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顕微鏡の校正

顕微鏡の校正は全部で 17 項標準に関連している。

顕微鏡の校正 国際標準分類において、これらの分類：計測学と測定の総合、 光学機器、 長さと角度の測定。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 顕微鏡の校正

• JJF 1914-2021 金属顕微鏡の校正仕様
• JJF 1402-2013 生物顕微鏡校正仕様書
• JJF 1092-2002 光断面顕微鏡校正仕様書
• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様
• JJF 1351-2012 走査型プローブ顕微鏡の校正仕様
• JJF 1917-2021 顕微鏡校正仕様
• JJF(机械) 1066-2021 超音波顕微鏡の性能校正仕様書
• JJF(机械)1066-2021 超音波顕微鏡の性能校正仕様書

Group Standards of the People's Republic of China, 顕微鏡の校正

• T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 顕微鏡の校正

• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

International Organization for Standardization (ISO), 顕微鏡の校正

• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

Association Francaise de Normalisation, 顕微鏡の校正

• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

British Standards Institution (BSI), 顕微鏡の校正

• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド

RU-GOST R, 顕微鏡の校正

• GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法
• GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 校正方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 顕微鏡の校正

• JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

その他：   電子顕微鏡の校正, 光学顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正, 光学顕微鏡の校正, 電子顕微鏡の校正方法, 電子顕微鏡の校正, 測定顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正方法, 走査型電子顕微鏡の校正, 走査型顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正, 生物顕微鏡の校正, 原子吸光校正 校正, 光学顕微鏡を校正する方法, ph校正 校正, 電子顕微鏡の校正, 顕微鏡の校正手順, 電子顕微鏡校正ブロック.