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전자기 산란 산란

모두 425항목의 전자기 산란 산란와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자기 산란 산란와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 방사선방호, 의료 장비, 분석 화학, 어휘, 입자 크기 분석, 스크리닝, 지질학, 기상학, 수문학, 금속 재료 테스트, 소방, 건물 보호, 비철금속, 통신 종합, 연료, 천문학, 측지학, 지리학, 무선 통신, 건물 내 시설, 계측 및 측정 합성, 도로 차량 장치, 음향 및 음향 측정, 방사선 측정, 광섬유 통신, 정보 기술 응용, 원자력공학, 길이 및 각도 측정, 철도공학 소재 및 부품, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 비파괴 검사, 광학 및 광학 측정, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 절연유체, 표면 처리 및 도금, 광전자공학, 레이저 장비, 유기화학, 석유제품 종합, 강화 플라스틱, 고무 및 플라스틱 제품, 일반, 용어, 표준화, 문서화, 환경 보호, 반도체 개별 장치, 화학 제품, 통신특수측정장비, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 전자기 호환성(EMC), 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 진동 및 충격(사람 관련), 진동, 충격 및 진동 측정, 통신 시스템, 유리, 기르다, 열역학 및 온도 측정, 전자관, 광학 장비, 쓰레기, 사진 기술, 영화, 공기질, 수질, 모바일 서비스, 항공우주 제조용 재료, 상품의 종합 포장 및 운송.

IET - Institution of Engineering and Technology, 전자기 산란 산란

• PROPAG SCAT DISSPA ELECTRO WAV-1993 전자파의 전파, 산란 및 소멸
• ANALY MTL ANT SCATT-1994 금속 안테나 및 산란체 분석
• SEA CLUTT-2013 해면 클러터: 산란 K 분포 및 레이더 성능
• SEA CLUTT-2006 해면 클러터: 산란 K 분포 및 레이더 성능
• SCAT WDG CONE IMPDNCE BNDRY COND-2012 임피던스 경계 조건을 사용한 웨지 및 원뿔 산란

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자기 산란 산란

• KS A 4508-2001 저 후방 산란 물질의 산란율 시험 방법
• KS A 4508-1980(2000) 산란율이 낮은 산란물질의 시험방법
• KS A 4508-1985 저 후방 산란 물질의 산란율 시험 방법
• KS A 4729-1997(2012) 산란 방지 그리드
• KS A 4816-1980(1995) 후방산란 X선 감소 페인트
• KS A 4816-1985 후방산란 X선 감소 페인트
• KS A 4816-2000 후방산란 X선을 줄이는 코팅
• KS A 4729-1997 항X선 산란 그리드
• KS F ISO 17497-1:2016 음향 - 표면 소리 산란 특성 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
• KS B ISO 12239:2021 산란광, 투과광 또는 이온화를 이용한 화재 경보기
• KS F ISO 17497-1-2016(2021) 음향 표면 소리 산란 특성 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
• KS A 4901-2002 X선 장비용 방사선 산란 그리드의 특성
• KS B 6336-1992(2017) 광산란 자동 입자 계수기
• KS B 6336-1992(2022) 광산란 자동 입자 계수기
• KS C IEC 61183-2001(2016) 전기 음향학 - 소음 측정기의 무작위 입사 및 확산 장 교정
• KS B 6336-1992 광산란 자동 입자 계수기
• KS B 6416-2006(2021) 난방용 주철 라디에이터 및 강판 라디에이터의 방사능 시험
• KS B 6416-2006(2016) 주철 라디에이터 및 강판 라디에이터의 방열 성능 테스트
• KS A 4901-2002(2012) X-Ray 장비에 사용되는 산란 방지 그릴의 특성
• KS B 6869-2009 광산란 자동 액체 입자 계수기
• KS D ISO 3543:2002 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 광선 후방 산란 방법
• KS B ISO 13696-2006(2016) 광학 부품 및 광학 기기의 광학 부품에서 발생하는 산란 방사선 테스트 방법
• KS B ISO 13696-2006(2021) 광학 및 광학 기기의 광학 부품에서 발생하는 산란 방사선에 대한 테스트 방법
• KS C IEC 60627:2003 엑스레이 영상진단장비 - 일반 및 유방조영술용 산란방지 그리드의 특성
• KS B 6869-2009(2019) 액체 광산란을 위한 자동 입자 계수기
• KS B ISO 13696:2006 광학 및 광학 기기 광학 요소에 의한 방사선 산란 테스트 방법
• KS F ISO 17497-2-2017(2022) 음향, 표면의 소리 산란 특성 2부: 자유장에서 방향 확산 계수 측정
• KS C IEC 61183:2001 전기 음향학. 소음계의 불특정 방사 음장 및 확산 음장 보정
• KS C IEC 60627:2019 진단용 X선 영상 장비 - 범용 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특징
• KS F ISO 17497-2:2017 음향 표면의 소리 산란 특성 파트 2: 자유장에서 방향 확산 계수 측정
• KS D ISO 3543-2002(2022) 베타 후방 산란법을 이용한 금속 및 비금속 코팅 두께 측정
• KS B ISO 7240-7:2020 화재 감지 및 경보 시스템 - 파트 7: 투과광 또는 산란광 이온화를 사용하는 지점 연기 감지기
• KS M ISO 9416:2022 논문 광 산란 및 흡수 계수 결정(Kubelka-Munk 이론 사용)
• KS M ISO 9416:2016 종이의 광 산란 및 흡수 계수 결정(Kubelka-Munk 이론 사용)

