環境的試験 パート 30: 非気密表面実装機器の信頼性試験前のプレコンディショニング
• IEC 60749-34:2010 半導体デバイス、機械的および環境的試験方法、パート 34: 電源の再投入
• IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 修正 1. 半導体デバイス、機械的および環境試験方法、パート 19: せん断強度試験
• IEC 62047-3:2006 半導体デバイス、微小電気機械装置、その3：引張試験用薄膜標準試験片
• IEC 62047-37:2020 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第37部 センサー用MEMS圧電膜の環境試験方法
• IEC 62047-36:2019 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第36部：MEMS圧電膜の耐環境性および耐絶縁性の試験方法
• IEC 60068-3-3:1991 環境試験 第3-3部：設備の耐震試験方法の手引き
• IEC 60749-34:2005 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 34: 電力サイクル
• IEC 60749-25:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
• IEC 60749-34:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 34: 電力サイクル
• IEC 60079-4:1975 爆発性ガス雰囲気用電気機器 第4部：発火温度試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 半導体環境試験装置

• KS C IEC 62526-2015(2020) 半導体設計環境で使用する標準テストインターフェイス言語 (stil)
• KS C 6049-1980(2020) 半導体集積回路の環境試験方法および耐久性試験方法
• KS C 6046-1978(2001) 環境試験方法および半導体デバイス単体の耐久性試験方法
• KS C 6046-1986 環境試験方法および半導体デバイス単体の耐久性試験方法
• KS C IEC 62526:2015 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張
• KS C IEC 60068-3-3:2020 環境試験 - その 3-3: ガイダンス - 機器の耐震試験方法
• KS C IEC 60749-13:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
• KS W 0811-2004 航空機器の環境試験方法
• KS C IEC 60749-34:2006 半導体デバイス、機械的および環境的試験方法、パート 34: 電源の再投入
• KS C IEC 60749-34:2017 半導体デバイスの機械的および環境的試験方法 パート 34: パワーサイクル
• KS B ISO 10813-1:2018 振動発生器 - セレクションガイド - 第 1 部: 環境試験装置
• KS C IEC 60068-3-3:2001 環境試験の基本手順 第 3 部 ガイダンス 機器の耐震試験方法
• KS W 0811-2004(2019) 航空宇宙機器の環境試験方法
• KS W 0926-2014 航空機器の環境試験 電気機器の絶縁抵抗・高電圧試験
• KS C 0915-1995 爆発性ガス環境用電気機器 電気機器の耐圧防爆構造および実証試験
• KS W 0924-1999 航空機器の環境試験、定常加速
• KS W 0923-1997(2002) 航空機搭載機器 環境条件と試験手順
• KS W 0926-1997(2012) 航空機器の環境試験 - 電気機器の絶縁抵抗および高電圧試験
• KS V 0818-2013 船舶用電気機器の環境試験通則
• KS C 0912-2002 一般産業用爆発性ガス環境における電気機器の試験方法
• KS W ISO 2669:2007 航空機機器の環境試験、定常加速
• KS W ISO 2669:2018 航空機器の定常加速環境試験
• KS W 0926-1997 航空機機器の環境試験、電気機器の絶縁抵抗、高電圧試験
• KS C 0915-1995(2000) 爆発性ガス環境用の電気機器 電気機器の耐圧防爆筐体の構造および認証試験
• KS W 0925-2013 航空機機器の環境試験 - パート 3.4: 音響振動
• KS W ISO 7137:2018 航空機搭載機器の環境条件と試験手順
• KS C IEC 60749-34-2017(2022) 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 34: 電源の入れ直し
• KS W 0925-1997 航空機機器の環境試験 パート 3.4: 音響振動

未注明发布机构, 半導体環境試験装置

• BS IEC 62526:2007(2010) 半導体設計環境標準テストインターフェイス言語 (STIL) 拡張標準
• GJB 150.4-1986 軍用装備の環境試験方法 低温試験
• GJB 4.2-1983 船舶用電子機器の環境試験 高温試験
• GJB 4.3-1983 船舶用電子機器の環境試験 低温試験
• GJB 150.11-1986 軍用装備の環境試験方法 塩水噴霧試験
• GJB 4.4-1983 船舶用電子機器の環境試験 低温保管試験
• GJB 4.5-1983 船舶用電子機器の環境試験 恒湿恒温試験
• GJB 150.6-1986 軍用装備の温度-高度試験の環境試験方法
• BS ISO 2678:1985(2022) 航空機器の環境試験 - 電気機器の絶縁抵抗および高電圧試験
• GJB 150.19-1986 軍用装備の環境試験方法の温湿度高度試験

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体環境試験装置

• CNS 5070-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 温度サイクル試験
• CNS 5071-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 温湿度サイクル試験
• CNS 5076-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 振動試験
• CNS 5073-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 衝撃試験
• CNS 5072-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 気密試験
• CNS 6117-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 耐湿性試験
• CNS 5069-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 熱衝撃試験
• CNS 5077-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 端子強度試験
• CNS 5074-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 自然落下試験
• CNS 5075-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 均等加速試験
• CNS 5078-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 水噴霧試験
• CNS 6118-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 低温保存試験
• CNS 5547-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 高温保存試験
• CNS 5541-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – トランジスタ連続動作試験
• CNS 5543-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法および耐久性検査方法 – トランジスタ間欠動作試験
• CNS 6122-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ～サイリスタの連続通電試験～
• CNS 6120-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ～サイリスタの連続動作試験～
• CNS 6126-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ～サイリスタの高温通電試験～
• CNS 6124-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ～サイリスタの間欠通電試験～
• CNS 5067-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – はんだ耐熱試験
• CNS 5068-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 – はんだ付着性試験
• CNS 5545-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – トランジスタの高温逆バイアス試験
• CNS 5542-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 電界効果トランジスタの連続動作試験
• CNS 5544-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法および耐久性検査方法 – 電界効果トランジスタの間欠動作試験
• CNS 5066-1983 半導体デバイス単体の環境検査方法および耐久性検査方法 – 一般原則
• CNS 5546-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 電界効果トランジスタの高温逆バイアス試験
• CNS 6121-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法および耐久性検査方法 – 整流ダイオードの連続通電試験
• CNS 5539-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – ツェナーダイオード連続動作試験
• CNS 6119-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 整流ダイオード連続動作試験
• CNS 9589-1982 車載電子機器の環境試験通則
• CNS 6125-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 整流ダイオードの高温通電試験
• CNS 6123-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ～整流ダイオードの間欠通電試験～
• CNS 5538-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 小信号ダイオードの連続動作試験

