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イメージングコレクター

イメージングコレクターは全部で 500 項標準に関連している。

イメージングコレクター 国際標準分類において、これらの分類：集積回路、マイクロエレクトロニクス、 光ファイバー通信、 光学機器、 情報技術の応用、 非破壊検査、 犯罪予防、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 総合電子部品、 情報技術（IT）総合、 語彙、 データストレージデバイス、 写真撮影のスキル、 天文学、測地学、地理学、 製図、 光学および光学測定、 医療機器、 穀物、豆類およびその製品、 表面処理・メッキ、 半導体材料、 事故・災害対策、 印刷技術、 電子表示装置、 消防、 電灯および関連器具、 半導体ディスクリートデバイス、 家庭用自動制御装置、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 農林、 機械的試験、 塗料とワニス、 長さと角度の測定、 振動、衝撃、振動の測定、 ソフトウェア開発とシステム文書化、 文字セットとメッセージエンコーディング、 建物内の設備、 シャフトとカップリング、 道路工事、 情報学、出版、 太陽工学、 キッチン用品、 イルミネーション、 電子管、 空気の質、 産業用オートメーションシステム、 航空機と宇宙船の統合、 分析化学、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 トランス、リアクトル、インダクタ、 電子および通信機器用の電気機械部品。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, イメージングコレクター

  • GB/T 43063-2023 集積回路CMOSイメージセンサーの試験方法
  • GB/T 28511.1-2012 平面光導波路集積光回路デバイス パート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワー スプリッター
  • GB/T 29846-2013 プリント基板用フォトイメージャブルめっき耐性レジスト
  • GB/T 28511.2-2012 平面光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) テクノロジーに基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
  • GB/T 28511.2-2023 平面型光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) 技術に基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
  • GB/T 15651-1995 半導体デバイス ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5部：光電子デバイス
  • GB/T 17574-1998 半導体デバイス集積回路パート 2; デジタル集積回路
  • GB/T 17940-2000 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
  • GB/T 17574.20-2006 半導体デバイス集積回路パート 2-20: デジタル集積回路低電圧集積回路ファミリーの仕様
  • GB/T 17574.9-2006 半導体デバイス、集積回路、パート 2-9: デジタル集積回路、紫外線消去可能な電気的にプログラム可能な MOS 読み取り専用メモリの詳細仕様は空白。
  • GB/T 20515-2006 半導体デバイス集積回路パート 5: セミカスタム集積回路
  • GB/T 17574.10-2003 半導体デバイス集積回路パート 2-10; デジタル集積回路集積回路ダイナミック読み取り/書き込みメモリ ブランク詳細仕様
  • GB/T 43531-2023 多視点合成パノラマ撮像装置の光学性能試験方法
  • GB/T 15651.3-2003 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5-3部 光電子デバイスの試験方法
  • GB/T 24791.3-2009 写真撮影: 医療用 X 線イメージング用のスクリーン/フィルム システムの感光性測定 パート 3: マンモグラフィーの感光性特性曲線の形状、感度、平均傾きの決定
  • GB/T 42836-2023 マイクロ波半導体集積回路ミキサー
  • GB/T 42837-2023 マイクロ波半導体集積回路増幅器

工业和信息化部, イメージングコレクター

  • YD/T 3540-2019 統合型光パワー検出器 (IPM)
  • YD/T 2000.2-2018 平面型光導波路集積光回路デバイス その2: アレイ導波路回折格子(AWG)技術に基づく高密度波長分割多重(DWDM)フィルタ
  • YD/T 2799.1-2015 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 1: 40Gb/s
  • YD/T 2799.2-2015 統合型コヒーレント光受信機の技術仕様パート 2: 100Gb/s
  • YD/T 2799.4-2021 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 4: 400Gb/s
  • YD/T 2904.2-2018 統合型波長可変レーザーコンポーネント パート 2: 小型コンポーネント
  • YD/T 2904.3-2019 統合型波長可変レーザー コンポーネント パート 3: デュアル チャネル コンポーネント
  • YD/T 2799.3-2018 集積型コヒーレント光受信器の技術条件 第3部：100Gbit/sの小型化
  • YD/T 3831.1-2021 統合されたコヒーレント トランシーバーと光コンポーネント パート 1: 100Gb/s
  • YD/T 3831.2-2022 統合されたコヒーレント トランシーバーと光コンポーネント パート 2: 400Gb/s
  • YD/T 3126.1-2016 統合型波長可変光源モジュール パート 1: インターフェイス

