ZH
EN
JP
ES
RU
DE

X선 산란 장비 X선 회절계

모두 422항목의 X선 산란 장비 X선 회절계와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 X선 산란 장비 X선 회절계와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 방사선방호, 비파괴 검사, 금속 재료 테스트, 분석 화학, 산업안전, 산업위생, 방사선 측정, 원자력공학, 어휘, 의료 장비, 전선 및 케이블, 화학 제품, 금속 생산, 기르다, 비철금속, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 입자 크기 분석, 스크리닝, 내화물, 비금속 광물, 플라스틱, 석유 및 가스 산업 장비, 봄, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 금속 광석, 종합 전자 부품, 천문학, 측지학, 지리학, 복합강화재료, 공기질, 무기화학, 건축 자재, 계측 및 측정 합성, 정보 기술 응용, 발전소 종합, 길이 및 각도 측정, 표면 처리 및 도금, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 반도체 소재, 석유제품 종합, 범죄 예방, 연료, 수질, 고무 및 플라스틱 제품, 페인트 성분, 파이프 부품 및 파이프, 세라믹.

Professional Standard - Machinery, X선 산란 장비 X선 회절계

• JB/T 11144-2011 X선 회절계
• JB/T 9400-1999 X선 회절계.기술적 조건
• JB/T 9400-2010 X선 회절계 기술 조건
• JB/T 11145-2011 X선 형광 분광계
• JB/T 5482-2011 X선 결정 배향 장비
• JB/T 9394-1999 X선 응력 측정기 기술 조건
• JB/T 9399-1999 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
• JB/T 9399-2010 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
• JB/T 5482-2004 X선 결정 배향 장비 기술 조건
• JB/T 9394-2011 비파괴 검사 장비 X선 스트레스 테스터의 기술 조건
• JB/T 11234-2011 비파괴 검사 장비 산업용 연X선 탐상기
• JB/T 12456-2015 비파괴검사장비 회로기판 검사용 X선 검출기의 기술조건
• JB/T 8426-1996 금속 코팅 니켈-인 합금 코팅에 대한 X선 회절 시험 방법
• JB/T 8387-2010 비파괴 검사 장비용 산업용 X선관의 주요 매개변수
• JB/T 11608-2013 비파괴 검사 장비 산업용 X선 탐상 장치
• JB/T 6215-2011 비파괴 검사 장비 산업용 X선관 시리즈 유형 스펙트럼
• JB/T 12457-2015 비파괴검사장비 회로기판 검사용 엑스선 검출기의 성능시험방법
• JB/T 11607-2013 비파괴 검사 장비 산업용 X선 타이어 검사 시스템
• JB/T 7808-2010 비파괴 검사 장비 산업용 X선 탐상기 주요 매개변수 시리즈
• JB/T 5453-2011 비파괴 검사 장비 산업용 X선 영상 강화 영상 시스템
• JB/T 11278-2012 비파괴 검사 장비 산업용 X선 탐상기의 일반 기술 조건

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• JJG 629-2014 다결정 X선 회절계의 교정 절차
• JJG 629-1989 다결정 X선 회절계의 교정 절차
• JJG(地质) 1014-1990 다결정 X선 회절계의 교정 절차
• JJG 480-2007 X선 두께 측정기 교정 규정
• JJG 480-1987 X선 두께 측정기 교정 규정
• JJG 810-1993 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차
• JJG 1050-2009 X선 및 γ선 골밀도계의 교정 절차
• JJG(地质) 1006-1990 유형 3080E X선 형광 분광계의 교정 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
• GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
• GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
• GB/T 20726-2006 반도체 검출기 X선 분광기의 일반 원리
• GB/Z 41286-2022 비파괴 검사 장비 X선 파이프 크롤러
• GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
• GB/T 42676-2023 반도체 단결정 품질검사 X선 회절법
• GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
• GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
• GB/T 26595-2011 비파괴 검사 장비용 원주형 X선관의 기술 조건
• GB/T 13221-2004 X선 소각 산란법을 이용한 나노분말 입도 분포 측정
• GB/Z 41476.3-2022 비파괴 검사 장비 1MV 미만 X선 장비에 대한 방사선 방호 규칙 3부: 450kV 미만 X선 장비에 대한 방사선 방호 계산 공식 및 차트
• GB/T 26838-2011 비파괴 검사 장비 휴대용 산업용 X선 탐상기
• GB/Z 41399-2022 비파괴 검사 장비 산업용 X선 디지털 이미징 시스템
• GB/T 23413-2009 나노물질의 입자 크기 및 미세 변형률 측정 X-선 회절선 확장 방법
• GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
• GB/T 26836-2011 비파괴 검사 장비용 서멧 X선관의 기술 조건
• GB/T 26594-2011 비파괴 검사 장비용 산업용 X선관 성능 시험 방법
• GB/T 26830-2011 비파괴 검사 장비 고주파 일정 전위 산업용 X선 탐상기
• GB/T 26833-2011 비파괴 검사 장비용 산업용 X선관의 일반 기술 조건
• GB/T 30793-2014 이산화티타늄 안료의 아나타제 대 금홍석의 비율을 결정하기 위한 X선 회절 방법
• GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
• GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
• GB/T 12162.4-2010 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
• GB/T 26592-2011 비파괴검사기 산업용 X선 탐상기 성능시험방법
• GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
• GB/T 26593-2011 비파괴 검사 장비 산업용 X선 CT 장치의 성능 테스트 방법
• GB/T 26835-2011 비파괴 검사 장비용 산업용 X선 CT 장비의 일반 기술 조건
• GB/T 26837-2011 비파괴 검사 장비 고정식 및 이동식 산업용 X선 결함 탐지기

