ZH
EN
JP
ES
RU
DE

단면 분석

모두 500항목의 단면 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 단면 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 타이어, 세라믹, 건물 내 시설, 원격 제어, 원격 측정, 열역학 및 온도 측정, 분석 화학, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 식용유지, 유지종자, 감각 분석, 시계학, 어휘, 단열재, 정보 기술 응용, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 도로 차량 종합, 실험실 의학, 비파괴 검사, 약국, 섬유제품, 절연유체, 구조 및 구조 요소, 컴퓨터 그래픽 기술, 철강 제품, 통신 시스템, 건축 자재, 기계적 테스트, 화학 장비, 원자력공학, 의료 장비, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 진동, 충격 및 진동 측정, 범죄 예방, 품질, 설탕, 설탕제품, 전분, 전기 장치, 음향 및 음향 측정, 도로 공사, 길이 및 각도 측정, 광학 장비, 플라스틱, 태양광 공학, 화학 제품, 레일 및 라인 구성 요소, 발전소 종합, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 항공우주 전기 장비 및 시스템, 수의학, 환경 테스트, 소방, 정보 기술을 위한 언어, 무기화학, 인간 공학, 전기공학종합, 천연 가스, 기어 및 기어 변속기, 페인트 성분, 기술 도면, 환경 보호, 곡물, 콩류 및 그 제품, 지상 서비스 및 수리 장비, 진공 기술, 내화물, 검사, 수리 및 테스트 장비.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 단면 분석

• GJB 224-1986 항공타이어 단면 분석방법
• GJB 982.5-1990 항공제동타이어 시험방법 단면분석 시험
• GJB 6378-2008 우주선 실시간 궤도 결정 및 분석 방법
• GJB 5309.26-2004 불꽃놀이 시험 방법 26부: 브리지 와이어 융합 시간 결정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 단면 분석

• GB/T 11196-2004 항공타이어 단면분석 및 측정방법
• GB/T 13592-1992 표면 분석 용어
• GB/T 28894-2012 표면 화학 분석 - 분석 전 샘플 준비
• GB/T 32055-2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 분광법 원소 표면 분석
• GB/T 22461-2008 표면 화학 분석.
• GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
• GB/T 21007-2007 표면 화학 분석 정보 형식
• GB/T 7252-2001 변압기 오일의 용존 가스 분석 및 판단에 대한 지침
• GB/T 29557-2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
• GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
• GB/T 43087-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용한 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
• GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
• GB/T 30815-2014 표면 화학 분석을 위한 분석 샘플 준비 및 설정 가이드
• GB/T 30147-2013 보안감시 영상 실시간 지능형 분석장비 기술요구사항
• GB/T 16860-1997 감각 분석 방법 질감 프로파일 테스트
• GB 12313-1990 관능분석 방법 향미 프로파일 테스트
• GB/T 19499-2004 표면화학 분석 데이터 전송 형식
• GB/Z 32494-2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 화학 정보 해석
• GB/T 9364.4-2016 소형 퓨즈 4부: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• GB/T 25005-2010 라면의 관능평가를 위한 관능분석 방법
• GB/T 29732-2013 표면 화학 분석을 위한 중해상도 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정
• GB/T 32495-2016 실리콘 내 비소에 대한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 깊이 프로파일링 방법
• GB/T 29731-2013 표면 화학 분석 고해상도 오거 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 스케일 교정
• GB/T 29559-2013 표면 화학 분석 글로우 방전 원자 방출 분광법 아연 및/또는 알루미늄 기반 합금 코팅 분석

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 단면 분석

• ASHRAE 4589-2002 결함 감지 및 진단 방법에 시계열 분석 적용
• ASHRAE OR-05-7-2-2005 수직 시추공의 중단된 현장 테스트 분석
• ASHRAE LV-11-C001-2011 수직 바닥 열 교환기의 단기 분석을 위한 새로운 분석 및 수치 솔루션
• ASHRAE AC-02-15-3-2002 지상 열전도도 테스트를 위한 통제된 현장 분석
• ASHRAE 3864-1995 지면과 결합된 건물 외피 표면의 주파수 응답 분석
• ASHRAE BN-97-7-2-1997 1kWh/일 가정용 냉장 및 냉동고 실험 및 비용 분석
• ASHRAE AN-04-8-1-2004 지면결합형 히트펌프(RP-1217)의 빈법 에너지 해석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 단면 분석

• ASTM C1678-10(2015) 세라믹 및 유리의 파손 거울 크기 파손 분석에 대한 표준 관행
• ASTM C1678-10 세라믹 및 유리의 파손 거울 치수를 사용한 파손 표면의 현미경 이미지 분석을 위한 표준 관행
• ASTM E1953-02 열 분석기에 대한 표준 실시간 절차 설명
• ASTM C1678-07 세라믹 및 유리의 파손 거울 치수에 대한 파손 분석을 위한 표준 사례
• ASTM C1678-21 세라믹 및 유리의 파손 거울 치수에 대한 파손 분석을 위한 표준 사례
• ASTM D5405-98(2004) 비아스팔텐 유기지붕막 재료 접합부의 크리프 파단 시간에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D5405-98 비아스팔텐 유기지붕막 재료 접합부의 크리프 파단 시간에 대한 표준 시험 방법
• ASTM C1322-15 고급 세라믹 파손 소스의 파손 분석 및 특성화를 위한 표준 실습
• ASTM D5405/D5405M-98(2011)e1 비아스팔텐 유기지붕막 재료 접합부의 크리프 파단 시간에 대한 표준 시험 방법
• ASTM F1016-93(1997) 선형 타이어 트레드 마모 데이터 분석
• ASTM F1016-93(2001) 선형 타이어 트레드 마모 데이터 분석
• ASTM E1860-97a 경과 시간 보정 열 분석기에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1860-02 경과 시간 보정 열 분석기에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1860-13(2018) 열 분석기의 시간 교정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1860-13 열 분석기의 시간 교정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1860-07 경과 시간 보정 열 분석기에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1860-23 열 분석기의 시간 교정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D1001-51 아스팔트 루핑 및 지붕널용 입상 광물 표면의 스크리닝 분석 사양
• ASTM D452/D452M-19(2022) 아스팔트 루핑 제품의 오버레이 선별 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C1678-09 세라믹과 유리의 파손 거울의 치수 분석을 위한 표준 사례
• ASTM D7278-06 분석기 샘플 시스템 지연 시간 예측을 위한 표준 가이드
• ASTM D7278-11 분석기 샘플링 시스템 지연 시간 예측을 위한 표준 지침
• ASTM D7278-21 분석기 샘플 시스템 지연 시간 예측을 위한 표준 지침
• ASTM E2046-08 열 분석을 통한 유도 반응 시간 결정을 위한 표준 방법
• ASTM E673-98E1 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM E673-01 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM E673-02 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM E673-02b 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM E673-02a 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM E673-03 표면분석과 관련된 표준용어
• ASTM D5405/D5405M-98(2015) 비아스팔텐 유기 지붕 막 재료의 접합부의 고장 시간(크리프 파열) 테스트를 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E2046-99 열분석에 의한 반응유도시간 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM E2046-03 열분석에 의한 반응유도시간 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM E2046-19 열분석에 의한 반응유도시간 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM E2046-14 열분석에 의한 반응유도시간의 표준시험방법
• ASTM D7278-16 분석기 샘플링 시스템 지연 시간 예측을 위한 표준 가이드
• ASTM E1829-14(2020) 표면 분석 전 시료 준비를 위한 표준 가이드
• ASTM D3895-98 열분석을 이용한 폴리올레핀의 산화유도시간 시험방법
• ASTM E1392-96 정반사 또는 반사 표면 각도 분석을 통한 광산란 측정의 표준 사례
• ASTM E1829-02 표면 분석 전 시료 폐기를 위한 표준 가이드
• ASTM E1829-97 표면 분석 전 시료 폐기를 위한 표준 가이드
• ASTM E1829-09 표면 분석 전 시료 폐기를 위한 표준 가이드
• ASTM E1078-14(2020) 시편 준비 및 표면 분석 설정을 위한 표준 가이드
• ASTM E1829-14 표면 분석 전 시료 폐기를 위한 표준 가이드
• ASTM D452-91(1997)e1 아스팔트 루핑 제품의 표면 스크리닝 분석을 위한 표준 시험 방법

