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테스트 마이그레이션 속도

모두 3항목의 테스트 마이그레이션 속도와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 테스트 마이그레이션 속도와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 소재, 반도체 개별 장치.


Professional Standard - Electron, 테스트 마이그레이션 속도

  • SJ/T 11488-2015 반절연 갈륨비소 저항률, 홀 계수 및 이동도 테스트 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 테스트 마이그레이션 속도

  • ASTM F76-08(2016)e1 단결정 반도체의 저항률과 홀 계수를 측정하고 홀 이동도를 결정하기 위한 표준 테스트 방법

British Standards Institution (BSI), 테스트 마이그레이션 속도

  • BS IEC 62880-1:2017 반도체 소자 스트레스 마이그레이션 테스트 표준 - 구리 스트레스 마이그레이션 테스트 표준




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