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DE화학형광분석기기
모두 448항목의 화학형광분석기기와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 화학형광분석기기와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비금속 광물, 석탄, 내화물, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 비파괴 검사, 어휘, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 화학 제품, 실험실 의학, 비철금속 제품, 건축 자재, 비철금속, 합금철, 금속 광석, 금속 재료 테스트, 금속 부식, 세라믹, 검은 금속, 품질, 광섬유 통신, 연료, 광학 장비, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 지질학, 기상학, 수문학, 길이 및 각도 측정, 펄프, 종이와 판지.
British Standards Institution (BSI), 화학형광분석기기
- BS EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 기구, 시약 및 분해된 중량 실리카 측정
- BS EN ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정
- BS EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택 사항) 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
- BS EN ISO 12677:2011 형광 분석(XRF)을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
- BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
- BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
- BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
- BS 1902-9.1:1987 내화물 시험 방법 제9부: 화학 분석법 제1부: 규산알루미늄 내화물의 X선 형광 분석 방법
- PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
- BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
- BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
- BS EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광법 선택 사항) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 습식 화학 분석
- BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- BS ISO 22863-4:2021 불꽃놀이 속 특정 화학물질 정량 시험법 - 형광X선 분광법을 이용한 납 및 납 화합물 분석
- BS EN ISO 21079-1:2009 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(X선 형광법 선택 사항) 기기, 시약 및 분해
- BS EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광법) 장비, 시약 및 분해
- BS EN 61290-10-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개 변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS EN 61290-10-1:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS EN ISO 21079-2:2009 알루미나, 지르코니아, 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 방법 선택) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아, 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 방법 선택) 습식 화학 분석
- BS EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 경로 매개변수 광 스위치 및 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- BS EN 61290-10-2:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- BS EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 소스 감소 방법
- BS EN 61290-1-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-1-1:2015 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 광학 스펙트럼 분석기 방법
- BS ISO 9022-20:1997 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기.
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 표준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법(TXRF)을 통한 결정
- BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- BS EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈의 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-3-1:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
- 19/30401682 DC BS ISO 22863-4 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
- BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS 1902-9.3:1998 내화 재료의 시험 방법 파트 9: 기기 분석 방법에 의한 화학적 분석 섹션 3: 크롬 함량 측정
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 화학형광분석기기
- KS E ISO 10086-1:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정
- KS M 0014-2017(2022) 화학 분석 장비
- KS M 0124-2011 분석 화학 용어(분석 기기 섹션)
- KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
- KS L 2303-2010 화학 분석용 유리 제품
- KS L 2303-2015 화학 분석용 유리 제품
- KS M 0124-2017 분석 화학 기술 용어(분석 기기 섹션)
- KS M 0124-2017(2022) 분석 화학 기술 용어(분석 기기 섹션)
- KS L 5222-2009(2019) X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
- KS L ISO 21587-2:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- KS E ISO 10086-2:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- KS L 2302-2012 화학 분석용 유리 기구의 치수 및 형태
- KS L 2302-1987 화학 분석용 유리 기구의 치수 및 형태
- KS L ISO 21587-2-2012(2017) 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석
- KS L ISO 10058-1:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 중량 분석 실리카 분해 및 측정
- KS L ISO 10058-2:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 20565-2-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 2부: 습식 화학 분석
- KS L ISO 10058-2-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 21587-2-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L 2301-2015 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L 2301-2010 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L 2302-2017 화학 분석을 위한 형상 및 유리 기구 치수
- KS L 2301-1978 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L ISO 21587-1-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대신) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- KS L ISO 21587-1:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS L 2302-2017(2022) 화학 분석용 유리 제품의 모양과 치수
- KS L ISO 20565-2-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 10058-2-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
- KS D ISO 17974-2011(2021) 표면 화학 분석 - 고해상도 오제 전자 분광계 - 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L 2323-2007 화학 분석 유리 기구 교환 가능한 볼 반투명 조인트
- KS L ISO 20565-2:2012 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 21587-1-2012(2017) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석 방법(X선 형광 대체) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 용해 및 중량 측정
- KS L ISO 20565-1-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 방법 대신) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- KS L ISO 10058-1-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광 방법 대신) 파트 1: 장비, 시약, 용해된 실리카 및 중량 측정 실리카 측정
- KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS L 2320-2006 화학 분석 유리 제품 교환 가능한 원추형 반투명 조인트
- KS D ISO 17974:2011 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-1-2012(2022) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 - 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광법 대신) - 1부: 기기, 시약 및 용해
- KS L ISO 21079-1:2012 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- KS L ISO 21079-1-2012(2017) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% 지르코니아를 함유한 내화물(X선 형광 대체품) 1부: 기기, 시약 및 용해
- KS D ISO 17973-2011(2021) 표면 화학 분석 - 보통 분해능 오거 전자 분광계 - 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-2-2012(2022) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 - 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 대신) - 2부: 습식 화학 분석
- KS D ISO 14707-2003(2018) 표면화학분석-Glow AIA 전면방출분광계(GD-OES)-소개
- KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
- KS L ISO 20565-1-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 기기, 시약, 용해 및 중량법을 통한 실리카 측정
- KS L ISO 10058-1-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석 방법(X선 형광 대체) 1부: 실리카의 기기, 시약, 용해 및 중량 측정
- KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
- KS L ISO 21079-2-2012(2017) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% 지르코니아를 함유한 내화물(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
- KS D ISO 17973:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-2:2012 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15471-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS B ISO 9022-20:2002 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기.
