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전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

모두 500항목의 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 금속 재료 테스트, 검은 금속, 광학 및 광학 측정, 비철금속, 원자력공학, 건축 자재, 방사선방호, 방사선 측정, 금속 광석, 철강 제품, 내화물, 어휘, 합금철, 광산 장비, 비파괴 검사, 산업안전, 산업위생, 발전소 종합, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 비철금속 제품, 화학 제품, 쓰레기, 수질, 석유제품 종합, 토양질, 토양과학, 연료, 소방, 고무 및 플라스틱 산업의 생산 공정, 비금속 광물, 석탄, 범죄 예방, 표면 처리 및 도금, 섬유제품, 페인트 성분, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 유리, 세라믹, 식용유지, 유지종자, 지질학, 기상학, 수문학, 의료 장비, 사진 기술, 분말 야금, 버너, 보일러, 유기화학, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 자성 재료.


Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • JIS G 1256:1997 Steel.X선 형광 분광법
  • JIS H 1292:2018 구리 합금.X선 형광 분광법
  • JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
  • JIS H 1292:2005 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS R 2216:2005 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS H 1631:2008 티타늄 합금 X선 형광 분광법 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 강철.X선형광분광분석법
  • JIS G 1351:2006 철 합금 X-선 형광 분광법의 분석 방법
  • JIS H 1292:1997 구리 및 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS H 1287:2015 니켈 및 니켈 합금 X선 형광 분광 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 강철 X선 형광 분광법(수정 사항 2)
  • JIS R 2216:1995 내화벽돌 및 내화모르타르의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS R 5204:2002 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS R 5204:2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.
  • JIS K 0160:2009 표면 화학 분석은 실리콘 웨이퍼 처리 기준 물질의 표면에서 원소 및 화학적 방법을 수집하고 전반사 X선 형광(TXRF) 분광 광도법을 통해 결정합니다.
  • JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • JIS K 2541-4:2003 원유 및 석유 제품 황 함량 측정 4부: 에너지 분산형 X선 형광법
  • JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
  • JIS Z 4752-2-6:2001 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
  • JIS Z 4752-2-6:2012 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
  • JIS K 2541-7:2003 원유 및 석유 제품 황 함량 측정 7부: 파장 분산형 X선 형광법

International Organization for Standardization (ISO), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
  • ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
  • ISO 17054:2010 X선 형광 분광법(XRF) 근사 기법을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
  • ISO 12980:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소재료 전극용 생코크스 및 소성코크스의 X선 형광분석
  • ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 17331:2004 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 기준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법을 통한 결정
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • ISO 9167-2:1994 유채의 글루코시놀레이트 함량 측정 2부: X선 형광 분광법
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • ISO/TR 18392:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광법배경 결정 절차
  • ISO/DTS 9516-2:1976 철광석의 X선 형광 분광법을 사용한 다양한 원소 측정 2부: 단순화된 절차
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 9516-1:2003 철광석 X선 형광 분광법을 통한 다양한 원소 측정 1부: 일반 절차
  • ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 납 및 납 화합물 분석
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
  • ISO/FDIS 22928-1:2023 희토류 - 파장 분산형 X선 형광 분광법(WD-XRFS) 분석 - 1부: 표준이 없는 XRF 상업용 패키지를 사용한 희토류 자석 스크랩의 조성 결정
  • ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석

