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DE형광 화학 분석 장비
모두 500항목의 형광 화학 분석 장비와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 형광 화학 분석 장비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 비파괴 검사, 어휘, 내화물, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 화학 제품, 실험실 의학, 비철금속 제품, 건축 자재, 비철금속, 비금속 광물, 석탄, 합금철, 금속 광석, 금속 재료 테스트, 금속 부식, 세라믹, 검은 금속, 품질, 광섬유 통신, 연료, 광학 장비, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 지질학, 기상학, 수문학, 길이 및 각도 측정, 펄프, 종이와 판지.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 형광 화학 분석 장비
- KS M 0014-2017(2022) 화학 분석 장비
- KS M 0124-2011 분석 화학 용어(분석 기기 섹션)
- KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
- KS L 2303-2010 화학 분석용 유리 제품
- KS L 2303-2015 화학 분석용 유리 제품
- KS M 0124-2017 분석 화학 기술 용어(분석 기기 섹션)
- KS M 0124-2017(2022) 분석 화학 기술 용어(분석 기기 섹션)
- KS L 5222-2009(2019) X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
- KS E ISO 10086-1:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정
- KS L ISO 21587-2:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- KS E ISO 10086-2:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- KS L 2302-2012 화학 분석용 유리 기구의 치수 및 형태
- KS L 2302-1987 화학 분석용 유리 기구의 치수 및 형태
- KS L ISO 21587-2-2012(2017) 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석
- KS L ISO 10058-1:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 중량 분석 실리카 분해 및 측정
- KS L ISO 10058-2:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 20565-2-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 2부: 습식 화학 분석
- KS L ISO 10058-2-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 21587-2-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L 2301-2015 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L 2301-2010 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L 2302-2017 화학 분석을 위한 형상 및 유리 기구 치수
- KS L 2301-1978 화학 분석용 유리 장비의 테스트 방법
- KS L ISO 21587-1-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대신) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- KS L ISO 21587-1:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS L 2302-2017(2022) 화학 분석용 유리 제품의 모양과 치수
- KS L ISO 20565-2-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 10058-2-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
- KS D ISO 17974-2011(2021) 표면 화학 분석 - 고해상도 오제 전자 분광계 - 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L 2323-2007 화학 분석 유리 기구 교환 가능한 볼 반투명 조인트
- KS L ISO 20565-2:2012 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS L ISO 21587-1-2012(2017) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석 방법(X선 형광 대체) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 용해 및 중량 측정
- KS L ISO 20565-1-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 방법 대신) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- KS L ISO 10058-1-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광 방법 대신) 파트 1: 장비, 시약, 용해된 실리카 및 중량 측정 실리카 측정
- KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS L 2320-2006 화학 분석 유리 제품 교환 가능한 원추형 반투명 조인트
- KS D ISO 17974:2011 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-1-2012(2022) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 - 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광법 대신) - 1부: 기기, 시약 및 용해
- KS L ISO 21079-1:2012 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- KS L ISO 21079-1-2012(2017) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% 지르코니아를 함유한 내화물(X선 형광 대체품) 1부: 기기, 시약 및 용해
- KS D ISO 17973-2011(2021) 표면 화학 분석 - 보통 분해능 오거 전자 분광계 - 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-2-2012(2022) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 - 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 대신) - 2부: 습식 화학 분석
- KS D ISO 14707-2003(2018) 표면화학분석-Glow AIA 전면방출분광계(GD-OES)-소개
- KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
- KS L ISO 20565-1-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 기기, 시약, 용해 및 중량법을 통한 실리카 측정
- KS L ISO 10058-1-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석 방법(X선 형광 대체) 1부: 실리카의 기기, 시약, 용해 및 중량 측정
- KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
- KS L ISO 21079-2-2012(2017) 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% 지르코니아를 함유한 내화물(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
- KS D ISO 17973:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- KS L ISO 21079-2:2012 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- KS D ISO 15471-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- KS B ISO 9022-20:2002 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기.