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 전자기 산란 산란

• ITU-R SM.329-7-1997 스퓨리어스 방출
• ITU-R SM.329-9-2001 스퓨리어스 방출*
• ITU-R SM.329-8-2000 스퓨리어스 방출*
• ITU-R SM.329-11-2011 스퓨리어스 영역에서의 원치 않는 방출
• QUESTION 245-1/4-2009 대역 외 및 스퓨리어스 방출 제한
• ITU-R RA.611-3-2003 스퓨리어스 방출로부터 전파천문학 서비스 보호(질문 ITU-R 145/7)
• ITU-R SM.239-2 SPANISH-1978 사운드 및 TV 방송 수신기의 스퓨리어스 방출
• ITU-R SM.329-10 SPANISH-2003 스퓨리어스 영역에서의 원치 않는 방출
• ITU-R SM.329-10 FRENCH-2003 스퓨리어스 영역에서의 원치 않는 방출
• ITU-R RA.611-2-1992 스퓨리어스 방출로부터 전파천문학 작업 보호 섹션 2G 전파천문학 및 레이더 천문학
• ITU-R RA.611-1-1990 스퓨리어스 방출로부터 전파천문학 작업 보호 섹션 2G 전파천문학 및 레이더 천문학
• ITU-R M.1177-1-1997 레이더 시스템의 스퓨리어스 방출 측정 기술
• ITU-R S.726-1993 매우 작은 개구 단자(VSAT)로부터의 스퓨리어스 방출의 최대 허용 수준
• ITU-R M.1177-1995 해상레이더시스템 스퓨리어스 방출 측정 기술
• REPORT BT.2142-2009 풍력 터빈의 디지털 텔레비전 신호의 산란 효과

SE-SIS, 전자기 산란 산란

• SIS 13 61 04-1962 백법랑의 산란반사율 및 산란계수 시험방법
• SIS SS IEC 627:1986 엑스레이 장비. X선 장비의 산란 방지 격자의 특성
• SIS 02 81 25-1974 물 분석. 물 산란 탁도 측정
• SIS SS 02 81 25-1989 물 분석. 물 산란 탁도 측정
• SIS SS 02 81 98-1989 물 분석. 물의 황산염 함량 측정. 산란 방식
• SIS SS 11 43 51-1982 비파괴 검사. 전자기 검사. 부유 플럭스 테스트

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 전자기 산란 산란

• GJB 6924-2009 해수면의 근거리 전자파 산란 특성에 대한 시뮬레이션 시험 방법
• GJB 6180A-2021 공기 표적의 전자파 산란 특성에 대한 동적 시험 방법
• GJB 10052-2021 해수면 표적의 전자파 산란 특성에 대한 해안 기반 시험 방법
• GJB 7958-2012 지상 및 해수면 표적의 전자파 산란 특성에 대한 공중 시험 방법
• GJB 3830A-2017 표적 전자파 산란 특성 데이터 처리 및 형식 요구 사항
• GJB 6637-2008 근거리 규모 표적의 전자기 산란 특성에 대한 준동적 테스트 방법
• GJB 10053-2021 표적 및 환경 전자기 산란 특성의 모델 검증을 위한 일반 요구 사항
• GJB 7955-2012 근거리 표적 전자기 산란의 동적 특성에 대한 단계적 시뮬레이션 시험 방법
• GJB 6179-2007 실물 크기 준동적 근거리장 표적 전자파 산란 특성 시험 방법
• GJB 6924A-2021 표적과 해수면 배경의 근거리 전자파 산란 특성에 대한 시뮬레이션 시험 방법
• GJB 5091-2002 레이더 클러터 산란 측정 요구 사항
• GJB 6298-2008 전방 산란 가시성 측정기의 일반 사양
• GJB 4470-2002 2Mbit/s 모바일 분산통신 시스템 사양
• GJB 4948-2003 협대역 이동 분산 통신 시스템 사양
• GJB 230-1987 군용 대류산란 통신 시스템 인터페이스
• GJB 883-1990 대류분산 통신 시스템의 일반 사양
• GJB 1756-1993 Troposcatter 통신 시스템 테스트 방법
• GJB 3830-1999 표적 레이더 산란 단면 데이터 형식 요구 사항
• GJB 5026A-2021 지상 해상 레이더 클러터 산란 특성 시험 방법
• GJB 5028-2003 타겟 라이다 산란 단면적 테스트 방법
• GJB 5028A-2021 타겟 라이다 산란 단면적 테스트 방법
• GJB 3244-1998 대류분산 통신 시스템을 위한 현장 선택 요구사항
• GJB 5027-2003 실외 레이더 표적 산란 특성 시험 방법
• GJB 883A-2003 디지털 대류산란 통신 시스템의 일반 사양
• GJB 5639-2006 통신 범위에 대한 일반 테스트 절차 분산 통신 시스템
• GJB 6180-2007 공중 표적 레이더 산란 단면의 동적 시험 방법
• GJB 8807-2015 실내 현장 규모의 표적 레이더 산란 단면적 테스트 방법
• GJB 4470-2002(XG1-2015) 2Mbit/s 모바일 분산 통신 시스템 사양 개정 1-2015
• GJB 5022-2001 실내 현장 규모의 표적 레이더 산란 단면적 테스트 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자기 산란 산란