British Standards Institution (BSI), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
  • BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
  • PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • BS EN 10315:2006(2010) 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • PD ISO/TS 16996:2015 X선 형광법을 이용한 고체 바이오연료의 원소 조성 측정
  • BS ISO 17331:2004+A1:2010 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 표준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법(TXRF)을 통한 결정
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 22863-4:2021 불꽃놀이 속 특정 화학물질 정량 시험법 - 형광X선 분광법을 이용한 납 및 납 화합물 분석
  • 20/30426694 DC BS ISO 22940 X선 형광 방법을 통한 고체 재활용 연료의 원소 조성 측정
  • BS 6043-2.4:2000 알루미늄 제조 코크스 전극 X선 형광 분광법에 사용되는 탄소질 물질의 샘플링 및 테스트 방법
  • BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
  • BS 1902-9.1:1987 내화물 시험 방법 제9부: 화학 분석법 제1부: 규산알루미늄 내화물의 X선 형광 분석 방법
  • BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • DD ENV 725-4-1994 첨단 세라믹 세라믹 분말의 시험 방법 X선 형광 분광법을 이용한 질화알루미늄의 산소 함량 측정
  • BS EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광법 선택 사항) 습식 화학 분석
  • BS EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 습식 화학 분석
  • BS EN 725-4:2006 고급 산업용 세라믹 세라믹 분말의 테스트 방법 X선 형광 분광법(XRF) 분석을 통한 질화알루미늄의 산소 함량 측정.
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택 사항) 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
  • BS EN 15485:2007 가솔린의 혼합 성분인 에탄올의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
  • 19/30401682 DC BS ISO 22863-4 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
  • BS EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 기구, 시약 및 분해된 중량 실리카 측정
  • BS EN ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 19140-2003 시멘트의 X선 형광 분석을 위한 일반 원리
  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
  • GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
  • GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
  • GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
  • GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
  • GB/T 14506.28-1993 규산염 암석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 주원소 및 부원소 측정.
  • GB/T 14849.5-2010 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • GB/T 30701-2014 표면 화학 분석: 실리콘 웨이퍼 작업 표준 샘플의 표면 원소에 대한 화학 포집 방법 및 전반사 X선 형광 분광법(TXRF) 측정
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 14849.5-2014 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 불순물 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • GB/T 6609.30-2009 알루미나의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 파트 30: X선 형광 분광법을 통한 미량 원소 함량 측정
  • GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정

RU-GOST R, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • KS M 0017-2010 X선 형광 분석의 일반 원리
  • KS D 1654-1993 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
  • KS D 1654-2003(2016) 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
  • KS D 2710-2019 페로니오븀의 X선 형광 분광법
  • KS L 5222-2009 시멘트의 형광X선 분석방법
  • KS D 1898-1993 구리합금 형광X선 분석방법
  • KS D 1655-1993 철강의 X선 형광분광분석법
  • KS M 0017-1995 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
  • KS D 1898-2019 구리 합금의 X선 형광 분광 분석
  • KS E 3045-2002(2007) 철광석의 X선 형광 분석 방법
  • KS L 3316-2014 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • KS D 1686-2011(2021) 철합금의 X선 형광분광분석법
  • KS L 3316-2014(2019) 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • KS L 3316-1998 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • KS L 3316-1988 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
  • KS E 3076-2017 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
  • KS E 3076-2022 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
  • KS D 2597-1996(2021) 지르코늄 및 지르코늄 합금에 대한 X선 형광 분광학 분석 방법
  • KS L 5222-2009(2019) X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • KS L 3316-2009 내화 벽돌 및 내화 모르타르의 X선 형광 분광법
  • KS E 3075-2002 석회석 및 백운석의 X선 형광 분광법 분석 방법
  • KS D 1655-2008(2019) 철강의 X선 형광분광분석법
  • KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
  • KS E 3075-2017 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
  • KS D 1686-2011(2016) 철합금의 X선 형광분광법 분석방법
  • KS E 3075-2022 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
  • KS M 1068-2005 형광X-ray 분석을 이용한 유해물질의 정성/정량분석
  • KS D 2597-1996(2016) 지르코늄 및 지르코늄 합금의 X선 형광 분광법 분석 방법
  • KS E 3076-2002 원패스 실리카 및 실리카의 X선 형광 분석
  • KS D ISO 17054:2018 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석의 기존 방법
  • KS M ISO 14597:2003 액체 연료 검사, 바나듐 및 니켈 함량 측정, X선 형광 분석
  • KS E ISO 10086-2:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • KS L ISO 21587-2:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
  • KS M ISO 12980-2004(2009) 원료 코크스 및 소성 코크스의 X선 형광법을 이용한 알루미늄 생산용 탄소재료 전극 분석
  • KS L ISO 21587-2-2012(2017) 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석
  • KS L ISO 10058-2:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS L ISO 20565-2-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 2부: 습식 화학 분석
  • KS L ISO 10058-2-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS L ISO 21587-2-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
  • KS M ISO 12980:2004 알루미늄 제조용 탄소재료, 미하소 코크스, 전극용 하소 코크스, X선 형광 분광법에 의한 분석
  • KS M ISO 12980:2013 알루미늄 생산에 사용되는 탄소재료 전극용 X선 형광분광법을 이용한 미하소 코크스 및 소성 코크스 분석
  • KS M ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • KS L ISO 20565-2-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS L ISO 10058-2-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
  • KS E ISO 9516-1-2006(2016) 철광석의 X선 형광 분광법을 통한 다양한 원소 측정 1부: 종합 절차
  • KS E ISO 9516-1-2006(2021) 철광석의 X선 형광 분광법을 통한 다양한 원소 측정 1부: 종합 절차
  • KS L ISO 20565-2:2012 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • KS M ISO 20847:2006 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
  • KS E ISO 10086-1:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정
  • KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석