Professional Standard - Construction Industry, 단면 분석

• JG/T 379-2012 온-오프 시간 영역 방식 열 측정 장치의 기술 조건

Group Standards of the People's Republic of China, 단면 분석

• T/GAZE 2002-2022 음향전구간 이동시간 흐름 온라인 모니터링 시스템
• T/ZJCX 0005-2022 보행자 신체영상 실시간 분석 시스템
• T/CESA 1149-2021 병리영상분석 보조진단 시스템의 기술적 요구사항을 위한 인공지능 칩 적용
• T/CIS 11005-2023 근적외선 분광법을 이용한 한약재 생산과정에서 컬럼크로마토그래피 용출의 시작점과 끝점을 실시간 판단
• T/ZGTXXH 058-2023 대기 시간이 짧은 산업 시나리오를 위한 다중 모드 네트워크 ID 분석을 위한 기술 사양
• T/SHDSGY 021-2023 데이터 수집, 분석 및 실시간 모니터링 기술 서비스
• T/GDMA 22-2020 실시간 얼굴 이미지 획득 및 분석 장비 내장
• T/SXS 138-2023 데이터 수집, 분석 및 실시간 모니터링 기술 서비스
• T/ZSA 110-2022 비표면적 및 기공 크기 분석기
• T/GDKJ 0030-2023 거래 실시간 분석 듀얼 모드 통합 분산 데이터베이스 기술 사양
• T/CVMA 92-2022 돼지열병 바이러스의 시간분해형광면역크로마토그래피 항체 검출방법
• T/JSEE 008-2024 컨버터 밸브 냉각설비 상태분석 및 고장진단 시스템 기술사양

GM Europe, 단면 분석

• GME 14441-2009 퓨즈 보호 분석

TIA - Telecommunications Industry Association, 단면 분석

• TSB62-24-2004 ITM-24 광섬유 브레이크 소스 분석

US-FCR, 단면 분석

• FCR VA 01 32 16.13-2011 네트워크 분석 타임라인
• FCR UFGS-S-01321N-2001 네트워크 분석 타임라인
• FCR UFGS-R-01321N-2001 네트워크 분석 타임라인
• FCR UFGS-01 32 17.00 20-2010 네트워크 분석 일정(NAS)
• FCR COE ER 1-1-11-1995 진행상황, 시간표 및 네트워크 분석 시스템
• FCR COE ETL 1110-8-16-1991 콘크리트 수력구조물의 파괴역학 해석
• FCR COE ETL 1110-2-344-1993 중력 잠금 장치의 전체 구조에 대한 파괴 역학 분석
• FCR COE EM 1110-2-6051-2003 콘크리트 수력구조물의 시간이력 동적해석

Beijing Provincial Standard of the People's Republic of China, 단면 분석

• DB11/T 1388-2017 온-오프 시간 영역 방식을 이용한 난방 계량 시스템 기술 사양
• DB11/T 1963-2022 현장 혈액 가스 분석의 품질 관리를 위한 기술 사양

United States Navy, 단면 분석

• NAVY UFGS-01 32 17.00 20-2008 네트워크 분석 일정(NAS)