RU-GOST R, X선 산란 장비 X선 회절계

• GOST 22091.4-1986 X선 장치 X선관 전압 측정 방법
• GOST 22091.5-1986 X선 장치 X선관 전류 측정 방법
• GOST 22091.3-1984 X선 장치. X선 조사 조사야 크기 및 작업빔 개방각 측정 방법
• GOST 22091.7-1984 X선 장비. X선 조사장 에너지 자속 밀도 분포의 균일성을 위한 측정 방법
• GOST 20337-1974 X선 장치 - 용어 및 정의
• GOST 22091.2-1984 X선 장비.X선 전자 사이클로트론 박스의 주입 전류 및 전압 측정 방법
• GOST 22091.10-1984 X선 장치 X선관 외벽의 알루미늄 또는 구리 당량을 측정하는 방법
• GOST 22091.14-1986 X선기기 X선 에너지속밀도(광속밀도) 측정방법
• GOST R IEC 61953-2001 진단용 X선 영상장비 유방조영술을 위한 후방산란 그리드의 특성
• GOST 22091.6-1984 X선 장치 X선 노광 파워 및 펄스당 노광량을 측정하는 방법
• GOST 22091.11-1980 X선장치 - 준비시간 측정방법
• GOST 29025-1991 비파괴 검사X선 전자 광학 변환기 및 전자 X선 그래픽 결함 검사 장비를 갖춘 X선 TV 결함 검사 장비일반 기술 요구 사항
• GOST 25645.118-1984 개별 소스의 X선 방사선 에너지 스펙트럼 및 각도 좌표
• GOST 22091.0-1984 X선 장치 - 매개변수 측정을 위한 일반 요구 사항
• GOST 22091.13-1984 X선 장치 그리드와 음극 사이의 정전용량 측정 방법
• GOST 22091.15-1986 X선장치 전기절연강도 시험방법
• GOST 22091.1-1984 X선 장치 - 필라멘트 전류 및 전압 측정 방법
• GOST 22091.9-1986 X선 장비 효과적인 초점 크기 측정 방법
• GOST R 8.698-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 나노입자 및 필름의 공간 매개변수 소각 X선 산란 회절계를 사용한 측정 방법
• GOST R 53203-2008 석유 제품 - 파장 산란 X선 형광 분광법을 통한 황 측정
• GOST 25645.117-1984 은하외 확산 X선 방사선 및 감마 방사선 각도 및 에너지 분포 특성
• GOST 25645.131-1986 은하수의 확산된 X선 방사선과 감마선 각도 및 에너지 분포 특성
• GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법

Professional Standard - Agriculture, X선 산란 장비 X선 회절계

• 77药典 四部-2015 0451 X선 회절법
• 57药典 四部-2020 0451 X선 회절법
• 2355药典 二部-2010 부록 IX FX-선 분말 회절 방법
• 784兽药典 一部-2015 부록 목차 0400 분광법 0451 X선 회절법
• JJG(教委) 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차
• SN/T 5579-2023 X선 회절법을 이용한 탄소재료의 흑연화도 측정
• SN/T 5499-2023 광물성 제품의 활석 함량 측정 X선 회절 전체 스펙트럼 피팅 방법
• SN/T 3797-2014 건축용 내화물 내 지르코니아 섬유의 스크리닝 방법 X선 회절
• SN/T 3323.7-2023 산화물 스케일 파트 7: 유리 α-SiO2 함량 X선 회절 K 값 방법 결정