Professional Standard - Machinery, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • JB/T 9401-1999 측면 창 형광 분석 X선관
  • JB/T 8425-1996 철 기반 스프레이 분말의 크롬, 니켈, 몰리브덴 및 바나듐의 X선 형광 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법

Professional Standard - Building Materials, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

Professional Standard - Nuclear Industry, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • EJ/T 1067-1998 X선 형광 분석을 위한 Americium 241 소스
  • EJ/T 1068-1998 X선 형광 분석을 위한 플루토늄-238 소스
  • EJ/T 767-1993 방사성 소스에 의해 여기되는 X선 형광 분석기
  • EJ/T 805-1993 X선 형광 분석을 위한 저에너지 광자 소스
  • EJ/T 684-1992 휴대용 소스 여기 X선 형광 분석기
  • EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기
  • EJ/T 1212.3-2008 소결된 산화가돌리늄-이산화우라늄 펠렛의 분석 방법 3부: 파장 분산 X선 형광 분광법을 통한 산화가돌리늄 함량 측정
  • EJ/T 1212.3-2018 소결된 산화가돌리늄-이산화우라늄 펠렛의 분석 방법 파트 3: 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 삼산화가돌리늄 함량 측정

American National Standards Institute (ANSI), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

KR-KS, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

German Institute for Standardization, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DIN 51003:2004 전반사 X선 형광 일반 원리 및 정의
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 검량선 개발
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
  • DIN EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 미량 성분 측정의 예
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 14597:1999 미네랄 오일 제품, 바나듐 및 니켈 함량 측정, 파장 분산형 X선 형광 분석 방법
  • DIN EN 10315:2006-10 근거리장 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 통해 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • DIN 51729-10:1996 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석(RFA)
  • DIN 51729-10:2011-04 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • DIN 51729-10:2011 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DIN 51396-2:1998 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
  • DIN 51396-2:2008 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
  • DIN ISO 12980:2006 알루미늄 생산용 탄소 재료 전극용 녹색 및 소성 코크스 X선 형광 분석 방법(ISO 12980-2000)
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN 51769-12:2020-03 석유 제품 가솔린의 낮은 납 함량 측정 12부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRF)
  • DIN EN 15309:2007-08 X선 형광에 의한 원소 조성 결정을 통한 폐기물 및 토양의 특성 분석
  • DIN 6868-4:2007 진단용 X선 부서의 이미지 품질 보증 파트 4: 투시용 의료용 X선 장비의 안정성 테스트
  • DIN 51829:2013-03 석유 제품 그리스의 첨가제 및 마모 성분 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석
  • DIN EN 16424:2015-03 폐기물 특성화 휴대용 X선 형광기기 원소 조성 스크리닝 방법
  • DIN EN ISO 22940:2021-12 고체 재활용 연료 - X선 형광을 통한 원소 조성 측정(ISO 22940:2021)
  • DIN EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DIN 6868-150:2013 X선 진단 부서의 이미지 품질 보증 파트 159: 의료 영상 및 형광 X선 장비에 대한 RöV 승인 테스트
  • DIN EN ISO 12677:2012 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 방법 캐스트 비드 방법(ISO 12677-2011) 독일어 버전 EN ISO 12677-2011
  • DIN CEN/TR 16176:2012-03*DIN SPEC 19776:2012-03 현장 검증을 위한 폐기물 특성화 X선 형광 분광법 원소 조성 스크리닝 방법
  • DIN EN ISO 12677:2013 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 방법 캐스트 비드 방법(ISO 12677-2011) 독일어 버전 EN ISO 12677-2011
  • DIN ISO 15597:2006 석유 및 관련 제품 염소 및 브롬 조성 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • DIN EN ISO 22940:2020 X선 형광을 이용한 고체 재활용 연료의 원소 조성 측정(ISO/DIS 22940:2020)
  • DIN EN ISO 21587-1:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) - 1부: 기기, 시약, 용해 및 중량 실리카
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • DIN 51396-2:2008-11 윤활제 테스트 - 마모 요소 측정 - 2부: 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)
  • DIN EN ISO 21587-3:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) - 3부: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법