British Standards Institution (BSI), 半導体環境試験装置

• BS EN 60749-34:2010 半導体デバイス、機械的および環境的試験方法、パワーサイクル
• BS IEC 62526:2007 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張標準
• BS EN 60749-44:2016 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 半導体デバイスの中性子線照射によるシングルイベント効果 (SEE) の試験方法
• BS IEC 62047-37:2020 半導体デバイス・微小電気機械デバイス・センサー用MEMS圧電膜の環境試験方法
• BS IEC 62047-41:2021 半導体デバイス マイクロ電気機械装置 RFMEMS サーキュレータおよびアイソレータ
• BS IEC 60747-5-13:2021 半導体デバイス・光電子機器・LEDパッケージの硫化水素腐食試験
• BS EN 60749-34:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パワーサイクル
• BS EN 60749-25:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、温度サイクル
• BS ISO 10813-1:2023 振動発生器 セレクションガイド 環境試験装置
• BS EN 60079-26:2004 爆発性ガス雰囲気用の電気機器グループ II IG 電気機器の製造、テスト、マーキング
• BS EN 62047-3:2006 半導体デバイス、マイクロ電気機械装置、引張試験用フィルム標準試験片
• BS EN 60068-2-31:2008 環境試験. 試験. 試験Ec: 乱暴な取り扱いによる衝撃 (主に機器タイプのサンプルに使用)
• 21/30400636 DC BS ISO 10813-4 振動発生器選定ガイダンス 第 4 部 多軸環境試験装置
• BS EN 60749-15:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 - スルーホール実装機器のはんだ付け温度に対する耐性
• BS EN 60749-15:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 スルーホール実装機器のはんだ付け温度に対する耐性
• BS EN 60079-18:2004 爆発性ガス雰囲気用の電気機器密閉型「m」型保護電気機器の構築、試験およびマーキング
• BS IEC 62047-36:2019 半導体デバイス、微小電気機械デバイス、MEMS圧電フィルムの耐環境性・耐絶縁性試験方法

Professional Standard-Ships, 半導体環境試験装置

• CB 1146.6-1996 船舶機器の環境試験とエンジニアリングガイドラインの影響
• CB 1146.11-1996 海洋機器の環境試験およびエンジニアリングガイドライン 金型
• CB 1146.12-1996 海洋機器の環境試験およびエンジニアリングガイドライン 塩水噴霧
• CB 1146.17-1996 氷の蓄積に関する船舶機器の環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.18-1996 船舶設備風速に関する環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.3-1996 海洋機器の環境試験およびエンジニアリングガイドライン高温
• CB 1146.1-1996 環境試験の一般原則と船舶機器のエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.2-1996 船舶機器および低温に関する環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.4-1996 海洋機器の湿度と熱に関する環境試験およびエンジニアリング ガイドライン
• CB 1146.7-1996 船舶機器の環境試験はエンジニアリングガイドラインに違反します
• CB 1146.14-1996 海洋機器の砂塵に関する環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.9-1996 海洋機器の振動 (正弦波) に関する環境試験およびエンジニアリング ガイドライン
• CB 1146.15-1996 海洋機器のエンクロージャの防水に関する環境試験およびエンジニアリング ガイドライン
• CB 1146.16-1996 海洋機器の日射に関する環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.8-1996 船舶用機器の傾きと揺れに関する環境試験およびエンジニアリングガイドライン
• CB 1146.13-1985 船舶用機器環境試験法試験Kb：交互塩水噴霧

Group Standards of the People's Republic of China, 半導体環境試験装置

• T/ZAQ 10113-2022 半導体デバイス断続寿命試験装置
• T/ZZB Q063-2022 半導体デバイスの間欠寿命試験装置
• T/ZACA 041-2022 ミックスドシグナル半導体デバイス試験装置
• T/ZZB Q041-2022 ミックスドシグナル半導体デバイス試験装置

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体環境試験装置

• GB/T 5170.11-2017 環境試験装置の検査方法 第11部 腐食性ガス試験装置
• GB/T 5170.11-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 腐食性ガス試験装置
• GB/T 5170.20-2022 環境試験装置の検査方法 第20部 水質試験装置
• GB/T 5170.8-2017 環境試験装置の検査方法 第8部 塩水噴霧試験装置
• GB/T 5170.2-2017 環境試験装置の検査方法その2：温度試験装置
• GB/T 5170.18-2022 環境試験装置の検査方法 第18部 温湿度複合サイクル試験装置
• GB/T 5170.11-1996 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 腐食性ガス試験装置
• GB/T 13543-1992 デジタル通信機器の環境試験方法
• GB/T 5170.9-2017 環境試験装置の検査方法 第9回 日射試験装置
• GB/T 5170.2-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 温度試験装置
• GB/T 5170.5-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 湿熱試験装置
• GB/T 5170.8-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 塩水噴霧試験装置
• GB/T 32710.7-2016 環境試験機器および装置の安全仕様 第 7 部：気候環境試験室
• GB/T 5170.10-2017 環境試験装置の検査方法 第10部 高圧・低圧・低圧試験装置
• GB/T 5170.9-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 日射試験装置
• GB/T 5170.10-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 高温・低温・低圧試験装置
• GB/T 14710-1993 医用電気機器の環境要件と試験方法
• GB/T 5170.20-2005 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 水質試験装置
• GB/T 18328.1-2009 振動発生装置選定ガイド 第1部 環境試験装置
• GB/T 5170.2-1996 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータ検証方法 温度試験装置
• GB/T 5170.8-1996 電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータ検査方法 塩水噴霧試験装置
• GB/T 5170.5-1996 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 湿度・熱試験装置
• GB/T 5170.1-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 一般原則
• GB/T 5170.18-2005 電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータ検証方法 温湿度複合サイクル試験装置