PT-IPQ, X선 산란 장비 X선 회절계

• E E 14-1971 X선 회절 분석

工业和信息化部, X선 산란 장비 X선 회절계

• YB/T 5338-2019 강철의 오스테나이트 정량 측정을 위한 X선 회절계 방법
• YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
• YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
• SH/T 1827-2019 X선 회절법을 이용한 플라스틱의 결정화도 측정
• YB/T 5360-2020 X선 회절법을 이용한 금속재료의 정량적 극점도 측정
• HG/T 5705-2020 X선 회절법을 이용한 수소화 촉매 내 이산화티타늄 상 함량 측정
• YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X선 산란 장비 X선 회절계

• KS M 0043-2009 X선 회절 분석
• KS A 4816-1980(1995) 후방산란 X선 감소 페인트
• KS A 4816-1985 후방산란 X선 감소 페인트
• KS M 0043-2009(2019) X선 회절 분석의 일반 규칙
• KS A 4816-2000 후방산란 X선을 줄이는 코팅
• KS A 4729-1997 항X선 산란 그리드
• KS A 4902-1979 X선 장비 해상도 테스트 차트
• KS A 4902-1987 X선 장비 해상도 테스트 차트
• KS C IEC 60627:2003 엑스레이 영상진단장비 - 일반 및 유방조영술용 산란방지 그리드의 특성
• KS A 4901-2002 X선 장비용 방사선 산란 그리드의 특성
• KS A 4610-2006 X선 및 감마선 방사선량당량측정기
• KS A IEC 61137-2003(2013) 방사선 방호 장비 - 설치자 표면 오염 모니터링 키트 - 저에너지 X선 및 감마선 방출기
• KS A 4901-2002(2012) X-Ray 장비에 사용되는 산란 방지 그릴의 특성
• KS C IEC 60759:2009 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
• KS C IEC 60759-2009(2019) 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
• KS C IEC 60627:2019 진단용 X선 영상 장비 - 범용 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특징
• KS D ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
• KS C IEC 60601-2-8:2012 의료 전기 장비 2-8부: 치료용 X선 기기
• KS C IEC 60601-2-8:2017 의료 전기 장비 파트 2-8: 치료용 X선 기기
• KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS D ISO 3497-2002(2017) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - X선 분광계 방법
• KS A ISO 14146:2007 방사선 방호: X선 및 감마선과 함께 사용하기 위한 개인 선량계 프로세서의 주기적인 평가 기준 및 성능 한계
• KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
• KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정

Association Francaise de Normalisation, X선 산란 장비 X선 회절계

• NF C74-111:1985 의료 전기 장비 엑스선 장비 엑스선 장비 방사선 진단 엑스선관 조립 구조 및 테스트 요구 사항
• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• NF M60-522:1998 X선 및 감마선 방사선 - 직접 또는 간접 판독 커패시터 코어 선량계
• NF A09-282:2019 위상 정량화를 위해 X선 회절을 이용한 비파괴 검사
• NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 대기 질 벌크 재료 파트 3: X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• NF EN 60627:2015 X선 영상진단 장비 및 유방촬영술에 일반적으로 사용되는 산란 방지 그리드의 특성
• NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양
• NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
• NF C74-121:2002 X선 영상진단장비 일반용 및 유방촬영용 방산그리드의 특성
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
• NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 - 용어 - 파트 11: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절
• NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
• NF ISO 22262-3:2017 대기 질 고체 물질 3부: X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 기본 원리
• NF EN 13925-2:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 2부: 절차
• NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
• NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 3부: 장비
• NF C74-121*NF EN 60627:2015 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X선 산란 장비 X선 회절계

• JIS Z 4606:2007 방사선 촬영 테스트용 산업용 X선 장비
• JIS C 3407:2003 X선 장비용 고전압 케이블
• JIS Z 4324:1997 X, 감마선 영역 모니터
• JIS H 7805:2005 X선 회절계를 이용한 금속 결정의 결정립 크기 측정 방법
• JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
• JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
• JIS Z 4615:2007 산업용 X선 장비의 유효 초점 크기 측정
• JIS Z 4615:1993 산업용 X선 장비의 유효 초점 크기 측정