工业和信息化部, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • JB/T 14323-2021 X선형광선별기
  • YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정
  • YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
  • YS/T 806-2020 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 방법 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • YS/T 575.23-2021 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
  • YS/T 581.15-2012 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정
  • YS/T 1340-2019 납 및 납 합금의 화학적 분석 방법 주석, 안티몬, 비소, 비스무트, 구리, 카드뮴, 칼슘 및 은 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DB44/T 1602-2015 석재 조성 분석 방법 - X선 형광 분광법
  • DB44/T 1826-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 합금 주얼리 구성 요소 측정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
  • GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트
  • GB/T 34534-2017 X선 형광 분광법을 이용한 코크스재 성분 함량 측정
  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

Professional Standard - Electricity, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
  • GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 3884.21-2018 구리 정광의 화학적 분석 방법 21부: 구리, 황, 납, 아연, 철, 알루미늄, 칼슘, 마그네슘 및 망간의 양 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • GB/T 8151.22-2020 아연 정광의 화학적 분석 방법 22부: 아연, 구리, 납, 철, 알루미늄, 칼슘 및 마그네슘 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법

Professional Standard - Geology, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DZ/T 0370-2021 휴대용 X선 형광 현장 분석에 대한 기술 규정
  • DZ/T 0279.10-2016 지역 지구화학적 시료 분석 방법 파트 10: 염소 및 브롬 함량 분말 압착 정제 측정 - X선 형광 분광법
  • DZ/T 0279.1-2016 지역 지구화학적 시료 분석 방법 1부: 산화알루미늄, 분말 압축 등 24개 성분 측정 - X선 형광 분광법

International Electrotechnical Commission (IEC), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비
  • IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비

