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コンセントレーターの原理

コンセントレーターの原理は全部で 500 項標準に関連している。

コンセントレーターの原理 国際標準分類において、これらの分類：計測学と測定の総合、 光学機器、 光学および光学測定、 語彙、 繊維機械、 分析化学、 空気の質、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 娯楽機器、 バッテリーと蓄電池、 太陽工学、 光ファイバー通信、 産業用オートメーションシステム、 労働安全、労働衛生、 工作機械、 食品総合、 貨物の発送、 水質、 製図、 道路車両装置、 原子力工学、 農林、 道路工事、 半導体材料、 液体貯蔵装置、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 塗料とワニス、 塗料成分、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 包括的なテスト条件と手順、 製品の技術ドキュメント、 標準化の一般原則、 仕える、 エンターテイメント、観光、 建物の保護、 電気および電子試験、 電子管、 熱力学と温度測定、 建物内の設備、 会社（エンタープライズ）の組織と経営、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 粒度分析、スクリーニング、 電気工学総合、 カラーコーディング、 医療機器、 情報技術の応用、 流体動力システム、 無駄、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 土壌品質、土壌科学、 天文学、測地学、地理学、 半導体ディスクリートデバイス、 電子機器、 電子表示装置、 シール、密封装置、 航空機と宇宙船の統合、 情報技術（IT）総合、 機械の安全性、 金属鉱石、 通信システム、 非鉄金属、 床処理装置、 データストレージデバイス、 建材、 文字セットとメッセージエンコーディング、 環境を守ること、 電気、磁気、電気および磁気測定、 電気機器部品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 セラミックス。

German Institute for Standardization, コンセントレーターの原理

• DIN 51009:2013-11 光原子分光法の原理と定義
• DIN ISO 9335:2008 光学および光学機器、光学伝達関数、測定原理と手順
• DIN ISO 20725:2006 繊維機械、綿紡績用の綿コレクター、語彙と製造原理
• DIN 51009:2013 原子分光分析の原理と定義
• DIN 51009:2001 原子分光分析の原理と定義
• DIN ISO 9335:2015 光学および光学機器、光学伝達関数、測定原理と手順 (ISO 9335-2012)
• DIN 58175-1:2013-07 レーザーおよびレーザー関連機器の超短レーザーパルス特性の決定 第 1 部: 原理
• DIN EN 60904-3:2009 光電子デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) ソーラー デバイスの測定原理
• DIN EN ISO 12846:2012-08 原子吸光分析 (AAS) を使用した濃縮法および非濃縮法による水質水銀の測定
• DIN 55673:2000 コーティング、ワニスおよびその原材料、近赤外分光分析、一般的な動作原理
• DIN 55673:2017 コーティング、ワニスおよびその原材料、近赤外分光分析、一般的な動作原理
• DIN 55673:2017-04 塗料、ワニスおよびそれらの原料。 近赤外分光分析。 一般的な動作原理
• DIN 8562:1975 容器の溶接 金属材料容器、溶接原理
• DIN EN 61291-6-1:2009-03 光増幅器パート 6-1: インターフェイス コマンド セット
• DIN EN 60904-3:2017 オプトエレクトロニクスデバイス パート 3: 基準スペクトル放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) ソーラーデバイスの測定原理 (IEC 60904-3-2016)、ドイツ語版 EN 60904-3-2016
• DIN EN 61291-6-1:2009 光アンプ、パート 6-1: インターフェイス、コマンド セット
• DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
• DIN ISO 15529:2010-11 光学およびフォトニクス 光伝達関数サンプリングイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) 測定原理
• DIN EN 190110:1996-11 空白の詳細仕様 - デジタル マイクロプロセッサ集積回路
• DIN EN 190110:1996 空白の詳細仕様。 デジタル マイクロプロセッサ集積回路
• DIN ISO 15529:2010 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理 (ISO 15529-2010)
• DIN 12790:2019-12 実験用ガラス器具比重計の構造と調整原理
• DIN 740-2:1986-08 送電および変電工学、フレキシブルカップリング、パラメータおよび設計原理
• DIN EN ISO 384:2016-05 実験室用ガラスおよびプラスチック製容積計器の設計と構造の原則
• DIN EN 17366:2020-08 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可
• DIN EN 17366:2020 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可

SE-SIS, コンセントレーターの原理

• SIS SEN 01 27 60-1971 電気回路図のシンボル。 マイクロ波メーザーとレーザー
• SIS SEN 01 25 61-1967 電気原理 記号 リレー
• SIS SEN 01 25 37-1971 電気回路図のシンボル。 変成器
• SIS SEN 01 25 66-1970 電気回路図シンボルセレクター
• SIS SEN 01 25 71-1974 電気原理 記号 メカニカルリレー
• SIS SEN 01 25 32-1968 回転機械の電気回路図記号
• SIS SEN 01 25 38-1968 電気回路図記号、可飽和リアクトル
• SIS SEN 01 25 39-1968 電気回路図記号コンバーター、インバーター、電子管
• SIS SS CECC 90110-1987 詳細な仕様については空白です。 デジタルマイクロプロセッサ集積回路
• SIS SEN 01 27 11-1968 電気回路図のシンボル。 楽器や機器の記録と再生
• SIS SS IEC 231:1983 核実験装置。 原子炉で使用される機器の一般原理

Danish Standards Foundation, コンセントレーターの原理

• DS/ISO 23131:2021 楕円偏光原理
• DS/ISO/TR 21582:2021 発熱性医療機器における発熱物質検出の原理と方法
• DS/EN 60904-3:1994 太陽光発電装置。 パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電設備の測定原理
• DS/ISO/TR 15069:1999 シリーズ 1 貨物コンテナの取り扱いと安全の基本原則 ISO 3874 付属書 A
• DS/ISO/TR 15070/Amd. 2:2012 シリーズ 1 貨物コンテナ構造試験規格の基本原則
• DS/ISO/TR 15070:2000 シリーズ 1 貨物コンテナ構造試験規格の基本原則
• DS/EN ISO 12846:2012 濃縮ありまたは濃縮なしの原子吸光分析法 (AAS) を使用した水質水銀の測定
• DS/EN 61291-6-1:2008 光アンプパート 6-1: インターフェイス コマンド セット
• DS/EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• DS/EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• DS/EN 60747-5-1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• DS/EN IEC 62149-3:2021 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの「性能規格」パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の統合変調器を備えたレーザーダイオードトランスミッター
• DS/EN 62149-3:2004 光ファイバー能動部品および装置の性能基準パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器統合レーザー ダイオード トランスミッター
• DS/EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• DS/EN 60747-5-3:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• DS/EN 60904-3:2008 太陽光発電装置パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), コンセントレーターの原理

