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전자 프로브를 위한 샘플 준비

모두 38항목의 전자 프로브를 위한 샘플 준비와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 프로브를 위한 샘플 준비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 분석 화학, 비철금속 제품, 전등 및 관련 기기, 향신료 및 조미료, 식품 첨가물, 원자력공학, 담배, 담배 제품 및 담배 산업 장비, 세라믹, 어휘, 전기공학종합, 도로 차량 장치.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

GB/T 17365-1998 금속 및 합금 전자탐침의 정량분석을 위한 시료의 제조방법
GB/T 17366-1998 광물 암석의 전자 탐침 분석을 위한 시료 준비 방법
GB/T 4930-1993 표준 시료의 전자 프로브 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17363-1998 금제품의 전자탐침 정량방법
GB/T 4930-2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 분석 표준 샘플 기술 조건에 대한 지침
GB/T 17363.1-2009 금 제품의 금 함량 측정을 위한 비파괴 방법 1부: 전자 탐침 미세 분석
GB/T 23113-2023 방전 램프의 수은 함량 검출을 위한 샘플 준비

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

GB/T 4930-2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 위한 표준시료의 기술적 조건에 대한 지침

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

IPC TM-650 5.6-1973 인쇄 회로 샘플 준비

Association Francaise de Normalisation, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

NF V03-926*NF ISO 5502:1993 유지종자 잔류물 시험 시료의 준비
NF EN 12229:2014 스포츠 바닥재 - 니들 펀치 직물 및 합성 잔디 샘플 준비 방법
NF V32-051:1968 조미료 및 조미료 겨자씨 실험실 분석을 위한 샘플 준비
NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
NF C93-400-16-1*NF EN 60512-16-1:2008 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 16-1부: 접점 및 단자의 기계적 테스트 테스트 16a: 프로브 손상

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

NEMA LL 6-1999 통합 전자 소형 형광등 샘플 준비 및 TCLP 절차

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석

KR-KS, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

RU-GOST R, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

GOST 28106-1989 구리 음극 샘플링 및 샘플 준비, 저항 측정용 시편
GOST 28106-2015 구리 음극 저항률 측정을 위한 샘플 및 시험편의 샘플링 및 준비

British Standards Institution (BSI), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 이용한 연속주강 제품의 Mn 수지상 편석 정량분석
BS EN 60512-16-1:2008 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 접점 및 단자의 기계적 테스트 테스트 16a: 프로브 오류
20/30393735 DC BS ISO 23692 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지석 분리 정량 분석

International Organization for Standardization (ISO), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지상 편석 정량 분석
ISO/CD 17297 마이크로빔 분석 "TEM 샘플 준비에 집속 이온빔의 응용" 용어집

US-FCR, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

FCR NE-F-11-4T-1972 전자 마이크로프로브를 사용하여 PUO2-UO2 연료 펠릿의 균일성에 대한 성능 지수 결정(새로운 디자인은 유효하지 않음)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

ASTM D5139-90(1996) 원자력 발전소용 코팅 적격 시편 샘플 준비를 위한 표준 사양
ASTM D5139-19 원자력 발전소용 코팅 적격 시편 샘플 준비를 위한 표준 사양

Professional Standard - Tobacco, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

YC/T 510-2014 담배의 분자생물학적 테스트를 위한 담배 잎 시료의 준비를 위한 액체질소 방법

ES-UNE, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

UNE-EN 60512-16-1:2008 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 16-1부: 접점 및 단자의 기계적 테스트 테스트 16a: 프로브 손상

German Institute for Standardization, 전자 프로브를 위한 샘플 준비

DIN EN 60512-16-1:2009-03 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 16-1부: 접점 및 단자의 기계적 테스트 테스트 16a: 프로브 손상

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 프로브를 위한 샘플 준비

IEC 62321-2:2013 전기제품 내 특정물질 측정 2부 분해 및 분해 기계시료 준비

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