Association Francaise de Normalisation, 半導体環境試験装置

• NF C96-022-13:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩水噴霧環境試験
• NF Z87-019-26*NF ETS 300019-2-6:1995 機器エンジニアリング（EE） 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 2-6 部：環境試験仕様書 船舶環境
• NF Z87-019-25:1995 機器工学 通信機器の環境条件と環境試験 第2-5部 環境試験仕様書 陸上輸送機器
• NF Z87-019-22:1995 機器エンジニアリング 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-2: 環境試験仕様 輸送
• NF X10-812:2013 海洋環境 - 海中機器 - 環境試験とアドバイス
• NF Z87-019-20:1995 機器工学 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-0: 環境試験の仕様 はじめに
• NF Z87-019-27:1995 機器工学、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-7: 環境試験仕様、非定常携帯使用
• NF Z87-019-16:1995 機器工学 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 1-6 部 環境条件の分類 船舶環境
• NF Z87-019-2-0*NF EN 300019-2-0:2003 環境工学 (EE) 通信機器の環境条件と環境試験 第 2-0 部：環境試験仕様の紹介
• NF Z87-019-2-2:2013 環境工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-2: 環境試験仕様. 輸送 (V2.2.2)
• NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011 半導体デバイス、機械的および環境試験方法、パート 15: リードインパッケージデバイスのはんだ付け温度に対する耐性。
• NF Z87-019-11:1995 機器工学 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 1-1 部：環境条件の分類 保管
• NF Z87-019-2-4:2013 環境工学 (EE). 通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-4: 環境試験仕様. 大気の影響に耐えられない場所で使用する固定機器 (V2.3.1)
• NF X10-811:1995 海洋環境 海洋計測機器 海洋環境における機器の環境試験と推奨事項。
• NF Z87-019-21:1995 機器工学 通信工学の環境条件と環境試験 パート 2-1: 環境試験仕様 保管
• NF C96-050-3*NF EN 62047-3:2006 半導体デバイス・微小電気機械装置 第3部 引張試験用フィルム標準試験片
• NF Z87-019-1-6*NF EN 300019-1-6:2004 環境工学 通信機器の環境条件と環境試験 第1-6部 環境条件の分類 船舶環境
• NF Z87-019-1-2*NF EN 300019-1-2:2014 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-2: 環境条件の分類. 輸送 (V2.2.1)
• NF Z87-019-1-1*NF EN 300019-1-1:2014 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-1: 環境条件の分類された保存 (V2.2.1)
• NF Z87-019-1-8*NF EN 300019-1-8:2004 環境工学（EE） 通信機器の環境条件と環境試験 第 1-8 部：環境条件の分類 地下施設用固定設備
• NF Z87-019-17:1995 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-7: 環境条件の分類. ポータブルおよび非固定使用の機器
• NF Z87-019-10:1995 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-0: 環境条件の分類 はじめに
• NF Z87-019-15:1995 機器工学 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-5: 環境条件の分類 陸上輸送設備
• NF Z87-019-2-8:2020 環境工学 (EE). 環境条件および環境試験. 電気通信機器での使用向け. パート 2-8: 環境試験の仕様. 地下固定使用 (V2.2.1)
• NF Z87-019-1-0*NF EN 300019-1-0:2003 環境工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 1-0 部: 環境条件の分類の概要
• NF Z87-019-2-7*NF EN 300019-2-7:2006 環境工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-7: 携帯型および非定置型使用の環境試験仕様 (V3.0.1)
• NF C20-420*NF EN 60068-3-3:1994 環境試験 第3部 設備の耐震試験方法のご案内
• NF ISO 14605:2013 屋内照明環境で半導体光触媒材料をテストするためのテクニカル セラミックス光源
• NF Z87-019-1-3*NF EN 300019-1-3:2014 環境工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-3: 環境条件の分類. 大気の影響に強い場所の固定機器 (V2.4-1)
• NF Z87-019-1-4*NF EN 300019-1-4:2014 環境工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-4: 環境条件の分類. 大気の影響に耐えられない場所で使用する固定機器 (V2.2.1)
• NF X10-821:1995 海洋環境、海洋観測機器、環境試験と非空調機器の推奨事項。
• NF EN 61747-5:1999 液晶・半導体表示装置 第5部：環境・耐久性・機械的試験方法
• NF Z87-019-12:1995 機器工学 通信工学のための環境条件と環境試験 第 1-2 部：環境条件の分類 輸送
• NF C96-022-34:2005 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 34: 電力サイクル
• NF C96-022-25*NF EN 60749-25:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
• NF C96-022-34*NF EN 60749-34:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 34 部: エネルギーサイクル
• NF Z87-019-23:1995 機器工学. 電気通信工学のための環境条件と環境試験. パート 2-3: 環境試験の仕様. 耐候性エリアでの固定使用
• NF Z87-019-1-5*NF EN 300019-1-5:2004 環境工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 1-5 部: 環境条件の分類 地上車両の設置