U.S. Military Regulations and Norms, イメージングコレクター

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), イメージングコレクター

  • KS B ISO 9358:2006 光学および光学機器 イメージング システムからの迷光 定義および測定方法
  • KS B ISO 9358-2006(2016) 光学および光学機器 - イメージング システムからのグレア グレアの定義と測定方法
  • KS B ISO 9358-2006(2021) 光学および光学機器イメージング システムにおける不明瞭なグレアの定義と測定方法
  • KS A ISO 18925:2006 イメージングマテリアル、光ディスクメディア、保存テスト
  • KS A ISO 18925-2016(2021) イメージングマテリアル - 光ディスクメディア - 保管の実践
  • KS A ISO 18925:2016 イメージング素材 光ディスクメディアの保管手順
  • KS C IEC 60747-5:2004 半導体ディスクリートデバイスと集積回路 第5部：光電子デバイス
  • KS C IEC 60748-3-1:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 3: アナログ集積回路、セクション 1: モノリシック集積回路オペアンプ
  • KS C IEC 60748-2-8:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、セクション 8: 集積回路のスタティック読み取りおよび書き込みメモリ
  • KS C IEC 60747-5-1:2020 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 光電子デバイスの一般原理
  • KS G ISO 11380-2001(2016) 光学および光学機器 - 眼科用光学素子 - シェイパー
  • KS C IEC 60748-4:2004 半導体デバイス、集積回路、パート 4: インターフェース集積回路
  • KS C IEC 60748-3:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 3: アナログ集積回路
  • KS C IEC 60748-2:2001 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路
  • KS C IEC 60748-2-2001(2021) 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路
  • KS C IEC 60748-2-2001(2016) 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路
  • KS C IEC 60748-4-2004(2020) 半導体デバイス集積回路パート 4: インターフェース集積回路
  • KS C IEC 60748-3-2002(2017) 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
  • KS C IEC 60748-3-2002(2022) 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
  • KS A ISO 12234-2-2006(2021) 電子静止画撮影用リムーバブルメモリ その2：TIFF/EP画像データ形式
  • KS A ISO 12234-2-2006(2016) 電子静止画撮影用リムーバブルメモリ その2：TIFF/EP画像データ形式
  • KS C IEC 62149-3-2005(2020) 光ファイバーアクティブコンポーネントとデバイス性能基準パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器内蔵レーザーダイオード送信機
  • KS C IEC 60748-5:2021 半導体デバイス集積回路パート 5: セミカスタム集積回路
  • KS C IEC 60748-5:2019 半導体デバイス - 集積回路 - パート 5: セミカスタム集積回路
  • KS C IEC 60748-2-6-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-6-2002(2017) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
  • KS B ISO 9345-1-2016(2021) 光学および光学機器顕微鏡 機械基準面に対する結像距離 パート 1: チューブ長 160 mm
  • KS B ISO 9345-2-2016(2021) 光学および光学機器 顕微鏡: 機械的基準に関連する結像距離 パート 2: 無限に補正された光学システム
  • KS C IEC 60748-2-20:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2-20: デジタル集積回路、シリーズ仕様: 低電圧集積回路
  • KS C IEC 60748-2-20:2021 半導体デバイス集積回路パート 2-20: デジタル集積回路シリーズ仕様低電圧集積回路
  • KS C IEC 60747-5-1:2004 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様
  • KS C IEC 60747-5-3:2020 個別半導体デバイスおよび集積回路 - 第 5-3 部: 光電子デバイス - 測定方法
  • KS C IEC 60748-3-1-2002(2017) 半導体デバイス集積回路 第 3 部: アナログ集積回路 第 1 部: モノリシック集積オペアンプ ブランク 詳細仕様
  • KS C IEC 60748-3-1-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 3 部: アナログ集積回路 第 1 部: モノリシック集積オペアンプ ブランク 詳細仕様
  • KS C IEC 60748-5:2003 半導体デバイス、集積回路、パート 5: 準非標準集積回路
  • KS C IEC 60748-20:2021 半導体デバイス集積回路 第20部 薄膜集積回路及びハイブリッド薄膜集積回路の一般規格
  • KS C IEC 60050-521-2002(2022) 半導体デバイスおよび集積回路
  • KS C IEC 60050-521-2002(2017) 半導体デバイスおよび集積回路
  • KS C IEC 60747-5-3:2004 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-3: オプトエレクトロニクスデバイス テスト方法
  • KS C IEC 60748-20-1:2003 半導体デバイス、集積回路、パート 20: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様。
  • KS C IEC 60748-20:2003 半導体デバイス、集積回路、パート 20: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • KS C IEC 60748-2-10:2001 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、セクション 10: 集積回路ダイナミック読み取り/書き込みメモリ ブランク詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-8-2002(2017) 半導体デバイス集積回路 パート 2: デジタル集積回路 セクション 8: 集積回路における静的読み取りおよび書き込みメモリ ブランクの詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-8-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 パート 2: デジタル集積回路 セクション 8: 集積回路 静的読み取り/書き込みメモリ ブランク 詳細仕様
  • KS A ISO 12234-1-2016(2021) 電子静止画イメージング リムーバブル メモリ パート 1: リムーバブル メモリの基本モデル
  • KS B ISO 11807-2-2017(2022) 集積光学、用語集、パート 2: 分類用語
  • KS C IEC 60748-20:2019 半導体デバイス - 集積回路 - 第 20 部: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • KS C IEC 60748-2-20:2019 半導体デバイス - 集積回路 - 第 20 部: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • KS C IEC 60748-2-12-2002(2017) 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路セクション 12: デジタル集積回路におけるプログラマブル ロジック デバイスの空白の詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-9:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、セクション 9: MOS 紫外線消去可能プログラマブル読み取り専用メモリ ブランク詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-9-2002(2017) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 セクション 9: MOS 紫外線消去可能、電気的にプログラム可能な読み出し専用メモリ ブランク詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-9-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 セクション 9: MOS 紫外線消去可能、電気的にプログラム可能な読み出し専用メモリ ブランク詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-7:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、セクション 7: PROM
  • KS A 4730-1997(2007) 一体型診断用X線発生装置
  • KS C ISO 10656-2001(2006) 抵抗溶接ガン用一体型トランス
  • KS G ISO 11380-2001(2021) 光学および光学機器 眼科用光学成形機
  • KS C IEC 60748-2-12-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 セクション 12 デジタル集積回路 プログラマブル ロジック デバイス (PLD) ブランク 詳細仕様
  • KS C IEC 60748-2-3-2002(2022) 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 3 部: HCMOS デジタル集積回路 ブランク 詳細仕様
  • KS A ISO 18929:2007 画像材料 湿式処理された銀ゼラチン白黒写真反射プリント 遮光保管仕様。
  • KS B ISO 14881:2006 集積光学系、インターフェース、結合特性に関連するパラメータ
  • KS B ISO 11807-2:2007 集積光学、用語集、パート 2: 分類のための用語
  • KS C 8577-2022 統合型太陽光発電 (BIPV) モジュールの構築 性能評価要件
  • KS C 8577-2016(2021) 建築用統合型太陽光発電 (BIPV) モジュール – 性能評価要件
  • KS C IEC 60748-2-11:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2-11: デジタル集積回路、消去可能なプログラマブル読み取り専用メモリ
  • KS C IEC 60747-5-2:2020 個別半導体デバイスと集積回路 - パート 5-2: 光電子デバイス - 基本レベルと特性
  • KS C IEC 60748-2-3:2002 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、セクション 3: HCMOS 仕様

International Organization for Standardization (ISO), イメージングコレクター

  • ISO 9358:1994 光学および光学機器イメージング システムにおける迷光の定義と測定方法
  • ISO 18925:2008 画像素材 光ディスクメディア 保管方法
  • ISO 15529:1999 光学および光学機器 光伝達関数 イメージングシステム 変調伝達関数の測定原理
  • ISO 18925:2013 映像素材 光ディスクメディア 保管操作手順
  • ISO 18938:2008 イメージング材料、光ディスク、長期保存のためのメンテナンスと取り扱い
  • ISO 18938:2014 イメージング材料、光ディスク、長期保存のためのメンテナンスと取り扱い
  • ISO 11380:1994 光学および光学機器 眼科用光学シェイパー
  • ISO/CD 18221:2023 顕微鏡 デジタル画像表示ディスプレイを備えた顕微鏡は、画像パフォーマンスに関する情報をユーザーに提供します。
  • ISO 18943:2014 画像素材、画像保存用の磁気ハードドライブ、お手入れと取り扱い
  • ISO 18221:2016 顕微鏡. デジタル画像表示ディスプレイを備えた顕微鏡. 画像処理性能に関してユーザーに提供される情報
  • ISO/CIE TR 21783:2022 照明と照明、統合照明、非視覚効果
  • ISO 12234-3:2016 電子静止画イメージング、リムーバブル メモリ パート 3: デジタル写真用 XMP
  • ISO 18920:2000 画像形成材料で処理された反射光写真プリントの保管手順
  • ISO 19962:2019 光学およびフォトニクス - 平行平面光学素子からの積分散乱の分光測定方法
  • ISO 18929:2012 画像材料 湿式処理された銀ゼラチン白黒写真反射プリント 遮光保管仕様。
  • ISO 18929:2003 画像材料 湿式処理された銀ゼラチン白黒写真反射プリント 遮光保管仕様。
  • ISO 21073:2019 顕微鏡、共焦点顕微鏡、生物学的イメージングのための蛍光共焦点顕微鏡からの光学データ
  • ISO/CD 18937-3:2014 画像材料写真の室内光安定性の測定方法その３：LEDランプ露光
  • ISO 11807-2:2001 集積光学用語集パート 2: 分類のための用語
  • ISO 14881:2001 統合光インターフェースの結合特性に関連するパラメータ
  • ISO 14881:2021 集積光学系、インターフェース、結合特性に関するパラメータ
  • ISO 11807-2:2021 集積光学、用語集、パート 2: 分類のための用語
  • ISO 11807-1:2021 集積光学用語集 パート 1: 基本的な光導波路の用語と表記法
  • ISO/TR 12037:1998 電子イメージングによる読み取り専用 CD に記録された情報の消去に関する推奨手法
  • ISO 18937:2014 イメージング材料、現像写真、室内光安定性の測定方法
  • ISO 14535:2001 写真用電子スキャナ、イメージング フィルムおよびペーパー ロールの室内軽荷重梱包寸法および関連要件
  • ISO 18902:2001 画像材料加工フィルム、写真乾板、画像用紙材料の密封および保存容器