Indonesia Standards, X선 산란 장비 X선 회절계

• SNI 18-6938-2002 휴대용 X선 및 α선 방사선 검출기 사양

American National Standards Institute （ANSI), X선 산란 장비 X선 회절계

• ANSI/ASTM E915:1996 잔류응력 측정을 위한 X선 회절분석기의 검증방법
• ANSI N43.2-2001 X선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전성
• ANSI/ASTM E1426:1994 X선 회절량을 이용한 잔류응력 측정방법
• ANSI N42.26-1995 방사선 방호 장비 모니터링 장비 개인용 X선 및 감마선 방사선 경고 장치

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X선 산란 장비 X선 회절계

• GB/T 37983-2019 결정 재료 X선 회절계 회전 배향 시험 방법
• GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
• GB/T 39520-2020 스프링 잔류응력에 대한 X선 회절 시험 방법
• GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
• GB/T 37929-2019 비파괴검사장비 엑스선관 수명시험 방법
• GB/T 39860-2021 X-선 회절법을 이용한 라텍스 제품 표면의 잔류 미네랄 분말의 신속한 식별
• GB/T 37930-2019 비파괴 검사 장비 자동차 휠 허브 X선 실시간 영상 검출기에 대한 기술 요구 사항

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X선 산란 장비 X선 회절계

• YB/T 5337-2006 금속 격자 상수의 결정 방법 X선 회절계 방법
• YB/T 5338-2006 X-선 회절계 방법을 사용하여 강철 내 잔류 오스테나이트의 정량 측정
• YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석
• YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
• YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법

Professional Standard - Nuclear Industry, X선 산란 장비 X선 회절계

• EJ/T 1100-1999 X선 형광 기록 도구
• EJ/T 767-1993 방사성 소스에 의해 여기되는 X선 형광 분석기
• EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기
• EJ/T 553-1991 분말 X선 회절법을 이용한 광물 단위 셀 매개변수 결정
• EJ/T 684-1992 휴대용 소스 여기 X선 형광 분석기

British Standards Institution (BSI), X선 산란 장비 X선 회절계

• BS EN 13925-3:2005(2009) 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
• BS EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
• BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• BS EN 61953:1998 진단용 X선 영상장비용 유방조영술 비산방지 그릴의 특성
• BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
• BS ISO 23484:2023 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• BS ISO 22262-3:2016 공기 질 벌크 재료 X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
• PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• BS EN 13925-2:2003(2008) 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 절차
• BS EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 절차
• BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
• 22/30451246 DC BS IEC 62463 방사선 방호 장비 인력 안전 검사용 X선 시스템
• BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
• BS EN 13925-1:2003(2008) 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 일반 원리
• BS EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 일반 원리
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
• BS EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 용어입니다.
• BS IEC 62963:2020 방사선 방호 장비 병/캔 액체용 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 검출 시스템
• BS IEC 62945:2018 방사선 방호 계측을 통해 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 보안 검사 시스템의 영상 성능을 측정합니다.
• BS IEC 62709:2014 방사선 방호 장비 인력의 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정
• BS IEC 62463:2010 기구를 이용한 방사선 방호, 금지물품 휴대 및 엑스레이 시스템을 검토하는 보안요원
• BS ISO 22278:2020 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 평행 X선빔 X선 회절법을 이용한 단결정박막(웨이퍼)의 결정질 결정시험방법
• BS EN ISO 20884:2011 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광계
• 18/30335408 DC BS IEC 62963 방사선 방호 장비 병/캔 액체 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 검사 시스템
• BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
• BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
• BS EN 60627:2001 X선 진단영상장비 일반 및 흉부종양 산란방지 그리드의 특성
• BS EN 60627:2015 X선 진단영상장비 일반 및 흉부종양 산란방지 그리드의 특성
• BS ISO 20804:2022 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 다공성 및 미립자 시스템의 비표면적 측정

SE-SIS, X선 산란 장비 X선 회절계

• SIS SS IEC 627:1986 엑스레이 장비. X선 장비의 산란 방지 격자의 특성
• SIS SS IEC 580:1986 엑스레이 장비. 노출 면적 승수
• SIS SS IEC 759:1986 핵실험 장비. 반도체 X선 에너지 분광계 검출 프로그램
• SIS SS IEC 463:1983 핵실험 장비. 방사선 보호를 위한 휴대용 저에너지 X 또는 감마선 노출 선량계
• SIS SS IEC 395:1983 핵실험 장비. 방사선 보호를 위한 휴대용 X선 또는 감마선 노출 선량계 및 모니터
• SIS SS IEC 656:1981 핵실험 장비. 고순도 X선 및 감마선 게르마늄 검출기 테스트 절차