British Standards Institution (BSI), 단면 분석

• BS ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량분석기 분석 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
• BS 684-1.7:1976 지방 및 오일 분석 방법 물리적 방법 표면 건조 시간 결정
• 20/30409963 DC BS ISO 17862 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 척도 선형성
• BS ISO 13084:2018 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 분석 Time-of-Flight 2차 이온 질량 분석법 질량 스케일 교정
• BS ISO 17862:2013 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기 강도 척도의 선형성
• BS ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
• BS EN 583-6:2008 비파괴 테스트 초음파 테스트 불연속성 감지 및 차원 분석 방법으로 비행 시간 측정.
• BS ISO 18117:2009 표면 화학 분석 - 분석 전 샘플 준비
• BS ISO 18117:2009(2015) 표면 화학 분석 – 분석 전 샘플 준비
• BS 684-1.7:1976(2009) 지방 및 지방유 분석 방법 1부: 물리적 방법 1.7절: 표면 건조 시간 결정
• BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
• BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
• PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
• BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
• 21/30385921 DC BS ISO 18115-3 표면 화학 분석 용어집 3부. 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
• BS ISO 13084:2011 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 비행 시간차 2차 이온 질량 분석을 위한 질량 척도 교정
• BS ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
• BS ISO 14975:2001 표면 화학 분석 정보 형식
• BS ISO 14975:2000(2012) 표면 화학 분석 – 정보 형식
• BS ISO 18431-3:2014 기계적 진동 및 충격, 신호 처리, 시간-주파수 분석 방법
• BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
• BS ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
• BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
• PD ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
• DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
• BS DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
• BS PD ISO/TR 15969:2021 스퍼터 깊이의 표면 화학 분석 깊이 프로파일 측정
• BS ISO 20263:2017 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
• BS ISO 14976:1998 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
• BS EN 61725:1997 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현
• BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
• BS ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 스캔을 통한 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 수정 규칙
• BS EN 60127-4:2005+A1:2009 소형 퓨즈 부품 4: 범용 모드 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• BS 6829-0:1991(2008) 계면활성제 분석(원료) 파트 0: 개요
• BS ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정
• PD ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
• BS EN ISO 18314-4:2021 측색법에서 광원이 변경될 때 샘플 쌍의 등색성 지수를 분석합니다.
• BS ISO 11505:2012 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광학, 정량적 조성 깊이 분석을 위한 일반 절차
• DD ISO/TS 13473-4:2008 포장 질감 질감 프로필을 특성화하기 위해 표면 프로필을 사용한 스펙트럼 분석
• BS ISO 17973:2016 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
• BS ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
• BS ISO 17560:2014 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
• PD ISO/TR 14187:2020 나노구조 물질의 특성화를 위한 표면 화학 분석
• BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
• BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• BS ISO 18431-2:2005 기계적 진동 및 충격 신호 처리 푸리에 변환 분석을 위한 시간 영역 창
• BS ISO 17974:2002(2010) 표면 화학 분석과 원소 및 화학 상태 분석을 위한 고해상도 오제 전자 분광계의 에너지 레벨 교정
• BS EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
• PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
• BS ISO 14606:2022 표면 화학 분석 스퍼터 깊이 프로파일링 다층 시스템을 기준 재료로 사용하여 최적화
• BS DD ISO/TS 13473-4:2008 표면 프로파일을 이용한 포장 구조의 특성화 구조 프로파일의 스펙트럼 분석
• BS ISO 7304-1:2016 듀럼 밀가루와 파스타 관능 분석을 이용한 파스타 조리 품질 평가 참고 방법

The American Road & Transportation Builders Association, 단면 분석

• AASHTO DIVISION I-A 4.6 시간이력분석방법 Step 4
• AASHTO R 54-2014 관성 분석 시스템을 사용하여 측정할 때 노면 승차감을 수용하기 위한 표준 관행
• AASHTO DIVISION I-A 4.2 분석 방법 선택 임시 개정 1999
• AASHTO R 54-2010 측정 시 도로 주행 품질Unsing 관성 분석 시스템 개정 1 [대체: AASHTO MP 17, AASHTO MP 17, AASHTO MP 17]
• AASHTO PP 111-2023 가로 포장 프로파일링 시스템 및 지상 참조 장비와 관련된 용어 정의

National Aeronautics and Space Administration (NASA), 단면 분석

• NASA-RP-1145-1968 시계열 분석 소개
• NASA NACA-RM-A7L02-1948 마하수가 0.90일 때 조종면 양력과 힌지 모멘트 특성에 대한 풍동 데이터 요약 및 분석

German Institute for Standardization, 단면 분석

• DIN V 4084-100 Bb.1:1997 기초 경사면 균열 및 노상 균열의 계산 파트 100: 국부 안전계수의 개념을 기반으로 한 분석 계산 예
• DIN 10970:2002 감각 분석 - 시간 강도 테스트
• DIN 10970:2002-09 감각분석-시간강도검사
• DIN 41091-3:1976 전자 시계 문자판.파트 3: 차임 문자판
• DIN EN 18029:2023-11 동물 건강 진단 분석 실험실 분석의 전자 데이터 교환
• DIN 10975:2005-04 감각 분석 - 식품법 준수 여부를 판단하기 위한 전문가 증인
• DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
• DIN V 4084-100:1996 기초 경사면 균열 및 지반 균열 계산 파트 100: 국부 안전 계수를 기반으로 한 계산
• DIN ISO/TS 13473-4:2009 표면 프로파일을 사용한 포장 구조의 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
• DIN EN 60851-1:2010-09 산업용 건물 구조물의 화재 예방 1부: 요구되는 내화 시간의 해석
• DIN 18230-1:2010-09 산업용 건물 구조물의 화재 예방 1부: 요구되는 내화 시간의 해석
• DIN 18230-1:1998 산업용 건물의 구조적 화재 예방 1부: 필요한 내화 시간 분석
• DIN 12699:1975 실험실 유리기구.. 짧은 배수 시간, 대기 시간 15초, 효소 분석을 위한 눈금 AS 피펫
• DIN 12699:1975-04 실험실 유리 제품, 효소 분석을 위한 눈금이 있는 피펫, 짧은 배송 시간, 15초 대기 시간, AS 등급
• DIN 18230-1:2010 산업용 건물의 구조적 화재 예방 1부: 필요한 내화 시간 분석
• DIN EN ISO 18314-4:2021-09 분석적 측색법 4부: 광원 변화에 따른 샘플 쌍의 메타머리즘 지수
• DIN EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
• DIN EN 61725:1998-03 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현(IEC 61725:1997)
• DIN 28400-6:1980-10 진공 기술, 용어 및 정의, 표면 분석 기술
• DIN EN ISO 6327:2008 가스 분석, 천연가스 물 이슬점 측정, 냉각 거울 응축 습도계 방법
• DIN EN ISO 18314-4:2023-02 분석적 비색법 4부: 광원 변화에 따른 쌍체 샘플의 메타머리즘 지수
• DIN ISO 11505:2018-02 표면 화학 분석을 위한 일반 절차 글로우 방전 방출 분광법을 통한 정량적 조성 깊이 분석
• DIN 28400-6:1980 진공 기술 - 표면 분석 기술의 용어 및 정의
• DIN EN 14670:2005-09 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법
• DIN EN 993-7:1998 조밀하게 형성된 내화 제품에 대한 테스트 방법 파트 7: 높이에서의 파열 계수 측정

API - American Petroleum Institute, 단면 분석

• API REPORT 80-26B-1981 해양구조물 지진해석 2단계의 시간이력해석
• API REPORT 26-1981 해양구조물의 지진해석 2단계 시간이력해석
• API REPORT 80-26A-1980 해양구조물 지진해석 연구를 위한 가속시간 이력