• JIS Z 4910:2000 산란 방지 격자
• JIS Z 4910 ERRATUM 1:2000 산란 방지 격자(정오표 1)
• JIS A 4004:1995 난방용 대류 복사 라디에이터
• JIS Z 8828:2013 입자 크기 분석.동적 광산란(DLS)
• JIS Z 8828:2019 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)
• JIS B 9921:1997 광산란 자동 입자 계수기
• JIS B 9925:2010 광산란 액체 입자 계수기
• JIS C 1508:2000 전기 음향학 소음 측정 장비의 무작위 입사 및 산란 영역 수정
• JIS B 9925:1997 액체용 광산란 자동 입자 계수기
• JIS B 9921:2010 정화 구역용 광산란 공기 입자 계수기
• JIS Z 4910:2015 진단용 X선 영상장비 일반 및 유방촬영용 산란방지필터의 특성

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자기 산란 산란

• GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
• GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
• GB/T 21228.1-2007 음향 표면 소리 산란 특성 파트 1: 잔향실에서 무작위로 입사하는 소리 산란 계수 측정
• GB/T 36165-2018 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법을 통한 금속의 평균 입자 크기 결정
• GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
• GB/T 38532-2020 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 결정
• GB 13421-1992 무선 송신기의 의사 방출 전력 수준에 대한 한계 및 측정 방법
• GB/T 29022-2012 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)
• GB/T 25451-2010 중수로 원자력 발전소 연료성분의 코팅 두께 측정을 위한 베타선 후방산란 방법
• GB/T 13221-2004 X선 소각 산란법을 이용한 나노분말 입도 분포 측정
• GB/T 17312-1998 소음계의 무작위 입사 및 확산 장 교정
• GB/T 21228.2-2023 음향 표면 사운드 산란 특성 파트 2: 자유장 방향 확산 계수 측정
• GB/T 20018-2005 금속 및 비금속 코팅 코팅 두께 측정 β선 후방 산란 방법
• GB/T 15893.1-2014 산란광법을 이용한 산업용 순환 냉각수의 탁도 측정
• GB/T 15893.1-1995 산란광법을 이용한 산업용 순환 냉각수의 탁도 측정
• GB/T 42902-2023 탄화규소 에피택셜 웨이퍼의 표면 결함을 테스트하기 위한 레이저 산란 방법

German Institute for Standardization, 전자기 산란 산란

• DIN 51866-2:2001-08 온도 측정 2부: 레일리 산란 및 라만 산란
• DIN 5496:1991-05 체적 라디에이터의 열복사
• DIN ISO 13067:2021-08 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
• DIN ISO 22412:2018-09 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)
• DIN ISO 13067:2015 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정(ISO 13067-2011)
• DIN ISO 24173:2013-04 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
• DIN ISO 13067:2021 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정(ISO 13067:2020)
• DIN 1349-1:1972 광학 복사의 전달 광학적으로 투명한(비산란) 물질 수량, 기호 및 단위
• DIN ISO 22412:2018 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)(ISO 22412-2017)
• DIN ISO 24173:2013 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 지침(ISO 24713-2009)
• DIN EN ISO 12864:1998 안과 광학, 콘택트 렌즈, 산란광 측정
• DIN EN 61183:1994 전기 음향학. 소음 측정기 무작위 입사 음장 및 확산 음장 보정
• DIN EN 60627:2006 엑스레이 영상진단장비 - 일반용 및 유방촬영용 산란방지그리드의 특성
• DIN EN ISO 3543:2001 금속 및 비금속 코팅 코팅 두께 측정 베타선 후방 산란 방법
• DIN 1349-1:1972-06 광학 방사선 전송, 광학적으로 투명한(비산란) 매체, 수량, 기호 및 단위
• DIN 51866-2:2001 온도 측정 2부: 레일리 및 라만 산란
• DIN EN 61183:1994-12 전기 음향학 - 소음 측정기의 무작위 입사 및 확산 장 교정(IEC 61183:1994)
• DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
• DIN 52298-2:2003 도로 차량 자동차 충돌 방지 안전 유리에서 산란광 측정 Part 2. 매핑 방법
• DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
• DIN EN 60627:2016-08 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• DIN EN ISO 13696:2022-11 광학 및 포토닉스 - 광학 부품의 총 산란에 대한 테스트 방법