American Society for Testing and Materials (ASTM), X선 산란 장비 X선 회절계

• ASTM UOP905-20 X-선 회절에 의한 백금 응집
• ASTM UOP905-08 X-선 회절에 의한 백금 응집
• ASTM UOP905-91 X-선 회절에 의한 백금 응집
• ASTM E915-96 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
• ASTM E915-16 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
• ASTM E915-96(2002) 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
• ASTM F3094-14(2022) 산란된 X선 광원으로부터 의료용 X선 투시용 X선 차폐복의 보호 여부를 결정하기 위한 표준 시험 방법
• ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양
• ASTM E915-19 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 검증을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E915-10 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E915-21 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 표준 사례
• ASTM F3094-14 산란된 X선 광원으로부터 의료용 X선 투시법에 사용되는 X선 차폐복의 보호 여부를 결정하기 위한 표준 시험 방법
• ASTM E1172-87(2001) 파장 확산 X선 분광계 설명에 대한 표준 사례
• ASTM F1467-18 X-ray 테스터 사용에 대한 표준 가이드(
• ASTM E1426-14(2019)e1 X선 회절 기법을 이용한 잔류 응력 측정을 위한 X선 탄성 상수에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1931-97 X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-16(2022) X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-97(2003) X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-09 X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1172-87(1996) 파장 분산형 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 사례
• ASTM E1426-14 X선 회절 기법을 이용한 잔류 응력 측정에 사용되는 X선 탄성 상수에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1931-16 비계산 X선의 Compton 산란 이미징에 대한 표준 가이드
• ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
• ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
• ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E1172-87(2011) 파장 확산 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 실습
• ASTM D5187-91(2007) X-선 회절을 이용한 배소 석유 코크스의 결정 크기 측정 시험 방법
• ASTM D934-80(2003) 물 퇴적물에서 결정성 화합물을 식별하기 위한 X선 회절 방법
• ASTM D5187-91(2002) X-선 회절을 이용한 배소 석유 코크스의 결정 크기 측정 시험 방법
• ASTM D5187-91(1997) X-선 회절을 이용한 배소 석유 코크스의 결정 크기 측정 시험 방법
• ASTM D5357-98 X-선 회절을 통한 제올라이트 나트륨의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E2860-12 X선 회절을 이용한 베어링강의 잔류응력 측정을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D8352-20 X-선 회절을 통한 제올라이트 베타의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5357-03(2008)e1 X-선 회절을 통한 제올라이트 나트륨의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5357-03(2013) X-선 회절을 통한 제올라이트 나트륨의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5357-03 X선 회절을 이용한 나트륨 제올라이트 A형의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 시험 방법
• ASTM E2860-20 베어링강의 X선 회절을 이용한 잔류응력 측정의 표준시험방법
• ASTM E3294-22 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D5357-19 X선 회절을 이용한 나트륨 제올라이트 A형의 상대적 결정화도 측정을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D934-08 X선 회절을 사용하여 물 퇴적물에서 결정화된 화합물을 측정하기 위한 표준 관행
• ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D934-80(1999) X선 회절을 통해 하이드로폼 퇴적물에서 결정질 화합물을 식별하기 위한 표준 관행
• ASTM F3419-22 X선 회절(XRD) 기술을 이용한 말 표면 재료의 광물학적 특성에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D5758-01(2021) X선 회절을 이용한 제올라이트 ZSM-5의 상대적 결정화도에 대한 표준 시험 방법
• ASTM E3294-23 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D5381-93(2014) 안료 및 필러의 X선 형광(XR) 분광법에 대한 표준 가이드

Universal Oil Products Company (UOP), X선 산란 장비 X선 회절계

• UOP 905-2008 X-선 회절에 의한 백금 응집

VN-TCVN, X선 산란 장비 X선 회절계

• TCVN 6596-2000 X선 진단 방사선학 및 X선 형광투시 발생기, X선관 및 콜리메이터 테스트 절차

Professional Standard - Education, X선 산란 장비 X선 회절계

• JY/T 0587-2020 다결정 X선 회절 방법에 대한 일반 규칙
• JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
• JY/T 009-1996 회전표적 다결정 X선 유도체화 방법의 일반 원리
• JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.
• JY/T 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광법에 대한 일반 규칙
• JY/T 0569-2020 파장 분산형 X선 형광 분광법의 일반 원리