• KS B ISO 9335:2011 光学および光学機器、光学伝達関数、測定原理と手順
• KS B ISO 9335-2016(2021) 光学および光学機器 光学伝達関数の測定原理と手順
• KS B ISO 9335:2016 光学および光学機器 光学伝達関数の測定原理と手順
• KS I ISO 9855:2005 周囲空気 フィルター上に収集された鉛粒子の測定 原子吸光分析
• KS C IEC 60904-3:2010 太陽光発電デバイス パート 3: 標準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) デバイスの測定原理
• KS B 8295-2015 ソーラーコレクター（平板型、真空管型、固定集光型）
• KS C IEC 60231:2012 原子炉計装の一般原則
• KS C IEC 60231D-2012(2017) 第 4 補遺: 加圧水型原子炉の計器原理
• KS I ISO 9855-2005(2020) 周囲空気フィルターによって収集されたエアロゾル中の粒子状鉛含有量の測定 (原子吸光分析)
• KS I ISO 20552:2021 職場の空気 水銀蒸気の測定 原子吸光分析または原子蛍光分析による金アマルガムの収集および分析方法
• KS I ISO 20552:2010 職場における空気中の水銀蒸気の測定 原子吸光分析または原子蛍光分析による金アマルガムの収集および分析方法。
• KS I ISO 20552-2010(2016) 職場空気 - 水銀蒸気の測定 - 金アマルガムの採取と原子吸光分析または原子蛍光分析による分析方法
• KS I 20552-2010 ワークショップの空気 水銀蒸気の測定 原子吸光分析または原子蛍光分析による金アマルガムの収集および分析方法の定義
• KS C IEC 60073:2009 ヒューマン・マシン・インターフェース、マーキングおよび識別に関する基本原則と安全原則 表示装置およびレギュレータのコーディング原則
• KS B ISO 14649-1:2010 産業オートメーション システムと統合 物理機器の制御 コンピュータ数値制御装置のデータ モデル パート 1: 概要と基礎
• KS B ISO 14649-1:2015 産業オートメーション システムおよび統合物理機器制御コンピュータ数値制御装置のデータ モデル パート 1: 概要と基礎
• KS B ISO 11500:2007 油圧トランスミッション、粒子汚染の自動計数および測定、遮光原理
• KS B ISO 11500:2014 油圧トランスミッション、粒子汚染の自動計数および測定、遮光原理
• KS C IEC 60904-3-2010(2020) 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• KS B ISO 14649-1-2015(2020) 産業オートメーション システムおよび統合物理機器制御用のコンピューター数値コントローラー データ モデル パート 1: 概要と基礎
• KS B ISO 9806-3:2003 太陽熱集熱器の試験方法 パート 3: 圧力損失を含むマット液体集熱器の熱特性
• KS C IEC 60747-5:2004 半導体ディスクリートデバイスと集積回路 第5部：光電子デバイス
• KS B ISO 15529-2011(2021) 光学およびフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• KS C IEC 60748-2-6-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
• KS C IEC 60748-2-6-2002(2017) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
• KS C IEC 62149-3-2005(2020) 光ファイバーアクティブコンポーネントとデバイス性能基準パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器内蔵レーザーダイオード送信機
• KS B ISO 15529:2011 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• KS B ISO 15529-2011(2016) 光学およびフォトニクス - 光学伝達関数 - サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• KS A ISO 13320-1:2004 粒子径分析、レーザー回折法、パート 1: 一般原理
• KS A ISO 13320-1:2014 粒子サイズ分析のためのレーザー回折法パート 1: 一般原則
• KS B ISO 13584-1:2004 産業オートメーション システムと統合、部品ライブラリ、パート 1: 概要と基本原則
• KS B ISO 13584-1-2004(2020) 産業オートメーション システムと統合パーツ ライブラリ パート 1: 概要と基礎
• KS C IEC 60747-5-1:2020 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 光電子デバイスの一般原理
• KS B ISO 10303-54:2011 産業オートメーション システムと統合 製品データの表現と交換 パート 54: 統合共通リソース: 分類と構成の原則
• KS P ISO 10993-20-2009(2019) 医療機器の生物学的評価 パート 20: 医療機器の免疫毒性試験の原理と方法
• KS C IEC 62108:2009 集光型太陽光発電 (CPV) モジュールおよびアセンブリ、設計認定および型式承認
• KS C IEC 60747-5-1:2004 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様
• KS C IEC 60747-5-3:2020 個別半導体デバイスおよび集積回路 - 第 5-3 部: 光電子デバイス - 測定方法

British Standards Institution (BSI), コンセントレーターの原理

• BS ISO 9335:1996 光学および光学機器、光伝送機能、測定原理と手順
• BS PD CEN/TR 16598:2014 EN 1176 の基本原則の集合。 要件
• BS EN 60904-3:2016 光電子デバイス：基準スペクトル照明データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電設備の測定原理
• BS EN 60904-3:2008 光電子デバイス：基準スペクトル照明データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電設備の測定原理
• PD ISO/TR 21582:2021 発熱性医療機器の発熱物質検出原理と方法
• BS EN 61291-6-1:2009 光アンプインターフェイスコマンドセット
• BS EN 61291-6-1:2008 光アンプ・インターフェース・コマンドセット
• BS ISO 21919-1:2019 自動化システムおよび統合自動機械のメンテナンス インターフェイスの概要と基礎
• BS ISO 9335:2012 光学とフォトニクス、光伝達関数、測定原理と手順
• BS ISO 15529:2010 光学および光学機器 光学伝達関数 サンプルイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• BS PD ISO/TR 21582:2021 熱発生医療機器のパイロジェン検出原理と方法
• BS EN 50625-2-4:2017 WEEE の収集、物流、および取り扱い要件 太陽光発電パネルの取り扱い要件
• BS ISO/TR 15070:1996 シリーズ 1 貨物コンテナ 構造試験基準の基礎
• BS ISO/TR 15070:1997 シリーズ 1 貨物コンテナ構造試験規格の基本原則
• BS ISO 20552:2007 職場の空気 水銀蒸気の測定 原子吸光分析または原子蛍光分析を使用した金アマルガムの収集および分析方法
• BS EN 62670-1:2014 太陽光集光器 (CPV) 性能試験の標準条件
• BS IEC 60747-5-1:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、概要
• BS EN 60747-5-1:1998 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイスの一般原理
• BS EN 60747-5-1:2001 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路、光電子デバイス、一般原理
• BS ISO 14649-1:2003 産業オートメーションシステムおよび統合物理機器制御コンピュータ数値制御装置のデータモデルの概要と基本原理
• PD ISO/TR 15069:2018 シリーズ 1 貨物コンテナの取り扱いと安全性の基本原則 ISO 3874:2017 付録 A ～ E
• BS IEC 60747-5-3:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、測定方法
• BS EN 60747-5-3:1998 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイスの測定方法
• BS EN 60747-5-3:2001 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路、光電子デバイス、測定方法
• BS 1747-13:1994 大気汚染測定方法 フィルターで捕集したエアロゾル中の粒子状物質中の鉛含有量の測定：原子吸光分析法
• BS ISO TR 15069:1997 シリーズ 1 貨物コンテナ、取扱いと安全性、ISO 3874 付属書 A の基本原則
• BS ISO TR 15069:1998 シリーズ 1 貨物コンテナ、取扱いと安全性、ISO 3874 付属書 A の基本原則
• BS ISO 18629-1:2004 産業オートメーションシステムと統合プロセス仕様言語の概要と基本原理
• DD ISO/TS 10993-20:2006 医療機器の生物学的評価 医療機器の免疫毒性試験の原理と方法
• BS EN IEC 60904-3:2019 太陽光発電装置基準分光放射照度データを使用した地上型太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理
• BS ISO 20760-1:2018 都市部における雑排水再利用 集中雑排水再利用システムのガイドライン 集中雑排水再利用システムの設計原則
• BS EN 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、性能基準、2.5 Gbit/s 変調器一体型レーザーダイオードトランスミッター
• BS EN 60073:2002 ヒューマン・マシン・インターフェース、マーキングおよび識別の基本原則と安全性 インジケーターおよびアクチュエーターのコーディング原則
• BS ISO 10110-8:1998 光学および光学機器、光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成、表面テクスチャ
• BS ISO 10110-8:2010 光学および光学機器、光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成、表面テクスチャ
• BS EN 60747-5-2:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路光電子デバイスの基本定格と特性
• BS EN 60747-5-2:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、基本定格および特性
• BS IEC 62679-3-3:2016 電子ペーパーディスプレイ - 照明ユニット一体型ディスプレイの光学測定方法
• BS EN IEC 62149-3:2020 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能標準 変調器 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用統合レーザーダイオードトランスミッター
• BS EN ISO 22827-2:2006 Nd:YAGレーザー溶接機の受入試験 光ファイバー伝送を搭載した機械 移動機構
• BS EN 1097-8:2000 骨材の機械的および物理的特性の試験 研磨石の価値の決定
• PD CLC/TS 50625-3-5:2017 WEEE 除染の収集、物流、および処理要件 太陽光発電パネルの技術仕様
• BS EN 16175-2:2016 冷蒸気原子蛍光分析法 (CV-AFS) による汚泥、生物処理廃棄物および土壌中の水銀の測定
• BS EN 62149-3:2014 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、性能基準、2.5 Gbit/s ～ 40 Gbit/s の光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオードエミッター
• BS EN 62148-11:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、14 ピン変調器統合レーザーダイオードトランスミッター
• BS ISO 10303-1:1995 産業オートメーション システムと統合 製品データの表現と交換 概要と基礎
• BS ISO 10303-1:1994 産業オートメーション システムと統合 製品データの表現と交換 概要と基礎
• BS PD ISO/TR 15069:2018 シリーズ 1 貨物コンテナの取り扱いと ISO 3874:2017 の安全確保に関する基本原則 付録 A ～ E
• BS EN 50625-2-1:2014 廃電気・電子製品の収集、物流および処理要件 ランプの処理要件