- KS B ISO 9022-20-2017(2022) 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 이산화황 또는 황화수소를 포함하는 습한 대기
- KS B ISO 9022-20:2017 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 20: 이산화황 또는 황화수소를 포함하는 습한 대기
- KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
- KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
- KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
- KS C IEC 61290-10-1:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- KS D 1943-2005 전기 진공 장치 및 전기 광원에 사용되는 텅스텐 및 몰리브덴 재료의 화학 분석 방법에 대한 일반 규칙
- KS C IEC 61207-2-2014(2019) 가스 분석기 성능 표현 - 2부: 가스 내 산소(고온 전기화학 센서 활용)
- KS L ISO 21587-3:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 3부: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법 측정
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 형광 화학 분석 장비
- GB/T 26328-2010 생화학 분석 장비용 간섭 필터
- GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
- GB/T 18116.3-2000 이트륨유로퓨움 산화물의 화학적 분석 방법 형광 광도법 이트륨유로퓨움 산화물 내 산화유로듐 양 측정
- GB/T 8151.15-2005 아연 정광에 대한 화학적 분석 방법 - 수은 원자 형광 분광법 측정
- GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
- GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
- GB/T 8152.11-2006 납 농축물의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 8152.5-2006 납 농축물의 화학적 분석 방법 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 4325.3-2013 몰리브덴의 화학적 분석 방법 3부: 비스무트 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 4325.4-2013 몰리브덴의 화학적 분석 방법 4부: 주석 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 4325.5-2013 몰리브덴의 화학적 분석 방법 5부: 안티몬 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 4325.6-2013 몰리브덴의 화학적 분석 방법 6부: 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 6987.10-2001 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 방법 페닐플루오론 분광광도법을 통한 주석 함량 측정
- GB/T 3253.6-2008 안티몬 및 삼산화안티몬의 화학적 분석 방법 셀레늄 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 3253.10-2009 안티몬 및 삼산화안티몬의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 3253.7-2009 안티몬 및 삼산화안티몬의 화학적 분석 방법 비스무트 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 23364.2-2009 고순도 산화인듐의 화학적 분석 방법 2부: 주석 함량 측정 페닐플루오론 분광광도법
- GB/T 23364.1-2009 고순도 산화인듐의 화학적 분석 방법 1부: 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 23364.3-2009 고순도 산화인듐의 화학적 분석 방법 3부: 원자형광분광법을 이용한 안티몬 함량 측정
- GB/T 12689.2-2004 아연 및 아연 합금의 화학적 분석 방법 - 원자 형광 분광법을 통한 비소 함량 측정
- GB/T 23362.2-2009 고순도 수산화인듐의 화학적 분석 방법 2부: 주석 함량 측정 페닐플루오론 분광광도법
- GB/T 11066.9-2009 금의 화학적 분석 방법 비소 및 주석 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 23362.1-2009 고순도 수산화인듐의 화학적 분석 방법 1부: 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 23362.3-2009 고순도 수산화인듐의 화학적 분석 방법 3부: 안티몬 함량 측정 원자 형광 분광법
- GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
- GB/T 14849.10-2016 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 - 10부: 원자 형광 분광법을 이용한 수은 함량 측정
- GB/T 6150.17-2022 텅스텐 정광의 화학적 분석 방법 파트 17: 원자 형광 분광법을 통한 안티몬 함량 측정
- GB/T 23273.3-2009 코발트 옥살산염의 화학적 분석 방법 3부: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 3884.10-2012 구리 정광의 화학적 분석 방법 파트 10: 안티몬 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 8151.10-2012 아연 정광의 화학적 분석 방법 10부: 주석 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 8151.11-2012 아연 정광의 화학적 분석 방법 11부: 안티몬 양 결정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 12690.29-2000 희토류 금속 및 그 산화물의 화학적 분석 방법 형광 광도법을 이용한 희토류 산화물 내 산화세륨 함량 측정.
- GB/T 14506.28-1993 규산염 암석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 주원소 및 부원소 측정.
- GB/T 14849.5-2010 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
- GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
- GB/T 13293.2-1991 고순도 음극동의 화학적 분석방법, 수소화물 생성분산형 원자형광분광법, 비스무트 함량 측정
- GB/T 6150.13-2022 텅스텐 정광의 화학적 분석 방법 13부: 원자 형광 분광법 및 DDTC-Ag 분광 광도법을 통한 비소 함량 측정
- GB/T 8151.13-2012 아연 정광의 화학적 분석 방법 13부: 게르마늄 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법 및 루메판트린 분광 광도법
- GB/T 14849.5-2014 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 불순물 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
- GB/T 20899.12-2016 금광석의 화학적 분석 방법 - 파트 12: 원자 형광 분광법을 통한 비소, 수은, 카드뮴, 납 및 비스무트 측정
- GB/T 7739.12-2016 금 농축물의 화학적 분석 방법 - 파트 12: 원자 형광 분광법을 통한 비소, 수은, 카드뮴, 납 및 비스무트 측정
- GB/T 15917.3-1995 디스프로슘 금속 및 디스프로슘 산화물의 화학적 분석 방법 p-클로로페닐플루오론-세틸트리메틸아민 브로마이드 분광광도법을 통한 탄탈륨 함량 측정.