Group Standards of the People's Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• T/CAME 42-2022 X선 뼈 연령 측정기의 기술 요구 사항
• T/CSTM 00166.2-2020 그래핀 소재 특성 분석 2부 X선 회절법
• T/CSTM 00901-2023 휴대용 X선 형광 분광계의 교정 사양
• T/CSCM 05-2020 소각 X선 산란을 통한 섬유 내 미세기공 분포 측정
• T/CASAS 014-2021 고해상도 X선 회절을 통한 탄화규소 기판의 기저면 곡률 측정
• T/YXNX 004-2021 알루미노실리케이트 내화물의 멀라이트 상 함량 측정(X선 회절 전체 스펙트럼 피팅 방법)

机械电子工业部, X선 산란 장비 X선 회절계

• JB/T 5982-1991 X 선 방향 기기 기술 조건

International Organization for Standardization (ISO), X선 산란 장비 X선 회절계

• ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
• ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
• ISO/FDIS 23484 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• ISO 23484:2023 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
• ISO 22262-3:2016 공기 질 벌크 재료 3부: X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
• ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 23071:2021 내화 제품 X-선 회절법을 통한 탄소 함유 내화 재료의 환원종 측정
• ISO/CD 6868:2023 작업장 공기 중 X선 분말 회절을 사용하여 벌크 물질 내 석영 및 크리스토발석의 정량 측정
• ISO 22278:2020 파인 세라믹스(첨단 세라믹 및 첨단 산업용 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절법에 의한 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질 측정 시험 방법
• ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
• ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
• ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• JJF 1613-2017 스침입사X선 반사막두께 측정기의 교정사양
• JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
• JJF 1952-2021 X선 형광 황 측정기의 교정 사양
• JJF 1275-2011 X선 안전검사 장비의 교정 사양
• JJF 1256-2010 X선 단결정 배향 장비의 교정 사양
• JJF 1306-2011 X선 형광 코팅 두께 측정기 교정 사양
• JJF 1473-2014 의료 진단용 X선 비중재 검류계의 교정 사양
• JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

Society of Automotive Engineers (SAE), X선 산란 장비 X선 회절계

• SAE HS-784-2003 X선 회절을 이용한 SAE 잔류 응력 측정
• SAE J784-1971 X선 회절에 의한 잔류 응력 측정

SAE - SAE International, X선 산란 장비 X선 회절계

• SAE J784A-1971 X선 회절에 의한 잔류 응력 측정

国家质量监督检验检疫总局, X선 산란 장비 X선 회절계

• SN/T 4760-2017 수입 아연정광 식별을 위한 X선 회절법

German Institute for Standardization, X선 산란 장비 X선 회절계

• DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
• DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
• DIN EN 60627:2006 엑스레이 영상진단장비 - 일반용 및 유방촬영용 산란방지그리드의 특성
• DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
• DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
• DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• DIN EN 60627:2016-08 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
• DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
• DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
• DIN EN 60627:2016 X선 영상 진단 장비 일반 및 유방 촬영용 산란 방지 그리드의 특성(IEC 60627-2013) 독일어 버전 EN 60627-2015
• DIN EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
• DIN EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
• DIN EN 13925-2:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 2부: 절차
• DIN ISO 15632:2015 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 발산 X선 분광계에 대한 기기 사양(ISO 15632-2012)
• DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
• DIN EN 13925-1:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 1부: 일반 원리
• DIN IEC 62709:2015 방사선 방호 장비 인원의 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정(IEC 62709-2014)
• DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
• DIN 51577-4:1994 광유 및 유사 제품의 탄화수소 검사 염소 및 브롬 함량 측정 저가형 기기의 에너지 산란 X선 분광계를 사용한 분석

International Electrotechnical Commission (IEC), X선 산란 장비 X선 회절계

• IEC 61953:1997 X선 영상진단장비 유방조영술용 산란방지그리드의 특성
• IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
• IEC 61344:1996 방사선 방호 계측 감시 장비 X선 및 감마선 방사선에 대한 개인 경보 장치
• IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비
• IEC 60759:1983 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
• IEC 60627:1978 X선 장비에 사용되는 산란 방지 그리드의 특성
• IEC 61137:1992 방사선 방호 장비 고정형 개인 표면 오염 모니터링 장치 저에너지 X선 및 감마선 방출기
• IEC 62709:2014 방사선 방호 장비 직원 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정
• IEC 60759:1983/AMD1:1991 반도체 X선 분광기 표준 시험 절차 수정 1
• IEC 62463:2010 방사선 방호 장비 개인 안전 및 위험물 운송을 위한 차폐용 X선 시스템
• IEC 62963:2020 방사선 방호 장비 병/캔 액체용 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 검사 시스템
• IEC 62945:2018 방사선 방호 장비 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 보안 검사 시스템의 영상 성능 측정
• IEC 60627:2001 진단용 X선 영상장비용 범용 및 대형 패턴 산란 방지 격자의 특성
• IEC 60627:2013 진단용 X선 영상장비, 범용 및 대형 패턴 산란 방지 격자의 특성

