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DE분석지도 분석
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국제 분류에서 분석지도 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 표준화의 일반 원칙, 비철금속, 입자 크기 분석, 스크리닝, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 원자력공학, 감각 분석, 검은 금속, 광섬유 통신, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 비금속 광물, 비철금속 제품, 분말 야금, 범죄 예방, 종합 전자 부품, 공기질, 정보학, 출판, 품질, 그래픽 기호, 의료 장비, 유기화학, 강화 플라스틱, 건축 자재, 천연 가스, 금속 재료 테스트, 금속 광석, 정보 기술 응용, 기르다, 담배, 담배 제품 및 담배 산업 장비, 석유제품 종합, 어휘, 광전자공학, 레이저 장비, 비파괴 검사, 화학 제품, 건축 산업, 연료, 목공 장비, 반제품, 회사(기업)의 조직 및 관리, 수학, 기계, 설비 및 장비의 특성 및 설계, 방사선방호, 광학 장비.
Professional Standard - Agriculture, 분석지도 분석
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 분석지도 분석
RU-GOST R, 분석지도 분석
British Standards Institution (BSI), 분석지도 분석
- BS ISO 13322-2:2006 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 정적 이미지 분석 방법
- BS ISO 13322-1:2005 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 정적 이미지 분석 방법
- BS ISO 13322-1:2014 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 정적 이미지 분석 방법
- BS ISO 13322-2:2021 입도 분석 이미지 분석 방법 동적 이미지 분석 방법
- BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
- 20/30365224 DC BS ISO 13322-2 입자 크기 분석 이미지 분석 방법 2부 동적 이미지 분석 방법
- BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
- BS EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
- PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
- BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
- BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
- BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
- BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
- BS ISO 9276-1:1998 입자 크기 분석 결과의 그래픽 표현
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
- BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
- BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
- BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
- BS ISO 10362-1:1999+A1:2011 담배 물 속의 연기 응축수 오일 함량 측정 가스 크로마토그래피 분석 방법
- BS EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광법 분석 가이드
- BS ISO 12787:2012 화장품 분석 방법 크로마토그래피 기술을 사용한 분석 결과 검증 기준
- BS ISO 12787:2011 크로마토그래피 기법을 이용한 화장품 분석방법의 분석결과에 대한 검증기준
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
- BS EN ISO 6975:1997 천연가스 확장 분석 가스 크로마토그래피
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 분석지도 분석
International Organization for Standardization (ISO), 분석지도 분석
- ISO 13322-1:2004 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 1부: 정지 이미지 분석 방법
- ISO 13322-2:2006 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 2부: 동적 이미지 분석 방법
- ISO 13322-1:2014 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 1부: 정지 이미지 분석 방법
- ISO 13322-2:2021 입자 크기 분석, 이미지 분석 방법, 2부: 동적 이미지 분석 방법
- ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
- ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
- ISO 3815:1976 아연 및 아연 합금의 스펙트럼 분석
- ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
- ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
- ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
- ISO/TR 14468:2010 속성 일관성 분석의 주요 이미지
- ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
- ISO/TS 20498-3:2020 한의학 - 컴퓨터 혀 이미지 분석 시스템 - 3부: 컬러 맵
- ISO 13321:1996 입자 크기 분석 상관 광자 분광학
- ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
- ISO 12787:2011 화장품 분석 방법 크로마토그래피 기술을 사용한 분석 결과 검증 기준
- ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
- ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
- ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 분석지도 분석
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 분석지도 분석
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 분석지도 분석
RO-ASRO, 분석지도 분석
U.S. Air Force, 분석지도 분석
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 분석지도 분석
ZA-SANS, 분석지도 분석
KR-KS, 분석지도 분석
BR-ABNT, 분석지도 분석
American Society for Testing and Materials (ASTM), 분석지도 분석
European Committee for Standardization (CEN), 분석지도 분석
CZ-CSN, 분석지도 분석
Association Francaise de Normalisation, 분석지도 분석
Professional Standard - Electron, 분석지도 분석
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 분석지도 분석
国家能源局, 분석지도 분석
Professional Standard - Public Safety Standards, 분석지도 분석
(U.S.) Ford Automotive Standards, 분석지도 분석
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 분석지도 분석
International Electrotechnical Commission (IEC), 분석지도 분석
Danish Standards Foundation, 분석지도 분석
Group Standards of the People's Republic of China, 분석지도 분석
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 분석지도 분석
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 분석지도 분석
工业和信息化部, 분석지도 분석
IN-BIS, 분석지도 분석
Professional Standard - Nuclear Industry, 분석지도 분석
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 분석지도 분석
Professional Standard - Aerospace, 분석지도 분석
Professional Standard - Geology, 분석지도 분석
Standard Association of Australia (SAA), 분석지도 분석
Professional Standard - Machinery, 분석지도 분석
German Institute for Standardization, 분석지도 분석
CEN - European Committee for Standardization, 분석지도 분석
AENOR, 분석지도 분석
American National Standards Institute (ANSI), 분석지도 분석
NL-NEN, 분석지도 분석
TR-TSE, 분석지도 분석
The American Road & Transportation Builders Association, 분석지도 분석
Professional Standard - Education, 분석지도 분석
CN-STDBOOK, 분석지도 분석
PT-IPQ, 분석지도 분석
Lithuanian Standards Office , 분석지도 분석
Professional Standard - Petroleum, 분석지도 분석
Natural Gas Processor's Association (NGPA), 분석지도 분석
YU-JUS, 분석지도 분석
PL-PKN, 분석지도 분석
Professional Standard - Commodity Inspection, 분석지도 분석
Defense Logistics Agency, 분석지도 분석
BE-NBN, 분석지도 분석
Professional Standard - Chemical Industry, 분석지도 분석
AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, 분석지도 분석
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 분석지도 분석
AT-ON, 분석지도 분석
Professional Standard - Aviation, 분석지도 분석
未注明发布机构, 분석지도 분석
ES-UNE, 분석지도 분석
HU-MSZT, 분석지도 분석
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 분석지도 분석
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 분석지도 분석