Danish Standards Foundation, 半導体環境試験装置

• DS/ETS 300019-2-6:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-6: 環境試験の試験仕様。 船内環境
• DS/ETS 300019-2-0:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-0: 環境試験の試験仕様書。 導入
• DS/ETS 300019-2-1:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-1: 環境試験の試験仕様書。 店
• DS/ETS 300019-2-2:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-2: 環境試験の試験仕様書。 交通機関
• DS/EN 300019-2-6 V3.0.0:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 2-6 部: 環境試験仕様書; 船舶環境
• DS/EN 60749-34:2011 半導体装置の機械的および気候的試験方法 パート 34: 電源の入れ直し
• DS/ETS 300019-2-5:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-5: 環境試験の試験仕様。 地上車両の組み立て
• DS/EN 300019-2-1 V2.1.2:2001 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-1: 環境試験仕様、保管
• DS/ETS 300019-2-2 V2.1.2:2003 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送
• DS/ETS 300019-1-6:1993 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-6: 環境条件の分類. 船舶環境
• DS/EN 300019-2-0 V2.1.2:2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-0: 環境試験仕様; はじめに
• DS/EN 300019-2-1 V2.2.1:2012 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送
• DS/EN 300 019-2-2 V2.3.1:2013 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送
• DS/ETS 300019-2-7:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-7: 環境試験仕様。 ポータブルおよび非ポータブル アプリケーション
• DS/ETS 300019-1-1:1993 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-1: 環境条件の分類 保管
• DS/ETS 300019-1-2:1993 機器工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-2: 環境条件の分類 輸送
• DS/ETS 300019-1-0:1994 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-0: 環境条件の分類 はじめに
• DS/EN prEN 300019-1-6 V 2:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1 部から第 6 部: 環境条件の分類; 船舶環境
• DS/ETS 300019-2-3:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-3: 環境試験仕様。 気候条件から保護された場所での固定使用向け
• DS/ETS 300019-2-4:1994 機器エンジニアリング (EE)。 通信機器の環境条件および環境試験。 パート 2-4: 環境試験仕様。 気候条件から保護されていない場所での固定使用向け
• DS/EN 300019-2-8 V2.1.1:2000 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-8: 環境試験仕様; 地下での固定使用
• DS/EN 300019-1-0 V2.1.2:2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-0: 環境条件の分類; はじめに
• DS/EN 300019-1-1 V2.1.4:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1-1 部: 環境条件の分類; 保管
• DS/EN 300019-1-2 V2.1.4:2004 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1-2: 環境条件の分類、輸送
• DS/EN 300019-2-5 V3.0.0:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-5: 環境試験仕様; 地上車両の設置
• DS/EN 300 019-2-3 V2.3.1:2013 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 補足環境試験の仕様; 耐候性の場所での固定使用
• DS/ETS 300019-1-5:1993 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-5: 環境条件の分類. 地上車両の組み立て
• DS/EN prEN 300019-1-5 V2.:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1 ～ 5: 環境条件の分類; 地上車両の設置
• DS/EN 300019-2-3 V2.2.2:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• DS/EN 300019-2-7 V3.0.0:2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-7: 環境試験仕様; ポータブルおよび非定常使用
• DS/ETS 300019-1-7:1993 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-7: 環境条件の分類. ポータブルおよび非固定アプリケーション

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 半導体環境試験装置

• HD 323.3.3 S1-1991 環境試験 第3部 ガイドライン 設備の耐震試験方法
• EN 60749-34:2010 半導体装置の機械的および気候的試験方法 パート 34: 電源の入れ直し
• EN 60068-3-3:1993 環境試験、パート 3: ガイド、機器の耐震試験方法 (IEC 68-3-3-1991) [代替: CENELEC HD 323.3.1 S1]

American National Standards Institute （ANSI), 半導体環境試験装置

• ANSI PH3.713-1985 写真撮影（設備）、環境試験
• ANSI/IEEE 1450.1:2005 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) (IEEE Std. 1450-1999) 拡張の規格
• ANSI/ASA S2.62-2009 過酷な振動環境における機器の振動試験要件

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 半導体環境試験装置

• IEEE 1450.1/COR-2005 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張 (IEEE Std 1450-1999)
• IEEE 1450.1-2005 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張 (IEEE Std 1450-1999)
• IEEE Std C62.37/COR-2009 半導体サイリスタダイオード衝撃保護装置の試験仕様書、正誤表
• IEEE Std 1450.1-2005 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) (IEEE Std 1450-1999) の拡張に関する IEEE 規格
• IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E) IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) 拡張
• IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張
• IEEE/IEC 62526-2007 IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張

Professional Standard - Aerospace, 半導体環境試験装置

• QJ 1184.1-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の高温試験
• QJ 1184.2-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の低温試験
• QJ 1184.5-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の湿度・熱試験
• QJ 1184.6-1987 海防ミサイル環境基準搭載機器のカビ試験
• QJ 1184.7-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の塩水噴霧試験
• QJ 1184.8-1987 海防ミサイル環境基準搭載機器の衝撃試験
• QJ 1184.9-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の衝突試験
• QJ 1184.10-1987 海防ミサイルの環境基準と搭載機器の振動試験
• QJ 1184.12-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の振動試験
• QJ 1184.11-1987 海防ミサイル環境基準搭載機器の加速試験
• QJ 1184.3-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の温度衝撃試験
• QJ 1184.4-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の温度高度試験
• QJ 1184.13-1987 海防ミサイル環境基準 搭載機器の道路輸送試験
• QJ 1986-1990 航空宇宙製品環境試験装置マニュアル

IN-BIS, 半導体環境試験装置

• IS 12641-1989 半導体デバイスおよび集積回路の環境試験手順
• IS 2106 Pt.9-1964 電子機器の環境試験 第IX部：落下試験
• IS 8252 Pt.11-1976 航空機器環境試験差圧XI
• IS 2106 Pt.15-1966 電子機器の環境試験 そのⅩⅤ 気密性試験
• IS 2106 Pt.16-1971 電子・電気機器の環境試験 Part X 振動試験
• IS 10250-1982 自動車電装品の環境試験厳しい規格
• IS 8252 Pt.4-1980 航空機機器環境試験 第 IV 着氷
• IS 8252 Pt.10-1979 航空機器パートX 塩水噴霧環境試験
• IS 8252 Pt.6-1976 航空機機器パート VI 防水環境試験
• IS 8252 Pt.21-1986 航空機器 第21部 防爆環境試験
• IS 8252 Pt.16-1979 航空機機器環境試験パート XVI 影響
• IS 2106 Pt.8-1964 電子機器の環境試験 パート 8: 衝撃試験
• IS 8252 Pt.3-1978 航空機機器パートⅢ 湿度環境試験（24時間サイクル）
• IS 8252 Pt.1-1976 航空機器の環境試験 第Ⅰ部 一般原則