- KS B ISO 9022-20-2017(2022) 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 이산화황 또는 황화수소를 포함하는 습한 대기
- KS B ISO 9022-20:2017 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 20: 이산화황 또는 황화수소를 포함하는 습한 대기
- KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
- KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
- KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
- KS C IEC 61290-10-1:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 화학형광분석기기
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 화학형광분석기기
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 화학형광분석기기
CEN - European Committee for Standardization, 화학형광분석기기
European Committee for Standardization (CEN), 화학형광분석기기
- EN ISO 12677:2011 형광 분석(XRF)을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
- PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
- EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN 955-2]
- EN ISO 20565-1:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN ISO 10058]
- EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- EN ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 1: 장비, 시약, 용해 및 중량 실리카 측정 [대체: CEN EN ISO 10058]
- EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정 [교체: CEN EN 955-2, CEN ENV 955-4]
International Organization for Standardization (ISO), 화학형광분석기기
- ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
- ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 중량 분석 실리카 분해 및 측정
- ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
- ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
- ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
- ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
- ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010 표면 화학 분석 화학적 방법 및 광학 분석기(TXRF) 분광 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼 처리 표준 재료 표면 요소 수집 수정 1
- ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
- ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
- ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 납 및 납 화합물 분석
- ISO 9022-20:1997 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 포함하는 습한 공기
- ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO 17331:2004 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 기준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법을 통한 결정
- ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
- ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
KR-KS, 화학형광분석기기
International Electrotechnical Commission (IEC), 화학형광분석기기
Professional Standard - Chemical Industry, 화학형광분석기기
- HG/T 6227-2023 Analysis method of chemical composition of catalytic cracking catalyst X-ray fluorescence spectrometry
- HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법
HU-MSZT, 화학형광분석기기
Professional Standard - Medicine, 화학형광분석기기
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 화학형광분석기기
German Institute for Standardization, 화학형광분석기기
- DIN EN ISO 21587-1:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) - 1부: 기기, 시약, 용해 및 중량 실리카
- DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화성 제품의 화학적 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 1부: 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
- DIN EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-1:2009-09 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 파트 1: 장비, 시약, 중량 실리카의 용해 및 측정
- DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- DIN EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- DIN EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 실리카의 중량 분석을 위한 기기, 시약, 분해 및 측정(ISO 10058-1-2008) 독일 버전 EN ISO 10058-1-2008
- DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
- DIN EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- DIN 51729-10:1996 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석(RFA)
- DIN 51729-10:2011-04 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
- DIN EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN 51729-10:2011 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
- DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
- DIN EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
- DIN ISO 9022-20:2001 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기에서의 테스트.
- DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 화학형광분석기기
RO-ASRO, 화학형광분석기기
Association Francaise de Normalisation, 화학형광분석기기
- NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
- NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
- NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
- NF A06-725:1992 구리 산소량 도구 방법의 화학적 분석
- NF EN ISO 10058-2:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 2부: 습식 화학 분석 방법
- NF EN ISO 21587-1:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 중량 분석법을 위한 기기, 시약, 용해도 및 실리카 함량
- NF B40-670-1*NF EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
- NF EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석 방법
- NF A06-358:1985 강철 및 주철의 화학 분석, 세륨 함량 측정, 형광 측정 및 전류 측정 방법
- NF B49-435-2*NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
- NF B49-329-1*NF EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
- NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
- NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 방법
- NF EN ISO 10058-1:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 실리카 함량 측정을 위한 기기, 시약, 용해도 및 중량 측정 방법
- NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- NF B49-424-1*NF EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 용해
- NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- NF C93-805-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- NF C93-805-2-1:1998 광섬유 강화기 기본 사양 파트 2-1: 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
- NF B49-424-2*NF EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- NF S57-037-4*NF ISO 22863-4:2021 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
- NF ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 그 화합물 분석
- NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반응 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
- NF C93-805-1-1:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
- NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
Danish Standards Foundation, 화학형광분석기기
工业和信息化部, 화학형광분석기기
未注明发布机构, 화학형광분석기기
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 화학형광분석기기
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
Professional Standard - Aviation, 화학형광분석기기
Group Standards of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
ES-UNE, 화학형광분석기기
Lithuanian Standards Office , 화학형광분석기기
AENOR, 화학형광분석기기
IT-UNI, 화학형광분석기기
Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
Standard Association of Australia (SAA), 화학형광분석기기
NL-NEN, 화학형광분석기기
ES-AENOR, 화학형광분석기기
RU-GOST R, 화학형광분석기기
- GOST R 55992.1-2014 신생아 혈액 "건조 반점"의 형광 및 면역형광 분석을 위한 체외 진단 의료 장비 파트 1. 신생아 혈액 "건조 반점"의 형광 및 면역형광 분석을 위한 기기 및 액세서리 국가 구매를 위한 기술 요구 사항
Professional Standard - Agriculture, 화학형광분석기기
Professional Standard - Rare Earth, 화학형광분석기기
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 화학형광분석기기
Professional Standard - Certification and Accreditation, 화학형광분석기기
Professional Standard - Geology, 화학형광분석기기
ZA-SANS, 화학형광분석기기
Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
American Society for Testing and Materials (ASTM), 화학형광분석기기
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 화학형광분석기기
Professional Standard - Commodity Inspection, 화학형광분석기기
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 화학형광분석기기
IN-BIS, 화학형광분석기기
American National Standards Institute (ANSI), 화학형광분석기기
PL-PKN, 화학형광분석기기