International Organization for Standardization (ISO), 전자기 산란 산란

• ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
• ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• ISO 12239:2021 산란광, 투과광 또는 이온화를 이용한 화재 경보기
• ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
• ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
• ISO 22412:2008 입자 크기 분석.동적 광산란(DLS)
• ISO 22412:2017 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)
• ISO/CD 22412:2023 입자 크기 분석 - 동적 광산란(DLS)
• ISO 17497-1:2004/Amd 1:2014 음향, 표면의 소리 산란 특성 파트 1: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정 수정 1
• ISO 11452-4:1995 도로 차량 협대역 방출 전자기 에너지에 대한 전자 간섭 구성요소 테스트 방법 파트 4: 산란 전류 방출.
• ISO/FDIS 23484 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• ISO 23484:2023 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• ISO 23749:2022 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 강철의 오스테나이트 정량 측정
• ISO 13067:2020 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 회절 - 평균 입자 크기 측정
• ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
• ISO/DIS 24173:2023 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
• ISO 12239:2010 산란광, 투과광 또는 이온화를 활용하는 화재 경보기
• ISO 3543:1981 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 광선 후방 산란 방법
• ISO/TR 22814:2020 동적 광산란(DLS) 측정에 대한 모범 사례
• ISO 3543:2000 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타선 후방 산란 방법
• ISO 13696:2002 광학 및 광학 기기 광학 요소에 의한 방사선 산란 테스트 방법
• ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
• ISO 20804:2022 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 다공성 및 미립자 시스템의 비표면적 측정
• ISO 3543:2000/Cor 1:2003 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 광선 후방 산란 방법 기술 정오표 1
• ISO 17497-1:2004 음향, 표면의 소리 확산 특성 1부: 잔향실의 무작위 입사 확산 계수 측정
• ISO/PRF 7240-7 화재 감지 및 경보 시스템 파트 7: 산란광, 투과광 또는 이온화를 사용하는 지점 연기 감지기
• ISO 23703:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 오스테나이트계 스테인리스 강의 기계적 손상을 평가하기 위한 방향 분석 가이드
• ISO 7240-7:2023 화재 감지 및 경보 시스템 파트 7: 산란광, 투과광 또는 이온화를 사용하는 지점 연기 감지기
• ISO 13696:2022 광학 및 포토닉스 - 광학 요소의 총 산란 테스트 방법

Professional Standard - Medicine, 전자기 산란 산란

• YY 0012-1990 산란 방지 그리드
• YY/T 0480-2004 진단용 X선 영상 장비 일반 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특성

British Standards Institution (BSI), 전자기 산란 산란

• BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• BS ISO 17497-1:2004+A1:2014 음향 표면의 소리 산란 특성 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
• BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
• BS ISO 12239:2021 산란광, 투과광 또는 이온화를 이용한 화재 경보기
• BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
• BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
• BS ISO 13067:2020 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정
• BS ISO 22412:2008 입자 크기 분석.동적 광산란(DLS)
• BS ISO 22412:2017 입자 크기 분석.동적 광산란(DLS)
• BS ISO 23484:2023 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• BS ISO 23749:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트의 정량적 측정
• BS ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 이용한 방위각 측정 기준
• PD IEC/TR 61000-3-15:2011 전자파 적합성(EMC) 제한된 저전압 그리드의 분산형 발전 시스템에 대한 저주파 전자파 내성 및 방사선 요구 사항 평가
• 19/30365236 DC BS ISO 13067 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
• 21/30398224 DC BS ISO 23749 마이크로빔 분석을 통한 전자 후방 산란 회절을 통한 강철의 오스테나이트 정량 측정
• BS EN 61183:1995 전기음향 소음계의 무작위 입사 및 확산 장 교정
• BS EN ISO 3543:2001 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 베타선 후방 산란 방법
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
• PD ISO/TR 22814:2020 동적 광산란(DLS) 측정에 대한 모범 사례
• 23/30435799 DC BS ISO 24173 마이크로빔 분석에 의한 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
• BS EN 61953:1998 진단용 X선 영상장비용 유방조영술 비산방지 그릴의 특성
• BS ISO 17497-2:2012 음향, 표면의 소리 확산 특성, 자유장에서 방향성 방사 확산 계수 측정.
• BS EN 12096:1997 기계적 진동, 진동 산란 값의 검증 및 해석
• PD IEC/TR 62316:2017 단일 모드 광섬유 OTDR 후방 산란 추적 해석 가이드
• BS ISO 17497-1:2004 음향, 표면의 소리 확산 특성, 잔향실의 무작위 입사 확산 계수 측정
• BS EN ISO 13696:2002 광학 및 광학 기기 광학 부품에 의해 산란되는 방사 에너지 테스트 방법
• BS EN 60627:2001 X선 진단영상장비 일반 및 흉부종양 산란방지 그리드의 특성
• BS EN 60627:2015 X선 진단영상장비 일반 및 흉부종양 산란방지 그리드의 특성
• BS ISO 22262-3:2016 공기 질 벌크 재료 X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• BS ISO 20804:2022 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 다공성 및 미립자 시스템의 비표면적 측정
• 22/30405472 DC 화재 감지 및 경보 시스템 파트 7: 산란광, 투과광 또는 이온화를 사용하는 지점 연기 감지기
• BS EN ISO 13696:2022 광학 및 포토닉스 광학 부품의 총 산란 테스트 방법
• PD IEC/TS 61967-3:2014 전자기 복사 측정을 위한 집적 회로의 복사 방출을 측정하기 위한 표면 스캐닝 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자기 산란 산란