German Institute for Standardization, 半導体環境試験装置

• DIN EN 300019-2-6:2004 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-6: 環境試験仕様 船舶環境
• DIN EN 300019-2-1:2004 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-1: 環境試験仕様 保管
• DIN EN 300019-2-0:2004 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件と環境試験、パート 2-0: 環境試験仕様、説明
• DIN EN 300019-2-8:2000 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-8: 地下使用の固定機器の環境試験の仕様
• DIN EN 300019-2-7:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件および環境試験. パート 2-7: 環境試験仕様. 携帯機器および非固定用途の機器
• DIN EN 300019-2-1:2016 環境工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-1: 環境試験仕様 保管
• DIN EN 300019-2-5:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-5: 環境試験仕様. 地上車両への設置
• DIN EN 300019-2-4:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-4: 環境試験仕様. 大気の影響に耐えられない場所で使用する固定機器
• DIN EN 300019-2-3:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-3: 環境試験仕様. 大気の影響に強い場所で使用する固定機器
• DIN EN 300019-1-6:2004 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-6: 環境条件の分類. 船舶環境
• DIN EN 62047-3:2007 半導体デバイス、微小電気機械装置、その3：引張試験用フィルム標準試験片
• DIN EN 300019-1-7:2004 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-7: 環境条件の分類. 携帯機器および非固定用途の機器
• DIN EN 300019-1-0:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-0: 環境条件の分類. 説明
• DIN EN 300019-1-1:2004 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-1: 環境条件の分類 保管
• DIN EN 300019-1-2:2004 機器工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-2: 環境条件の分類 輸送
• DIN EN 300019-1-8:2004 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-8: 環境条件の分類. 地下サイトの固定設備
• DIN EN 50130-5:2012 警報装置 第5部：環境試験方法
• DIN EN 300019-1-3:2016 環境工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-3: 環境条件の分類. 大気の影響に強い場所の固定機器
• DIN EN 300019-1-3:2004 機器工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-3: 環境条件の分類. 大気の影響に強い場所の固定機器
• DIN ETS 300019-1-4/A1:1998 機器工学 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-4 環境条件分類 非気候保護固定機器の改造 1
• DIN EN 300019-1-2:2016 環境工学 (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-2: 環境条件の分類. 輸送
• DIN EN 300019-1-1:2016 環境工学 (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-1: 環境条件の分類 保管
• DIN EN 300019-1-5:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-5: 環境条件の分類. 地上車両の設置
• DIN EN 300019-1-4:2016 環境工学 (EE). 通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-4: 環境条件の分類. 大気の影響に耐えられない場所で使用する固定機器
• DIN EN 300019-1-4:2004 機器エンジニアリング (EE). 電気通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-4: 環境条件の分類. 大気の影響に耐えられない場所で使用する固定機器
• DIN EN 60749-25:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル

Lithuanian Standards Office , 半導体環境試験装置

• LST ETS 300 019-2-6 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-6: 環境試験仕様書、船舶環境
• LST EN 300 019-2-6 V3.0.0-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 2-6 部: 環境試験仕様書; 船舶環境
• LST EN 300 019-2-6 V2.1.2-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 2-6 部: 環境試験仕様書; 船舶環境
• LST EN 300 019-2-1 V2.1.2-2005 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-1: 環境試験仕様、保管
• LST EN 300 019-2-2 V2.1.2-2000 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 2-2: 環境試験仕様 輸送
• LST ETS 300 019-2-2 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送
• LST ETS 300 019-2-0 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-0: 環境試験仕様、はじめに
• LST ETS 300 019-2-5 Leid.1-2007 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-5: 環境試験仕様、地上車両への設置
• LST ETS 300 019-1-1 Leid.1-2006 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1-1 部: 環境条件の分類;
• LST EN 60068-3-3-2001 環境試験パート 3: 機器の耐震試験方法に関するガイダンス (IEC 60068-3-3:1991)
• LST EN 62417-2010 半導体デバイス金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ (MOSFET) のモバイル イオン試験 (IEC 62417:2010)
• LST ETS 300 019-1-0 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1-0: 環境条件の分類、はじめに
• LST ETS 300 019-1-2 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1-2: 環境条件の分類、輸送
• LST EN 300 019-2-0 V2.1.2-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-0: 環境試験仕様; はじめに
• LST EN 300 019-2-2 V2.2.1-2012 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送
• LST EN 300 019-1-6 V2.1.4-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1 部から第 6 部: 環境条件の分類; 船舶環境
• LST EN 300 019-1-6 V2.1.2-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1 部から第 6 部: 環境条件の分類; 船舶環境
• LST ETSI EN 300 019-2-5 V3.1.1-2021 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2: 環境試験の仕様; サブパート 5: 地上車両の設置
• LST EN 300 019-2-8 V2.1.2-2000 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件と環境試験 第 2-8 部: 地下での固定使用の環境試験仕様
• LST ETS 300 019-2-8 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-8: 環境試験仕様; 地下での固定使用
• LST EN 300 019-1-1 V2.1.4-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1-1 部: 環境条件の分類; 保管
• LST EN 300 019-1-2 V2.1.4-2004 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1-2: 環境条件の分類、輸送
• LST EN 300 019-1-0 V2.1.2-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-0: 環境条件の分類; はじめに
• LST EN 300 019-1-1 V2.1.2-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 1-1 部: 環境条件の分類; 保管
• LST ETS 300 019-1-5 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1 ～ 5: 環境条件の分類、地上車両の設置
• LST EN 300 019-2-5 V2.1.2-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-5: 環境試験仕様; 地上車両の設置
• LST EN 300 019-2-5 V3.0.0-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-5: 環境試験仕様; 地上車両の設置
• LST EN 300 019-2-3 V2.1.2-2000 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件および環境試験パート 2-3: 耐候性の場所での固定使用の環境試験仕様
• LST ETS 300 019-2-3 Leid.1-2005/A1-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETS 300 019-2-3 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETS 300 019-1-8 Leid.1-2005 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1 ～ 8: 環境条件の分類; 地下場所での固定使用
• LST EN 300 019-1-5 V2.1.4-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1 ～ 5: 環境条件の分類; 地上車両の設置
• LST EN 300 019-2-7 V3.0.1-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-7: 環境試験仕様; ポータブルおよび非定常使用
• LST EN 300 019-2-3 V2.2.2-2004 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• LST EN 300 019-2-3 V2.2.1-2005 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETSI EN 300 019-2-3 V2.5.1-2020 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETS 300 019-1-3 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1 ～ 3: 環境条件の分類; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETS 300 019-1-7 Leid.1-2005 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1 ～ 7: 環境条件の分類; ポータブルおよび非定常使用
• LST ETS 300 019-1-3 Leid.1-2005/A1-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験パート 1-3: 環境条件分類; 耐候性の場所での固定使用
• LST EN 300 019-2-4 V2.1.2-2000 機器エンジニアリング (EE) 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 2-4: 風雨から保護された場所での固定使用の環境試験仕様
• LST ETS 300 019-2-4 Leid.1-2005/A1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-4: 環境試験仕様、天候から保護された場所での固定使用
• LST ETS 300 019-2-3 Leid.1-2005/A2-2005 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様 T 3.1 ～ T 3.5; 耐候性の場所での固定使用
• LST ETS 300 019-2-4 Leid.1-2005 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-4: 環境試験仕様、天候から保護された場所での固定使用