IN-BIS, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • YS/T 869-2013 4A 제올라이트 X선 형광법의 화학성분 분석방법
  • YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
  • YS/T 703-2014 석회석 화학 분석 방법 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
  • YS/T 575.23-2009 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 806-2012 알루미늄 및 알루미늄 합금의 희토류 분석 방법 X선 형광 분광법을 통한 란타늄, 세륨, 프라세오디뮴, 네오디뮴 및 사마륨 함량 측정.
  • YS/T 739-2010 X선 형광분광법을 이용한 알루미늄 전해질의 분자비 및 주요성분 측정
  • YS/T 63.16-2006 알루미늄에 사용되는 탄소재료의 시험방법 제16부: 미량원소 측정 X선 형광분광분석법
  • YS/T 273.14-2008 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성을 위한 방법 14부: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 581.10-2006 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 10부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
  • YS/T 273.11-2006 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 11부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
  • YS/T 581.16-2008 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 16부 X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 581.18-2012 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 18부: X선 형광 분광법(정제 프레싱) 방법에 의한 원소 함량 측정
  • YS/T 273.15-2012 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정
  • YS/T 63.16-2019 알루미늄용 탄소재료 시험 방법 16부: 원소 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광 분석 방법
  • YS/T 820.19-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 19: 알루미늄, 크롬, 철, 마그네슘, 망간, 니켈 및 실리콘의 양 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Association Francaise de Normalisation, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
  • NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
  • XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
  • NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
  • NF EN ISO 22940:2021 고체 재활용 연료의 원소 조성에 대한 X선 형광 측정
  • NF EN 13068-3:2002 NDT 형광 검사 파트 3: 금속 재료의 X선 및 감마선 형광 검사의 일반 원리
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
  • NF A06-377*NF EN 10315:2006 신기술이 적용된 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 일반적인 고합금강 분석 방법
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
  • NF M07-053*NF EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
  • NF B49-401*NF ISO 16169:2018 ISO 12677 X선 형광(XRF) 분석을 위한 탄화규소 및 유사 물질 준비를 위한 캐스트 비드 방법
  • NF M07-053:1995 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광법
  • NF EN 16424:2014 폐기물 특성화 - 휴대용 X선 형광 분석기를 사용한 원소 조성 결정을 위한 스크리닝 방법
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF ISO 16169:2018 ISO 12677 - 용융 비드 방법에 따라 X선 형광(XRF) 분석을 위한 탄화규소 및 유사 물질 준비
  • NF EN 15309:2007 폐기물 및 토양의 특성 분석 - X선 형광을 통한 원소 조성 측정
  • NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
  • NF EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석 방법
  • NF EN ISO 10058-2:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 2부: 습식 화학 분석 방법
  • NF A95-491*NF EN 24503:1993 초경합금 X선 형광법에 의한 금속 원소 조성 측정 용융 방법
  • NF V03-918-2:1997 유채, 포도당 염기 함량 측정 2부: X선 형광 분광법.
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF EN 15063-2:2006 파장 분산형 X선 형광(XRF) 분광법에 의한 구리 및 구리 합금의 주요 원소 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법
  • NF B49-435-2*NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
  • NF S57-037-4*NF ISO 22863-4:2021 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
  • NF ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 그 화합물 분석
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF M07-110*NF EN ISO 20847:2004 석유 제품 - 자동차 연료의 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 방법
  • NF EN ISO 21587-3:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) - 3부: 원자 흡수 분광법(AAS) 및 플라즈마 원자 방출 분광법...
  • NF M07-145*NF EN ISO 13032:2012 석유 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법.
  • NF EN ISO 13196:2015 토양 품질 – 휴대용 또는 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분광계를 사용하여 토양에서 선택한 요소를 신속하게 분석합니다.
  • NF EN ISO 20565-3:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 3: 원자 흡수 분광법...
  • NF EN 15063-1:2015 파장 분산형 X선 형광(XRF) 분광법을 통한 구리 및 구리 합금의 주요 원소 및 불순물 측정 1부: 일반 방법 안내
  • NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

Professional Standard - Commodity Inspection, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • SN/T 2079-2008 스테인레스강 및 합금강 X선 형광 분광법 분석 방법
  • SN/T 2764-2011 X선 형광 분광법을 통한 형석의 다양한 성분 측정
  • SN/T 2763.1-2011 라테라이트 니켈 광석의 다양한 성분 측정 1부: X선 형광 분광법
  • SN/T 3318.2-2015 지르콘 모래의 화학적 분석 방법 2부: 지르코늄, 철 및 티타늄 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • SN/T 2696-2010 X-선 형광 분광법을 통한 석탄재 및 코크스재 성분의 주요 및 부원소 측정
  • SN/T 3322.1-2012 수출입용 티타늄 정광의 화학적 분석 방법 1부: 1차 및 2차 성분 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • SN/T 3321.3-2015 석회석 및 백운석 분석 방법 3부: 1차 및 2차 성분 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법