• GB/T 33699-2017 태양광 자원의 산란 방사선 측정
• GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법
• GB/T 33903-2017 산란 방사선 측정을 위한 차폐형 볼형 완전 자동 태양 추적기

工业和信息化部, 전자기 산란 산란

• YB/T 4677-2018 강철 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법의 질감 결정

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자기 산란 산란

• DB31/T 1156-2019 전기 화재 용융 마크 기술 식별 전자 후방 산란 회절 방법

RU-GOST R, 전자기 산란 산란

• GOST R ISO 17497-1-2011 음향 표면 소리 산란 특성 파트 1: 잔향실에서 무작위로 입사되는 소리의 산란 계수 측정.
• GOST 25645.118-1984 개별 소스의 X선 방사선 에너지 스펙트럼 및 각도 좌표
• GOST 25645.153-1990 지구 대기의 산란 방사선 공간 과도 분포 모델
• GOST R IEC 61953-2001 진단용 X선 영상장비 유방조영술을 위한 후방산란 그리드의 특성
• GOST R 53203-2008 석유 제품 - 파장 산란 X선 형광 분광법을 통한 황 측정
• GOST 13208-1978 불꽃 조명 프로젝트 광산란 농도계 방법
• GOST R 50842-1995 무선 전자 장비의 전자기 호환성 국가 경제 목적을 위한 무선 전송 장비 스퓨리어스 방출 제한 측정 및 모니터링 방법
• GOST 25645.117-1984 은하외 확산 X선 방사선 및 감마 방사선 각도 및 에너지 분포 특성
• GOST 25645.131-1986 은하수의 확산된 X선 방사선과 감마선 각도 및 에너지 분포 특성
• GOST R ISO 17497-2-2014 음향, 표면 소리 산란 특성, 2부. 자유장에서 방향 확산 계수 측정
• GOST 21106.8-1977 양극 전력 손실이 25W를 초과하는 방출 변조 및 제어 튜브. 음극 방출 전류 측정 방법
• GOST 25645.132-1986 개별 소스의 우주 감마선 에너지 스펙트럼 및 각도 좌표
• GOST 21106.3-1976 양극 전력 손실이 25W를 초과하는 전송 튜브. 전기 강도 테스트 방법
• GOST 24724-1981 영화 카메라 및 카메라용 렌즈 산란 계수 결정 방법
• GOST R ISO 13067-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
• GOST R 8.774-2011 국가 측정 일관성 보증 시스템 액체 매체의 분산 구성 입자 크기의 동적 광 산란 결정

KR-KS, 전자기 산란 산란

• KS B ISO 12239-2021 산란광, 투과광 또는 이온화를 이용한 화재 경보기
• KS F ISO 17497-1-2016 음향 사운드 산란 표면의 특성 - 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
• KS F ISO 17497-2-2017 음향학 - 표면의 소리 산란 특성 - 2부: 자유장에서 방향 확산 계수 측정
• KS C IEC 60627-2019 진단용 X선 영상 장비 - 범용 및 유방 조영술 산란 방지 그리드의 특징
• KS B ISO 7240-7-2020 화재 감지 및 경보 시스템 - 파트 7: 투과광 또는 산란광 이온화를 사용하는 지점 연기 감지기
• KS M ISO 9416-2022 논문 광 산란 및 흡수 계수 결정(Kubelka-Munk 이론 사용)

Association Francaise de Normalisation, 전자기 산란 산란

• NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 후방산란 전자 회절 방향 측정 가이드
• NF X21-014:2012 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 평균 입자 크기 측정
• NF X21-011*NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석을 위한 전자 후방 산란 회절 방향 측정 가이드
• NF F12-445:1988 철도 차량 폴리카보네이트 광 확산기
• NF S31-011*NF EN 61183:1994 전기음향 소음계의 무작위 입사 및 확산 장 교정
• NF A91-115:1995 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 광선 후방 산란 방법
• NF EN ISO 13696:2022 광학 및 포토닉스 - 광학 부품의 산란 방사선 테스트 방법
• NF S10-115*NF EN ISO 13696:2003 광학 및 광학 기기의 광학 부품에서 발생하는 산란 방사선에 대한 테스트 방법
• NF EN 61183:1994 전기 음향학 - 무작위 입사 및 확산 장에서 소음 측정기 교정
• NF EN ISO 3543:2001 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타선 후방 산란 방법
• NF C74-121*NF EN 60627:2015 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• NF X20-301:1978 비분산적외선흡수를 이용한 가스분석방법
• NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 대기 질 벌크 재료 파트 3: X선 회절을 통한 석면 정량 측정
• XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
• NF X20-351:1975 비확산 적외선 복사선 흡수법에 의한 이산화황 측정