KR-KS, 半導体環境試験装置

• KS C IEC 60068-3-3-2020 環境試験 - その 3-3: ガイダンス - 機器の耐震試験方法
• KS B ISO 10813-1-2018 振動発生器 - セレクションガイド - 第 1 部: 環境試験装置
• KS W ISO 2669-2018 航空機機器環境試験定常加速度
• KS W ISO 7137-2018 航空機搭載機器の環境条件と試験手順
• KS C IEC 60749-34-2017 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 34: 電源の入れ直し

AENOR, 半導体環境試験装置

• UNE-EN 60068-3-3:1994 環境試験 第 3 部：機器の耐震試験に関するガイドライン
• UNE 73350-2:2003 環境放射能測定手順測定装置その2：半導体センサーのアルファ分光法
• UNE 73350-1:2003 環境放射能測定手順 測定機器 その1：半導体センサーのガンマ線分光分析
• UNE-EN 60749-34:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 34: 電源の入れ直し
• UNE-EN 60749-25:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), 半導体環境試験装置

• ETSI ETS 300 019- 2-0-1994 機器エンジニアリング (EE) 通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-0: 環境試験の仕様 はじめに
• ETSI ETS 300 019- 1-0-1994 機器エンジニアリング (EE) 通信機器の環境条件と環境試験 パート 1-0: 環境条件の分類 はじめに
• ETSI EN 300 019-2-1-2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-1: 環境試験仕様; ストレージ (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-2-0-2003 環境工学 (EE). 通信機器の環境条件と環境試験. パート 2-0: 環境試験仕様. はじめに (バージョン 2.1.2)
• ETSI EN 300 019-1-0-2003 環境工学 (EE). 通信機器の環境条件と環境試験. パート 1-10: 環境条件の分類. はじめに (バージョン 2.1.2)
• ETSI EN 300 019-1-2-2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-2: 環境条件の分類; 輸送 (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-1-1-2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-1: 環境条件の分類; ストレージ (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-2-3-2015 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用 (V2.4.1)

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 半導体環境試験装置

• PRETS 300 019-2-0-1992 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-0: 環境試験仕様の概要
• PRETS 300 019-2-2-1994 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験パート 2-2: 輸送環境試験仕様
• ETS 300 019- 2-0-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-0: 環境試験仕様の概要
• PRETS 300 019-2-0-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件と環境試験 パート 2-0: 環境試験仕様の概要
• ETS 300 019- 2-2-1994 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験パート 2-2: 輸送環境試験仕様
• ETS 300 019- 2-1-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 2-1: 環境試験保管仕様
• PRETS 300 019-2-1-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 2-1: 環境試験保管仕様
• ETS 300 019-1-6-1992 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 Part 1-6: 環境条件分類 船舶環境
• PRETS 300 019-1-6-1991 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 Part 1-6: 環境条件分類 船舶環境
• ETSI EN 300 019-2-1:2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-1: 環境試験仕様; ストレージ (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-2-1:2017 環境エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-1: 環境試験仕様、ストレージ (V2.2.8)
• ETSI EN 300 019-2-2:2011 機器エンジニアリング (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送 (V2.2.1)
• PRETS 300 019-B-1990 電気通信機器エンジニアリング環境条件および環境試験パート B - 環境条件分類 (T/TR 02-12)
• PRETS 300 019-1-0-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-0: 環境条件分類の概要
• PRETS 300 019-1-2-1991 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 Part 1-2: 輸送における環境条件分類
• PRETS 300 019-1-0-1992 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-0: 環境条件分類の概要
• ETS 300 019- 1-0-1994 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-0: 環境条件分類の概要
• ETS 300 019-1-2-1992 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 Part 1-2: 輸送における環境条件分類
• ETS 300 019-1-1-1992 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-1: 環境条件下での保管の分類
• PRETS 300 019-1-1-1991 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-1: 環境条件下での保管の分類
• ETSI EN 300 019-2-0:2003 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-0 環境試験仕様; はじめに (V2.1.2)
• ETSI EN 300 019-2-2:2017 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送 (V2.3.6)
• ETSI EN 300 019-2-2:2012 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送 (V2.3.1)
• ETSI EN 300 019-2-2:2013 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 2-2: 環境試験仕様、輸送 (V2.3.1)
• PRETS 300 019-1-5-1991 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-5: 環境条件の分類 地上車両への設置
• ETS 300 019-1-5-1992 機器エンジニアリング (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-5: 環境条件の分類 地上車両への設置
• ETSI EN 300 019-1-1:2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-1: 環境条件の分類; ストレージ (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-1-2:2014 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-2: 環境条件の分類; 輸送 (V2.2.1)
• ETSI EN 300 019-1-0:2003 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 1-10: 環境条件の分類; はじめに (V2.1.2)
• ETSI EN 300 019-1-2:2013 環境工学 (EE)、電気通信機器の環境条件および環境試験、パート 1-2: 環境条件の分類、輸送 (V2.1.7)
• ETSI EN 300 019-2-3:2015 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用 (V2.3.7)
• ETSI EN 300 019-2-3:2013 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; パート 2-3: 環境試験仕様; 耐候性の場所での固定使用 (V2.3.1)
• ETS 300 019-1-3-1992 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-3: 耐候性の場所での固定使用の環境条件分類
• PRETS 300 019-1-3-1991 機器工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験 パート 1-3: 耐候性の場所での固定使用の環境条件分類

RO-ASRO, 半導体環境試験装置

• STAS 6693/2-1975 半導体装置。 トランジスタ。 電子性能試験方法
• STAS 11115/11-1992 航空機搭載機器の環境条件とテスト手順。 セクション 11。 流体過敏症
• STAS 8393/10-1970 電子機器の基本的な環境試験手順。 テスト Hb: ストレージ

SE-SIS, 半導体環境試験装置

• SIS SS-IEC 749:1991 半導体装置。 機械的および気候的試験方法
• SIS SS 436 15 03-1986 産業や貿易で使用される電子機器。 伝導電磁妨害に対する耐性。 環境の分類とテスト - 環境の分類とテスト
• SIS SS 436 15 03-1984 産業や貿易で使用される電子機器。 伝導電磁妨害に対する耐性。 環境分類とテスト。 環境分類とテスト
• SIS SS-ISO 7137:1982 航空機。 航空輸送機器の環境条件と試験手順