未注明发布机构, イメージングコレクター

  • BS ISO 9358:1994(2000) 光学および光学機器イメージング システムの迷光の定義と測定方法
  • BS EN 60747-5-1:2001(2003) 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
  • BS EN 60747-5-3:2001(2003) 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • GJB 6916-2009 個々の兵士の画像化地雷探知機の設計と最終テスト手順
  • BS EN IEC 62149-3:2023 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能標準 変調器 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用統合レーザーダイオードトランスミッター
  • BS EN 60747-5-2:2001(2003) ディスクリート半導体デバイスと集積回路 パート 5-2: 光電子デバイス - 基本的な定格と特性

German Institute for Standardization, イメージングコレクター

  • DIN ISO 9358:2021-08 光学および光学機器イメージング システムの迷光の定義と測定方法
  • DIN EN 17501:2020 非破壊検査 サーマルイメージング検査 レーザー励起アクティブサーマルイメージング
  • DIN EN 17501:2022-08 非破壊検査 サーマルイメージング検査 レーザー励起アクティブサーマルイメージング
  • DIN 54185:2021-06 光励起ロックインサーモグラフィーを使用したNDTサーモグラフィー試験
  • DIN ISO 9358:2021 光学および光学機器の画像形成システムにおける不明瞭なグレアの定義と測定方法 (ISO 9358:1994)
  • DIN ISO 9358:2020 光学および光学機器の画像形成システムにおける不明瞭なグレアの定義と測定方法 (ISO 9358:1994)
  • DIN 54184:2017-10 光励起パルスサーモグラフィーによる非破壊検査
  • DIN EN ISO 24157:2020-06 眼科光学および機器レポート 人間の目の収差
  • DIN 58002:2001 集積光回路 シングルモード光チップ部品の近接場測定
  • DIN EN ISO 11380:1996-08 光学および光学機器 - 眼科用光学素子 - フォーマー (ISO 11380:1994)
  • DIN EN ISO 14881:2005 集積光学系、インターフェース、結合特性関連パラメータ
  • DIN EN 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器 - 統合レーザーダイオードトランスミッター
  • DIN 19277:2015-12 機械状態の監視と熱画像診断の一般手順
  • DIN EN ISO 11807-2:2005 集積光学、用語集、パート 2: 分類のための用語
  • DIN EN ISO 11807-1:2022-05 集積光学用語集 パート 1: 基本的な光導波路の用語と表記法
  • DIN EN ISO 11146-1:2021-11 レーザーおよびレーザー関連機器 ～レーザー光幅、発散角、光伝播比の試験方法～ 第 1 部：非点収差と単純非点収差光線
  • DIN EN 14603:2005 情報技術 光学式文字認識 OCR-B 用の英数字グリフ イメージのセット 印刷されたイメージの形状とサイズ
  • DIN EN 61964:2000 集積回路、メモリ端子配置

ES-UNE, イメージングコレクター

  • UNE-EN 17501:2022 非破壊検査 サーマルイメージング検査 レーザー励起アクティブサーマルイメージング
  • IEEE 3333.1.4-2022 ライトフィールドイメージングの品質評価に関するIEEE推奨の実践方法
  • UNE-EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • UNE-EN 190110:1994 BDS: デジタル マイクロプロセッサ集積回路
  • UNE-EN ISO 11146-1:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービーム幅、発散角、ビーム伝播比の試験方法 第1部：非点収差ビームと単純非点収差ビーム
  • UNE-EN ISO 11807-1:2021 集積光学用語集 パート 1: 基本的な光導波路の用語と表記法
  • UNE-EN 60747-5-2:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性
  • UNE-EN 60747-5-2:2001/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性

Association Francaise de Normalisation, イメージングコレクター

  • NF EN 17501:2022 非破壊検査 - 熱画像解析 - レーザー励起アクティブサーモグラフィー
  • NF S10-043*NF ISO 9358:1998 光学および光学機器イメージング システムのブラック フラッシュの定義と測定方法
  • NF C96-005:1994 ディスクリートデバイスと集積回路 パート 5: 光電子デバイス
  • NF ISO 9358:1998 光学および光学機器。 イメージング システムからの迷光を拡散します。 定義と測定方法。
  • NF S10-045:1999 光学および光学機器 一般的な光学試験方法 イメージング分野における関連放射照度の測定
  • NF S10-051*NF ISO 15795:2002 光学および光学機器の品質評価 光学システム 色あせによる画質劣化の評価
  • NF C96-005-1/A1*NF EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • NF C96-005-1*NF EN 60747-5-1:2001 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • NF EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
  • NF EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
  • NF EN 60747-5-1:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-1: 光電子デバイス - 概要
  • NF C96-042:1989 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路
  • NF C96-005-1/A2*NF EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • NF EN 50201:2002 統合されたDVBデコーダインターフェイス
  • NF C96-005-3*NF EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • NF EN 60747-5-3:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-3: 光電子デバイス - 測定方法
  • NF EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 - パート 5-3: 光電子デバイス - 測定方法
  • NF ISO 18251-2:2023 非破壊検査用の赤外線サーモグラフィー パート 2: 統合されたシステムおよび機器の性能の検査方法
  • NF EN 1837:2020 機械の安全性 - 機械に統合された照明
  • NF EN IEC 62878-1:2019 集積デバイスの組立技術 パート 1: 集積デバイスを備えた基板の一般仕様
  • NF EN 14603:2005 情報技術 - ROC-B 光学式文字認識英数字グリフ イメージ セット - 印刷イメージの形状と寸法
  • NF ISO 18434-2:2019 機械システムの監視と診断サーモグラフィー パート 2: 画像の解釈と診断
  • NF EN 61964:2000 集積回路 - メモリのピン配置
  • NF C93-884-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器 - 統合レーザーダイオードトランスミッター
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 平面平行光学素子からの統合散乱の光学およびフォトニクススペクトル測定方法
  • NF EN 60747-5-2:2001 個別半導体デバイスと集積回路 - パート 5-2: 光電子デバイス - 限界と基本特性
  • NF EN 60747-5-2/A1:2003 個別半導体デバイスと集積回路 - パート 5-2: 光電子デバイス - 限界と基本特性
  • NF S10-131:2005 集積光学系、インターフェース、結合特性に関連するパラメータ
  • NF S10-130-2:2005 集積光学、用語集、パート 2: 分類のための用語
  • NF EN ISO 14881:2021 集積光学 - インターフェース - 結合特性を特徴付けるパラメータ
  • NF S10-130-1*NF EN ISO 11807-1:2021 集積光学用語集 パート 1: 基本的な光導波路の用語と表記法
  • NF Z62-013*NF EN 14603:2005 情報技術 光学式文字認識 OCR-B 用の英数字グリフ イメージのセット 印刷されたイメージの形状と寸法
  • NF C96-012*NF EN 61964:2000 集積回路メモリデバイスのピン構成
  • NF A82-043:1996 抵抗溶接、溶接ガン用一体型トランス
  • NF C96-005-2/A1*NF EN 60747-5-2/A1:2003 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性
  • NF C96-005-2*NF EN 60747-5-2:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, イメージングコレクター

