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半導体装置パラメータ

半導体装置パラメータは全部で 12 項標準に関連している。

半導体装置パラメータ 国際標準分類において、これらの分類：。

CZ-CSN, 半導体装置パラメータ

• CSN 35 8756-1973 半導体装置。 トランジスタのYパラメータの測定

RO-ASRO, 半導体装置パラメータ

• STAS 7128/1-1985 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 一般的なルール
• STAS 7128/6-1986 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 サイリスタの記号
• STAS 7128/5-1985 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 整流ダイオードの記号
• STAS 7128/2-1986 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 バイポーラトランジスタのシンボル
• STAS 7128/10-1984 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 アナログ集積回路パラメータのシンボル
• STAS 7128/9-1980 半導体装置および集積回路。 ユニジャンクショントランジスタのパラメータ記号
• STAS 7128/7-1986 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 バラクタおよびミキサ ダイオードの記号
• STAS 7128/12-1985 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 低電圧リファレンスとツェナー ダイオードの記号
• STAS 7128/3-1985 テキスト記号。 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 低電力信号ダイオードのシンボル

PL-PKN, 半導体装置パラメータ

• PN T01501 ArkusZ4-1973 半導体装置。 電界効果トランジスタパラメータのアルファベット記号

Professional Standard - Electron, 半導体装置パラメータ

• SJ/T 11820-2022 半導体ディスクリートデバイスのDCパラメータ試験装置の技術要件と測定方法

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