PL-PKN, 전자기 산란 산란

• PN E77021-1972 전기 튜브 라디에이터. 금속 방사 페인트를 사용한 적외선 방사원

CZ-CSN, 전자기 산란 산란

• CSN 42 0690 Cast.4-1983 마그네슘 제련. 산란법에 의한 염소 측정
• CSN 65 2104-1986 산업용 수산화칼륨. 염소 함량 측정. 산란 방식
• CSN 65 2105-1986 산업용 수산화칼륨. 황산염 함량 측정. 산란 방식

International Telecommunication Union (ITU), 전자기 산란 산란

• ITU-R QUESTION 245-1/4-2009 대역 외 및 스퓨리어스 방출 제한
• ITU-R SM.329-2012 스퓨리어스 영역에서의 원치 않는 방출
• ITU-R QUESTION 245-14-2009 대역 외 및 스퓨리어스 방출 제한
• ITU-R P.534-4-1999 산란 전기장 강도를 계산하는 방법
• ITU-R RA.611-4 FRENCH-2006 가짜 방사선으로부터 전파천문학 서비스 보호 ITU-R 145/7 발행
• ITU-R RA.611-4 SPANISH-2006 가짜 방사선으로부터 전파천문학 서비스 보호 ITU-R 145/7 발행
• ITU-R RA.611-4-2006 스퓨리어스 방출로부터 무선 항공 서비스 보호
• ITU-R S.726-1-1993 VSAT의 스퓨리어스 방출의 최대 허용 수준
• ITU-R S.726-1 FRENCH-1993 매우 작은 조리개 단자(VSAT)의 스퓨리어스 방출에 대한 최대 허용 값
• ITU-R S.726-1 SPANISH-1993 매우 작은 조리개 단자(VSAT)의 스퓨리어스 방출에 대한 최대 허용 값
• ITU-R SM.329-11 SPANISH-2011 스퓨리어스 영역에서의 원치 않는 방출

Danish Standards Foundation, 전자기 산란 산란

• DS/ISO 17497-1:2004 음향 표면의 소리 산란 특성 1부: 반향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
• DS/IEC/TR 62316:2007 OTDR 후방 산란 추적 해석 가이드
• DS/EN 61183:1996 전기음향 소음계의 무작위 입사 및 확산 장 교정
• DS/EN ISO 13696:2002 광학 및 광학 기기의 광학 부품에서 발생하는 산란 방사선에 대한 테스트 방법
• DS/EN ISO 12864:1998 안과용 광학 콘택트렌즈의 산란광 측정
• DS/EN 60627/Corr.:2003 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• DS/EN 60627:2002 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성
• DS/ISO 17497-2:2012 음향 표면의 소리 산란 특성 파트 2: 자유장에서 방향 확산 계수 측정

American Nuclear Society (ANS), 전자기 산란 산란

• ANS 6.6.1-1987 LWR 원자력 발전소의 직접 및 산란 감마 방사선 계산 및 측정
• ANS 6.6.1-1987(R1998) 경수로 원자력발전소의 직접 및 산란 감마선 계산 및 측정
• ANS 6.6.1-2015 경수로 원자력발전소의 직접 및 산란 감마선 계산 및 측정

Professional Standard - Petrochemical Industry, 전자기 산란 산란

• SH/T 0724-2002 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산 측정
• SH/T 0205-1992 전기 절연 액체의 굴절률 및 특정 분산 측정

未注明发布机构, 전자기 산란 산란

• DIN ISO 13067 E:2021-01 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 회절 - 평균 입자 크기 측정
• DIN ISO 22412 E:2018-02 입자 크기 분석 - 동적 광산란(DLS)
• BS EN 61183:1995(1999) 전기 음향학 - 소음계의 무작위 입사장 및 확산장 교정
• BS EN ISO 12864:1998(2008) 안과용 광학 콘택트렌즈의 산란광 측정
• DIN EN ISO 13696 E:2021-05 Test methods for radiation scattering by optical elements using optical components in optics and optical instruments (draft)
• BS EN ISO 3543:2001(2006) 베타 후방 산란법을 이용한 금속 및 비금속 코팅 두께 측정

United States Navy, 전자기 산란 산란

• NAVY MIL-STD-2071 A VALID NOTICE 1-2005 레이더 산란 왕겨 단면 시험
• NAVY MIL-STD-2071 A-2000 레이더 산란 왕겨 단면 시험
• NAVY MIL-STD-1320-235-1988 트럭 적재용 전체 단면 탄성 산란 검출기 차량 및 확장된 밀폐형 캐빈용 전체 단면 탄성 산란 검출기

Standard Association of Australia （SAA）, 전자기 산란 산란

• ISO 17497-1:2004/Amd.1:2014 음향 표면의 소리 산란 특성 1부 잔향실 수정 1의 무작위 입사 산란 계수 측정
• AS 3786:2023 산란광, 투과광 또는 이온화를 사용하는 연기 경보기(ISO 12239:2021 MOD)
• AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자기 산란 산란