European Committee for Standardization (CEN), X선 산란 장비 X선 회절계

• EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차

Danish Standards Foundation, X선 산란 장비 X선 회절계

• DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• DS/EN 15305/AC:2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• DS/EN 15305:2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• DS/EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• DS/EN 13925-1:2003 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
• DS/EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
• DS/EN 60627/Corr.:2003 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• DS/EN 60627:2002 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성

Lithuanian Standards Office , X선 산란 장비 X선 회절계

• LST EN 13925-3-2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• LST EN 15305-2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• LST EN 15305-2008/AC-2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• LST EN 60627+AC-2003 진단용 X선 영상 장비 및 유방 조영술용 일반 산란 방지 그리드의 특성(IEC 60627:2001)
• LST EN 13925-2-2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• LST EN 13925-1-2004 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
• LST EN 1330-11-2007 비파괴 검사 용어 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어

Professional Standard - Customs, X선 산란 장비 X선 회절계

• HS/T 12-2006 X선 회절법을 이용한 활석, 녹니석, 마그네사이트의 혼합상의 정량분석

AENOR, X선 산란 장비 X선 회절계

• UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• UNE 20617:1981 X선 장비에 사용되는 산란 방지 그리드의 특성
• UNE-EN 60627:2002 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• UNE-EN 15305:2010 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• UNE-EN 13925-2:2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• UNE-EN 13925-1:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리

Professional Standard - Building Materials, X선 산란 장비 X선 회절계

• JC/T 1085-2008 시멘트용 X선 형광 분석기

Professional Standard - Geology, X선 산란 장비 X선 회절계

• DZ 0029-1992 HYX—3형 마이크로컴퓨터 X선 형광 측정기

Standard Association of Australia （SAA）, X선 산란 장비 X선 회절계

• AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
• AS 2879.3:1991 산화알루미늄 X선 회절을 통한 알파 알루미나 함량 측정
• AS 2879.3:2010(R2013) X선 회절법을 이용한 알루미나 내 알파 알루미나 함량 측정
• AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• AS 2879.3:2010 알루미나 파트 3: X선 회절을 통한 알파 알루미나 함량 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, X선 산란 장비 X선 회절계

• SN/T 3975-2014 보크사이트 광물의 식별 방법 X선 회절법
• SN/T 4008-2013 분말 X선 회절법을 이용한 활석의 신속한 정성 스크리닝
• SN/T 3231-2012 활석의 석면 함량 측정 편광현미경-X선 회절 분광법
• SN/T 2731-2010 비금속 광물 중 석면의 정성적 방법 X선 회절-현미경 관찰
• SN/T 3514-2013 전기강판의 결정립 방향성 및 비방향성을 식별하는 방법 조직 결정을 위한 X선 회절 방법

Professional Standard - Public Safety Standards, X선 산란 장비 X선 회절계

• GA/T 2079-2023 법의학 광물 테스트 X선 회절
• GA/T 1064-2013 X선 소스 노화 시험기의 교정 사양
• GA/T 1422-2017 법의학 일반 폭발성 부품 테스트 X선 회절 방법

GOSTR, X선 산란 장비 X선 회절계

• GOST 6912.2-1993 산화알루미늄 X선 회절법에 의한 α-알루미나 측정

水利部, X선 산란 장비 X선 회절계

• SL 536-2011 X선 회절응력 측정장치의 교정방법
• SL 547-2011 수경금속구조물의 잔류응력 시험방법 X선 회절법

国家能源局, X선 산란 장비 X선 회절계

• SY/T 7324-2016 X선 형광 기록 장비 교정 방법
• SY/T 5163-2018 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법

工业和信息化部/国家能源局, X선 산란 장비 X선 회절계

• JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
• JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기
• JB/T 12962.1-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 1부: 일반 기술

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, X선 산란 장비 X선 회절계

• EN 60627:2015 엑스레이 영상진단장비 - 일반용 및 유방촬영용 산란방지그리드의 특성
• EN 61953:1998 X선 영상 진단 장비 유방 조영술용 산란 방지 그리드의 특성 IEC 61953:1997
• EN 60627:2001 X선 영상 진단 장비 일반 및 유방 조영술용 산란 방지 그리드의 특성 IEC 60627-2001, 2002년 8월 정오표 통합