Association Francaise de Normalisation, コンセントレーターの原理

• NF S10-041*NF ISO 9335:2013 光学および光学機器における光の伝達関数を測定するための原理と手順
• FD S54-202*FD CEN/TR 16598:2014 EN 1176 の基本的なセット要件
• NF EN ISO 12846:2012 水質 - 水銀の使用 - 原子吸光分析 (AAS) 濃縮および非濃縮
• NF C57-323:2008 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• NF ISO 9335:2013 光学とフォトニクス。 光伝達関数。 測定原理と手順
• FD S99-513*FD ISO/TR 21582:2021 発熱性医療機器の発熱性試験の原理と方法
• NF EN ISO 21254-1:2011 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー損傷閾値試験方法パート 1: 定義と理論的根拠
• FD ISO/TR 21582:2021 発熱性医療機器発熱性物質の研究原理と試験方法
• NF S10-041:1998 光学および光学機器、光変換機能、測定原理と手順
• NF C96-005:1994 ディスクリートデバイスと集積回路 パート 5: 光電子デバイス
• NF P50-503:1985 ソーラーコレクター、光学特性の測定方法
• NF C93-802-6-1*NF EN 61291-6-1:2009 ファイバ アンプ パート 6-1: インターフェイス コマンド セット
• NF EN 54-7:2018 火災検知および火災警報システム パート 7: 煙検知器 光散乱、光透過、またはイオン化の原理で動作する点検知器
• NF X44-051:1978 集塵機の特性分類と測定原理
• NF C05-625-2-4*NF EN 50625-2-4:2017 WEEE の収集、物流、および取り扱い要件 パート 2-4: 太陽光発電パネルの取り扱い要件
• NF S10-050*NF ISO 15529:2011 光学およびフォトニクス 光学伝達関数サンプリング イメージング システムの変調伝達関数 (MIF) の測定原理
• NF ISO 15529:2011 光学およびフォトニクス - 光学伝達関数 - サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• NF C86-241*NF EN 190110:2013 空白の詳細仕様: デジタル マイクロプロセッサ集積回路
• NF EN 190110:2013 アーキテクチャ上の特別仕様: 集積回路ロジック マイクロプロセッサ
• NF C96-005-1/A1*NF EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• NF C96-005-1*NF EN 60747-5-1:2001 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• NF EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
• NF EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
• NF EN 60747-5-1:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
• NF ISO 14955-5:2020 機械設備 機械設備の環境アセスメント 第5部 機械設備の仕組み
• NF E09-001-2/A1:1995 機械の安全性の基本概念 一般的な設計原則 パート 2: 原則と技術仕様
• NF C96-005-1/A2*NF EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• NF EN IEC 60904-3:2019 太陽光発電装置 - パート 3: 基準分光照度データを含む地上太陽光発電 (PV) 装置の測定原理
• NF EN 54-12:2015 火災検知および火災警報システム パート 12: 煙検知器 放射線の光線を放射する原理で動作する線形検知器
• NF B35-300*NF EN ISO 384:2016 実験室用ガラスおよびプラスチック製品の容積計測機器の設計と構造の原則
• NF EN ISO 384:2016 ガラスまたはプラスチックの実験器具 - 容積計測機器の設計と構造の原則
• NF H96-122*NF EN 17366:2020 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可
• NF C96-005-3*NF EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• NF EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-3: 光電子デバイス - 測定方法
• NF EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-3: 光電子デバイス - 測定方法
• NF C57-323*NF EN 60904-3:2016 太陽光発電装置パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理
• NF C57-323*NF EN IEC 60904-3:2019 太陽光発電装置パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理

International Organization for Standardization (ISO), コンセントレーターの原理

• ISO 9335:1995 光学および光学機器における光伝達関数の測定の原理と手順
• ISO 9335:2012 光学および光学機器、光の伝達関数、測定の原理と手順
• ISO 9855:1993 原子吸光分析による周囲空気フィルターに収集された鉛粒子の測定
• ISO 15529:1999 光学および光学機器 光伝達関数 イメージングシステム 変調伝達関数の測定原理
• ISO/CD 9335:2023 光学およびフォトニクスの光伝達関数測定の原理と手順
• ISO/TR 21582:2021 発熱性医療機器の発熱性試験の原理と方法
• ISO/TR 15070:1996 第 1 種容器構造検査基準の基本原則
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• ISO 14971:2000/Amd 1:2003 医療機器 医療機器リスク管理の適用 修正 1: 要件の根拠
• ISO 14971:2019 医療機器 医療機器リスク管理の適用 修正 1: 要件の根拠
• ISO 15529:2007 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• ISO 15529:2010 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• ISO/TS 21849:2003 航空機、統合データ処理材料管理、バーコーディング
• ISO/TR 10255:2009 ファイル管理アプリケーション、光ディスクストレージ技術、管理、規格
• ISO/CD 21254-1:2023 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー損傷閾値試験方法 第 1 部: 定義と一般原則
• ISO 10303-54:2005 産業オートメーション システムと統合 製品データの表現と交換 パート 54: 統合共通リソース: 分類と構成の原則