• ASTM C347-57(1983)e1 백색 법랑의 반사율 및 산란계수 시험방법
• ASTM E1931-97 X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-16(2022) X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-97(2003) X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-09 X선 Compton 산란 단층 촬영용 표준 가이드
• ASTM E1931-16 비계산 X선의 Compton 산란 이미징에 대한 표준 가이드
• ASTM E2861-11 중성자 방사선의 빔 발산 및 빔 보정을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D1218-82 탄화수소 액체의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1218-12 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1218-21 탄화수소 액체의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D1494-97(2001)e1 강화 플라스틱 패널의 산란광 투과율에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D1494-97(2001) 강화 플라스틱 패널의 산란광 투과율에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D1218-99 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D121-09 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1494-12 강화 플라스틱 패널의 산란광 투과율에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D1218-12(2016) 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1218-02(2007) 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1218-02 액체 탄화수소의 굴절률 및 굴절 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E2387-19 각도 광산란 측정의 표준 사례
• ASTM E2387-05(2011) 각도 광학 산란량 측정을 위한 표준 사례
• ASTM E1392-96 정반사 또는 반사 표면 각도 분석을 통한 광산란 측정의 표준 사례
• ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM B567-98 베타선 후방 산란법에 의한 코팅 두께 결정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM B567-98(2003) 베타선 후방 산란법에 의한 코팅 두께 결정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM B567-98(2009a) 베타선 후방산란법에 의한 코팅 두께 측정의 표준 시험 방법
• ASTM B567-98(2014) 베타선 후방산란법에 의한 코팅 두께 측정의 표준 시험 방법
• ASTM UOP856-85 레이저 산란을 통한 분말의 입자 크기 분포 측정
• ASTM E2387-05 각도 광학 산란 측정을 위한 표준 사례
• ASTM D1807-00(2005) 전기 절연 액체의 굴절률 및 특정 광학 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM B567-98(2021) 베타선 후방산란법을 이용한 코팅 두께 측정의 표준 시험 방법
• ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
• ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
• ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양
• ASTM F3094-14(2022) 산란된 X선 광원으로부터 의료용 X선 투시용 X선 차폐복의 보호 여부를 결정하기 위한 표준 시험 방법
• ASTM D1807-00 전기 절연 액체의 굴절률 및 특정 광학 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D1807-00(2005)e1 전기 절연 액체의 굴절률 및 특정 광학 분산에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E387-04(2009) 불투명 필터를 사용하는 분산 분광 광도계의 스퓨리어스 방사능을 평가하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E387-04 불투명 필터를 사용하는 분산 분광 광도계의 스퓨리어스 방사능을 평가하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1172-87(2001) 파장 확산 X선 분광계 설명에 대한 표준 사례
• ASTM D6589-00 대기 산란 모델 성능의 통계적 평가를 위한 표준 가이드
• ASTM D6589-05 대기 산란 모델 성능의 통계적 평가를 위한 표준 가이드

AENOR, 전자기 산란 산란

• UNE 20617:1981 X선 장비에 사용되는 산란 방지 그리드의 특성
• UNE-EN ISO 13696:2003 광학 부품 및 광학 기기의 광학 부품에서 발생하는 산란 방사선 테스트 방법(ISO 13696:2002)
• UNE-EN 60627:2002 진단용 X선 영상장비용 범용 및 유방조영술 방지 산란 그리드의 특성

American National Standards Institute （ANSI), 전자기 산란 산란

• ANSI/ANS 6.6.1-2015 경수로 원자력발전소의 직접 및 산란 감마선 계산 및 측정
• ANSI/ANS 6.6.1-1987 LWR 원자력 발전소의 직접 및 산란 감마 방사선 계산 및 측정
• ANSI/ASTM D1494:2012 강화 플라스틱 패널의 산란광 투과율에 대한 표준 시험 방법
• ANSI/IEEE 1502:2007 레이더 산란 단면 테스트 절차에 대한 권장 사례

ANS - American Nuclear Society, 전자기 산란 산란

• 6.6.1-1987 경수로 원자력발전소의 직접 및 산란 감마선 계산 및 측정
• 6.6.1-2015 경수로 원자력발전소의 직접 및 산란 감마선 계산 및 측정
• 6.6.1-1979 LWR 원자력 발전소의 직접 및 산란 감마 방사선 계산 및 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자기 산란 산란

• GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석
• GB/T 38431-2019 정적 다중 광산란법을 이용한 입자 분산 시스템의 안정성 평가
• GB/T 29022-2021 입자 크기 분석 동적 광산란(DLS)
• GB/T 38944-2020 비파괴 검사를 위한 중성자 소각 산란 검출 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자기 산란 산란