RO-ASRO, 단면 분석

• STAS 756/3-1985 가구 부문. 분석방법
• STAS 11195-1987 표면제 분석 방법
• STAS 90-1988 밀가루. 분석방법
• STAS 4240/1-1985 화산재. 화학 분석 수행 시 일반 사양
• SR 110-9-1995 설탕. 분석 방법. 표면 품질 결정
• STAS 4242/1-1982 고로 콘크리트. 화학 분석 및 수분 측정 수행 시 일반 사양

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 단면 분석

• JJF 1845-2020 불연속 간섭 분석기의 교정 사양
• JJF 2078-2023 실시간 스펙트럼 분석기 교정 사양

US-Unspecified Preparing Activity, 단면 분석

• DI-SESS-81939-2013 스트레스, 피로 및 골절 분석 보고서

ATIS - Alliance for Telecommunications Industry Solutions, 단면 분석

• 01000038-2013 대규모 DS3 FCC 보고 가능 중단 분석
• 0100021-2008 FCC - 보고 가능한 서비스 중단 데이터 분석
• T1.TR.42-1995 FCC의 향상된 분석 보고 가능한 서비스 중단 데이터

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 단면 분석

• IPC TM-650 5.1.440-1975 프리프레그 재료의 겔 시간 분석
• IPC TM-650 5.1.420-1975 유리섬유의 파괴강도 분석(가)

International Organization for Standardization (ISO), 단면 분석

• ISO/DIS 20579-2:2024 표면 화학 분석
• ISO 18118:2022 표면 화학 분석
• ISO/CD 20289:2017 표면 화학 분석
• ISO/CD 20579-2:2023 표면 화학 분석
• ISO/CD 24237:2023 표면 화학 분석
• ISO 13084:2011 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 스케일 교정
• ISO 18117:2009 표면 화학 분석, 시료 처리 전 분석
• ISO 178:1975 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
• ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
• ISO 17862:2013 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링의 선형성
• ISO 178:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
• ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 3부: 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어.
• ISO 18115:2001 표면 화학 분석 용어집
• ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 - 깊이 분석 - 스퍼터링 깊이 측정
• ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
• ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
• ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
• ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
• ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
• ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
• ISO 13084:2018 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석기 - 비행 시간형 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 분석기 교정
• ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 및 스캐닝 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 보정 규칙
• ISO/TS 13473-4:2008 표면 외관 포장 구조의 특성 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
• ISO 18431-3:2014 기계적 진동 및 충격, 신호 처리, 3부: 시간-주파수 분석 방법
• ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
• ISO/CD 20263:2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
• ISO 18115:2001/Amd 1:2006 표면 화학 분석 어휘 수정 1
• ISO 18115:2001/Amd 2:2007 표면화학분석 어휘 수정 2
• ISO 14976:1998 표면화학 분석 데이터 전송 형식
• ISO/CD 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
• ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
• ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
• ISO 17560:2014 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 실리콘 내 실리콘의 심층 분석 방법
• ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법을 통한 금속 산화물 필름 분석
• ISO/DIS 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 1/3 옥타브 스펙트럼 분석
• ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
• ISO/TR 14187:2011 표면 화학 분석, 나노 구조 물질의 특성 분석
• ISO/TR 14187:2020 표면 화학 분석 - 나노구조 재료의 특성화
• ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
• ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• ISO/TS 25138:2010 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
• ISO/FDIS 18314-4:2023 분석적 비색법 4부: 광원 변화에 따른 쌍체 샘플의 메타머리즘 지수
• ISO 18314-4:2023 분석적 비색법 4부: 광원 변화에 따른 쌍체 샘플의 메타머리즘 지수
• ISO 18314-4:2024 분석적 비색법 4부: 광원 변화에 따른 쌍체 샘플의 메타머리즘 지수
• ISO 7304-1:2016 듀럼 밀가루와 파스타 관능 분석을 이용한 파스타 조리 품질 평가 1부: 참고 방법
• ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 설명 스퍼터 깊이 측정
• ISO/TS 15338:2020 표면 화학 분석 - 글로우 방전 질량 분석법 - 작동 절차
• ISO 893:1978 계면활성제 산업용 알칸술폰산나트륨의 분석방법
• ISO 893:1989 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
• ISO 18431-2:2004 기계적 진동 및 충격 신호 처리 2부: 푸리에 변환 분석을 위한 시간 영역 창

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, 단면 분석

• R 54-2014 관성 분석 시스템을 사용하여 측정할 때 노면 승차감을 수용하기 위한 표준 관행
• R 54-2010 관성 분석 시스템을 사용하여 측정할 때 노면 승차감 수용(개정 1)
• MP 17-2007 관성 분석 시스템을 이용한 도로 승차감 측정

AT-ON, 단면 분석

• ONORM M 1113-1982 기술적인 표면. 표면 분석 방법

Alliance of Telecommunications Industry Solutions （ATIS), 단면 분석

• ATIS 0100021-2008 FCC - 보고 가능한 서비스 중단 데이터 분석
• ATIS T1.TR.42-1995 FCC의 향상된 분석 보고 가능한 서비스 중단 데이터

American Welding Society (AWS), 단면 분석

• WRC 088:1963 철구조물 파괴안전공학설계를 위한 파괴해석도 프로그램
• WRC 229:1977 1부: 동적 파괴 저항 테스트 및 구조 분석 방법
• WRC 561:2015 우발적인 화재 하중을 받는 압력 용기의 응력 파괴에 대한 유한 요소 분석
• WRC 351:1990 1부: A36강 등의 짧은 균열과 깊은 균열이 있는 CTOD 파단 시편의 분석 및 비교
• WRC 098:1964 1부: PVRC 용기의 파손 분석 5: 재료 특성 및 파괴 전개 연구
• WRC 125:1967 평면 내 T, Y 및 K 용접 파이프 연결 분석

RU-GOST R, 단면 분석

• GOST 17363-1971 다채널 시간 분석기.파라미터 측정 방법
• GOST R IEC 61839-2021 원자력 발전소 제어실 설계시 기능 분석 및 할당
• GOST IEC 60127-4-2011 소형 퓨즈 파트 4. 범용 모듈식 퓨즈 링크, 스루홀 및 표면 실장 유형
• GOST 11930.0-1979 단단한 표면 재료 - 분석 방법에 대한 일반 요구 사항
• GOST R IEC 60127-4-2007 소형 퓨즈 부품 4. 범용 모듈 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 퓨즈.
• GOST R IEC 62508-2014 위험 관리, 인간 측면 신뢰성 영향 분석
• GOST R 56828.4-2015 최적가용기법(Best Available Techniques): 부정적인 환경 영향을 예방하고 최소화하기 위한 기업의 자원 효율성과 환경 성과를 비교 분석하는 방법