ES-UNE, X선 산란 장비 X선 회절계

• UNE-EN 60627:2015 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특성

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X선 산란 장비 X선 회절계

• GB/T 34612-2017 사파이어 크리스탈의 X선 쌍정 회절의 로킹 커브 측정 방법
• GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
• GB/T 36071-2018 비파괴 검사 장비 X선 실시간 영상 시스템 검출기 기술 요구 사항

Professional Standard - Energy, X선 산란 장비 X선 회절계

• NB/SH/T 6015-2020 X-선 회절법에 의한 ZSM-23 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
• NB/SH/T 6033-2021 X-선 회절법에 의한 ZSM-22 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
• NB/SH/T 6024-2021 X선 회절법을 이용한 ZSM-5 분자체의 상대적 결정화도 측정
• NB/SH/T 0339-2021 X선 회절법을 이용한 포자사이트 제올라이트의 단위 셀 매개변수 결정

Professional Standard - Medicine, X선 산란 장비 X선 회절계

• YY/T 0724-2009 이중 에너지 X선 골밀도 측정기의 특수 기술 조건
• YY/T 0480-2004 진단용 X선 영상 장비 일반 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특성

国家药监局, X선 산란 장비 X선 회절계

• YY/T 0724-2021 이중 에너지 X선 골밀도 측정기의 특수 기술 조건
• YY/T 0480-2021 진단용 X선 영상 장비 및 유방 조영술용 범용 산란 방지 그리드의 특성

Professional Standard - Petroleum, X선 산란 장비 X선 회절계

• SY/T 5983-1994 일라이트/스멕타이트 중간층 광물의 X선 회절 식별 방법
• SY/T 5163-1995 퇴적암 내 점토광물의 상대적 함량에 대한 X선 회절분석법
• SY/T 5163-2010 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법

Professional Standard - Electricity, X선 산란 장비 X선 회절계

• DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

未注明发布机构, X선 산란 장비 X선 회절계

• BS EN 15305:2008(2009) 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• BS ISO 20203:2005(2006) 알루미늄 생산에 사용되는 탄소질 물질의 X-선 회절법을 이용한 소성석유코크스의 결정자 크기 측정

CZ-CSN, X선 산란 장비 X선 회절계

• CSN 35 6575 Z1-1997 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차

KR-KS, X선 산란 장비 X선 회절계

• KS C IEC 60627-2019 진단용 X선 영상 장비 - 범용 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특징
• KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS C IEC 61676-2017(2022) 의료 전기 장비진단 방사선학에서 X선 관 전압의 비침습적 측정을 위한 선량 측정 장비

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X선 산란 장비 X선 회절계

• YS/T 976-2014 소성 α형 알루미나 X선 회절법에서 α-Al2O3 함량 측정

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X선 산란 장비 X선 회절계

• ANSI/IEEE Std 759-1984 반도체 X선 분광계에 대한 IEEE 표준 테스트 절차

Professional Standard - Aviation, X선 산란 장비 X선 회절계

• HB 20116-2012 항공기 엔진 블레이드 표면의 잔류 응력 결정 X선 회절 방법

Professional Standard - Electron, X선 산란 장비 X선 회절계

• SJ 20714-1998 갈륨비소 연마 웨이퍼의 서브손상층에 대한 X선 쌍정 회절 시험 방법
• SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법

IN-BIS, X선 산란 장비 X선 회절계

• IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법
• IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차

IT-UNI, X선 산란 장비 X선 회절계

• UNI 6966-1971 X-선 회절을 통한 다결정의 극성 패턴 수 결정

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X선 산란 장비 X선 회절계

• DB35/T 1914-2020 β-결정성 폴리프로필렌 파이프 및 부속품의 β-결정 함량 측정(X선 회절 방법)

Professional Standard - Petrochemical Industry, X선 산란 장비 X선 회절계

• SH/T 0625-1995 실리콘-알루미나 촉매 내 γ-Al2O 함량 측정(X선 회절 방법)

기타:   X선 회절계, 엑스레이 산란계, 소각 X선 산란 장비, X선 소각 산란계, +++++x선 회절계, +++++X선 산란 장비, 소각 X선 산란 장비, X선 산란 장비 X선 회절계, X선 회절계, X선 회절 분석기, X선 박막 회절계, 다결정 X선 회절계, X선 단결정 회절계, 단결정 X선 회절계 분석, X선 다결정 회절계, 단결정 X선 회절계.