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X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

모두 500항목의 X선 형광 분석 및 X선 회절 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 X선 형광 분석 및 X선 회절 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 방사선방호, 산업안전, 산업위생, 금속 재료 테스트, 검은 금속, 발전소 종합, 광학 및 광학 측정, 원자력공학, 건축 자재, 방사선 측정, 비철금속, 어휘, 내화물, 철강 제품, 금속 광석, 화학 제품, 비파괴 검사, 합금철, 광산 장비, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 비철금속 제품, 입자 크기 분석, 스크리닝, 무기화학, 공기질, 비금속 광물, 페인트 성분, 수질, 석유제품 종합, 전자관, 소방, 쓰레기, 반도체 소재, 석탄, 고무 및 플라스틱 산업의 생산 공정, 기르다, 토양질, 토양과학, 연료, 표면 처리 및 도금, 섬유제품, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 유리, 세라믹, 범죄 예방, 의료 장비, 실험실 의학, 광학 장비, 사진 기술, 지질학, 기상학, 수문학.


PT-IPQ, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

American National Standards Institute （ANSI), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
  • GB/T 19140-2003 시멘트의 X선 형광 분석을 위한 일반 원리
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
  • GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
  • GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 13710-1992 분석용 X선관 블랭크 상세 사양
  • GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
  • GB/T 14506.28-1993 규산염 암석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 주원소 및 부원소 측정.
  • GB/T 14849.5-2010 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • GB/T 14849.5-2014 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 불순물 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
  • GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
  • GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
  • GB/T 30701-2014 표면 화학 분석: 실리콘 웨이퍼 작업 표준 샘플의 표면 원소에 대한 화학 포집 방법 및 전반사 X선 형광 분광법(TXRF) 측정
  • GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
  • GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

RU-GOST R, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

Professional Standard - Electricity, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

Professional Standard - Machinery, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • JB/T 9401-1999 측면 창 형광 분석 X선관
  • JB/T 9399-1999 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
  • JB/T 9399-2010 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
  • JB/T 8425-1996 철 기반 스프레이 분말의 크롬, 니켈, 몰리브덴 및 바나듐의 X선 형광 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법

Professional Standard - Building Materials, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

Professional Standard - Nuclear Industry, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

工业和信息化部, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
  • YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
  • JB/T 14323-2021 X선형광선별기
  • YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
  • YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정
  • YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
  • YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법
  • YS/T 806-2020 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 방법 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
  • YS/T 575.23-2021 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
  • YS/T 581.15-2012 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • JIS G 1256:1997 Steel.X선 형광 분광법
  • JIS H 1292:2018 구리 합금.X선 형광 분광법
  • JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
  • JIS H 1292:2005 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS R 2216:2005 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
  • JIS H 1631:2008 티타늄 합금 X선 형광 분광법 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 강철.X선형광분광분석법
  • JIS G 1351:2006 철 합금 X-선 형광 분광법의 분석 방법
  • JIS H 1292:1997 구리 및 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS H 1287:2015 니켈 및 니켈 합금 X선 형광 분광 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 강철 X선 형광 분광법(수정 사항 2)
  • JIS R 2216:1995 내화벽돌 및 내화모르타르의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS R 5204:2002 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS R 5204:2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.
  • JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • JIS A 1481-3:2014 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석
  • JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
  • JIS Z 4752-2-6:2001 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
  • JIS Z 4752-2-6:2012 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석(수정 사항 1)
  • JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.