CZ-CSN, 半導体環境試験装置

• CSN IEC 749:1994 半導体装置。 機械的および気候的試験方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 半導体環境試験装置

• GJB 150.9-1986 軍事機器の環境試験方法 - 湿熱試験
• GJB 150.12-1986 軍用装備の環境試験方法 砂塵試験
• GJB 150.10-1986 軍用装備の環境試験方法 金型試験
• GJB 4.9-1983 船舶用電子機器の環境試験と衝撃試験
• GJB 150.16-1986 軍用機器の環境試験方法 振動試験
• GJB 150.18-1986 軍用装備の環境試験方法 衝撃試験
• GJB 150.17-1986 軍用装備の環境試験方法 騒音試験
• GJB 4.7-1983 船舶用電子機器の環境試験と振動試験
• GJB 150.8-1986 軍用装備の降雨試験の環境試験方法
• GJB 4.8-1983 船舶用電子機器の環境試験、振動試験
• GJB 4.11-1983 船舶用電子機器の環境試験 塩水噴霧試験
• GJB 150.21-1987 軍用装備の環境試験方法 風圧試験
• GJB 4.10-1983 船舶用電子機器の環境試験 金型試験
• GJB 150.3-1986 軍用装備の環境試験方法 高温試験
• GJB 150.14-1986 軍事機器の環境試験方法 - 浸漬試験
• GJB 150.15-1986 軍用装備の環境試験方法 加速試験
• GJB 4.1-1983 船舶用電子機器の環境試験の一般原則
• GJB 150.1-1986 軍事機器の環境試験方法の一般原則
• GJB 4.13-1983 船舶用電子機器環境試験シェル防水試験
• GJB 4.6-1983 船舶用電子機器の環境試験、交流湿熱試験
• GJB 150.5-1986 軍用機器の環境試験方法 温度衝撃試験
• GJB 150.20-1986 軍需品の環境試験方法 航空機銃の振動試験
• GJB 150.7-1986 軍用装備の環境試験方法 日射試験
• GJB 150.22-1987 軍事装備の環境試験方法 氷の蓄積/氷雨試験
• GJB 4.12-1983 船舶用電子機器の環境試験 日射試験
• GJB 150.2-1986 軍用装備の環境試験方法 低圧（高度）試験
• GJB 150.13-1986 軍用機器の環境試験方法 爆発性雰囲気試験
• GJB 150.23-1991 軍事装備の環境試験方法 傾斜およびスイング試験
• GJB 805.4-1990 地対地戦略ミサイル地上装備品の環境条件及び試験方法に関する一般仕様書
• GJB 150.25-1992 軍用機器の振動騒音温度試験の環境試験方法
• GJB 150.24-1992 軍用機器の環境試験方法 温湿度振動高さ試験
• GJB 150.26-2009 軍事装備研究所の環境試験方法 パート 26: 液体汚染試験

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 半導体環境試験装置

• ECA CB 5-1969 半導体放熱装置の推奨試験手順
• ECA CB 5-1-1971 CB5 半導体放熱装置の推奨試験手順の付録

ATIS - Alliance for Telecommunications Industry Solutions, 半導体環境試験装置

• 0600063-2017 通信機器環境試験評価ガイド

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 半導体環境試験装置

• JIS W 0812:2004 航空機搭載機器 環境条件と試験手順
• JIS C 0051:2002 環境テスト パート 2-21: テスト テスト U: 端末および設置された機器全体の安定性
• JIS R 1750:2012 ファインセラミックスの室内光環境における半導体光触媒材料の検査用光源
• JIS C 0931:1993 爆発性ガス雰囲気用の電気機器 電気機器の耐火筐体の構造および認定試験
• JIS C 60068-3-3:2000 環境試験 第3部 設備の耐震試験方法ガイド
• JIS W 0823:1994 航空機機器の環境試験、電気機器の絶縁抵抗、高電圧試験
• JIS C 0055:2000 環境試験 第3部 設備の耐震試験方法ガイド
• JIS W 0812:1993 航空機搭載機器 環境条件と試験手順 (RTCA/DC-160C)
• JIS C 60068-2-56:1996 環境試験 パート 2: 試験 試験 Cb: 主に機器の定常湿熱試験に使用されます。

Professional Standard - Aviation, 半導体環境試験装置

• HB 6167.9-1989 民間航空機搭載機器の環境条件と試験方法 流体感度試験
• HB 6167.20-1989 民間航空機の空中機器の環境条件と試験方法 電源コードの音響伝導感度試験
• HB 5830.1-1984 航空機搭載機器の環境条件と試験方法に関する一般原則
• HB 5830.11-1986 航空機搭載機器の環境条件と試験方法 湿度と熱
• HB 5830.13-1986 航空機搭載機器の環境条件と試験方法
• HB 5830.2-1982 航空機搭載機器の環境条件と試験方法への影響
• HB 5830.3-1982 航空機搭載機器の環境条件と試験方法 衝突
• HB 5830.5-1984 航空機搭載機器の環境条件と試験方法 振動
• HB 5830.9-1984 航空機搭載機器の環境条件と試験方法、低温
• HB 5830.8-1984 航空機搭載機器の環境条件と試験方法、高温
• HB 5830.12-1986 航空機搭載機器の環境条件と試験方法 塩水噴霧
• HB 6167.9-2014 民間航空機の航空機搭載機器の環境条件と試験方法 第 9 部：液体感受性試験
• HB 6167.15-1989 民間航空機の空中機器の音響および振動試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.13-1992 民間航空機の空中装備着氷試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.12-1989 民間航空機の空中機器の塩水噴霧試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.10-1989 民間航空機の空中機器の砂塵試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.4-1989 民間航空機搭載機器の湿熱試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.6-1989 民間航空機の空中機器の振動試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.7-1989 民間航空機の空中機器の爆発試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.8-1989 民間航空機搭載機器の防水試験の環境条件と試験方法
• HB 6167.11-1989 民間航空機搭載機器の金型試験の環境条件と試験方法

Professional Standard - Machinery, 半導体環境試験装置

• JB/T 7439.3-1994 実験器具用語 気候環境試験装置
• JB/T 4219-1999 パワー半導体デバイス試験装置 型式命名方法
• JB/T 9512-1999 気候環境試験装置および試験室の騒音および音響出力レベルの測定

