ZH
EN
JP
ES
RU
DE전자현미경의 유래
모두 500항목의 전자현미경의 유래와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 전자현미경의 유래와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 열역학 및 온도 측정, 영화, 광전자공학, 레이저 장비, 분석 화학, 화학 장비, 섬유 섬유, 길이 및 각도 측정, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 항공우주 제조용 재료, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 물리학, 화학, 원자력공학, 광학 장비, 보호용 장비, 통신 단말 장비, 광학 및 광학 측정, 의료 장비, 세라믹, 공기질, 종합 전자 부품, 우유 및 유제품, 금속 재료 테스트, 배터리 및 축전지, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 페인트 및 바니시, 섬유제품, 전자 디스플레이 장치, 사진 기술, 위험물 보호, 무선 통신, 에너지 및 열 전달 공학 종합, 표면 처리 및 도금, 수질, 토양질, 토양과학, 조잡한, 건축 자재, 비철금속, 고무 및 플라스틱 원료, 산업안전, 산업위생, 쓰레기, 전기공학종합, 발전소 종합, 건물 보호, 전송 및 배전망, 전기 장치, 석탄, 도로 차량 장치, 플라스틱, 전자관, 색상 코딩, 전선 및 케이블, 토공 기계, 밥을 먹이다, 계측 및 측정 합성, 검은 금속, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 수력공학, 정보학, 출판, 제공하다, 범죄 예방, 철강 제품, 수학, 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치, 합금철, 건물 내 시설, 석유 및 가스 산업 장비.
Group Standards of the People's Republic of China, 전자현미경의 유래
RU-GOST R, 전자현미경의 유래
International Organization for Standardization (ISO), 전자현미경의 유래
British Standards Institution (BSI), 전자현미경의 유래
- BS ISO 23729:2022 표면 화학 분석 원자력 현미경 유한 프로브 크기 확장을 위한 이미지 복구 절차 가이드
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 표면 화학 분석을 위한 원자력 현미경 검사 프로브 크기 확장이 제한된 원자간력 현미경을 위한 이미지 복구 절차 가이드
- BS EN ISO 10685-1:2011 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류
- BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
- BS EN IEC 60086-4:2019 리튬 1차전지의 안전성
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
- BS EN 60086-5:2011 1차전지, 물전해질전지의 안전성
- BS EN 60086-5:2016 1차전지, 물전해질전지의 안전성
- BS EN 60601-2-18:1997 의료 전기 장비 안전에 대한 특별 요구 사항 내시경 장비 사양 섹션 2.18: 내시경 장비 사양
- BS EN IEC 60086-5:2021 1차 수성 전해질 배터리의 안전성
- PD IEC 61955:2000 1차 배터리 역장착 위험 제한에 관한 연구 및 조치 요약
- BS EN 16325:2013+A1:2015 에너지 관련 원산지 보증 전기 원산지 보증
- BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
- BS EN 60086-4:2007 1차전지 4부: 리튬전지의 안전성
- BS EN 60086-4:2015 1차전지 4부: 리튬전지의 안전성
- BS DD ENV 61024-1:1995 건물의 낙뢰 보호 일반 원칙
- BS ISO 13794:1999 주변 공기 석면 섬유 측정 간접 전달 전자 현미경
- BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
- BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
- BS ISO 13095:2014 표면 화학 분석 원자력 현미경 나노 구조 측정을 위한 AFM 프로브 핸들 프로파일의 현장 식별 절차
- BS EN 61242:1997+A1:2008 전기 부품, 가정용 및 이와 유사한 용도의 케이블 릴
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
- 15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
- BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
- BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
- BS EN 62858:2015 LLS(Lightning Location System)를 기반으로 한 번개 밀도 일반 원칙
- BS EN IEC 62858:2019 낙뢰 위치 시스템(LLS)을 기반으로 한 번개 밀도의 일반 원리
- BS EN 62281:2004 운송 중 1차 전지, 2차 리튬 전지, 배터리 팩의 안전성
- 23/30446890 DC BS EN IEC 60086-4 기본 배터리 파트 4: 리튬 배터리의 안전성
- BS EN 62281:2013 운송 중 1차 전지, 2차 리튬 전지, 배터리 팩의 안전성
- BS EN 62281:2017 운송 중 1차 전지, 2차 리튬 전지, 배터리 팩의 안전성
- BS ISO 32111:2023 전자상거래의 거래보증 원칙 및 프레임워크
- BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
- PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대 모양 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
- BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
- BS EN 60601-2-18:2015 의료 전기 장비용 내시경 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
- 19/30384684 DC BS EN IEC 60086-5 1차 배터리 파트 5: 수성 전해질 배터리의 안전성
- 19/30400857 DC BS EN IEC 60086-5 1차 배터리 파트 5: 수성 전해질 배터리의 안전성
- 20/30415102 DC BS EN IEC 60086-5 1차 배터리 파트 5: 수성 전해질 배터리의 안전성
- BS ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
- PD IEC TS 61400-30:2023 풍력 발전 시스템의 풍력 터빈 발전기의 안전한 설계를 위한 일반 원칙
- BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
German Institute for Standardization, 전자현미경의 유래
- DIN 28120:2021 주전원 연결에 사이트 글라스가 있는 원형 사이트 글라스 액세서리
- DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
- DIN 22020-5:2005-02 석탄 채광용 원료 연구 석탄, 코크스, 연탄의 현미경 검사 5부: 비트리나이트의 반사율 측정
- DIN EN 16325:2016-01 에너지 관련 원산지 보장 전기의 원산지 보장
- DIN EN 60086-4:2008 1차전지 4부: 리튬전지의 안전성
- DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경
- DIN 22020-3:1998-08 무연탄 채굴용 원료 연구 무연탄, 코크스, 연탄의 현미경 검사 3부: 입상 덩어리의 현미경 분석
- DIN 22020-4:1998-12 무연탄 채굴용 원료 연구 - 무연탄, 코크스 및 연탄의 현미경 검사 - 4부: 과립 덩어리의 미세석탄형 분석