- GB/T 14353.8-1993 구리 광석, 납 광석 및 아연 광석의 화학적 분석 방법 - 수소화물 분산 원자 형광 광도법을 통한 비스무트 함량 측정
- GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
- GB/T 12085.20-2011 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 20: 이산화황 및 황화수소를 포함하는 습한 공기
- GB/T 12689.9-2004 아연 및 아연 합금의 화학적 분석 방법: 안티몬 함량 측정 원자 형광 분광법 및 불꽃 원자 흡수 분광법
- GB/T 6150.15-2023 텅스텐 정광의 화학적 분석 방법 15부: 비스무트 함량 측정 수소화물 생성 원자 형광 분광법 및 불꽃 원자 흡수 분광법
- GB/T 6150.10-2023 텅스텐 정광의 화학적 분석 방법 10부: 납 함량 측정 수소화물 생성 원자 형광 분광법 및 불꽃 원자 흡수 분광법
- GB/T 8151.7-2012 아연 정광의 화학적 분석 방법 7부: 비소 함량 측정 수소 생성-원자 형광 분광법 및 브롬산칼륨 적정
- GB/T 30701-2014 표면 화학 분석: 실리콘 웨이퍼 작업 표준 샘플의 표면 원소에 대한 화학 포집 방법 및 전반사 X선 형광 분광법(TXRF) 측정
- GB/T 223.50-1994 강철 및 합금의 화학적 분석 방법: 주석 함량 측정을 위한 페닐플루오론-세틸트리메틸아민 브로마이드 직접 광도 측정 방법
- GB/T 6609.30-2009 알루미나의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 파트 30: X선 형광 분광법을 통한 미량 원소 함량 측정
- GB/T 8152.11-2023 납 농축물의 화학적 분석 방법 11부: 수은 함량 측정 원자 형광 분광법 및 고체 시료 직접 방법
- GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- GB/T 18882.2-2002 이온성 희토류 광물의 혼합 희토류 산화물에 대한 화학적 분석 방법 X선 형광 분광법을 통해 15가지 희토류 원소 산화물의 비율을 결정합니다.
- GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
- GB/T 3884.9-2012 구리 농축물의 화학적 분석 방법 9부: 비소 및 비스무트 양 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법, 브롬산칼륨 적정 및 은 디에틸디티오카바메이트 분광광도법
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 형광 화학 분석 장비
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 형광 화학 분석 장비
CEN - European Committee for Standardization, 형광 화학 분석 장비
European Committee for Standardization (CEN), 형광 화학 분석 장비
- EN ISO 12677:2011 형광 분석(XRF)을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
- PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
- EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN 955-2]
- EN ISO 20565-1:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 1: 기기, 시약, 용해된 실리카 측정 및 중량 측정 실리카
- EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN ISO 10058]
- EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- EN ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 1: 장비, 시약, 용해 및 중량 실리카 측정 [대체: CEN EN ISO 10058]
- EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정 [교체: CEN EN 955-2, CEN ENV 955-4]
British Standards Institution (BSI), 형광 화학 분석 장비
- BS EN ISO 12677:2011 형광 분석(XRF)을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
- BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
- BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
- BS EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 기구, 시약 및 분해된 중량 실리카 측정
- BS EN ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 분해된 실리카 및 중량 측정 실리카의 기기, 시약 및 측정
- BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
- BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
- BS EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택 사항) 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
- BS 1902-9.1:1987 내화물 시험 방법 제9부: 화학 분석법 제1부: 규산알루미늄 내화물의 X선 형광 분석 방법
- PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
- BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
- BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
- BS EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광법 선택 사항) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 습식 화학 분석
- BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- BS ISO 22863-4:2021 불꽃놀이 속 특정 화학물질 정량 시험법 - 형광X선 분광법을 이용한 납 및 납 화합물 분석
- BS EN ISO 21079-1:2009 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(X선 형광법 선택 사항) 기기, 시약 및 분해
- BS EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광법) 장비, 시약 및 분해
- BS EN 61290-10-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개 변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS EN 61290-10-1:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS EN ISO 21079-2:2009 알루미나, 지르코니아, 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 방법 선택) 습식 화학 분석
- BS EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아, 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(X선 형광 방법 선택) 습식 화학 분석
- BS EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 경로 매개변수 광 스위치 및 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- BS EN 61290-10-2:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
- BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- BS EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 소스 감소 방법
- BS EN 61290-1-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-1-1:2015 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 광학 스펙트럼 분석기 방법
- BS ISO 9022-20:1997 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기.