German Institute for Standardization, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 검량선 개발
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
  • DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 미량 성분 측정의 예
  • DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
  • DIN EN ISO 14597:1999 미네랄 오일 제품, 바나듐 및 니켈 함량 측정, 파장 분산형 X선 형광 분석 방법
  • DIN 51729-10:1996 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석(RFA)
  • DIN 51729-10:2011-04 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DIN EN 10315:2006-10 근거리장 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 통해 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • DIN 51729-10:2011 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN 51396-2:1998 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
  • DIN 51396-2:2008 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN ISO 12980:2006 알루미늄 생산용 탄소 재료 전극용 녹색 및 소성 코크스 X선 형광 분석 방법(ISO 12980-2000)
  • DIN 51769-12:2020-03 석유 제품 가솔린의 낮은 납 함량 측정 12부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRF)
  • DIN 6868-4:2007 진단용 X선 부서의 이미지 품질 보증 파트 4: 투시용 의료용 X선 장비의 안정성 테스트
  • DIN EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • DIN 6868-150:2013 X선 진단 부서의 이미지 품질 보증 파트 159: 의료 영상 및 형광 X선 장비에 대한 RöV 승인 테스트
  • DIN EN ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
  • DIN EN 15309:2007-08 X선 형광에 의한 원소 조성 결정을 통한 폐기물 및 토양의 특성 분석
  • DIN 51440-1:2003 휘발유 테스트 인 함량 측정 1부: 파장 분산형 X선 분광법.
  • DIN EN ISO 12677:2012 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 방법 캐스트 비드 방법(ISO 12677-2011) 독일어 버전 EN ISO 12677-2011
  • DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
  • DIN 51829:2013-03 석유 제품 그리스의 첨가제 및 마모 성분 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석

International Organization for Standardization (ISO), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
  • ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 스퍼터링 방법
  • ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
  • ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 17054:2010 X선 형광 분광법(XRF) 근사 기법을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
  • ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
  • ISO 12980:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소재료 전극용 생코크스 및 소성코크스의 X선 형광분석
  • ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO/TR 18392:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광법배경 결정 절차
  • ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
  • ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X-선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
  • ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
  • ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
  • ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 반복성 및 강도 안정성

British Standards Institution (BSI), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
  • BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • BS EN 10315:2006(2010) 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
  • BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
  • PD ISO/TS 16996:2015 X선 형광법을 이용한 고체 바이오연료의 원소 조성 측정
  • BS 1902-9.1:1987 내화물 시험 방법 제9부: 화학 분석법 제1부: 규산알루미늄 내화물의 X선 형광 분석 방법
  • BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS ISO 22863-4:2021 불꽃놀이 속 특정 화학물질 정량 시험법 - 형광X선 분광법을 이용한 납 및 납 화합물 분석
  • BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
  • BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
  • BS 6043-2.4:2000 알루미늄 제조 코크스 전극 X선 형광 분광법에 사용되는 탄소질 물질의 샘플링 및 테스트 방법
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
  • BS EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광법 선택 사항) 습식 화학 분석
  • BS EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 습식 화학 분석
  • 20/30426694 DC BS ISO 22940 X선 형광 방법을 통한 고체 재활용 연료의 원소 조성 측정
  • BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명

KR-KS, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
  • YB/T 4177-2008 슬래그 X선 형광분광법 분석방법
  • YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법
  • YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
  • GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
  • GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
  • GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트
  • GB/T 34534-2017 X선 형광 분광법을 이용한 코크스재 성분 함량 측정
  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
  • GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • DB44/T 1602-2015 석재 조성 분석 방법 - X선 형광 분광법
  • DB44/T 1826-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 합금 주얼리 구성 요소 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1085-95(2004) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E1085-95(2000) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E1085-95(2004)e1 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
  • ASTM E1621-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E572-94(2000) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E1361-90(1999) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E572-94(2000)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E1361-02(2021) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1085-09 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2465-19 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E539-11 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM E322-96e1 저합금강 및 주철의 X선 방출분광분석법
  • ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D2332-84(1999) 파장 분산 X선 형광을 이용한 수중 퇴적물 분석의 표준 사례
  • ASTM E3294-22 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1621-94(1999) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1621-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E3294-23 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E539-19 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM C1416-99 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM C1416-04 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D2332-08 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석의 표준 사례
  • ASTM D2332-13 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
  • ASTM D2332-84(2003) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
  • ASTM C1416-04(2009) X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E539-07 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 형광 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2465-11 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1085-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM E2465-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D6247-98(2004) X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 원소 함량 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D2332-13(2021) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 수성 퇴적물 분석의 표준 관행
  • ASTM E322-96(2004) 저합금강 및 주철의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM C1271-99(2006) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99(2020) 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM E572-02a(2006)e2 X선 형광 분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM E1085-16 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM E2465-06 X선 형광 분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM D5380-93(2003) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D5380-93(2021) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM C1255-93(1999) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM C1255-18 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM C1255-93(2005) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM C1255-11 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
  • ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2465-11e1 X-선 분광학을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM C1271-99(2012) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM D6247-98 X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 원소 함량 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D7751-11e1 X선 형광분석을 이용한 윤활유 첨가원소 측정의 표준시험방법
  • ASTM F2980-13(2017) 현장 휴대형 X선 형광(XRF)을 사용한 유리 내 중금속 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F2980-13 현장 휴대형 X선 형광(XRF)을 사용한 유리 내 중금속 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E539-90(1996)e1 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E539-02 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E539-06 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-12 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준시험법
  • ASTM E572-13 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준시험법
  • ASTM E322-12 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 및 주철 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM D6247-10 파장 분산 X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 기본 원소 함량 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D5839-96(2001) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D5839-96(2006) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E572-21 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준시험법
  • ASTM D5839-15(2023) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐기물 연료의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7751-11 에너지 분산형 X선 형광 분석을 통한 윤활유 첨가 원소 측정을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM C1605-04(2014) 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 세라믹 백색재료의 화학적 분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM D8127-17e1 인라인 윤활제에 대한 X선 형광(XRF)을 사용한 결합 입자 및 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1361-02 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1361-02(2007) X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM D5839-15 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D6052-97(2016) 에너지 분산형 X선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM C1605-04(2009) 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 백색 세라믹 재료의 화학적 분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1605-04 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 백색 세라믹 재료의 화학적 분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM D6052-97 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2003) 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2008) 에너지 분산형 X-선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D6052-97(2023) 에너지 분산형 X선 형광을 이용한 액체 유해 폐기물의 준비 및 원소 분석을 위한 표준 시험 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
  • IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비