- DIN 22020-5:2005 무연탄 채굴 원료 조사 무연탄, 코크스 및 석탄 케이크의 현미경 검사 5부: 경운탄 반사계수 측정
- DIN IEC 60746-5:1996-07 전기화학 분석기의 성능 표현 - 파트 5: 산화환원 전위 또는 산화환원 전위(IEC 60746-5:1992)
- DIN 22020-1:1998-08 무연탄 채굴용 원료 조사 무연탄, 코크스, 연탄의 현미경 검사 1부: 용어, 공정 개요 및 응용
- DIN EN ISO 10685-2:2013 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 2: 상업 정보(ISO 10685-2-2012) 독일어 버전 EN ISO 10685-2-2012
- DIN EN ISO 10685-3:2013 안과 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보(ISO 10685-3-2012) 독일어 버전 EN ISO 10685-3-2012
- DIN EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
- DIN EN ISO 10685-1:2012 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 1: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류(ISO 10685-1-2011) 독일어 버전 EN ISO 10685-1-2011
- DIN 13322-1:1988 전력망 전력망 토폴로지 및 곡선 다이어그램 원리와 관련된 개념
- DIN 15576-3:1980 영화 필름 및 자기 필름 마킹 원본 영화 필름 및 자기 필름의 필름 상자 마킹
- DIN 22020-2:1998-08 무연탄 채굴용 원료 연구 무연탄, 코크스 및 연탄의 현미경 검사 2부: 벌크 재료 및 입상 블록의 광택 표면 준비
- DIN 18015-1:2013 주거용 건물의 전기 설비 1부: 계획 원칙
European Committee for Standardization (CEN), 전자현미경의 유래
Association Francaise de Normalisation, 전자현미경의 유래
American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자현미경의 유래
Association of German Mechanical Engineers, 전자현미경의 유래
HU-MSZT, 전자현미경의 유래
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자현미경의 유래
International Telecommunication Union (ITU), 전자현미경의 유래
Professional Standard - Nuclear Industry, 전자현미경의 유래
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자현미경의 유래
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 전자현미경의 유래
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경의 유래
ZA-SANS, 전자현미경의 유래
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전자현미경의 유래
GOSTR, 전자현미경의 유래
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자현미경의 유래
International Electrotechnical Commission (IEC), 전자현미경의 유래
KR-KS, 전자현미경의 유래
未注明发布机构, 전자현미경의 유래
工业和信息化部, 전자현미경의 유래
Indonesia Standards, 전자현미경의 유래
CZ-CSN, 전자현미경의 유래
未注明发布机构, 전자현미경의 유래
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 전자현미경의 유래
ES-UNE, 전자현미경의 유래
Danish Standards Foundation, 전자현미경의 유래
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 전자현미경의 유래
IEC - International Electrotechnical Commission, 전자현미경의 유래
SE-SIS, 전자현미경의 유래
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 전자현미경의 유래
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Water Conservancy, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Environmental Protection, 전자현미경의 유래
ESD - ESD ASSOCIATION, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Petroleum, 전자현미경의 유래
ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 전자현미경의 유래
国家能源局, 전자현미경의 유래
ES-AENOR, 전자현미경의 유래
AENOR, 전자현미경의 유래
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Post and Telecommunication, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Electricity, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Commodity Inspection, 전자현미경의 유래
CEPT - Conference Europeenne des Administrations des Postes et des Telecommunications, 전자현미경의 유래
Society of Automotive Engineers (SAE), 전자현미경의 유래
Lithuanian Standards Office , 전자현미경의 유래
Professional Standard - Public Safety Standards, 전자현미경의 유래
RO-ASRO, 전자현미경의 유래
CH-SNV, 전자현미경의 유래
ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 전자현미경의 유래
Instrument Society of America (ISA), 전자현미경의 유래
- ISA 37.1-1975 전기 센서의 명칭 및 용어 원본 ANSI MC 6.1-1975 원본 표준 번호 ISA-S37.1-1975(R1982)
TH-TISI, 전자현미경의 유래
VN-TCVN, 전자현미경의 유래
AT-ON, 전자현미경의 유래
IX-IX-IEC, 전자현미경의 유래
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 전자현미경의 유래
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 전자현미경의 유래
IN-BIS, 전자현미경의 유래
American National Standards Institute (ANSI), 전자현미경의 유래
Professional Standard - Electron, 전자현미경의 유래
National Electrical Manufacturers Association(NEMA), 전자현미경의 유래
BR-ABNT, 전자현미경의 유래
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자현미경의 유래
BE-NBN, 전자현미경의 유래
Professional Standard - Medicine, 전자현미경의 유래
IPC - Association Connecting Electronics Industries, 전자현미경의 유래
Standard Association of Australia (SAA), 전자현미경의 유래
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 전자현미경의 유래
PT-IPQ, 전자현미경의 유래
Underwriters Laboratories (UL), 전자현미경의 유래