• IEC TR 62316:2007 OTDR 후방 산란 추적 해석 가이드
• IEC 61953:1997 X선 영상진단장비 유방조영술용 산란방지그리드의 특성
• IEC TR 61000-3-15:2011 전자파 적합성(EMC) 3-15부: 제한 사항 저전압 전력망의 분산 발전 시스템에 대한 저주파 전자파 내성 및 방출 요구 사항 평가
• IEC TR 62316:2017 단일 모드 광섬유 OTDR 후방 산란 추적 해석 가이드
• IEC 60627:1978 X선 장비에 사용되는 산란 방지 그리드의 특성
• IEC 61183:1994 전기음향 소음계의 불특정 방사음장 및 확산음장 보정
• IEC 60627:2001 진단용 X선 영상장비용 범용 및 대형 패턴 산란 방지 격자의 특성
• IEC 60627:2013 진단용 X선 영상장비, 범용 및 대형 패턴 산란 방지 격자의 특성

GM Daewoo, 전자기 산란 산란

• GMKOREA EDS-T-7732-2011 탄화수소 액체의 굴절률 및 굴절분산 시험방법

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 전자기 산란 산란

• SMPTE 117M-2001 영화 필름.사진 오디오 녹음.분광 산란 밀도

Group Standards of the People's Republic of China, 전자기 산란 산란

• T/CSCM 05-2020 소각 X선 산란을 통한 섬유 내 미세기공 분포 측정
• T/QGCML 1367-2023 적색 및 청색광 LED 조사 헤드 냉각 장치
• T/CSP 6-2019 정적 다중 광산란법을 이용한 입자 기술 분산 시스템의 안정성 평가
• T/ZS 0454-2023 온라인 먼지 모니터링(광산란 방식) 기술 사양
• T/ZBH 019-2021 유리 응력 측정법 - 레이저 편광 산란법
• T/GDASE 0006-2020 방열필름의 방열계수 및 열전도도 측정
• T/AHEMA 24-2022 수질 환경 모니터링을 위한 표면 강화 라만 산란(SERS) 기판

NL-NEN, 전자기 산란 산란

• NEN 1843-1972 종이 및 판지의 확산 반사율 측정

ZA-SANS, 전자기 산란 산란

• SANS 62316:2007 OTDR 후방 산란 깨우기 해석 가이드

GB-REG, 전자기 산란 산란

• REG NASA-LLIS-0798-2000 표유 방사선 간섭 인식에 대해 배운 교훈

Professional Standard - Electron, 전자기 산란 산란

• SJ 2798-1987 전자 등급 가스의 입자 측정 방법 광산란 방법
• SJ 20042-1992 대류산란 통신장비의 측정방법
• SJ/T 10596-1994 디지털 대류산란 통신 시스템의 일반 사양
• SJ 20564-1995 디지털 대류산란 통신 시스템의 설계 요구사항
• SJ 20506-1995 디지털 대류분산형 이동통신장비 일반규격

Professional Standard - Machinery, 전자기 산란 산란

• JB/T 9395.5-1999 광학 결정 산란 입도 측정 방법
• JB/T 9495.5-1999 광학 결정 산란 입도 측정 방법
• JB/T 53020-1999 오일 확산 제트 진공 펌프 제품 품질 분류

CEPT - Conference Europeenne des Administrations des Postes et des Telecommunications, 전자기 산란 산란

• ERC REPORT 18-1993 스퓨리어스 방출과 그 한계(몽트뢰 1993년 10월)

Professional Standard - Aviation, 전자기 산란 산란

• HB/Z 280-1995 항공기 레이더 산란 단면 테스트 가이드

中国气象局, 전자기 산란 산란

• QX/T 536-2020 전방 산란 가시성 측정 방법

European Committee for Standardization (CEN), 전자기 산란 산란

• EN ISO 3543:1994 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 베타선 후방 산란 방법
• EN ISO 13696:2022 광학 및 광학 기기 광학 부품의 방사선 산란 테스트 방법 구성 요소
• EN 12096:1997 기계적 진동, 진동 산란 값의 검증 및 해석

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자기 산란 산란

• JJF 1966-2022 레이더 산란 단면 재료 반사율 테스트 시스템의 교정 사양
• JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 전자기 산란 산란

• IEEE 377-1980 육상 이동 통신 송신기의 스퓨리어스 방출 측정을 위한 권장 사례

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 전자기 산란 산란

• IEEE Std 377-1980 육상 이동 통신 송신기의 스퓨리어스 방출 측정을 위한 IEEE 권장 사례

Professional Standard - Post and Telecommunication, 전자기 산란 산란

• YD/T 1483-2006 무선 장비의 스퓨리어스 방출에 대한 기술 요구 사항 및 측정 방법
• YD/T 1483-2016 무선 장비의 스퓨리어스 방출에 대한 기술 요구 사항 및 측정 방법

Professional Standard - Electricity, 전자기 산란 산란

• DL 420-1991 전기 절연 액체의 굴절률 및 특정 분산에 대한 테스트 방법

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자기 산란 산란

• JJG 1104-2015 동적 광산란 입자 크기 분석기 교정 절차
• JJG 846-1993 광산란 디지털 먼지 시험기의 교정 절차
• JJG 228-1993 정적 레이저 소각 광산란 광도계의 교정 절차
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