  • GJB 9631-2019 有人宇宙船ランデブーおよびドッキング用の光学イメージングセンサーの仕様
  • GJB 4026A-2014 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
  • GJB 9888-2020 ニオブ酸リチウム集積型光デバイスの試験方法
  • GJB 4026-2000 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
  • GJB 9726-2020 宇宙搭載ハイパースペクトルイメージャの仕様
  • GJB 5546-2006 航空光学画像偵察ポッドの一般仕様
  • GJB 7951-2012 電荷結合撮像素子の試験方法
  • GJB 5968-2007 電荷結合撮像素子の一般仕様
  • GJB 5968A-2021 電荷結合撮像素子の一般仕様
  • GJB 10036-2021 レーザーイメージングシステムの雲と煙の適応性評価方法
  • GJB 10245-2022 空挺ミサイル用凝視型赤外線撮像装置の仕様
  • GJB 4799-1997*GJBz 20432-1997 軍用赤外線熱画像機器の検査および受け入れ規則
  • GJB/Z 42.4-1993 軍事用マイクロサーキット シリーズ スペクトラム半導体 集積回路インターフェース 集積回路
  • GJB 2438/25-2021 ハイブリッド集積回路 WHZD6500M-11 マイクロ波ハイブリッド集積電圧制御発振器 詳細仕様
  • GJB 2438/23-2021 ハイブリッド集積回路 WHZD950M1050M-10型マイクロ波ハイブリッド集積電圧制御発振器 詳細仕様
  • GJB 2438/24-2021 ハイブリッド集積回路 WHZD800M1100M-10型マイクロ波ハイブリッド集積電圧制御発振器 詳細仕様
  • GJB 2438/28-2021 ハイブリッド集積回路 WHZD2200M2600M-10型マイクロ波ハイブリッド集積電圧制御発振器 詳細仕様
  • GJB 2438/21-2021 ハイブリッド集積回路 WHZD8240M8600M-10型マイクロ波ハイブリッド集積電圧制御発振器 詳細仕様

Society of Automotive Engineers (SAE), イメージングコレクター

  • SAE ARP4967C-2023 ナイト ビジョン イメージング システム (NVIS) 統合照明情報パネル
  • SAE J2661-2011 光学画像評価 外面衝撃損傷耐性試験
  • SAE J2661-2023 光学画像による外面の耐衝撃損傷性評価

GB-REG, イメージングコレクター

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, イメージングコレクター

  • DB3304/T 101-2023 証明写真・肖像写真の収集・申請を一元管理するための基準

Professional Standard - Electron, イメージングコレクター

  • SJ/T 11404-2009 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
  • SJ 20869-2003 ニオブ酸リチウム集積型光導波路変調器の試験方法
  • SJ 20868-2003 電荷結合撮像素子の試験方法

