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내열성 시험방법

모두 11항목의 내열성 시험방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 내열성 시험방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 전자 장비용 기계 부품, 보호용 장비, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 전등 및 관련 기기, 저항기.

Group Standards of the People's Republic of China, 내열성 시험방법

• T/CIE 121-2021 역전도 IGBT의 열저항 테스트 방법
• T/CSA 047-2019 발광다이오드 열임피던스 테스트 방법

Professional Standard - Electron, 내열성 시험방법

• SJ 2242-1982 라디에이터 강제 공냉식 열저항 시험 방법
• SJ 20787-2000 반도체 브리지 정류기 열 저항 테스트 방법
• SJ 1267-1977 자연 공랭 조건에서 반도체 소자 방열판의 열 저항 테스트 방법
• SJ 20788-2000 반도체 다이오드 열임피던스 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 내열성 시험방법

• GB/T 18398-2001 의류 내열성 테스트 방법 따뜻한 신체 더미 방법
• GB/T 14862-1993 반도체 집적회로 패키지 접합-케이스 열저항 테스트 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 내열성 시험방법

• KS C 2711-2001 PTC 서미스터 테스트 방법
• KS C 2711-2003 PTC 서미스터 테스트 방법

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 내열성 시험방법

• DB52/T 1104-2016 반도체 소자 접합케이스 열저항 과도현상 테스트 방법

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