KR-KS, コンセントレーターの原理

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• KS B ISO 9335-2023 光学とフォトニクス、光伝達関数、測定原理と手順
• KS I ISO 20552-2021 職場の空気 水銀蒸気の測定 原子吸光分析または原子蛍光分析による金アマルガムの収集および分析方法
• KS B 8295-2023 ソーラーコレクター（平板、真空管、固定集光器タイプ）
• KS B ISO 15529-2023 光学とフォトニクス 光学伝達関数 サンプリングされたイメージング システムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
• KS C IEC 60747-5-1-2020 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 光電子デバイスの一般原理
• KS C IEC 60747-5-3-2020 個別半導体デバイスおよび集積回路 - 第 5-3 部: 光電子デバイス - 測定方法

IET - Institution of Engineering and Technology, コンセントレーターの原理

• PRINC WAVFRM DIVSTY DES-2011 波形の多様性と設計原則

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• JJG(煤炭) 5-1988 光干渉原理に基づくメタン検出器の校正手順
• JJG(煤炭) 4-1988 接触燃焼原理に基づくメタン検出器の校正手順

International Commission on Illumination (CIE), コンセントレーターの原理

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ES-UNE, コンセントレーターの原理

• UNE-CEN/TR 16598:2023 EN 1176 の基本的なセット要件
• UNE-EN 190110:1994 BDS: デジタル マイクロプロセッサ集積回路
• UNE-EN 61291-6-1:2008 光増幅器パート 6-1: インターフェイス コマンド セット
• UNE-EN 50625-2-4:2017 WEEE の収集、物流、および取り扱い要件 パート 2-4: 太陽光発電パネルの取り扱い要件
• UNE-EN 17366:2021 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可
• UNE-EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
• UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法

Association of German Mechanical Engineers, コンセントレーターの原理

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• GOST R ISO 20552-2011 職場の空気 水銀蒸気の測定 原子吸光分析法または原子蛍光分析法による金水銀の収集および分析方法
• GOST 28681.0-1990 観光・観光サービスの標準化 基本原則
• GOST R IEC 62305-1-2010 リスク管理 光への曝露の回避 パート 1: 一般原則
• GOST 21815.17-1986 電気光学変換器、シンチレーション凝集インジケーターの測定方法
• GOST R 55101-2012 資源の保全、廃棄物の処理、一次電池の安全な収集、保管、輸送に関するガイドライン
• GOST 29283-1992 半導体機器 ディスクリートデバイス機器および集積回路 パート 5 光電子機器
• GOST R ISO 10303-54-2011 産業オートメーション システムと統合 製品データの表現と交換 パート 54 共通リソースの統合 分類と構成の原則

European Committee for Standardization (CEN), コンセントレーターの原理

• PD CEN/TR 16598:2014 EN 1176 の基本原則の集合。 要件
• prEN ISO 21254-1 rev レーザーおよびレーザー関連機器「レーザー損傷閾値試験方法」パート 1: 定義と一般原則
• EN 62148-11:2003 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス パッケージングおよびインターフェース規格 パート 11 14 ピン統合変調器レーザーダイオードエミッター

BE-NBN, コンセントレーターの原理

• NBN S 21-107-1988 自動火災検知システムのコンポーネント。 パート 7: 急速煙検知器、光拡散、光透過、またはイオン化の原理で動作する検知器
• NBN T 94-402-1977 空気濾過により収集された粒子中の亜鉛質量の測定。 原子吸光光度法
• NBN T 94-404-1977 空気濾過により収集された粒子中の銅の質量の測定。 原子吸光光度法
• NBN T 94-403-1977 空気濾過によって収集された粒子中のカドミウム質量の測定。 原子吸光光度法
• NBN T 94-401-1977 空気濾過により収集された粒子中の鉛質量の測定。 原子吸光光度法
• NBN T 94-406-1977 空気濾過により収集された粒子中の鉄質量の測定。 原子吸光光度法
• NBN T 94-405-1977 空気濾過により収集された粒子中のニッケル質量の測定。 原子吸光光度法

Professional Standard - Education, コンセントレーターの原理

• JY 13-1988 変圧器の原理の説明
• JY/T 0408-2010 浮力原理実証機
• JY 24-1988 三相モーター原理実証機

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, コンセントレーターの原理

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• GB/T 6798-1996 半導体集積回路の電圧比較器の試験方法の基本原理
• GB/T 4377-1996 半導体集積回路のボルテージレギュレータの試験方法の基本原理
• GB/T 14029-1992 半導体集積回路のアナログ乗算器の試験方法の基本原理
• GB 14029-1992 半導体集積回路のアナログ乗算器の試験方法の基本原理
• GB/T 14115-1993 半導体集積回路のサンプルホールドアンプの試験方法の基本原理
• GB 3442-1986 半導体集積回路のオペアンプ（電圧）アンプの試験方法の基本原理
• GB/T 12843-1991 半導体集積回路のマイクロプロセッサおよび周辺インターフェース回路の電気的パラメータ試験法の基本原理
• GB 12843-1991 半導体集積回路のマイクロプロセッサおよび周辺インターフェース回路の電気的パラメータ試験法の基本原理
• GB/T 17769-1999 航空輸送コンテナの管理
• GB/T 28511.2-2012 平面光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) テクノロジーに基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
• GB/T 28511.2-2023 平面型光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) 技術に基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
• GB/T 14114-1993 半導体集積回路の電圧・周波数および周波数・電圧変換器の試験方法の基本原理
• GB/T 28511.1-2012 平面光導波路集積光回路デバイス パート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワー スプリッター
• GB/T 14028-1992 半導体集積回路のアナログスイッチ試験方法の基本原理
• GB/T 14030-1992 半導体集積回路の時間ベースの回路試験方法の基本原理
• GB 14030-1992 半導体集積回路の時間ベースの回路試験方法の基本原理
• GB 14028-2018 半導体集積回路のアナログスイッチ試験方法の基本原理
• GB 17149.6-1997 美容光線皮膚炎の診断基準と治療原則
• GB/T 14031-1992 半導体集積回路のアナログフェーズロックループ試験法の基本原理
• GB/T 14032-1992 半導体集積回路のデジタルフェーズロックループ試験法の基本原理
• GB 14031-1992 半導体集積回路のアナログフェーズロックループ試験法の基本原理
• GB 14032-1992 半導体集積回路のデジタルフェーズロックループ試験法の基本原理
• GB/T 15651-1995 半導体デバイス ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5部：光電子デバイス
• GB/T 15136-1994 半導体集積回路の基本原理 クォーツ時計の回路検査方法
• GB/T 32851-2016 国際貨物輸送チャーターキャビンおよび航空コンテナ（コンテナ、パレット）輸送サービスの品質要件
• GB/T 19903.1-2005 産業オートメーション システムおよび統合物理機器制御用のコンピュータ数値制御装置のデータ モデル 第 1 部、概要と基礎
• GB/T 17645.1-2001 産業オートメーション システムと統合パーツ ライブラリ パート 1; 概要と基本原則
• GB/T 17645.1-2008 産業オートメーション システムと統合パーツ ライブラリ パート 1: 概要と基本原則
• GB/T 17418.3-1998 地球化学サンプル中の貴金属を分析する方法 パラジウム含有量を測定するためのチオ尿素濃縮グラファイト炉原子吸光分光光度法

