ZH
EN
JP
ES
RU
DE

전자 프로브 샘플 준비

모두 17항목의 전자 프로브 샘플 준비와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 프로브 샘플 준비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 분석 화학.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 프로브 샘플 준비

• GB/T 17365-1998 금속 및 합금 전자탐침의 정량분석을 위한 시료의 제조방법
• GB/T 17366-1998 광물 암석의 전자 탐침 분석을 위한 시료 준비 방법
• GB/T 4930-1993 표준 시료의 전자 프로브 분석을 위한 일반 기술 조건
• GB/T 17363-1998 금제품의 전자탐침 정량방법
• GB/T 4930-2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 분석 표준 샘플 기술 조건에 대한 지침
• GB/T 17363.1-2009 금 제품의 금 함량 측정을 위한 비파괴 방법 1부: 전자 탐침 미세 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 프로브 샘플 준비

• GB/T 4930-2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 위한 표준시료의 기술적 조건에 대한 지침

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 전자 프로브 샘플 준비

• NEMA LL 6-1999 통합 전자 소형 형광등 샘플 준비 및 TCLP 절차

International Organization for Standardization (ISO), 전자 프로브 샘플 준비

• ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
• ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 프로브 샘플 준비

• KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
• KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석

KR-KS, 전자 프로브 샘플 준비

• KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
• KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

British Standards Institution (BSI), 전자 프로브 샘플 준비

• BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
• BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

Association Francaise de Normalisation, 전자 프로브 샘플 준비

• NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

기타:   자동 시료 준비 기기, 전자레인지 시료 준비 장비, 기기 샘플 준비, 샘플 준비 장비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자 탐침 장비용 샘플 준비, 전자탐침 장비의 시료 준비 방법, 전자 탐침 기구 시료 준비 방법, 전자 프로브 장비를 위한 샘플 준비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자 프로브 샘플 준비, 샘플 준비 장비, 전자 프로브 샘플 준비, 표준 시료 준비 장비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자레인지 시료 준비 장비, 전자 프로브 샘플 준비, 전자 프로브를 위한 샘플 준비.