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 표준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법(TXRF)을 통한 결정
- BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- BS EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈의 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
- BS EN 61290-3-1:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
- 19/30401682 DC BS ISO 22863-4 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
- BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS 1902-9.3:1998 내화 재료의 시험 방법 파트 9: 기기 분석 방법에 의한 화학적 분석 섹션 3: 크롬 함량 측정
- BS EN IEC 60746-4:2019 전기화학 분석기 성능 코팅 전류 센서로 물의 용존 산소 측정
- BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
- BS EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전자 스펙트럼 분석기에 의한 반사 허용 오차 결정
- BS EN ISO 21587-3:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택) 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법
International Organization for Standardization (ISO), 형광 화학 분석 장비
- ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
- ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- ISO 10058-1:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 중량 분석 실리카 분해 및 측정
- ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
- ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
- ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
- ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
- ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010 표면 화학 분석 화학적 방법 및 광학 분석기(TXRF) 분광 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼 처리 표준 재료 표면 요소 수집 수정 1
- ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
- ISO 20565-2:2008 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
- ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 납 및 납 화합물 분석
- ISO 9022-20:1997 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 포함하는 습한 공기
- ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO를 함유한 내화물(선택적 X선 형광법) 파트 2: 습식 화학 분석
- ISO 17331:2004 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 기준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법을 통한 결정
- ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
- ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
- ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
- ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
- ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
- ISO 21587-3:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 3부: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법 측정
KR-KS, 형광 화학 분석 장비
International Electrotechnical Commission (IEC), 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Chemical Industry, 형광 화학 분석 장비
- HG/T 6227-2023 Analysis method of chemical composition of catalytic cracking catalyst X-ray fluorescence spectrometry
- HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법
HU-MSZT, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Medicine, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 형광 화학 분석 장비
- YS/T 869-2013 4A 제올라이트 X선 형광법의 화학성분 분석방법
- YS/T 536.7-2009 비스무트의 화학적 분석 방법 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 536.11-2009 비스무트의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 710.4-2009 산화코발트의 화학적 분석 방법 4부: 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 555.4-2009 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법, 주석 함량 측정, 원자 형광 분광법
- YS/T 872-2013 산업용 갈륨 화학 분석 방법 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 226.1-2009 셀레늄의 화학적 분석 방법 1부: 비스무트 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 226.2-2009 셀레늄의 화학적 분석 방법 2부: 안티몬 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 227.1-2010 텔루르의 화학적 분석 방법 1부: 비스무트 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 276.1-2011 인듐의 화학적 분석 방법 1부: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 74.1-2010 카드뮴의 화학적 분석 방법 1부: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 74.2-2010 카드뮴의 화학적 분석 방법 2부: 안티몬 양 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 227.10-2010 텔루르의 화학적 분석 방법 파트 10: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 74.9-2010 카드뮴의 화학적 분석 방법 파트 9: 주석 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 556.7-2009 안티몬 농축물의 화학적 분석 방법 파트 7: 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 229.2-2013 고순도 납의 화학적 분석 방법 2부: 원자형광분광법을 이용한 비소 함량 측정
- YS/T 229.3-2013 고순도 납의 화학적 분석 방법 3부: 안티몬 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 555.3-2009 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법, 비소 함량 측정, 원자형광분광법 및 DDTC-Ag 분광광도법
- YS/T 703-2014 석회석 화학 분석 방법 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
- YS/T 461.6-2003 혼합 납-아연 농축물의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 저온 원자 형광 분광법
- YS/T 556.6-2009 안티몬 농축물의 화학적 분석 방법 6부: 셀레늄 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 281.15-2011 코발트의 화학적 분석 방법 파트 15: 비소, 안티몬 및 비스무트의 양 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 581.10-2006 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 10부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
- YS/T 745.8-2010 구리 양극 점액의 화학적 분석 방법 8부: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법.