Professional Standard - Electron, コンセントレーターの原理

• SJ/T 10804-2000 半導体集積回路 レベルコンバータ試験法の基本原理
• SJ/T 10805-2000 半導体集積回路 電圧比較器の試験方法の基本原理
• SJ/T 10882-1996 半導体集積回路リニアアンプの試験方法の基本原理
• SJ 20961-2006 集積回路 A/D および D/A コンバータのテスト方法の基本原理
• SJ/T 10739-1996 半導体集積回路MOSランダムアクセスメモリのテスト方法の基本原理
• SJ/T 10801-1996 半導体集積インターフェース回路の基本原理 コアメモリドライバの試験方法
• SJ/T 10738-1996 半導体集積回路のオペアンプ（電圧）アンプの試験方法の基本原理
• SJ/T 10800-1996 半導体集積インターフェース回路センスアンプのテスト方法の基本原理
• SJ/T 10802-1996 半導体集積インターフェース回路の周辺ドライバの試験方法の基本原理
• SJ/T 10805-1996 半導体集積インターフェース回路の電圧比較器試験方法の基本原理
• SJ/T 10804-1996 半導体集積インターフェース回路レベルコンバータの試験方法の基本原理
• SJ/T 10806-1996 半導体集積インターフェース回路のディスプレイドライバの試験方法の基本原理
• SJ/T 10740-1996 半導体集積回路のバイポーラランダムアクセスメモリの試験方法の基本原理
• SJ 2480-1984 ハイブリッド集積回路デジタル/アナログコンバータの静的試験方法の基本原理
• SJ/T 10880-1996 半導体集積オーディオ回路のステレオデコーダ試験方法の基本原理
• SJ 2481-1984 ハイブリッド集積回路アナログデジタルコンバータの静的試験方法の基本原理
• SJ/T 10879-1996 半導体オーディオ集積回路のオーディオプリアンプ試験方法の基本原理
• SJ/T 10427.1-1993 半導体集積回路オーディオ回路の基本原理 FMコンバーターの試験方法
• SJ/T 10427.2-1993 半導体集積回路の基本原理 オーディオ回路中間周波増幅器の試験方法
• SJ/T 10881-1996 半導体集積オーディオ回路の基本原理、レベルを示すドライバのテスト方法
• SJ/T 11404-2009 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
• SJ/T 10735-1996 半導体集積回路の基本原理 TTL回路の試験方法
• SJ/T 10736-1996 半導体集積回路のHTL回路試験法の基本原理
• SJ/T 10737-1996 半導体集積回路ECL回路の試験方法の基本原理
• SJ/T 10741-2000 半導体集積回路CMOS回路の検査方法の基本原理
• SJ/T 10741-1996 半導体集積回路CMOS回路の検査方法の基本原理
• SJ/T 10818-1996 半導体集積非線形回路デジタル・アナログ変換器の基本原理とアナログ・デジタル変換器の試験方法
• SJ/T 10803-1996 半導体集積インターフェース回路線の回路試験方法の基本原理
• SJ 20869-2003 ニオブ酸リチウム集積型光導波路変調器の試験方法
• SJ/T 11007-1996 半導体テレビ集積回路の映像信号・色信号処理回路の試験方法の基本原理
• SJ/T 11005-1996 半導体テレビ集積回路音声チャンネル回路の試験方法の基本原理
• SJ/T 11006-1996 半導体TV集積回路のラインとフィールド走査回路の試験方法の基本原理
• SJ/T 10401-1993 半導体集積オーディオ回路モーター速度安定化回路 試験方法の基本原理
• SJ/T 10402-1993 半導体集積オーディオ回路自動選曲回路 試験方法の基本原理
• SJ/T 10400-1993 半導体集積オーディオ回路グラフィックイコライゼーション回路 試験方法の基本原理
• SJ/T 11004-1996 半導体テレビ用集積回路映像チャンネル回路の試験方法の基本原理
• SJ 20163-1992 半導体集積回路 Jμ8086型マイクロプロセッサ 詳細仕様
• SJ/T 11013-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるカドミウムの定量
• SJ/T 11024-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるアンチモンの定量
• SJ/T 11023-1996 電子機器用銀銅はんだの分析方法 原子吸光光度法によるビスマスの定量
• SJ/T 11025-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法による鉛の定量
• SJ/T 11027-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるマグネシウムの定量

未注明发布机构, コンセントレーターの原理

• ISO 9335:1995/Cor 1:2005 光学および光学機器 光伝達関数測定の原理と手順 技術訂正事項 1
• BS EN 60747-5-1:2001(2003) 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
• DIN EN 292-2:1995 基本的な機械安全用語、一般的な設計原則 パート 2: 技術原則と仕様
• BS EN IEC 62149-3:2023 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能標準 変調器 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用統合レーザーダイオードトランスミッター
• BS EN 60747-5-3:2001(2003) 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法

VN-TCVN, コンセントレーターの原理

• TCVN 6152-1996 周囲空気 フィルター上に収集された鉛粒子の測定 原子吸光分析
• TCVN 6164-1996 等級制度を確立するための測定器の原理

Professional Standard - Environmental Protection, コンセントレーターの原理

• HJ 542-2009 周囲空気 水銀の測定 チオールコットン濃縮-冷原子蛍光分光光度法
• HJ 977-2018 パージおよびトラップ/ガスクロマトグラフィー冷原子蛍光分光法による水中のアルキル水銀の測定
• HJ 910-2017 金膜濃縮冷原子吸光分光光度法による大気中のガス状水銀の定量
• HJ 542-2009(XG1-2018) 周囲空気中の水銀の測定: チオールコットン濃縮-冷原子蛍光分光光度法「改造 No. 1」
• HJ 910-2017(XG1-2018) 金膜濃縮冷原子吸光分光光度法による大気中のガス状水銀の定量「改造その1」
• HJ 1269-2022 土壌および堆積物パージおよびトラップ/ガスクロマトグラフィー-冷原子蛍光分析におけるメチル水銀およびエチル水銀の測定

Professional Standard - Agriculture, コンセントレーターの原理

• NY/T 4434-2023 接触熱分解-金アマルガム濃縮原子吸光分析法による土壌改良剤中の水銀の定量

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), コンセントレーターの原理

• ETSI SR 002 299-2004 緊急通信 欧州管理原則セット (バージョン 1.1.1)