Society of Automotive Engineers (SAE), 단면 분석

• SAE J2052-2011 테스트 설정의 총 접촉 시간 분석
• SAE J2052-2005 머리 접촉 시간 분석을 위한 테스트 장비
• SAE J2052-1997 테스트 장치 헤드 접촉 시간 분석
• SAE ARP1821A-2001 항공기 지상부양 해석방법
• SAE ARP1821A-2016 항공기 지상부양 해석방법
• SAE ARP1821C-2022 항공기 지상부양 해석방법
• SAE ARP5107B-2006 전자 엔진 제어 시스템의 시간 제한 파견(TLD) 분석 가이드
• SAE ARP1328A-1997 항공기 지상 지원 장비 및 차량의 바람 안정성 분석

SAE - SAE International, 단면 분석

• SAE J2052-1990 테스트 설정의 총 접촉 시간 분석
• SAE J2052-2016 테스트 설정의 총 접촉 시간 분석
• SAE ARP1821B-2016 항공기 지상부양 해석방법
• SAE ARP5107A-2005 전자 엔진 제어 시스템을 위한 TLD(Time Limited Dispatch) 분석 가이드
• SAE ARP5107-1997 전자 엔진 제어 시스템을 위한 TLD(Time Limited Dispatch) 분석 가이드
• SAE ARP5107C-2018 전자 엔진 제어 시스템을 위한 TLD(Time Limited Dispatch) 분석 가이드
• SAE R-349-2004 설계 엔지니어를 위한 유한 요소 분석
• SAE ARP1328-1974 항공기 지상 지원 장비 및 차량의 안정성 분석
• SAE R-449-2016 설계 엔지니어를 위한 유한 요소 해석(2판)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 단면 분석

• GB/T 34326-2017 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES 및 XPS 깊이 프로파일링 이온빔 정렬 방법 및 해당 빔 또는 빔 밀도 측정 방법
• GB/T 32996-2016 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
• GB/T 33498-2017 표면 화학 분석 나노구조 물질 특성화
• GB/T 32997-2016 표면 화학 분석을 위한 일반 절차, 글로우 방전 방출 스펙트럼의 정량적 조성 깊이 프로파일링
• GB/T 29716.2-2018 기계적 진동 및 충격 신호 처리 2부: 푸리에 변환 분석을 위한 시간 영역 윈도잉

Professional Standard - Medicine, 단면 분석

• YY/T 1533-2017 완전 자동 시간 분해 형광 면역분석기
• YY/T 1304.1-2015 시간분해형광면역분석 시스템 1부: 반자동 시간분해 형광면역분석기
• YY/T 1304.2-2015 시간분해형광면역분석 시스템 파트 2: 시간분해형 형광면역분석 정량 측정 시약(박스)
• YY/T 1789.5-2023 체외 진단 테스트 시스템의 성능 평가 방법 5부: 분석 특이성

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 단면 분석

• JIS K 0155:2018 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 척도 선형성
• JIS K 0147:2004 표면 화학 분석.
• JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
• JIS K 0154:2017 표면 화학 분석 분석용 시료 준비 및 설치 지침
• JIS K 0142:2000 표면 화학 분석 정보 형식
• JIS R 1618:1994 열역학적 분석 중 파인 세라믹의 열팽창 측정 방법
• JIS K 0157:2021 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 이동 시간 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 눈금 교정
• JIS K 0164:2023 실리콘 내 붕소의 깊이 분석을 위한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 방법
• JIS K 0141:2000 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
• JIS C 6575-4:2009 소형 퓨즈 4부: 범용 모드 퓨즈 링크(UMF) 및 비범용 모드 스루홀 및 표면 실장 퓨즈 링크
• JIS C 6575-4 AMD 1:2016 소형 퓨즈 파트 4: 범용 모드 퓨즈 링크(UMF) 및 비범용 모드 스루홀 및 표면 실장 퓨즈 링크(수정 사항 1)
• JIS K 0165:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성

Association Francaise de Normalisation, 단면 분석

• NF ISO 18117:2009 표면 화학 분석 분석 전 샘플 준비
• NF EN ISO 4307:2021 인간 DNA 추출을 위한 타액 사전 분석 공정 사양의 분자 체외 진단 분석
• NF X46-031:2008 진단적 플롯(Diagnostic plomb) 분석적 플롯(analytical plomb) 산 용해성 분획의 화학
• NF X21-065*NF ISO 18117:2009 표면 화학 분석은 시료 처리를 우선시합니다.
• NF C26-208:1985 전기 절연 시스템의 기능 평가의 주요 측면 노화 메커니즘 및 진단 방법
• NF ISO 18116:2006 표면 화학 분석 분석 샘플 준비 및 설정 가이드
• NF X21-056*NF ISO 18116:2006 표면 화학 분석을 위한 분석 시료 준비 및 조립 지침
• NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
• NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 두께 분석을 통한 실리콘 내 붕소 함량 결정
• NF EN ISO 20501:2022 기술 세라믹 파괴 인성 데이터의 Weibull 통계 분석
• NF X21-052/A2:2008 표면화학분석 어휘 수정 2
• NF X21-052/A1:2008 표면 화학 분석 어휘 수정 1
• NF C60-433*NF EN 60127-4:2005 소형 퓨즈 부품 4: 범용 모듈 퓨즈 링크(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• NF C60-433/A1*NF EN 60127-4/A1:2013 소형 퓨즈 4부: 범용 모듈식 퓨즈 링크(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• NF EN ISO 23118:2021 분자 체외 진단 분석법을 사용하여 소변 및 정맥혈(혈청 및 혈장)의 대사체 분석을 위한 분석전 절차 사양
• NF C60-433/A2*NF EN 60127-4/A2:2013 소형 퓨즈 4부: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• FD V09-503:2022 감각 분석 하나 이상의 패널의 성능 측정 정량적 감각 분석 수행
• NF EN ISO 18314-4:2021 비색 분석 4부: 광원이 변경될 때 샘플 쌍의 메타메리즘 지수
• NF ISO 20958:2013 기계 시스템의 모니터링 및 진단 모터의 3상 유도 특성 분석
• NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
• NF ISO 893:1990 계면활성제 - 산업용 알칸술폰산염 - 분석 방법.
• NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• NF EN ISO 20184-3:2021 분자 체외 진단 테스트를 위한 냉동 조직에 대한 사전 분석 공정 사양 3부: 추출된 DNA
• NF E04-526-1:2001 기술 도면 표현의 일반 원칙 40부: 섹션 및 섹션의 기본 규칙
• NF T73-292*NF EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
• NF EN 14670:2005 계면활성제. 나트륨 도데실 황산염. 분석방법
• NF EN ISO 20184-1:2018 냉동 조직에 대한 분자 체외 진단 분석을 위한 분석 전 공정 사양 1부: 추출된 RNA