- YS/T 248.2-2007 조납의 화학적 분석 방법 주석 함량 측정 페닐플루오론 분광광도법 및 요오드산칼륨 적정
- YS/T 581.16-2008 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 방법 16부 X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
- YS/T 575.23-2009 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
- YS/T 461.6-2013 혼합 납-아연 농축물의 화학적 분석 방법 6부: 원자 형광 분광법을 통한 수은 함량 측정
- YS/T 1605.5-2023 구운 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법 5부: 원자 형광 분광법을 통한 안티몬 함량 측정
- YS/T 1605.4-2023 구운 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법 4부: 원자 형광 분광법을 통한 주석 함량 측정
- YS/T 472.3-2005 니켈 정광 및 코발트 황 정광의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 472.5-2005 니켈 정광 및 코발트 황 정광의 화학적 분석 방법 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 520.6-2006 갈륨 살리실플루오로네-세틸트리메틸암모늄 브로마이드의 화학적 분석 방법 주석 함량 측정을 위한 광도 측정 방법
- YS/T 746.15-2010 무연 주석 기반 솔더의 화학적 분석 방법 파트 15: 게르마늄 함량 측정 살리실플루오론 분광 광도법
- YS/T 581.18-2012 불화알루미늄의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 18부: X선 형광 분광법(정제 프레싱) 방법에 의한 원소 함량 측정
- YS/T 820.17-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 17: 비소, 안티몬 및 비스무트의 양 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- YS/T 520.9-2006 갈륨의 화학적 분석 방법 페닐플루오론-폴리에틸렌 글리콜 옥틸페닐 에테르 광도법에 의한 게르마늄 함량 측정.
- YS/T 1075.8-2015 바나듐-알루미늄 및 몰리브덴-알루미늄 모합금의 화학적 분석 방법 8부: X-형광 분광법을 통한 몰리브덴 및 알루미늄 양 측정
- YS/T 520.6-2007 갈륨의 화학적 분석 방법 6부: 주석 함량 측정 살리실플루오론-세틸트리메틸암모늄 브로마이드 분광광도법
- YS/T 273.14-2008 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성을 위한 방법 14부: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
- YS/T 273.11-2006 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 11부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
- YS/T 276.2-2011 인듐의 화학적 분석 방법 2부: 주석 함량 측정 페닐플루오론-세틸트리메틸아민 브로마이드 분광 광도법
- YS/T 273.15-2012 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정
- YS/T 520.9-2007 갈륨의 화학적 분석 방법 파트 9: 게르마늄 함량 측정 페닐플루오론-폴리에틸렌 글리콜 옥틸페닐 에테르 추출 분광광도법
- YS/T 276.8-2011 인듐의 화학적 분석 방법 8부: 비스무트 함량 측정 방법 1: 수소화물 생성-원자 형광 분광법 방법 2: 불꽃 원자 흡수 분광법
- YS/T 1605.3-2023 배소된 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법 3부: 비스무트 함량 측정 불꽃 원자 흡수 분광법 및 원자 형광 분광법
- YS/T 1115.14-2016 구리 광석 및 광미의 화학적 분석 방법 파트 14: 비소 함량 측정 수소화물 생성 원자 형광 분광법 및 브롬산칼륨 적정
- YS/T 521.3-2009 조동의 화학적 분석 방법 3부: 비소 함량 측정 방법 1. 수소화물 생성-원자 형광 분광법 방법 2. 브롬산칼륨 적정 방법
- YS/T 990.8-2014 구리 매트의 화학적 분석 방법 8부: 비소 함량 측정 수소 생성-원자 형광 분광법, 은 디에틸 카바메이트 분광 광도법 및 브롬산칼륨 적정
- YS/T 820.19-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 19: 알루미늄, 크롬, 철, 마그네슘, 망간, 니켈 및 실리콘의 양 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
- YS/T 820.23-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: 코발트, 철, 니켈, 인, 산화알루미늄, 산화칼슘, 산화크롬, 산화마그네슘, 산화망간, 이산화규소 및 이산화티탄의 양 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- YS/T 1047.6-2015 구리 자철광의 화학적 분석 방법 6부: 구리, 총 철, 실리카, 삼산화알루미늄, 산화칼슘, 산화마그네슘, 이산화티타늄, 산화망간 및 인의 양 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
German Institute for Standardization, 형광 화학 분석 장비
- DIN EN ISO 21587-1:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) - 1부: 기기, 시약, 용해 및 중량 실리카
- DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화성 제품의 화학적 분석(X선 형광 방법 선택 사항) 1부: 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
- DIN EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN EN ISO 10058-1:2009-09 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 파트 1: 장비, 시약, 중량 실리카의 용해 및 측정
- DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
- DIN EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 분해
- DIN EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 실리카의 중량 분석을 위한 기기, 시약, 분해 및 측정(ISO 10058-1-2008) 독일 버전 EN ISO 10058-1-2008
- DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
- DIN EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- DIN 51729-10:1996 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석(RFA)
- DIN 51729-10:2011-04 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
- DIN EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
- DIN 51729-10:2011 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
- DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
- DIN EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
- DIN ISO 9022-20:2001 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 20: 황화수소 또는 이산화황을 함유한 습한 공기에서의 테스트.
- DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
- DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
- DIN EN ISO 12677:2012 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 방법 캐스트 비드 방법(ISO 12677-2011) 독일어 버전 EN ISO 12677-2011
- DIN EN ISO 12677:2013 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 방법 캐스트 비드 방법(ISO 12677-2011) 독일어 버전 EN ISO 12677-2011
- DIN EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-2:2005)
- DIN EN ISO 21587-3:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) - 3부: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법
- DIN EN ISO 21587-3:2007 규산알루미늄 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 3부: 유도 결합 플라즈마 및 원자 흡수 분광법
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 형광 화학 분석 장비
RO-ASRO, 형광 화학 분석 장비
Association Francaise de Normalisation, 형광 화학 분석 장비
- NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
- NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
- NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
- NF A06-725:1992 구리 산소량 도구 방법의 화학적 분석
- NF EN ISO 10058-2:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 2부: 습식 화학 분석 방법
- NF EN ISO 21587-1:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 중량 분석법을 위한 기기, 시약, 용해도 및 실리카 함량
- NF B40-670-1*NF EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
- NF EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석 방법
- NF A06-358:1985 강철 및 주철의 화학 분석, 세륨 함량 측정, 형광 측정 및 전류 측정 방법
- NF B49-435-2*NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
- NF B49-329-1*NF EN ISO 10058-1:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 기기, 시약, 실리카의 분해 및 중량 측정
- FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
- NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
- NF EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석 방법
- NF EN ISO 10058-1:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 1: 실리카 함량 측정을 위한 기기, 시약, 용해도 및 중량 측정 방법
- NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- NF B49-424-1*NF EN ISO 21079-1:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 1부: 기기, 시약 및 용해
- NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- NF C93-805-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
- NF C93-805-2-1:1998 광섬유 강화기 기본 사양 파트 2-1: 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
- NF B49-424-2*NF EN ISO 21079-2:2008 알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물의 화학적 분석 5% ~ 45% ZrO2를 함유한 내화물(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
- NF S57-037-4*NF ISO 22863-4:2021 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 4부: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 납 화합물 분석
- NF ISO 22863-4:2021 불꽃 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 4: X선 형광 분광법(XRF)을 통한 납 및 그 화합물 분석
- NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반응 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
- NF C93-805-1-1:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
- NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
- NF C46-252*NF EN 61207-2:1994 가스 분석기 성능 표현 2부: 산소(고온 전기화학 센서 사용)
- NF A24-003:1985 아연 광석 정광의 화학적 분석 내부 표준액을 사용한 X선 형광 분광법을 통한 아연 시료의 정밀 측정
- NF C93-805-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
- NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 광 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
- NF EN ISO 20565-3:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 3: 원자 흡수 분광법...