Standard Association of Australia (SAA), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석
  • AS 4392.2:1997 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 석재
  • AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
  • AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
  • AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
  • ISO 7291:2010/Amd.1:2015 표면 화학 분석 기준 물질을 사용하는 실리콘 웨이퍼 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법 및 전반사 X선 형광(TXRF) 분광학을 통한 결정 수정 1
  • AS 2879.7:1997 산화알루미늄 7부: 미량 원소 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • AS 1038.14.3:1999(R2013) 석탄 및 코크스 분석 및 테스트 고급 석탄 및 코크스 재 주요 및 미량 원소 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • AS 1038.14.3:1999 석탄과 콜라. 분석 및 테스트. 고급 비산회와 코크스재. 1차 및 2차 요인. 파장 분산형 X선 형광 분광법

未注明发布机构, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

工业和信息化部/国家能源局, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

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  • ASTM D6052-97(2016) 에너지 분산형 X선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM C1271-99(2006) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99(2020) 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM D6334-98 파장 분포 X선 형광법을 이용한 가솔린 내 황 측정의 표준 시험 방법
  • ASTM D6334-98(2003)e1 파장 분포 X선 형광법을 이용한 가솔린 내 황 측정의 표준 시험 방법
  • ASTM E322-96(2004) 저합금강 및 주철의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D5839-96 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐기물 연료의 미량원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2003) 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2008) 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2023) 에너지 분산형 X선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM D8127-23 X선 형광(XRF)을 이용한 사용 중인 윤활유의 결합 입자 및 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2465-11e1 X-선 분광학을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM C1271-99(2012) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM D7343-07 석유 제품 및 윤활유의 원소 분석을 위한 X선 형광 분광법의 최적화, 시료 준비, 교정 및 식별을 위한 실천 강령
  • ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM D8127-17 X선 형광(XRF)을 이용한 사용 중인 윤활유의 입자 및 원소 결합 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E539-90(1996)e1 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E539-02 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E539-06 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM B890-02 X선 형광 분광법을 이용한 텅스텐 합금 및 텅스텐 카바이드의 금속 조성 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM B890-98 X선 형광 분광법을 이용한 텅스텐 합금 및 텅스텐 카바이드의 금속 조성 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM B890-07(2012) X선 형광 분광법을 이용한 텅스텐 합금 및 텅스텐 경금속의 금속 조성 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7343-12 석유 제품 및 윤활유의 원소 분석을 위한 X선 형광 분광법의 최적화, 시료 준비, 교정 및 적격성 평가에 대한 표준 관행
  • ASTM D4927-20 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 윤활제 및 첨가제 성분의 원소분석을 위한 표준시험법 바륨 칼슘 인 황 아연

ES-UNE, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • UNE 53934:2016 고분자 재료의 원소에 대한 플라스틱 X선 형광 분석
  • UNE-EN ISO 22940:2022 X선 형광을 이용한 고체 재활용 연료의 원소 조성 확인
  • UNE-EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
  • UNE-EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석(ISO 20565-2:2008)

Professional Standard - Chemical Industry, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • HG/T 6227-2023 Analysis method of chemical composition of catalytic cracking catalyst X-ray fluorescence spectrometry
  • HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • T/CSTM 01102-2023-2023 마이크로빔 X선 형광 분광법을 이용한 용접 조인트 부품의 현장 통계 분포 분석
  • T/CACE 064-2022 X선 형광 분광법을 이용한 석탄 가스화 슬래그 조성 측정
  • T/IMPCA 0001-2021 화학공업설비의 철강 및 제품에 함유된 합금원소의 X선 형광분광분석법
  • T/NAIA 0128-2022 원소 함량을 측정하기 위한 수산화알루미늄 X선 형광 분광법(정제 압착) 방법의 신속한 측정
  • T/GMES 004-2018 X선 형광 분광법을 통한 크로마이트의 다양한 성분 측정(분말 정제화)
  • T/GMES 005-2018 X선 형광 분광법(주조 유리판 방법)을 통한 땜납의 다양한 성분 측정
  • T/CGWSTC 001-2022 X선 형광 분광법(분말 타정)을 통한 세라믹 원료의 다양한 성분 측정