ES-AENOR, 단면 분석

• UNE 106-107 Pt.1-1991 회전하는 치과 기구. 섹션 밀링 머신. 1부: 실험용 철강용 단면 밀링 머신
• UNE 20-378 Pt.2-3-1989 가정용 고정 기기 및 이와 유사한 장치용 회로 차단기입니다. 2부: 시간 제한 회로 차단기에 대한 특별 조항(분침)
• UNE 57 026 제지 펄프 분석을 위한 화학적 분리

WRC - Welding Research Council, 단면 분석

• BULLETIN 88-1963 쉘구조 파괴안전공학 설계를 위한 파괴해석 그래픽 프로그램
• BULLETIN 229-1977 동적 파괴 저항 테스트 및 구조 분석 방법, 내부 압력을 받는 서로 다른 직경의 실린더를 연결하는 원추형 단면의 접합 응력
• BULLETIN 125-1967 평면 내 TY 및 K 용접 관형 연결 분석
• BULLETIN 98-1964 PVRC 선박 번호 5의 고장 분석, 1부 재료 특성 및 파손 발생 연구, 2부 FR의 선택된 부품에 대한 전자 현미경 위상 고장 연구

未注明发布机构, 단면 분석

• DIN EN ISO 4307:2022 체외 진단 절차의 분자 분석. 타액 사전 분석 과정의 사양. 고립된 인간 DNA

KR-KS, 단면 분석

• KS P 2170-2022 체외진단의학연구소 감염병 분자진단 분석 성능평가 프로토콜
• KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS B ISO 18431-3-2017 기계적 진동 및 충격 - 신호 처리 - 3부: 시간-주파수 분석 방법
• KS D ISO 17560-2003(2023) 실리콘의 표면화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 붕소 깊이 분포 측정 현장 방법
• KS M ISO 893-2007(2023) 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
• KS R ISO 14229-8-2023 도로 차량 통합 진단 서비스(UDS) 파트 8: UDS on Clock Extension Peripheral Interface(UDSonCXPI)

Defense Logistics Agency, 단면 분석

• DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 표면 마감 분석기
• DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 표면 마감 분석기
• DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 표면 마감 분석기
• DLA A-A-50767-1983 표면 마감 분석기
• DLA A-A-59688/3 C-2009 퓨즈, 박스, 기기 유형, 5 MM X 20 MM, 시간 지연, 낮은 차단 용량

Standard Association of Australia （SAA）, 단면 분석

• AS ISO 18115:2006 표면 화학 분석. 어휘
• AS ISO 14975:2006 표면 화학 분석. 메시지 형식
• AS ISO 18116:2006 표면 화학 분석. 분석용 시료 준비 및 설치 지침
• AS ISO 16269.7:2004 데이터의 통계적 분석. 중앙값. 판단 및 신뢰구간
• AS ISO 14976:2006 표면 화학 분석. 데이터 전송 형식
• AS ISO 17560:2006 표면 화학 분석. 2차 이온 질량 분석법. 실리콘에 붕소 주입을 위한 깊이 분포 분석 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 단면 분석

• KS D ISO 18115:2006 표면 화학 분석.
• KS D ISO 18115-2006(2021) 표면 화학 분석 용어집
• KS D ISO 18115-2006(2016) 표면 화학 분석 용어집
• KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
• KS D ISO 657-18:2005 열간압연강재 섹션 18부: 조선용 앵글강 섹션(미터법 시리즈) 치수, 단면 특성 및 공차
• KS D ISO 657-18:2013 열간압연강재 섹션 18부: 조선용 앵글강 섹션(미터법 시리즈) 치수, 단면 특성 및 공차
• KS D ISO 14975:2011 표면 화학 분석 정보 형식
• KS D ISO 14975-2011(2016) 표면 화학 분석 정보 형식
• KS D ISO 14975-2011(2021) 표면 화학 분석 정보 형식
• KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS D ISO TR 15969-2011(2021) 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
• KS D ISO TR 15969-2011(2016) 표면 화학 분석 스퍼터링 깊이를 측정하기 위한 깊이 프로파일링
• KS D ISO TR 15969:2011 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
• KS D ISO 14976:2011 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
• KS C IEC 61725-2005(2020) 일일 태양 프로파일 분석 표현
• KS D ISO 14976-2011(2016) 표면화학 분석 데이터 전송 형식
• KS D ISO 14976-2011(2021) 표면화학 분석 데이터 전송 형식
• KS C IEC 60127-4:2005 소형 퓨즈 파트 4: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• KS B ISO 18431-3:2017 기계적 진동 및 충격 "신호 처리" 3부: 시간-주파수 분석 방법
• KS B ISO 18431-3-2017(2022) 기계적 진동 및 충격, 신호 처리, 3부: 시간-주파수 분석 방법
• KS D ISO 17560-2003(2018) 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘 내 붕소 깊이 분포 측정 방법
• KS C IEC 60068-2-57:2003 환경 테스트 파트 2-57: 테스트 테스트 Ff: 진동 시간 경과 분석 방법
• KS D ISO 17973-2011(2021) 표면 화학 분석 - 보통 분해능 오거 전자 분광계 - 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• KS D ISO 17973-2011(2016) 표면 화학 분석에서 중해상도 오제 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• KS D ISO 14606-2023 표면 화학 분석 — 스퍼터 깊이 프로파일링 — 참조 자료로 계층화된 시스템을 사용한 최적화
• KS D ISO 17973:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
• KS M ISO 894-2007(2018) 계면활성제 공업용 알킬황산나트륨의 분석방법
• KS M ISO 893-2007(2018) 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
• KS B ISO 18431-2:2013 기계적 진동 및 충격 신호 처리 2부: 푸리에 변환 분석을 위한 시간 영역 창