International Electrotechnical Commission (IEC), コンセントレーターの原理

• IEC 60904-3:2019 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• IEC 60904-3:2019 RLV 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• IEC 60904-3:1989 太陽光発電デバイス パート 3: 標準分光放射照度データを使用した地上型太陽光発電デバイスの測定原理
• IEC 60904-3:2008 太陽光発電デバイス パート 3: 標準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) デバイスの測定原理
• IEC 61291-6-1:2008 光アンプ、パート 6-1: インターフェイス、コマンド セット
• IEC 60073:2002 ヒューマンマシンインターフェース、マーキングと識別のための基本原則と安全原則 指示装置とレギュレーターのコーディングの原則
• IEC 60747-5:1992 半導体デバイス、ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5: オプトエレクトロニクスデバイス
• IEC 60086-2:2006 一次電池 パート 2: 物理的および電気的仕様
• IEC 60748-2-6:1992 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
• IEC 62149-3:2020 RLV 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオード送信機
• IEC 60073:1996 ヒューマンマシンインターフェース、マーキング、識別の基本と安全原則 表示装置とレギュレーターのコーディング原則
• IEC 62149-3:2020 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオードトランスミッター
• IEC 62670-2:2015 太陽光集光器 (CPV) - 性能テスト パート 2: エネルギー測定
• IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
• IEC 60747-5-1:1997+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• IEC 60747-5-1:2002 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
• IEC 62108:2016 集光型太陽光発電 (CPV) モジュールおよびアセンブリ、設計認定および型式承認
• IEC 62108:2007 集光型太陽光発電 (CPV) モジュールおよびアセンブリ、設計認定および型式承認
• IEC 62108:2022 RLV 集光器太陽光発電 (CPV) モジュールとコンポーネント、設計認定と型式承認
• IEC 62108:2022 集光器太陽光発電 (CPV) モジュールとコンポーネント、設計認定と型式承認
• IEC 60747-5-1:1997 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, コンセントレーターの原理

• EN 60904-3:2008 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• EN 61291-6-1:2008 光アンプパート 6-1: インターフェイス コマンド セット
• EN 50625-2-4:2017 WEEE の収集物流および取り扱い要件 パート 2-4: 太陽光発電パネルの取り扱い要件
• EN 190110:1994 空白の詳細仕様: デジタル マイクロプロセッサ集積回路
• EN 62148-11:2009 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、パート 11: 14 ピン統合変調器レーザーダイオード送信機
• EN IEC 60904-3:2019 太陽光発電装置パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, コンセントレーターの原理

• EN 60904-3:1993 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
• EN 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの性能基準パート 3: 2 5 Gbit/s 変調器統合レーザーダイオードトランスミッター

工业和信息化部, コンセントレーターの原理

• YD/T 3540-2019 統合型光パワー検出器 (IPM)
• YD/T 2000.2-2018 平面型光導波路集積光回路デバイス その2: アレイ導波路回折格子(AWG)技術に基づく高密度波長分割多重(DWDM)フィルタ
• YD/T 2799.1-2015 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 1: 40Gb/s
• YD/T 2799.2-2015 統合型コヒーレント光受信機の技術仕様パート 2: 100Gb/s
• YD/T 2799.4-2021 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 4: 400Gb/s
• YD/T 2904.2-2018 統合型波長可変レーザーコンポーネント パート 2: 小型コンポーネント
• YD/T 2904.3-2019 統合型波長可変レーザー コンポーネント パート 3: デュアル チャネル コンポーネント

Professional Standard - Aerospace, コンセントレーターの原理

• QJ 1965-1990 風洞試験データの収集原理と処理方法
• QJ 1571.1-1988 機器管理システムのデータ収集カードと充填仕様

American Society for Testing and Materials (ASTM), コンセントレーターの原理

• ASTM E1040-10(2020) 非集光型地上太陽光発電基準セルの物理的特性に関する標準仕様
• ASTM E1040-98 非集光型地上太陽光発電基準セルの物理的特性
• ASTM E1040-10(2016) 非集光型地上太陽光発電基準セルの物理的特性
• ASTM D7417-17 特殊な 4 部統合試験機 (原子発光分光分析、赤外分光分析、粘度、レーザー粒子計数器) を使用した、使用中の潤滑剤の分析のための標準試験方法
• ASTM E1727-99 原子分光法による鉛の定量のための土壌サンプルの野外収集の標準的な方法
• ASTM D7417-10 特殊な 4 部統合試験機 (原子発光分光分析、赤外分光分析、粘度、レーザー粒子計数器) を使用した、使用中の潤滑剤の分析のための標準試験方法
• ASTM E1040-05 非集中測地基準セルの物理的特性の標準仕様
• ASTM E1040-10 非集中測地標準セルの物理的特性の標準仕様
• ASTM D3771-15(2022) 集光器用ゴムシールの標準仕様
• ASTM E1727-04 原子分光法による鉛の定量のための土壌サンプルの野外収集の標準的な方法
• ASTM D4141-07 コーティングされたブラックボックスおよび集中太陽光暴露処理の標準的な方法
• ASTM D4141/D4141M-14 コーティングされたブラックボックスと集中太陽光暴露処理の標準的な方法
• ASTM E1729-04 原子分光法による鉛の定量のための乾燥塗料サンプルの現場収集の標準的な方法
• ASTM E2848-11e1 太陽光発電非集光システムの性能を報告するための標準試験方法
• ASTM E2848-13(2018) 太陽光発電非集光システムの性能を報告するための標準試験方法
• ASTM E2848-13 太陽光発電非集光システムの性能を報告するための標準試験方法
• ASTM E2848-11 太陽光発電非集光システムの性能を報告するための標準試験方法
• ASTM E2848-13(2023) 太陽光発電非集光システムの性能報告のための標準試験方法
• ASTM F888-06(2011) 掃除機の純正集塵機の最大機能体積を測定するための標準試験方法
• ASTM E1770-14 電熱原子吸光分光法の装置最適化のための標準的な手法
• ASTM E1458-92(2001) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定装置の校正および検査の試験方法
• ASTM E1458-12(2016) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定装置の校正および検査の試験方法
• ASTM D3771-03(2007) 集光器用ゴムシール要素の標準仕様
• ASTM E1812-96 フレーム原子吸光分光装置の最適化のための標準的な手法

国家能源局, コンセントレーターの原理

• SY/T 7358-2017 硫化水素環境における原油の収集および処理に関する安全規定

Indonesia Standards, コンセントレーターの原理

• SNI 05-1362-1989 正立研磨機 幾何学的試験方法
• SNI 06-6596-2001 水処理金属分析・原子吸光分析装置
• SNI 09-0967-1989 自動車用ドライエアフィルター 原理試験

Group Standards of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• T/DCCA 013-2023 公衆衛生上の緊急事態における集団給食管理のための原材料管理基準
• T/CHTS 20012-2021 交通情報収集用レーザー車両感知器
• T/QGCML 1706-2023 ビームラインを簡単に構成できるフィルタービームスプリッター
• T/CSTM 00964-2022 原子分光装置の性能評価の一般原則
• T/SMA 0039-2023 草の根の目の健康管理のための屈折データ収集の技術仕様
• T/NHSP 5-2019 南海食品工房の原材料・副資材および食品関連製品の管理基準を一元管理
• T/CESA 1222-2022 薄膜トランジスタ光学式指紋捕捉デバイスの技術仕様
• T/SDBDA 23-2021 Java WEBアプリケーションサーバーのクラスタ管理・監視仕様
• T/HGMIF 010-2022 グリーンデザイン製品評価 技術仕様書 集中型太陽光発電インバータ
• T/CAS 719-2023 光散乱原理 都市道路粉塵量の日常航法監視のための技術仕様
• T/CASME 395-2023 自動一体型ダイカストマシン離型剤エアロゾル回収処理装置
• T/ZZB 2158-2021 現場で組み立てられる光ファイバー融着のない物理コネクタ

