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電圧試験方法

電圧試験方法は全部で 39 項標準に関連している。

電圧試験方法 国際標準分類において、これらの分類:電気工学総合、 断熱材、 ワイヤーとケーブル、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 電気、磁気、電気および磁気測定、 電灯および関連器具、 トランス、リアクトル、インダクタ、 電子管、 半導体材料、 半導体ディスクリートデバイス。


Group Standards of the People's Republic of China, 電圧試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電圧試験方法

RU-GOST R, 電圧試験方法

Professional Standard - Electron, 電圧試験方法

  • SJ 2658.3-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 逆電圧試験方法
  • SJ 2315-1983 直流デジタル電圧計の試験方法
  • SJ 2944-1988 交流デジタル電圧計の試験方法
  • SJ 1872-1981 ガスレーザー点火電圧の試験方法
  • SJ 1717-1981 パワークライストロンのパルス電圧試験方法
  • SJ 2140-1982 シリコンツェナーダイオードの制限電圧試験方法
  • SJ 2141-1982 シリコンツェナーダイオードの耐圧試験方法
  • SJ 811-1974 グロー放電計数管点火電圧の試験方法
  • SJ 1394-1978 ガス放電騒音管の発火電圧試験方法
  • SJ 966-1975 シリコンスイッチングダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ/T 11082-2000 電子管のホットフィラメントまたはフィラメントの電流と電圧の試験方法
  • SJ/T 11082-1996 電子管のホットフィラメントまたはフィラメントの電流と電圧の試験方法
  • SJ 812-1974 グロー放電計数管の暗室開始電圧の試験方法
  • SJ 1387-1978 ノイズダイオードのフィラメント電流とフィラメント電圧の試験方法
  • SJ 2354.2-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ 2214.4-1982 半導体フォトダイオードの逆耐圧試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電圧試験方法

  • GB 12272-1990 高周波同軸コネクタ 高周波高電位電圧試験方法
  • GB 12117-1989 アナログ電子電圧計の試験方法

Professional Standard - Light Industry, 電圧試験方法

  • QB/T 4353-2012 高輝度ガス放電ランプ 超高トリガーパルス電圧の試験方法

AENOR, 電圧試験方法

  • UNE-EN 60156:1997 主電源周波数での絶縁破壊電圧を決定するための絶縁液体の試験方法

Professional Standard - Aerospace, 電圧試験方法

  • QJ 483-1990 アルミニウム及びアルミニウム合金絶縁陽極酸化皮膜の耐電圧試験方法

PL-PKN, 電圧試験方法

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 電圧試験方法

  • YS/T 679-2008 外部半導体における少数キャリア拡散長の定常状態表面光起電力測定法

British Standards Institution (BSI), 電圧試験方法

  • BS IEC 60747-5-15:2022 電気反射スペクトルに基づく半導体デバイス・光電子デバイス発光ダイオードのフラットバンド電圧試験方法
  • BS IEC 60747-5-16:2023 半導体デバイス - オプトエレクトロニクスデバイス 発光ダイオード GaNベースの発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法

Indonesia Standards, 電圧試験方法

  • SNI 04-6271-2000 押出絶縁体を使用した電力ケーブルの定格電圧の試験方法

RO-ASRO, 電圧試験方法





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