British Standards Institution (BSI), イメージングコレクター

  • BS EN 17501:2022 非破壊検査 サーモグラフィー検査 レーザー刺激アクティブサーモグラフィー
  • 20/30410182 DC BS EN 17501 非破壊検査用サーモグラフィー検査 レーザー励起アクティブサーモグラフィー
  • BS ISO 9358:1995 光学および光学機器 - グレアをカバーする画像形成システム - 定義と測定方法
  • BS ISO 9358:1994 光学および光学機器画像システム用のカバーグレーズの定義と測定方法
  • BS ISO 13653:1997 光学および光学機器 一般的な光学試験方法 イメージングゾーンにおける関連放射照度の測定
  • BS IEC 60747-5-1:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、概要
  • BS EN 60747-5-1:1998 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイスの一般原理
  • BS EN 60747-5-1:2001 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路、光電子デバイス、一般原理
  • BS IEC 60747-5-3:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、測定方法
  • BS EN 60747-5-3:1998 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイスの測定方法
  • BS EN 60747-5-3:2001 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路、光電子デバイス、測定方法
  • BS IEC 60748-4:1997 半導体デバイス.集積回路.インターフェース集積回路
  • BS IEC 60748-2:1997 半導体デバイス、集積回路、デジタル集積回路
  • BS IEC 60748-2:1998 半導体デバイス集積回路デジタル集積回路
  • BS ISO 18925:2013 画像素材、光ディスクメディア、保管方法
  • BS IEC 60748-2-20:2008 半導体デバイス、集積回路、デジタル集積回路、クラス仕様、低電圧集積回路
  • BS IEC 60748-2-11:1999 半導体デバイス、集積回路、デジタル集積回路、単一の電気集積回路、消去可能、プログラム可能、読み取り専用メモリ集積回路の詳細な仕様は空白。
  • PD IEC TS 63202-2:2021 太陽電池 結晶シリコン太陽電池のエレクトロルミネッセンスイメージング
  • BS ISO 15529:2010 光学および光学機器 光学伝達関数 サンプルイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
  • BS EN ISO 11807-2:2005 集積光学、語彙、分類用語
  • BS EN ISO 11807-2:2021 統合光学語彙分類の用語
  • BS EN 60747-16-1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路、マイクロ波集積回路、アンプ
  • BS 6493-2.3:1987 半導体デバイス集積回路アナログ集積回路の推奨事項
  • BS ISO 18938:2008 イメージング材料、光ディスク、長期保存のためのメンテナンスと取り扱い
  • BS ISO 18938:2014 イメージング材料、光ディスク、長期保存のためのメンテナンスと取り扱い
  • BS EN ISO 11807-1:2021 集積光学用語集 光導波路 基本用語と記号
  • BS EN 60747-5-2:1998 個別半導体デバイスおよび集積回路光電子デバイスの基本定格と特性
  • BS EN 60747-5-2:2001 個別半導体デバイスおよび集積回路、光電子デバイス、基本定格および特性
  • BS IEC 62679-3-3:2016 電子ペーパーディスプレイ - 照明ユニット一体型ディスプレイの光学測定方法
  • BS EN 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、性能基準、2.5 Gbit/s 変調器一体型レーザーダイオードトランスミッター
  • BS 7012-1:1998 光学顕微鏡 顕微鏡の結像コンポーネントの倍率の仕様
  • BS ISO 18943:2014 画像素材、画像保存用の磁気ハードドライブ、お手入れと取り扱い
  • BS ISO 18434-2:2019 機械システムの状態監視と診断 サーモグラフィー画像の解釈と診断
  • BS EN ISO 11807-1:2005 集積光学、用語集、基本的な用語と記号
  • BS IEC 60748-5:1997 半導体デバイス、集積回路、パート 5: 半従来型集積回路
  • BS IEC 60748-4-3:2006 半導体デバイス 集積回路インターフェイス 集積回路アナログデジタルコンバータ (ADC) の動的標準
  • BS EN ISO 11146-1:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービーム幅、発散角、ビーム伝播比の試験方法 非点収差ビームおよび単純非点収差ビーム
  • BS ISO 19264-1:2021 写真アーカイブ システム イメージング システム 品質分析 反射原稿
  • BS EN 62148-11:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、14 ピン変調器統合レーザーダイオードトランスミッター
  • BS EN ISO 24157:2008+A1:2020 眼科光学系および機器は人間の目の異常を報告します
  • BS IEC 60748-4-3:2007 半導体デバイス、集積回路、インターフェース集積回路、アナログデジタルコンバーター (ADC) のダイナミック規格
  • BS EN IEC 62149-3:2020 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能標準 変調器 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用統合レーザーダイオードトランスミッター
  • BS IEC 60748-1:2002 半導体デバイス、集積回路、一般原理
  • BS 6493-2.1:1985 半導体デバイス、集積回路、一般原理
  • PD IEC TR 61948-2:2019 核医学機器の日常検査 シンチレーションカメラと単一光子放出コンピュータ断層撮影イメージング
  • BS EN 62228-2:2017 集積回路、トランシーバーのEMC評価、LINトランシーバー
  • BS EN IEC 60747-16-6:2019 半導体装置マイクロ波集積回路周波数逓倍器
  • BS EN 60747-16-1:2002+A2:2017 半導体デバイスマイクロ波集積回路増幅器
  • BS EN 60747-16-3:2002+A2:2017 半導体装置マイクロ波集積回路インバータ
  • BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 半導体デバイスマイクロ波集積回路発振器
  • BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007 半導体デバイス、マイクロ波集積回路、アンプ
  • BS EN 61291-6-1:2009 光アンプインターフェイスコマンドセット
  • BS EN 61291-6-1:2008 光アンプ・インターフェース・コマンドセット
  • BS EN 61223-3-2:2008 医用画像部門内の評価および日常テスト パート 3-2: 受け入れテスト マンモグラフィ装置の画像性能
  • BS ISO 18929:2012 画像材料 湿式処理された銀ゼラチン白黒写真反射プリント 遮光保管仕様。
  • BS EN ISO 14881:2005 集積光学系、インターフェース、結合特性に関連するパラメータ
  • PD IEC/TR 63072-1:2017 光集積回路の標準化の概要とロードマップ
  • BS PD IEC TS 63140:2021 太陽電池モジュールモノリシック集積製品の部分遮光耐久試験
  • BS ISO 18937:2014 イメージング材料、現像写真、室内光安定性の測定方法
  • BS IEC 60748-2-12:2001 半導体デバイス集積回路デジタル集積回路プログラマブルロジックデバイス（PLD）ブランク詳細仕様
  • BS EN IEC 62228-6:2022 集積回路トランシーバーの EMC 評価 PSI5 トランシーバー
  • BS EN IEC 62228-3:2019 集積回路トランシーバーのEMC評価 CANトランシーバー
  • BS EN 62149-3:2014 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、性能基準、2.5 Gbit/s ～ 40 Gbit/s の光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオードエミッター
  • BS EN 61964:1999 集積回路メモリデバイスのピン構成

Professional Standard - Public Safety Standards, イメージングコレクター

  • GA/T 1195-2014 法医学用フィルター型分光イメージング法
  • GA/T 1775-2021 法医学用の熱蛍光イメージングを使用した指紋表示の技術仕様
  • GA/T 1202-2022 交通技術監視用の画像補助照明装置の一般的な技術条件
  • GA/T 1202-2014 交通技術監視用の画像補助照明装置の一般的な技術条件

KR-KS, イメージングコレクター

  • KS B ISO 9358-2023 光学および光学機器 画像形成システムからの反射グレア 定義と測定方法
  • KS A ISO 18925-2016 イメージング素材 光ディスクメディアの保管手順
  • KS C IEC 60747-5-1-2020 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 光電子デバイスの一般原理
  • KS C IEC 60748-5-2021 半導体デバイス集積回路パート 5: セミカスタム集積回路
  • KS C IEC 60748-5-2019 半導体デバイス - 集積回路 - パート 5: セミカスタム集積回路
  • KS B ISO 9345-2-2016 光学および光学機器 顕微鏡: 機械的基準に関連する結像距離 パート 2: 無限に補正された光学システム
  • KS C IEC 60748-2-20-2021 半導体デバイス集積回路パート 2-20: デジタル集積回路シリーズ仕様低電圧集積回路
  • KS C IEC 60747-5-3-2020 個別半導体デバイスおよび集積回路 - 第 5-3 部: 光電子デバイス - 測定方法
  • KS B ISO 9345-1-2016 光学および光学機器 - 顕微鏡 - 機械的基準面イメージングに関連する距離 - パート 1: チューブ長 160 mm
  • KS C IEC 60748-20-2021 半導体デバイス集積回路 第20部 薄膜集積回路及びハイブリッド薄膜集積回路の一般規格
  • KS A ISO 12234-1-2016 電子静止画イメージング リムーバブル メモリ パート 1: リムーバブル メモリの基本モデル
  • KS C IEC 60748-2-20-2019 半導体デバイス - 集積回路 - 第 20 部: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • KS C IEC 60748-20-2019 半導体デバイス - 集積回路 - 第 20 部: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • KS C IEC 60747-5-2-2020 個別半導体デバイスと集積回路 - パート 5-2: 光電子デバイス - 基本レベルと特性