Standard Association of Australia （SAA）, コンセントレーターの原理

• AS 2800:1985 周囲の空気。 鉛粒子の測定。 比重採取用の大容量サンプラー。 フレーム原子吸光分析法
• AS ISO 14649.1:2004(R2015) 産業オートメーションシステムおよび統合物理機器制御用のコンピュータ化されたデジタルコントローラのデータモデルの概要と基礎
• AS 2369.1:1990 プール暖房用サンコレクターの材料 ゴム材料
• IEC 62149-3:2023 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス — 性能基準 — パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオード送信機
• AS ISO 14649.1:2004 産業オートメーション システムと統合。 物理機器の制御。 コンピュータ化されたデジタル コントローラーのデータ モデル。 概要と基本原則

AT-ON, コンセントレーターの原理

• ONORM E 1001 Teil.1 Beib.1-1988 概略図記号。 シンボルコレクションとIECシンボル調査
• ONORM E 1003-1987 概略図記号。 導体および接続機器の記号

Society of Automotive Engineers (SAE), コンセントレーターの原理

• SAE J647-2010 自動車トランスミッションの概略図イラスト

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), コンセントレーターの原理

• JIS C 8515:2007 一次電池 - 物理的および電気的仕様
• JIS C 8515:2011 一次電池 - 物理的および電気的仕様
• JIS C 8515:2013 一次電池 - 物理的および電気的仕様
• JIS C 8515:2017 一次電池 - 物理的および電気的仕様
• JIS B 8265:2000 圧力容器の構造 一般原理
• JIS C 6121-6-1:2013 光アンプ、パート 6-1: インターフェイス、命令セット
• JIS C 8904-3:2011 太陽光発電デバイス パート 3: 分光測光データを使用した太陽光発電 (PV) ソーラー デバイスの測定原理
• JIS Z 8825-1:2001 粒子径分析、レーザー回折法、パート 1: 一般原理
• JIS B 6316-1:2006 産業オートメーション システムと統合 物理機器の制御 コンピュータ数値制御装置のデータ モデル パート 1: 概要と基礎
• JIS B 8265 ERRATUM 1:2001 圧力容器の構造 一般原則（正誤表1）
• JIS B 8265 AMD 2:2008 圧力容器の構造 一般原則 (修正 2)
• JIS C 5953-3:2019 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの性能基準パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システムで使用する統合変調器を備えたレーザーダイオード送信機
• JIS B 9934:2000 油圧流体動力、消滅原理を使用した粒子汚染の自動計数と判定

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, コンセントレーターの原理

• VDI 3815-1983 発熱体の性能測定原理

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• DB61/T 1791-2023 黄土高原のリンゴ園における太陽光発電による水抽出と雨水マイクロ灌漑の技術仕様

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, コンセントレーターの原理

• GB/T 33086-2016 原子蛍光分析による水処理剤中のヒ素および水銀含有量の測定

CH-SNV, コンセントレーターの原理

• VSM 34651-1937 自動火災報知設備の部品。 パート 7: 点煙感知器。 散乱光、透過光、または電離光の原理に基づいた煙探知器
• VSM 13102-1926 16kV配電変圧器の標準化原理
• SN 640 123 a-1988 ネットワーク指令装置を備えた配電網におけるコンデンサオーディオロッキングの応用原理（コンデンサロッキング原理）
• SN EN 17366-2020 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可

AENOR, コンセントレーターの原理

• UNE 77230:1998 原子吸光分析による周囲空気フィルター上に収集されたエアロゾル粒子中の鉛含有量の測定
• UNE-EN ISO 12846:2012 濃縮ありおよび濃縮なしの原子吸光分析法 (AAS) を使用した水質中の水銀の測定 (ISO 12846:2012)
• UNE-EN 60904-3:2009 太陽光発電装置パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電装置の測定原理

American National Standards Institute （ANSI), コンセントレーターの原理

• ANSI E1.37-1-2012 ANSI E1.20 (RDM) 用の追加メッセージ セット パート 1: ディマー メッセージ セット
• ANSI/AAMI TIR57:2016(R2023) 医療機器の安全原則のリスク管理
• ANSI/ASHRAE 93-2003 昼光収集器の熱性能を決定するための試験方法
• ANSI/AAMI TIR97:2019(R2023) 医療機器の安全原則 機器メーカーの市販後リスク管理

Professional Standard - Post and Telecommunication, コンセントレーターの原理

• YD/T 2000.2-2009 平面型光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) 技術に基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
• YD/T 2000.1-2014 平面光導波路集積光回路デバイス パート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワー スプリッター
• YD/T 2000.1-2009 平面光導波路集積光回路デバイス その1: 平面光導波路(PLC)をベースとした光パワースプリッタ
• YD/T 1320-2004 光高密度波長分割マルチプレクサ/デマルチプレクサの技術要件とテスト方法
• YD/T 2799.5-2023 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 5: 800Gb/s
• YD/T 2149.1-2010 光伝送ネットワーク (OTN) ネットワーク管理の技術要件 パート 1: 基本原則
• YD/T 2904.1-2015 統合された波長可変レーザー コンポーネント パート 1: バタフライ パッケージ コンポーネント
• YD/T 2616.1-2014 パッシブ光ネットワーク (PON) ネットワーク管理の技術要件 パート 1: 基本原則

AR-IRAM, コンセントレーターの原理

• IRAM 2138-1958 集電体の物理的および電気的特性

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, コンセントレーターの原理

• GJB 4026A-2014 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
• GJB 9888-2020 ニオブ酸リチウム集積型光デバイスの試験方法
• GJB 4026-2000 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
• GJB 9485-2018 光ファイバー水中聴音器検出アレイ光電信号処理プラットフォームの技術要件

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, コンセントレーターの原理

• GB/T 41325-2022 集積回路用の低密度結晶一次ピットシリコン単結晶研磨ウェーハ
• GB/T 41211-2021 月および惑星のその場分光検出装置の一般仕様

JP-JWWA, コンセントレーターの原理

• JWWA B134-2013 減圧原理給水逆流防止装置

Professional Standard - Non-ferrous Metal, コンセントレーターの原理

• YS/T 53.1-1992 銅、鉛、亜鉛の原鉱石および尾鉱の化学分析法、金濃縮のための火災分析 - 金含有量の測定のためのフレーム原子吸光分析およびチオミコロン分光光度法。
• YS/T 53.1-2010 銅、鉛、亜鉛の原鉱石および尾鉱の化学分析方法 パート 1: 火災分析による金含有量の測定、金濃縮 - フレーム原子吸光分析法

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• DB22/T 1950-2013 光電エンコーダのモデル作成の原理と方法