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 단면 분석

• ESDU 90022 C-1995 평면 커넥팅 로드의 힘 분석
• ESDU 90022 D-2010 평면 커넥팅 로드의 힘 해석

ZA-SANS, 단면 분석

• SANS 1421:1998 고무 또는 플라스틱 직면 직물. 인장 강도 및 파단 인장 길이 결정

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 단면 분석

• IEEE 101-1987 열 노화 테스트 데이터의 통계 분석 가이드
• IEEE Std C37.10-2011 전력 회로 차단기 고장 조사, 분석 및 보고를 위한 지침
• IEEE PC37.10/D1.2, June 2010 전원 회로 차단기 오류의 조사, 분석 및 보고를 위한 IEEE 초안 지침
• IEEE Unapproved Draft Std PC37.10/D1.0, Mar 2010 전원 회로 차단기 오류의 조사, 분석 및 보고를 위한 IEEE 초안 지침
• IEEE PC37.10/D4.0, March 2011 전원 회로 차단기 오류의 조사, 분석 및 보고를 위한 IEEE 초안 지침

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 단면 분석

• GB/T 40129-2021 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기 질량 교정
• GB/T 41072-2021 표면 화학 분석 전자 분광학 UV 광전자 분광학 안내서
• GB/T 29716.3-2021 기계적 진동 및 충격 신호 처리 3부: 시간-주파수 분석 방법
• GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
• GB/T 40109-2021 표면 화학 분석 실리콘 내 붕소의 깊이 프로파일링을 위한 2차 이온 질량 분석 방법
• GB/T 29732-2021 중해상도의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 보정 표면 화학 분석을 위한 오거 전자 분광기
• GB/T 39625-2020 감각 프로필 설정을 위한 감각 분석 방법론 지침

International Telecommunication Union (ITU), 단면 분석

• ITU-T G.8261-2006 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면
• ITU-T G.8261/Y.1361-2013 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면
• ITU-T G.8261-2013 (시험판) 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면
• ITU-T Y.1361-2006 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면에 관한 연구 그룹 15
• ITU-T G.8261/Y.1361 CORR 1-2016 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면, Errata 1
• ITU-T G.8261/Y.1361 AMD 1-2015 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면, 수정안 1
• ITU-T Y.1366-2012 패킷 네트워크의 시간 및 위상 동기화 측면 연구 그룹 15
• ITU-T G.8271-2012 패킷 네트워크의 시간 및 위상 동기화 측면 연구 그룹 15
• ITU-R INFORME BO.2029 SPANISH-2002 지상국 안테나 패턴 위성 측정 및 관련 분석
• ITU-T Y.1361 AMD 1-2010 (시험판) 패킷 네트워크의 타이밍 및 동기화 측면 수정 1

CZ-CSN, 단면 분석

• CSN 42 6968-1975 벽이 얇은 부분은 C형 강철입니다. 크기
• CSN 42 6949-1982 벽이 얇은 단면은 등변 강철 단면입니다. 크기
• CSN 42 6963-1988 벽이 얇은 부분은 이등변 U자형 강철 단면입니다. 크기
• CSN 42 6946-1975 벽이 얇은 강철 단면, 용접됨(T자형에 가깝습니다). 크기
• CSN 42 6939-1975 강철 얇은 단면, 용접된(L자형 근처) 치수
• CSN 42 6973-1987 벽이 얇은 부분은 이등변이 아닌 U자형 강철입니다. 크기
• CSN 56 0512-11-1995 밀 제품 분석 방법. 파트 11: 글루텐 팽창 측정
• CSN 56 0512-10-1995 밀 제품 분석 방법. 파트 10: 습식 글루텐 함량 측정

Professional Standard - Chemical Industry, 단면 분석

• HG/T 6138-2023 비표면적 및 기공 크기 분석기
• HG/T 4321-2012 고계면 산화아연 기술 조건 및 분석 방법

VE-FONDONORMA, 단면 분석

• NORVEN 13-24-1965 밀가루 분석 및 시험 방법
• NORVEN 13-26-1965 빵 샘플링 및 테스트 분석 방법

Professional Standard - Electricity, 단면 분석

• DL/T 722-2000 변압기 오일의 용존 가스 분석 및 판단에 대한 지침
• DL/T 722-2014 변압기 오일의 용존 가스 분석 및 판단에 대한 지침
• DL/T 1359-2014 육불화황 전기설비의 고장가스 분석 및 판단방법

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 단면 분석

• IEEE C37.10-2011 전력 회로 차단기 고장 조사 분석 및 보고 가이드

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 단면 분석

• DB61/T 1520-2021 실시간 형광 정량 PCR 분석기 성능 평가 사양

PL-PKN, 단면 분석

• PN T01204-1990 반도체 장치. 개별 장치의 단면 사양
• PN T01204-A1-1990 반도체 장치. 개별 장치의 단면 사양. 개정 1

司法部, 단면 분석

• SF/T 0079-2020 고해상도 질량분석법 검사를 위한 잉크블롯 기술 사양의 실시간 직접 분석

ACI - American Concrete Institute, 단면 분석

• ACI 446.3R-1997 콘크리트 구조물의 균열에 대한 유한 요소 분석: 최신 기술

YU-JUS, 단면 분석

• JUS H.E0.005-1979 계면활성제. 어휘. 분석 목록
• JUS H.G3.120-1987 시약. 옥살산 이수화물. 기술적 분석
• JUS B.B8.082-1981 탄산칼슘염료의 화학적 분석방법. 섭씨 1000도에서의 점화 손실

International Electrotechnical Commission (IEC), 단면 분석

• IEC 60741:1982 다중채널 진폭 분석기 시간-진폭 변환기 표준
• IEC 60127-4:2005 소형 퓨즈 파트 4: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• IEC 60127-4:2012 소형 퓨즈 파트 4: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• IEC 60127-4:2005+AMD1:2008+AMD2:2012 CSV 소형 퓨즈 4부 범용 모듈식 퓨즈(UMF) – 스루홀 및 표면 실장 유형
• IEC 61636:2021 유지보수 정보 수집 및 분석 소프트웨어 인터페이스(SIMICA)
• IEC 60127-4:2005/AMD1:2008 소형 퓨즈 부품 4: 범용 모듈식 퓨즈 링크(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형 수정 1

American National Standards Institute （ANSI), 단면 분석

• ANSI/IEEE C37.10:2011 전력 회로 차단기 고장에 대한 연구, 분석 및 보고 가이드
• ANSI/ASTM D3895:1998 열분석을 통한 폴리올레핀 산화 유도 시간 측정 방법

