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二重荷電イオン対
二重荷電イオン対は全部で 78 項標準に関連している。
二重荷電イオン対 国際標準分類において、これらの分類:バッテリーと蓄電池、 道路工事、 造船と海洋構造物の一体化、 建材、 計測学と測定の総合、 ゴム・プラスチック製品、 トラム、 分析化学、 無機化学、 地質学、気象学、水文学、 航空宇宙システムおよび操作装置、 電子および通信機器用の電気機械部品、 工業炉、 飲み物、 燃料、 水質、 放射線測定、 無駄、 物理学、化学、 粗雑な、 土壌品質、土壌科学、 肥料、 検査医学、 セラミックス、 空気の質、 非鉄金属、 電気工学総合、 道路車両装置、 電気および電子試験。
Group Standards of the People's Republic of China, 二重荷電イオン対
Professional Standard - Traffic, 二重荷電イオン対
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 二重荷電イオン対
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 二重荷電イオン対
RU-GOST R, 二重荷電イオン対
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 二重荷電イオン対
American Society for Testing and Materials (ASTM), 二重荷電イオン対
British Standards Institution (BSI), 二重荷電イオン対
International Organization for Standardization (ISO), 二重荷電イオン対
- ISO/TS 16457:2009 宇宙システム、宇宙環境 (自然および人工)、地球電離層モジュール: 国際基準電離層 (IRI) モジュールおよびプラズマ圏への拡張
- ISO 16457:2014 宇宙システム、宇宙環境 (自然および人工)、地球電離層モジュール: 国際基準電離層 (IRI) モジュールおよびプラズマ圏への拡張
- ISO 16457:2022 宇宙システム - 宇宙環境 (自然および人工) - 地球の電離層モデル: 国際基準電離層 (IRI) モデルとプラズマ圏へのその拡張
- ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深さ分析 - イオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度測定は、AES および XPS での深さ分析に使用されます。
Association Francaise de Normalisation, 二重荷電イオン対
SE-SIS, 二重荷電イオン対
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 二重荷電イオン対
German Institute for Standardization, 二重荷電イオン対
International Electrotechnical Commission (IEC), 二重荷電イオン対
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 二重荷電イオン対
ZA-SANS, 二重荷電イオン対
Standard Association of Australia (SAA), 二重荷電イオン対
European Committee for Standardization (CEN), 二重荷電イオン対
CZ-CSN, 二重荷電イオン対
KR-KS, 二重荷電イオン対
工业和信息化部, 二重荷電イオン対
- YS/T 1208.2-2017 ビス(アセトニトリル)パラジウムジクロリドの化学分析方法その2:誘導結合プラズマ発光分光法による鉛、ニッケル、銅、カドミウム、クロム、鉄、白金、金、ロジウムの量の定量
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 二重荷電イオン対
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 二重荷電イオン対
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 二重荷電イオン対