Group Standards of the People's Republic of China, イメージングコレクター

  • T/CIE 079-2020 産業用グレードの高信頼性集積回路の評価 第14回：イメージセンサー
  • T/NSSQ 064-2023 スマートスクリーンAIカメラ統合技術仕様
  • T/ZZB 1335-2019 高精細な映像を実現する光学ローパスフィルター
  • T/SCGS 313003-2023 近赤外セカンドゾーン蛍光イメージング技術の画質評価基準
  • T/YNBX 098-2023 イネの種子活力を判定するためのマルチスペクトルイメージング法
  • T/CAIA YQ007-2021 電子増倍型電荷結合イメージングデバイスの光電性能の一般的な試験方法
  • T/NJAF 001-2020 人口密集地域における迅速な体温スクリーニングのための赤外線熱画像法
  • T/CADBM 61-2022 天井用統合電気コントローラー
  • T/CFPA 027-2023 赤外線熱画像温度火災検知器
  • T/ICMTIA 5.1-2020 集積回路用ArFドライフォトレジスト
  • T/ZZB 2866-2022 統合型ストーブ周波数変換コントローラー
  • T/ICMTIA 5.3-2020 集積回路用ArFフォトレジストフォトリソグラフィー検出法
  • T/CPIA 0009-2019 エレクトロルミネッセンスイメージングを使用した結晶シリコン太陽電池モジュールの欠陥の検出方法
  • T/ICMTIA 5.2-2020 集積回路用ArF液浸フォトレジスト
  • T/QGCML 1273-2023 イメージ増倍管蛍光板真空試験台
  • T/CESA 1151-2021 インテリジェント太陽光発電クラウドプラットフォームシステム統合ソリューション
  • T/SZCX 003-2019 一体型ストーブバーナーの技術仕様
  • T/SHMHZQ 018-2022 ダイアフラムカップリング用統合防爆光ファイバートルク検出システムの技術仕様
  • T/CNHA 1061-2023 集中購入および同様の目的の厨房機器の品質および技術要件 一体型コンロおよび一体型IHコンロ
  • T/CSBME 047-2022 動脈スピンラベリング磁気共鳴脳灌流イメージングの取得および後処理仕様
  • T/AHEPI 0002-2023 微量ガスハイパースペクトルターゲットイメージングリモートセンシングモニタリングの技術ガイドライン
  • T/CIRA 37-2022 X線画像技術を活用した鉄道貨物コンテナの迅速検査システム
  • T/SZCX 001-2019 統合ストーブ電子コントローラーの技術仕様
  • T/CASME 403-2023 ハイブリッド集積回路用電圧制御発振器

U.S. Air Force, イメージングコレクター

US-RTCA, イメージングコレクター

  • RTCA DO-275-2001 統合型暗視画像システム機器の最低動作性能基準

Danish Standards Foundation, イメージングコレクター

  • DS/ISO 18925:2013 画像素材用光ディスクメディアの保管仕様
  • DS/ISO 18918:2001 画像材料を含む処理済感光板の保管仕様
  • DS/EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • DS/EN 60747-5-1/A1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • DS/EN 60747-5-1:2002 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • DS/EN ISO 11380:1997 光学および光学機器 眼科用光学シェイパー
  • DS/IEC 748-3+Amd.1:1993 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
  • DS/IEC 748-4+Amd.1:1993 半導体デバイス集積回路パート 4: インターフェース集積回路
  • DS/EN 60747-5-3/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • DS/EN 60747-5-3:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-3 部: 光電子デバイスの測定方法
  • DS/IEC 748-20:1990 半導体デバイス、集積回路、パート 20: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • DS/ISO 12234-1:2012 電子静止画イメージング リムーバブル メモリ パート 1: リムーバブル メモリの基本モデル
  • DS/EN 62149-3:2004 光ファイバー能動部品および装置の性能基準パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器統合レーザー ダイオード トランスミッター
  • DS/EN ISO 24157:2008 眼科光学系および機器は人間の目の異常を報告します
  • DS/EN IEC 62149-3:2021 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの「性能規格」パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の統合変調器を備えたレーザーダイオードトランスミッター
  • DS/ISO 11807-1:2021 集積光学「用語集」パート 1: 基本的な光導波路の用語と表記
  • DS/EN 14603:2006 情報技術光学式文字認識 OCR-B 用の英数字グリフ イメージのセット 印刷されたイメージの形状とサイズ
  • DS/IEC 748-2-6:1993 半導体デバイス。 集積回路。 パート 2: デジタル集積回路。 セクション 6: マイクロプロセッサ集積回路の空白の詳細仕様
  • DS/EN 60747-5-2/A1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性
  • DS/EN 60747-5-2:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第 5-2 部: 光電子デバイスの基本定格と特性

ANSI - American National Standards Institute, イメージングコレクター

  • IT9.25-1998 イメージングマテリアル 光ディスクメディアストレージ (IS&T)
  • IT9.18-1996 画像形成材料で処理された写真乾板の保管に関する仕様 (IS&T)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, イメージングコレクター

  • GB/T 38935-2020 光リモートセンサー軌道上イメージング放射性能評価法可視光～短波赤外線
  • GB/T 36301-2018 航空宇宙用ハイパースペクトル イメージング データの前処理製品分類
  • GB/T 40139-2021 材料表面積の測定 ハイパースペクトルイメージングによる三次元面積測定法
  • GB/T 36614-2018 集積回路メモリの端子配置

IET - Institution of Engineering and Technology, イメージングコレクター

Professional Standard - Post and Telecommunication, イメージングコレクター

  • YD/T 2000.1-2014 平面光導波路集積光回路デバイス パート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワー スプリッター
  • YD/T 2000.1-2009 平面光導波路集積光回路デバイス その1: 平面光導波路(PLC)をベースとした光パワースプリッタ
  • YD/T 2000.2-2009 平面型光導波路集積光回路デバイス パート 2: アレイ導波路回折格子 (AWG) 技術に基づく高密度波長分割多重 (DWDM) フィルター
  • YD/T 2799.5-2023 統合型コヒーレント光受信機の技術条件 パート 5: 800Gb/s
  • YD/T 2904.1-2015 統合された波長可変レーザー コンポーネント パート 1: バタフライ パッケージ コンポーネント