European Committee for Standardization (CEN), 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
  • PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
  • EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • EN ISO 9167-2:1997 유채의 글루코시놀레이트 함량 측정 2부: X선 형광 분광법
  • EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN 955-2]
  • EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN ISO 10058]
  • EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • EN ISO 20884:2019 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산 X선 형광 분광법
  • EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • EN 725-4:2006 하이테크 세라믹 세라믹 분말 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF) 분석을 통한 질화알루미늄의 산소 함량 측정 - 1994

Danish Standards Foundation, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DS/CEN/TR 10354:2012 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 Si 및 Al 측정
  • DS/EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
  • DS/EN 10315:2006 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DS/EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DS/EN ISO 22940:2021 X선 형광법을 통한 고체 재활용 연료의 원소 조성 측정(ISO 22940:2021)
  • DS/ISO 22863-4:2021 Fireworks "특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법" 제4부: X선 형광 분광법(XRF)에 의한 납 및 납 화합물 분석
  • DS/EN 15485:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 가솔린 혼합 구성 요소의 에탄올 황 함량 측정
  • DS/EN ISO 21587-3:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 3: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DB37/T 266-1999 건축자재 제품의 폐잔류량 측정방법 X선 형광분석

Lithuanian Standards Office , 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • LST EN 10315-2006 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • LST EN ISO 12677:2012 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석(ISO 12677:2011)
  • LST EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)
  • LST EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 10058-2:2008)
  • LST EN 15485-2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 가솔린 혼합 구성 요소의 에탄올 황 함량 측정
  • LST EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 20565-2:2008)

AENOR, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • UNE-EN 10315:2007 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • UNE-EN ISO 12677:2012 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석(ISO 12677:2011)
  • UNE-EN ISO 21587-2:2008 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)
  • UNE-EN 15485:2008 파장 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 가솔린 혼합 구성 요소의 에탄올 황 함량 측정

Professional Standard - Public Safety Standards, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GA/T 1655-2019 법의학 토양 원소 조성 테스트 X선 형광 분광법
  • GA/T 1654-2019 법의학 논문 원소 조성 테스트 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • GA/T 1417-2017 유리 증거 파장 분산형 X선 형광 분광법의 법의학 원소 조성 테스트

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DB53/T 639.7-2014 직접 환원철의 화학적 분석 방법 7부: 다중 원소 측정 X선 형광 분광법

Professional Standard - Textile, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • FZ/T 01163-2022 섬유 및 액세서리의 총 납 및 총 카드뮴 함량 측정 X선 형광 분광법(XRF) 분석 방법

Professional Standard - Rare Earth, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • XB/T 610.1-2007 사마륨-코발트 1:5형 영구자석 합금 분말의 화학적 분석 방법, 사마륨 및 코발트 함량 측정, X선 형광 분광법.

RO-ASRO, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

VN-TCVN, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • TCVN 3172-2008 석유 및 석유 제품 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 측정

BE-NBN, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • NBN-ISO 8754:1993 석유 제품. 황 함량 측정. 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • DB34/T 2127.2-2014 지역 지구화학적 조사 시료 분석 방법 2부: X선 형광 분광법을 통한 다원소 함량 측정
  • DB34/T 3368.1-2019 인쇄 회로 기판의 유해 물질 분석 방법 1부: X선 형광 분광법을 통한 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬의 신속한 스크리닝

CH-SNV, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • SN EN ISO 22940:2021 X선 형광을 이용한 고체 재활용 연료의 원소 조성 측정(ISO 22940:2021)

PT-IPQ, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

GOSTR, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • GOST 32139-2019 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정

ES-AENOR, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • UNE 80-211-1994 시멘트의 화학적 분석 및 시험 방법. 포틀랜드 시멘트 클링커와 X선 형광표지 시멘트의 함량 측정
  • UNE 80-210-1994 시멘트의 화학적 분석 및 시험 방법. 포틀랜드 시멘트 클링커와 X선 형광표지 시멘트의 함량 측정

ZA-SANS, 전반사 X선 형광 분석 및 X선 형광 분석

  • SANS 408:2007 석탄과 코크스의 분석 및 테스트. 고급 비산회와 코크스재. 1차 및 2차 요인. 파장 분산형 X선 형광 분광법




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