ES-UNE, 半導体環境試験装置

• UNE-EN 300019-2-6 V3.1.1:2023 環境工学 (EE); 電気通信機器の環境条件および環境試験; 第 2 部: 環境試験仕様書; 第 6 部: 船舶環境

Professional Standard - Post and Telecommunication, 半導体環境試験装置

• YD/T 2379.4-2011 電気通信機器の環境試験要件および試験方法 第 4 部：端末機器
• YD/T 2379.6-2012 電気通信機器の環境試験要件および試験方法 第 6 部: 輸送
• YD/T 2379.5-2013 電気通信機器の環境試験要件と試験方法 第 5 部：保管

工业和信息化部, 半導体環境試験装置

• YD/T 2379.9-2019 電気通信機器の環境試験要件および試験方法 第 9 部：船舶搭載機器
• YD/T 2379.10-2020 電気通信機器の環境試験要件および試験方法 パート 10: 民間航空機の航空機搭載機器
• YD/T 2379.11-2022 電気通信設備の環境試験要求事項及び試験方法 第11部：地中固定用設備
• YD/T 2379.6-2022 電気通信機器の環境試験要件および試験方法 第 6 部: 輸送

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 半導体環境試験装置

• JJF 1101-2003 環境試験装置温湿度校正仕様書
• JJF 1101-2019 環境試験装置温湿度校正仕様書
• JJF 1895-2021 半導体デバイス用直流・低周波パラメータ試験装置の校正仕様書

JP-JASO, 半導体環境試験装置

• JASO D001-1987 車載用電子機器の環境試験方法の大原則
• JASO D001-1994 車載用電子機器の環境試験方法の大原則

International Organization for Standardization (ISO), 半導体環境試験装置

• ISO 2653-1:1975 航空機機器環境試験その1：着氷
• ISO 2669:1995 航空機器の定常加速環境試験
• ISO 2678:1977 航空機器の環境試験 電気機器の絶縁抵抗・高電圧試験
• ISO 2678:1985 航空機器の環境試験 電気機器の絶縁抵抗・高電圧試験
• ISO 7137:1981 航空機：航空機搭載機器の環境条件とテスト手順
• ISO 7137:1992 航空機：航空機搭載機器の環境条件とテスト手順
• ISO 2678-1:1977 航空機器の環境試験 その1 電気機器の絶縁抵抗・高電圧試験

Professional Standard - Electron, 半導体環境試験装置

• SJ/Z 2312-1983 エレクトロニクス産業用気候環境試験装置の試験方法
• SJ 2311-1983 電子産業用環境試験装置の一般技術条件
• SJ 2325-1983 地上マイクロ波通信設備の環境試験条件及び試験方法（暫定版）

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体環境試験装置

• GB/T 5170.5-2016 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 第5部 湿熱試験装置
• GB/T 36005-2018 半導体照明装置およびシステムの光放射安全性試験方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体環境試験装置

• GB/T 5170.19-2018 環境試験装置の検査方法 第19部：温度、振動（正弦波）総合試験装置
• GB/T 39555-2020 インテリジェント実験室計装気候および環境試験装置のデータ インターフェイス

HU-MSZT, 半導体環境試験装置

• MNOSZ 700-3.lap-1955 半導体モデルの分析試験 実験室のサンプル準備

Professional Standard - Medicine, 半導体環境試験装置

• YY/T 1420-2016 医療用超音波装置の環境要件と試験方法
• YY/T 0291-2016 医療用X線装置の環境要件と試験方法
• YY/T 0291-1997 医療用 X 線装置、環境要件と試験方法
• YY/T 0291-2007 医療用X線装置の環境要件と試験方法

Professional Standard - Water Conservancy, 半導体環境試験装置

• SL 144-1995 水環境試験器および試験装置 校正（検査）方法
• SL 144-1995（条文说明） 水環境試験器及び試験装置の校正（検査）方法

Standard Association of Australia （SAA）, 半導体環境試験装置

• AS/NZS 60079.15:2006 爆発性ガス環境用の電気機器。 電気機器保護の構造、テストとマーキングの種類
• AS 60068.2.21:2004 環境試験。 テスト。 テスト U: 終端と統合された取り付け装置の堅牢性
• AS/NZS 60079.18:2005 爆発性ガス環境用の電気機器。 カテゴリ「m」の保護カバーを備えた電気機器の製造、試験、およびマーキング

RU-GOST R, 半導体環境試験装置

• GOST 30852.1-2002 爆発性ガス環境用電気機器 第1部 電子機器の耐圧防爆筐体構造と実証試験
• GOST R 51330.4-1999 爆発性ガス雰囲気用の電気機器 パート 3: 内部安全回路用の火花試験装置

国家质量监督检验检疫总局, 半導体環境試験装置

• SN/T 3480.4-2016 輸入エレクトロニクスおよび電気産業向けの機器一式の検査に関する技術要件 パート 4: 半導体パッケージングおよび試験機器

BG-BDS, 半導体環境試験装置

• BGC IEC 60079-1:2000 爆発性ガス雰囲気用電気機器 第1部 電気機器用耐圧防爆筐体の構造と実証試験

ZA-SANS, 半導体環境試験装置

• SANS 60079-4:1975 爆発性ガス環境用の電気機器。 第4部：発火温度試験方法

Defense Logistics Agency, 半導体環境試験装置

• DLA MIL STD 750 1-2012 試験方法 半導体デバイスの標準環境試験方法 第 1 部：1000 年から 1999 年までの試験方法
• DLA MIL-STD-750-1 CHANGE 1-2013 試験方法 半導体デバイスの標準環境試験方法 第 1 部：1000 年から 1999 年までの試験方法
• DLA MIL-STD-750-1 CHANGE 2-2013 試験方法 半導体デバイスの標準環境試験方法 第 1 部：1000 年から 1999 年までの試験方法

その他：   高温多湿環境試験装置, 環境試験装置, 環境試験信頼性試験装置, ワンストップの環境試験装置, 電気・電子製品の環境試験装置, 国内環境試験装置, 環境試験試験装置, 模擬環境試験装置, 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法, 半導体環境試験装置, 測定環境試験装置, 屋内環境試験装置.