Professional Standard - Building Materials, 단면 분석

• JC/T 2019-2010 세라믹 재료의 열분석-질량분석 동시 측정 방법

Professional Standard - Nuclear Industry, 단면 분석

• EJ/T 577-1991 다채널 분석기를 다채널 스케일러로 사용하는 경우의 테스트 방법

ET-QSAE, 단면 분석

• ES 515-2000 계면활성제 - 세제 - 정성분석

AENOR, 단면 분석

• UNE-EN 61725:1998 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현
• UNE 80114:2014 시멘트 시험방법 물리적 분석 불규칙한 응결시간 판단
• UNE 55517:1984 계면활성제 산업용 알킬 베타인 분석
• UNE 55510:1991 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
• UNE-EN 14670:2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 단면 분석

• EN 60127-4:1996 소형 퓨즈 파트 4: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형

IL-SII, 단면 분석

• S.I.740.3-1970 소형 퓨즈용 퓨즈 라인: 퓨즈 체인 20mm x5mm, 시간 지연, 높은 차단력

国家铁路局, 단면 분석

• TB/T 2344.2-2020 레일 2부: 스위치용 비대칭 섹션 레일

Instrument Society of America (ISA), 단면 분석

• ISA RP77.60.05-2001 화력 발전소의 인간-기계 인터페이스: 작업 분석

American Gear Manufacturers Association, 단면 분석

• AGMA 93FTM8-1993 단면 메시 측정 및 구조 기인 소음 분석
• AGMA 99FTM5-1999 프로토타입 표면 피로 시험 장치의 마이크로피팅 분석

International Federation of Trucks and Engines, 단면 분석

• NAVISTAR CEMS DT-14-2009 ALSA 분석기로 표면 파동 정의
• NAVISTAR CEMS DT-14-2016 VOID ALSA 분석기로 표면 파상도 정의

ES-UNE, 단면 분석

• UNE-EN 60127-4:2006 ERRATUM:2006 소형 퓨즈 부품 4: 범용 모듈식 퓨즈(UMF) 스루홀 및 표면 실장 유형
• UNE-EN ISO 18314-4:2022 분석적 측색법 4부: 광원 변화에 따른 샘플 쌍의 메타머리즘 지수
• UNE 55901:1986 ERRATUM 활성 계면활성제 비누 분석 유리 염기 측정

SE-SIS, 단면 분석

• SIS SS IEC 741:1984 핵실험 장비. 다중 채널 진폭 분석기. 시간 진폭 변환기 표준

IN-BIS, 단면 분석

• IS 12275-1987 다중 채널 진폭 분석기를 위한 시간-진폭 변환기 표준

GB-REG, 단면 분석

• REG NASA-LLIS-5276-2012 인간공학 실행 가능성 타임라인 분석 개발에서 얻은 교훈
• REG NASA-LLIS-0788--2000 교훈 표면 전하/정전기 방전 분석

American Society of Civil Engineers (ASCE), 단면 분석

• ASCE GSP 199-2010 GEOFLORIDA 2010 분석, 모델링 및 설계 분야의 발전
• ASCE GSP 176-2007 아스팔트 포장 재료 및 시스템의 새로운 방법 분석

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 단면 분석

• VDI 4405 Blatt 1-2001 내부물류의 프로세스 중심 비용 분석
• VDI 2729 BLATT 2-2017 회전 및 슬라이딩 조인트가 있는 평면 연결부의 모듈식 분석 - 운동정역학적 분석
• VDI 2729 Blatt 1-2014 회전 및 슬라이딩 조인트가 있는 평면 연결부의 모듈식 해석 - 운동학적 해석
• VDI 4405 Blatt 2-2001 사내 물류의 프로세스 중심 비용 분석 - 예시

BE-NBN, 단면 분석

• NBN T 63-123-1980 계면활성제. 비누 분석. 낮은 농도의 유리 글리세롤 측정(분광광도 분석)
• NBN-EN 375-1992 의료 분석 시스템. 전문적으로 사용되는 진단 시약의 체외 라벨링
• NBN T 63-110-1980 계면활성제. 산업용 알칸 설폰산염. 분석방법
• NBN-ISO 893:1990 계면활성제. 산업용 알칼리 술폰산염의 분석 방법

Indonesia Standards, 단면 분석

• SNI 03-6884-2002 포장 경화 충진재의 여과 분석 및 검출 방법

AGMA - American Gear Manufacturers Association, 단면 분석

• 99FTM5-1999 프로토타입 표면 피로 테스트에서 기어 마이크로피팅 부식 분석

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 단면 분석

• TR 101 886-2002 TIPHON(Telecommunications and Internet Protocol Harmonization over Networks), 요구사항 정의 연구, 분석 서비스의 실시간 측면(V1.1.1)

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 단면 분석

• ITU-T P.804-2017 대화 음성 품질 분석을 위한 주관적 진단 테스트 방법(연구 그룹 12)

Association of German Mechanical Engineers, 단면 분석

• VDI 2729 Blatt 1-2016 회전 및 슬라이딩 조인트가 있는 평면 연결의 모듈식 분석 운동학 분석

Professional Standard - Energy, 단면 분석

• NB/T 20476.7-2019 원자력발전소 운영허가 갱신 제7부 : 증기발생기 사용기한 노후화 분석

European Committee for Standardization (CEN), 단면 분석

• EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법

Danish Standards Foundation, 단면 분석

• DS/EN 14670:2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법

Lithuanian Standards Office , 단면 분석

• LST EN 14670-2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 단면 분석

• IPC TM-650 2.3.39A-1988 표면유기오염물질 동정시험(적외선 분석법)
• IPC TM-650 2.3.39B-1997 표면유기오염물질 동정시험(적외선 분석법)
• IPC TM-650 2.3.39C-2004 표면유기오염물질 동정시험(적외선 분석법)

IET - Institution of Engineering and Technology, 단면 분석

• ADV ELECTRO ANALY PASS ACTV PLANAR STRUCT-1999 수동 및 능동 평면 구조의 고급 전자기 분석

기타:   영상분석 적용시, 분석 중 열 응력, 분석 중 열 흐름, 단면 분석, 단면 분석, 열중량 분석 중, 스펙트럼 분석 중, 원소분석을 할 때, 적외선 분석 시간 피크, 분석 중 tga 중량, 분석 중 질량, 분석 중 질소, 테스트를 분석할 때, 혈액 세포 분석 중, 단면 분석, 분석 중 샘플, 원소 분석 요소, DSC 분석, 샘플 분석 중, 샘플 분석 중.