RU-GOST R, イメージングコレクター

  • GOST R IEC 61223-3-1-2001 医療画像部門の評価と日常テスト パート 3-1: X 線画像および放射線システムの画像性能 受け入れテスト
  • GOST 29283-1992 半導体機器 ディスクリートデバイス機器および集積回路 パート 5 光電子機器
  • GOST R ISO 4090-2006 写真: 医療用 X 線イメージング テープ カセット/カード/フィルムおよびハードウェア イメージング フィルム 寸法と技術要件
  • GOST R IEC 61675-2-2002 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 その2：単一光子放射線コンピュータイメージングの構造図
  • GOST R IEC 61675-2-2006 放射性核種イメージング装置 特性と試験条件 その2 単一光子放射線コンピュータイメージング構造図
  • GOST R IEC 61223-2-10-2001 医用画像部門の評価と日常検査 パート 2-10: 恒常性検査 マンモグラフィー装置
  • GOST 29108-1991 半導体デバイス、マイクロ集積回路、その 3 アナログ集積回路
  • GOST 29107-1991 半導体デバイス.超小型集積回路.その2.デジタル集積回路
  • GOST 29109-1991 半導体デバイス.超小型集積回路.第4部.インターフェース集積回路
  • GOST R IEC 60627-2005 線診断イメージャー、マンモグラフィー散乱防止格子および汎用機能
  • GOST 24613.0-1981 光電子マイクロ集積回路とフォトカプラ、電気パラメータ測定、一般原理
  • GOST 24613.9-1983 光電子集積マイクロ回路とフォトカプラ 時間パラメータ測定法
  • GOST 24613.18-1977 光電子集積回路とフォトカプラ 絶縁抵抗測定法
  • GOST R IEC/TO 61948-2-2008 核医学機器、定期検査、パート 2: フラッシュ カメラと単一光子エスケープ コンピューター断層撮影イメージング。
  • GOST 21815.14-1986 電気光学変換器、イメージシフトの測定方法
  • GOST 24613.1-1981 光電子マイクロ集積回路とフォトカプラ。 遷移容量の測定方法
  • GOST 24613.2-1981 光電子マイクロ集積回路とフォトカプラ 漏れ電流の測定方法
  • GOST 24613.3-1981 光電子マイクロ集積回路とフォトカプラ 入力電圧の測定方法
  • GOST 24613.6-1981 光電子マイクロ集積回路とフォトカプラ 絶縁電圧の測定方法
  • GOST 24613.17-1977 光電子集積マイクロ回路 アナログ信号コンバータの差動出力抵抗測定法
  • GOST 24613.19-1977 光電子集積回路とフォトカプラ 電流伝達係数の測定方法

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, イメージングコレクター

Professional Standard - Machinery, イメージングコレクター

  • JB/T 5453-2011 非破壊検査機器 工業用X線イメージインテンシファイアイメージングシステム

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, イメージングコレクター

  • GB/T 35437-2017 宇宙搭載の電気光学追跡および画像化システムの一般仕様
  • GB/T 33806-2017 エリアアレイ蛍光イメージングマイクロアレイチップスキャナーの技術要件

American Society for Testing and Materials (ASTM), イメージングコレクター

  • ASTM D5767-95(2004) コーティング表面の画像鮮明度と光沢を機器で測定するための標準試験方法
  • ASTM F1443-93(2003) 0.008 インチ (0.203 mm) 穴の反射型白色度計は、商業コピー画像やビデオ画像を測定するための品質検査装置として使用されます。
  • ASTM E1260-03(2020) 光学非結像光散乱装置を使用してスプレー内の液滴のサイズ特性を決定するための標準試験方法
  • ASTM E1260-03(2009) 光学式非結像光シンチレーション装置を用いた水霧中の水滴のサイズ特性の測定方法
  • ASTM F1443-93(2009) 商用コピー画像を測定するためのビデオ画像品質検査装置として使用される0.008インチ（0.203 mm）開口の反射型白色度計の標準的な慣行

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, イメージングコレクター

  • SPA-M10-2-2010 2009 年 4 月: スペクトル イメージングを使用して石油熱交換器の堆積物を調査

International Electrotechnical Commission (IEC), イメージングコレクター

  • IEC 60747-5:1992 半導体デバイス、ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5: オプトエレクトロニクスデバイス
  • IEC 60748-2:1997 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路
  • IEC 60748-4:1997 半導体デバイス集積回路パート 4: インターフェース集積回路
  • IEC 60748-3:1986 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
  • IEC 60748-4:1987 半導体デバイス、集積回路、パート 4: インターフェース集積回路
  • IEC 60858:1986 電気光学式X線イメージインテンシファイアの画像歪みの測定
  • IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
  • IEC 60747-5-1:1997+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV 個別半導体デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
  • IEC 60747-5-1:2002 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
  • IEC 60748-2-20:2000 半導体デバイス集積回路パート 2-20: 低電圧集積回路のデジタル集積回路ファミリー仕様
  • IEC 60748-20:1988 半導体装置集積回路 第20部 膜集積回路及びハイブリッド膜集積回路の一般規格
  • IEC 60748-2-11:1999 半導体デバイス集積回路 パート 2-11: デジタル集積回路 単一電源集積回路 空白 消去可能、プログラム可能、読み取り専用メモリ集積回路の詳細仕様
  • IEC 60748-5:1997 半導体デバイス集積回路パート 5: セミカスタム集積回路
  • IEC 60748-2-6:1992 半導体デバイス集積回路 第 2 部: デジタル集積回路 第 6 部: マイクロプロセッサ集積回路 ブランク 詳細仕様
  • IEC 60748-2-20:2008 半導体デバイス、集積回路、パート 2-20: デジタル集積回路、シリーズ仕様、低電圧集積回路
  • IEC 60747-5-1:1997 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様
  • IEC 62149-3:2020 RLV 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオード送信機
  • IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 個別半導体デバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの測定方法
  • IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV 個別半導体デバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの測定方法
  • IEC 60747-5-3:1997 半導体ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの試験方法
  • IEC TS 63202-2:2021 太陽電池 パート 2: 結晶シリコン太陽電池のエレクトロルミネッセンス イメージング
  • IEC 62149-3:2020 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオードトランスミッター
  • IEC 60748-2-10:1994 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路セクション 10: 集積回路ダイナミック読み取り/書き込みメモリ ブランク詳細仕様
  • IEC 60748-3-1:1991 半導体デバイス集積回路 第 3 部：アナログ集積回路 第 1 部：モノリシック集積回路 オペアンプ ブランク 詳細仕様
  • IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 半導体デバイス集積回路 第 3 部: アナログ集積回路 修正 2
  • IEC 60748-3:1986/AMD1:1991 半導体デバイス集積回路 第 3 部: アナログ集積回路 修正 1
  • IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996 半導体デバイス、集積回路、その 3: アナログ集積回路、修正 2
  • IEC 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス 性能基準 パート 3: 2.5 Gbit/s 変調器 - 統合レーザーダイオードトランスミッター
  • IEC 60747-5-1:1997/AMD1:2001 半導体個別デバイスおよび集積回路 第 5-1 部：光電子デバイスの一般規格の改訂 1
  • IEC 62679-3-3:2016 電子ペーパーディスプレイ パート 3-3: 照明一体型ディスプレイの光学測定方法
  • IEC 60748-20:1988/AMD1:1995 修正 1—半導体デバイス集積回路パート 20: 薄膜集積回路およびハイブリッド薄膜集積回路の一般仕様
  • IEC 60748-2/AMD1:1991 半導体デバイス、集積回路、パート 2: デジタル集積回路、第 1 版
  • IEC 60748-4/AMD1:1991 半導体デバイス、集積回路、パート 4: インターフェース集積回路、第 1 版
  • IEC 62148-11:2003 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、パート 11: 14 ピン変調器一体型レーザーダイオード送信機

Association of German Mechanical Engineers, イメージングコレクター

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, イメージングコレクター

  • GJB 5984-2007 第3世代低照度イメージインテンシファイア仕様

Professional Standard - Military and Civilian Products, イメージングコレクター

  • WJ 2091-1992 低照度イメージインテンシファイアのテスト方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, イメージングコレクター