Professional Standard - Geology, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • DZ/T 0370-2021 휴대용 X선 형광 현장 분석에 대한 기술 규정
  • DZ/T 0279.10-2016 지역 지구화학적 시료 분석 방법 파트 10: 염소 및 브롬 함량 분말 압착 정제 측정 - X선 형광 분광법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • YS/T 869-2013 4A 제올라이트 X선 형광법의 화학성분 분석방법
  • YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
  • YS/T 703-2014 석회석 화학 분석 방법 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
  • YS/T 575.23-2009 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 806-2012 알루미늄 및 알루미늄 합금의 희토류 분석 방법 X선 형광 분광법을 통한 란타늄, 세륨, 프라세오디뮴, 네오디뮴 및 사마륨 함량 측정.
  • YS/T 273.14-2008 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성을 위한 방법 14부: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 581.10-2006 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 10부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
  • YS/T 273.11-2006 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 11부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
  • YS/T 581.16-2008 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 16부 X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
  • YS/T 63.16-2006 알루미늄에 사용되는 탄소재료의 시험방법 제16부: 미량원소 측정 X선 형광분광분석법
  • YS/T 739-2010 X선 형광분광법을 이용한 알루미늄 전해질의 분자비 및 주요성분 측정
  • YS/T 581.18-2012 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 18부: X선 형광 분광법(정제 프레싱) 방법에 의한 원소 함량 측정
  • YS/T 273.15-2012 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정

IN-BIS, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Association Francaise de Normalisation, X선 형광 분석 및 X선 회절 분석

  • NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
  • NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
  • NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
  • XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
  • NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X선 회절을 이용한 작업장 공기 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법.
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
  • NF EN ISO 22940:2021 고체 재활용 연료의 원소 조성에 대한 X선 형광 측정
  • NF B49-401*NF ISO 16169:2018 ISO 12677 X선 형광(XRF) 분석을 위한 탄화규소 및 유사 물질 준비를 위한 캐스트 비드 방법
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF A06-377*NF EN 10315:2006 신기술이 적용된 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 일반적인 고합금강 분석 방법
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF EN 16424:2014 폐기물 특성화 - 휴대용 X선 형광 분석기를 사용한 원소 조성 결정을 위한 스크리닝 방법
  • NF EN 13068-3:2002 NDT 형광 검사 파트 3: 금속 재료의 X선 및 감마선 형광 검사의 일반 원리
  • NF S92-502:2006 의료 생물 분석 실험실 인체 방사선학 폐 계수 저에너지 X선 및 알파선 방출기(200keV 미만)
  • NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
  • NF EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석 방법
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X선 회절을 통한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
  • NF ISO 16169:2018 ISO 12677 - 용융 비드 방법에 따라 X선 형광(XRF) 분석을 위한 탄화규소 및 유사 물질 준비
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