- NF B49-435-1*NF EN ISO 20565-1:2009 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 1: 장치, 시약, 액화 및 중량 실리카 측정
- NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 3부: 유도 결합 등전자 및 원자 흡수 분광법
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
Danish Standards Foundation, 형광 화학 분석 장비
工业和信息化部, 형광 화학 분석 장비
未注明发布机构, 형광 화학 분석 장비
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 형광 화학 분석 장비
- GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
- GB/T 14352.21-2021 텅스텐 광석 및 몰리브덴 광석의 화학적 분석 방법 파트 21: 비소 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 14352.22-2021 텅스텐 광석 및 몰리브덴 광석의 화학적 분석 방법 파트 22: 안티몬 함량 측정 수소화물 생성-원자 형광 분광법
- GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
- GB/T 14506.33-2019 규산염 암석의 화학적 분석 방법 파트 33: 비소, 안티몬, 비스무트 및 수은 수소화물 생성 측정 - 원자 형광 분광법
- GB/T 14353.19-2019 구리 광석, 납 광석 및 아연 광석의 화학적 분석 방법 파트 19: 수소화물 생성 원자 형광 분광법을 통한 주석 함량 측정
- GB/T 14353.21-2019 구리 광석, 납 광석 및 아연 광석의 화학적 분석 방법 파트 21: 수소화물 생성 원자 형광 분광법을 통한 비소 함량 측정
- GB/T 6609.30-2022 알루미나의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 30부: 미량 원소 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- GB/T 3884.21-2018 구리 정광의 화학적 분석 방법 21부: 구리, 황, 납, 아연, 철, 알루미늄, 칼슘, 마그네슘 및 망간의 양 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- GB/T 8151.22-2020 아연 정광의 화학적 분석 방법 22부: 아연, 구리, 납, 철, 알루미늄, 칼슘 및 마그네슘 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- GB/T 3286.11-2022 석회석 및 백운석의 화학적 분석 방법 11부: 산화칼슘, 산화마그네슘, 실리카, 산화알루미늄 및 산화철 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법(주조 유리판 방법)
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Aviation, 형광 화학 분석 장비
Group Standards of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
ES-UNE, 형광 화학 분석 장비
Lithuanian Standards Office , 형광 화학 분석 장비
AENOR, 형광 화학 분석 장비
IT-UNI, 형광 화학 분석 장비
Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
Standard Association of Australia （SAA）, 형광 화학 분석 장비
NL-NEN, 형광 화학 분석 장비
ES-AENOR, 형광 화학 분석 장비
RU-GOST R, 형광 화학 분석 장비
- GOST R 55992.1-2014 신생아 혈액 "건조 반점"의 형광 및 면역형광 분석을 위한 체외 진단 의료 장비 파트 1. 신생아 혈액 "건조 반점"의 형광 및 면역형광 분석을 위한 기기 및 액세서리 국가 구매를 위한 기술 요구 사항
Professional Standard - Agriculture, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Rare Earth, 형광 화학 분석 장비
- XB/T 620.1-2015 폐희토류 형광체의 화학적 분석 방법 1부: 희토류 산화물 총량 측정
- XB/T 610.1-2007 사마륨-코발트 1:5형 영구자석 합금 분말의 화학적 분석 방법, 사마륨 및 코발트 함량 측정, X선 형광 분광법.
- XB/T 620.2-2015 폐희토류 형광체의 화학적 분석 방법 2부: 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법을 통한 납, 카드뮴 및 수은 함량 측정
- XB/T 620.3-2015 폐희토류 형광체의 화학 분석 방법 3부: 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 이용한 산화 이트륨, 산화 란타늄, 산화 세륨, 산화 유로퓸, 산화 가돌리늄, 산화 테르븀 및 산화 디스프로슘의 함량 측정
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Certification and Accreditation, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Geology, 형광 화학 분석 장비
ZA-SANS, 형광 화학 분석 장비
Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
American Society for Testing and Materials (ASTM), 형광 화학 분석 장비
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 형광 화학 분석 장비
Professional Standard - Commodity Inspection, 형광 화학 분석 장비
- SN/T 3318.2-2015 지르콘 모래의 화학적 분석 방법 2부: 지르코늄, 철 및 티타늄 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- SN/T 3322.1-2012 수출입용 티타늄 정광의 화학적 분석 방법 1부: 1차 및 2차 성분 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
- SN/T 4115-2015 천연가스 내 황화물 분석 방법: 가스 크로마토그래피-황 화학 발광 검출기 방법
- SN/T 2763.7-2014 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 7부: 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 철, 니켈, 규소, 알루미늄, 마그네슘, 칼슘, 티타늄, 망간, 구리 및 인 함량 측정
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 형광 화학 분석 장비
IN-BIS, 형광 화학 분석 장비
American National Standards Institute （ANSI), 형광 화학 분석 장비
PL-PKN, 형광 화학 분석 장비
BE-NBN, 형광 화학 분석 장비