  • HD 515 S1-1989 光電X線イメージインテンシファイアの画像歪みの測定
  • EN 62148-11:2009 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、パート 11: 14 ピン統合変調器レーザーダイオード送信機
  • EN 61964:1999 集積回路、メモリデバイスのピン配置

IN-BIS, イメージングコレクター

  • IS 13814-1993 電気光学式X線イメージインテンシファイアの画像歪みの測定
  • IS 12970 Pt.2/Sec.3-1993 半導体デバイス集積回路 第 2 部：デジタル集積回路の基本定格と特性 第 3 部：集積回路マイクロプロセッサ
  • IS 12970 Pt.2/Sec.2-1992 半導体デバイス ― 集積回路 ― 第 2 部 デジタル集積回路 ― 基本的な定格と特性 ― 第 2 部 集積回路 ― メモリ
  • IS 5001 Pt.2-1973 半導体デバイスおよび集積回路の描画ガイド パート II 集積回路
  • IS 9076-1979 マリンガラス一体型スクワットトイレ仕様
  • IS 12970 Pt.6/Sec.3-1992 半導体デバイス - 集積回路 第 6 部 アナログ集積回路の測定方法 セクション 3: 電圧レギュレータ

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), イメージングコレクター

Professional Standard - Medicine, イメージングコレクター

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, イメージングコレクター

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), イメージングコレクター

  • JIS Z 4721:2000 医療用X線画像増幅器
  • JIS X 6319-1:2005 集積回路カード用計器の仕様 パート 1: 接点付き集積回路カード
  • JIS X 6319-1:2010 集積回路カード用計器の仕様 パート 1: 接点付き集積回路カード
  • JIS C 5953-3:2019 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの性能基準パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システムで使用する統合変調器を備えたレーザーダイオード送信機

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, イメージングコレクター

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, イメージングコレクター

  • CNS 13197-1993 光電X線イメージインテンシファイアの画像歪みの測定
  • CNS 12365-1988 光学式認識文字セット – パート 2、OCR – B 文字セット – 印刷された画像の形状とスケール

Standard Association of Australia （SAA）, イメージングコレクター

  • AS/NZS 4184.3.4:2002 医用画像機器の評価と日常テスト。 受け入れテスト。 歯科用X線装置の撮影性能
  • AS/NZS 4184.3.3:1998 医用画像部門の評価と日常的な検査。 受け入れテスト。 デジタル二次ゴニオメーター X線装置の撮影性能
  • IEC 62149-3:2023 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス — 性能基準 — パート 3: 40 Gbit/s 光ファイバー伝送システム用の変調器一体型レーザーダイオード送信機

Professional Standard - Energy, イメージングコレクター

  • NB/T 11081-2023 太陽光発電モジュールの赤外線サーモグラフィー (TIS) 検査の技術仕様
  • NB/T 10433-2020 太陽光発電建設プロジェクトにおける音声・映像資料の収集・アーカイブ仕様書

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, イメージングコレクター

  • DB37/T 2888-2016 中解像度イメージング分光放射計（MODIS）リモートセンシング画像を使用した小麦生育モニタリングに関する技術規制

RO-ASRO, イメージングコレクター

PL-PKN, イメージングコレクター

  • PN T01303-03-1991 半導体デバイス。 集積回路。 アナログ集積回路。 測定方法
  • PN T01303-03-A1-1991 半導体デバイス。 集積回路、アナログ集積回路測定法改訂 I

ECIA - Electronic Components Industry Association, イメージングコレクター

  • CB16-1999 統合受動デバイス (IPD) の定義

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, イメージングコレクター

  • EN 62149-3:2004 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの性能基準パート 3: 2 5 Gbit/s 変調器統合レーザーダイオードトランスミッター

Compressed Gas Association (U.S.), イメージングコレクター

American National Standards Institute （ANSI), イメージングコレクター

  • ANSI/ASTM E1260:1995 光学式非結像光シンチレーション装置を用いた水霧中の水滴のサイズ特性の測定方法

International Telecommunication Union (ITU), イメージングコレクター

  • ITU-R BT.1664-2003 16:9 ラスターを使用した大画面デジタル イメージング アプリケーション向けの画像のさまざまなアスペクト比の表現
  • ITU-R BT.1664 FRENCH-2003 16:9 ラスターを使用した大画面デジタル イメージング アプリケーション向けのさまざまな画像アスペクト比の表現
  • ITU-R BT.1664 SPANISH-2003 16:9 ラスターを使用した大画面デジタル イメージング アプリケーション向けのさまざまな画像アスペクト比の表現

Lithuanian Standards Office , イメージングコレクター

  • LST EN ISO 11380:2000 光学および光学機器 眼科用光学成形品 (ISO 11380:1994)
  • LST EN 14603-2005 情報技術光学式文字認識 OCR-B 用の英数字グリフ イメージのセット 印刷されたイメージの形状とサイズ

IT-UNI, イメージングコレクター

International Commission on Illumination (CIE), イメージングコレクター

  • CIE X036-2010 測光および放射分光法およびイメージング手法に関する CIE 専門家セミナーの議事録

European Committee for Standardization (CEN), イメージングコレクター

  • PD CEN/TR 16791:2017 人間の目によって媒介される非イメージング光効果の放射照度の定量化
  • CEN/TR 16791:2017 人間の目における光媒介の非画像効果の放射照度の定量化
  • EN 62148-11:2003 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス パッケージングおよびインターフェース規格 パート 11 14 ピン統合変調器レーザーダイオードエミッター
  • EN ISO 11807-2:2021 集積光学、用語集、パート 2: 分類のための用語
  • EN ISO 14881:2021 集積光学系、インターフェース、結合特性に関連するパラメータ
  • EN 14603:2004 情報技術 光学式文字認識 OCR-B 用の英数字グリフ イメージのセット 印刷されたイメージの形状とサイズ

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, イメージングコレクター

  • JJF 2044-2023 単一光子放出コンピュータ断層撮影法 (SPECT) の校正仕様

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., イメージングコレクター

  • IEEE 538-1976 低電圧 AC 内蔵ヒューズ電源回路ブレーカー

Aeronautical Radio Inc., イメージングコレクター

CEN - European Committee for Standardization, イメージングコレクター

ES-AENOR, イメージングコレクター

  • UNE 20-575-1981 電気光学イメージインテンシファイアの変化要因の測定

Professional Standard - Aviation, イメージングコレクター

  • HB 8428-2014 航空宇宙用複合材料のフラッシュ励起赤外線熱画像検出法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), イメージングコレクター

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), イメージングコレクター

  • SMPTE RP 133-1991 テレビモニターおよび画面録画カメラの医療診断画像テストモードの仕様

  顕微鏡集光器, 顕微鏡集光器, コンセントレーターの強度, 集中複写機, コレクター顕微鏡, 集光器の高さ, 蛍光集光器, イメージングコレクター, コンセントレーターの原理, キセノンランプコレクター, 顕微鏡集光器.

 



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