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전자 현미경

모두 70항목의 전자 현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 영화, 광학 및 광학 측정, 길이 및 각도 측정, 화학 장비, 의료 장비, 분석 화학, 통신 단말 장비, 공기질, 비철금속, 종합 전자 부품, 페인트 및 바니시, 우유 및 유제품, 섬유 섬유, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 금속 재료 테스트, 섬유제품, 전자 디스플레이 장치, 사진 기술.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 현미경

Association of German Mechanical Engineers, 전자 현미경

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 현미경

  • ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
  • ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
  • ASTM F1372-93(2012) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1372-93(2005) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
  • ASTM F1372-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1372-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법

RU-GOST R, 전자 현미경

  • GOST 9039-1973 영화 프로젝터 렌즈용 왜곡 대물 렌즈 배럴 기술 사양
  • GOST 8998-1974 전화 교환용 렌즈 기술 사양
  • GOST R 8.697-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 결정의 평면 간격 투과 전자 현미경을 사용한 측정 방법

International Telecommunication Union (ITU), 전자 현미경

HU-MSZT, 전자 현미경

International Organization for Standardization (ISO), 전자 현미경

  • ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 현미경

  • GB/T 16594-1996 미크론 수준의 길이를 주사전자현미경으로 측정하는 방법
  • GB/T 17722-1999 금속캡층 두께의 주사전자현미경 측정방법
  • GB/T 16594-2008 미크론 단위 길이의 주사 전자 현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 20307-2006 나노크기 길이의 주사전자현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
  • GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
  • GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정
  • GB/T 27510-2011 DLP, CRT, LCOS 및 LCD 프로젝션 TV 화면의 프레넬 렌즈

Group Standards of the People's Republic of China, 전자 현미경

  • T/GDAQI 111-2023 의료용 전자내시경의 피사계심도 평가방법
  • T/GDAQI 94-2022 의료용 전자 내시경의 최종 해상도 결정
  • T/CSTM 00229-2020 페인트의 그래핀 재료 측정 주사 전자현미경-에너지 분광법
  • T/CNTAC 21-2018 섬유 내 그래핀 물질의 식별 방법 투과전자현미경
  • T/GAIA 017-2022 주사전자현미경 및 에너지 분광학을 통한 알루미늄 및 알루미늄 합금 표면 코팅의 불소 함량 측정

German Institute for Standardization, 전자 현미경

  • DIN 28120:2021 주전원 연결에 사이트 글라스가 있는 원형 사이트 글라스 액세서리
  • DIN EN ISO 10685-2:2013 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 2: 상업 정보(ISO 10685-2-2012) 독일어 버전 EN ISO 10685-2-2012
  • DIN EN ISO 10685-3:2013 안과 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보(ISO 10685-3-2012) 독일어 버전 EN ISO 10685-3-2012
  • DIN EN ISO 10685-1:2012 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 1: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류(ISO 10685-1-2011) 독일어 버전 EN ISO 10685-1-2011

Association Francaise de Normalisation, 전자 현미경

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 현미경

  • JIS B 7287-3:2017 안과용 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보

未注明发布机构, 전자 현미경

British Standards Institution (BSI), 전자 현미경

  • BS EN ISO 10685-1:2011 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)

GOSTR, 전자 현미경

  • GOST R 58566-2019 광학 및 포토닉스 광학 및 전자 시스템을 위한 렌즈 테스트 방법
  • GOST 17175-1982 사진, 영화, 텔레비전 렌즈에 대한 일련의 상대 조리개 값

European Committee for Standardization (CEN), 전자 현미경

  • EN ISO 10685-1:2011 안과 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 파트 1: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 현미경

  • GB/T 38783-2020 귀금속 복합재료의 코팅 두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 현미경

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전자 현미경

KR-KS, 전자 현미경

Indonesia Standards, 전자 현미경

工业和信息化部, 전자 현미경

  • YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

SE-SIS, 전자 현미경

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 전자 현미경

  • ECA 448-20-1989 방법 20: 전자기계 부품 테스트 방법: 렌즈 표면 접촉 온도




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