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• CNS 7641-1981 光ファイバ部品の検査方法 – 束ねた光ケーブルコネクタの挿入損失試験
• CNS 13059-3-1992 太陽光発電モジュール (パート 3: 分光照射光参考データによる陸上太陽光発電 (PV) 太陽電池モジュールの測定原理)
• CNS 13059.3-1992 太陽光発電モジュール (パート 3: 分光照射光参考データによる陸上太陽光発電 (PV) 太陽電池モジュールの測定原理)

U.S. Air Force, コンセントレーターの原理

• AIR FORCE MIL-I-25861 D VALID NOTICE 2-2008 統合照明付き 0 ～ 4000 PSI 油圧インジケーター

American Society of Mechanical Engineers (ASME), コンセントレーターの原理

• ASME BPVC Section 8 Division 2 Addenda-2005 ASME ボイラーおよび圧力容器コード、パート 8: 圧力容器構造の原則、クラス 2、任意の原則、補足 2005
• ASME BPVC Section 8 Division 2 Addenda 2006-2006 ASME ボイラーおよび圧力容器コード、パート 8: 圧力容器構造の原則、セクション 2: オプションの原則、補足 2006
• ASME BPVC Section 8 Division 3 Addenda-2005 ASME ボイラーおよび圧力容器コード、パート 8: 圧力容器構造の原則、カテゴリー 3. 高圧容器構造のオプション原則、補足 2005
• ASME BPVC Section 8 Division 3 Addenda 2006-2006 ASME ボイラーおよび圧力容器コード、パート 8: 圧力容器構造の原則、パート 3: 高圧容器構造のオプション原則、補足 2006

国家技术监督局、中华人民共和国卫生部, コンセントレーターの原理

• GB/T 17149.6-1997 美容光線皮膚炎の診断基準と治療原則

Lithuanian Standards Office , コンセントレーターの原理

• LST ISO 9855:2003 原子吸光分析による周囲のエアフィルター上に収集されたエアロゾル粒子中の鉛含有量の測定 (idt ISO 9855:1993)
• LST EN ISO 12846:2012 濃縮ありおよび濃縮なしの原子吸光分析法 (AAS) を使用した水質中の水銀の測定 (ISO 12846:2012)
• LST EN 190110-2001 デジタル マイクロプロセッサ集積回路の空白の詳細仕様
• LST EN 61291-6-1-2008 光増幅器パート 6-1: インターフェイス コマンド セット (IEC 61291-6-1:2008)

Military Standards (MIL-STD), コンセントレーターの原理

• DOD A-A-53585-1988 X線フィルム処理埋込容器

Professional Standard - Hygiene , コンセントレーターの原理

• WS 236-2003 性器ヘルペスの診断基準と治療原則
• WS/T 236-2003 性器ヘルペスの診断基準と治療原則

Professional Standard - Commodity Inspection, コンセントレーターの原理

• SN/T 2837-2011 廃棄物原料をコンテナで輸送する動植物の検疫および害虫駆除の手順

American Industrial Hygiene Association （AIHA), コンセントレーターの原理

• ASSE 1013-1999 減圧原理逆流防止装置及び減圧消火原理逆流防止装置の性能要件の修正 2002年11月13日
• ASSE 5000-5013-1998 ASSE 1013 減圧原理逆流防止装置 (RP) および減圧火災逆流防止装置 (RFP)

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, コンセントレーターの原理

• ITU-R SM.328-7-1990 発光スペクトルと帯域幅 セクション 1A スペクトル工学とコンピュータ支援の原理と技術

HU-MSZT, コンセントレーターの原理

• MSZ 456/1-1986 蛍光ソケットと管理収集およびテストソケットの技術要件

IN-BIS, コンセントレーターの原理

• IS 8729-1977 容積測定用ガラス器具の構造と調整の原理
• IS 12970 Pt.2/Sec.3-1993 半導体デバイス集積回路 第 2 部：デジタル集積回路の基本定格と特性 第 3 部：集積回路マイクロプロセッサ

CZ-CSN, コンセントレーターの原理

• CSN 70 3292-1984 ガラスの容器。 閉じたPANOの光学処理
• CSN 26 9101-1995 パレットおよびパレットコンバーター。 マテリアルハンドリングの安全原則

IETF - Internet Engineering Task Force, コンセントレーターの原理

• RFC 4439-2006 ファイバーチャネルファブリックアドレスマネージャーMIB
• RFC 4209-2005 高密度波長分割多重 (DWDM) 光回線システム用のリンク管理プロトコル (LMP)

Professional Standard - Military and Civilian Products, コンセントレーターの原理

• WJ 2694-2008 光学機器用含浸鋳物の仕様

VE-FONDONORMA, コンセントレーターの原理

• NORVEN 55-55-1963 繊維原料（シルケット加工）の色の濃さの決定要因

United States Navy, コンセントレーターの原理

• NAVY MIL-STD-1325-172 VALID NOTICE 1-1989 艦隊サービスユニットの積載 CNU-150/E コンテナ (WALLEYEII) MK5MOD$ 誘導兵器 MK32MOD2 フィンアセンブリおよび MK7MOD2 ウィングアセンブリ 危険物鉄道車両の積載
• NAVY MIL-STD-1325-172-1975 艦隊サービスユニットの積載 CNU-150/E コンテナ (WALLEYEII) MK5MOD$ 誘導兵器 MK32MOD2 フィンアセンブリおよび MK7MOD2 ウィングアセンブリ 危険物鉄道車両の積載

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• DB35/T 151.4-2001 広市冷凍鶏肉標準団地における原材料となる鶏肉の飼養と管理に関する技術仕様

CU-NC, コンセントレーターの原理

• NC 34-63-1988 農業機械の原理。 意思決定マシンを捨てろ。 認知手法をテストする

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• DB53/T 466.1-2013 高原湖流域における家畜・鶏糞尿の総合的利用 第１部 集積所の建設と管理
• DB53/T 466.1-2023 高原湖流域における家畜・鶏糞尿の総合的利用 第１部 集積所の建設と管理

ANSI - American National Standards Institute, コンセントレーターの原理

• INCITS 291-1997 IT ディスクおよび光学ドライブ用のデバイス共通コマンド セット

PL-PKN, コンセントレーターの原理

• PN-EN 17366-2020-11 E 廃棄物管理収集コンテナのアクセス制御の識別と認可

RO-ASRO, コンセントレーターの原理

• STAS 12626-1988 太陽光発電コレクター。 平板型ソーラーコレクターは変換流体としてガスを使用します。 自然太陽光下での熱効率測定

Professional Standard - Electricity, コンセントレーターの原理

• DL/T 698.42-2013 電力情報収集および管理システム パート 4-2: 通信プロトコル - コンセントレーターのダウンリンク通信

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, コンセントレーターの原理

• DB44/T 1173-2013 セラミック容器からのマンガン溶解量の測定 フレーム原子吸光分析法
• DB44/T 1172-2013 セラミック容器からのコバルト溶解量の測定 フレーム原子吸光分析法

その他：   顕微鏡集光器, 顕微鏡集光器, 偏光子の原理, コンセントレーターの強度, 集中複写機, コレクター顕微鏡, 集光器の高さ, 蛍光集光器, ガスコレクターの仕組み, イメージングコレクター, コンセントレーターの原理, キセノンランプコレクター, 顕微鏡集光器, 偏光子の原理.