고에너지 X선 광전자 분광법

모두 352항목의 고에너지 X선 광전자 분광법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 고에너지 X선 광전자 분광법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 종합 전자 부품, 길이 및 각도 측정, 비파괴 검사, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 원자력공학, 범죄 예방, 반도체 소재, 광학 장비, 전자관, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 예술과 공예, 조잡한, 연료, 금속 재료 테스트, 석유제품 종합, 수질, 무기화학, 비료, 계측 및 측정 합성, 방사선 측정, 환경 보호, 건강 및 안전, 발전소 종합, 쓰레기, 비철금속, 버너, 보일러, 토양질, 토양과학, 곡물, 콩류 및 그 제품, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 의료 장비, 물리학, 화학, 어휘, 파이프 부품 및 파이프, 표면 처리 및 도금, 금속 부식, 종이와 판지, 환경 보호, 금속 광석, 페인트 및 바니시, 검은 금속.

German Institute for Standardization, 고에너지 X선 광전자 분광법

DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
DIN EN ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN EN ISO 8754:2003-12 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN EN ISO 20847:2004-07 석유 제품 - 자동차 연료의 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
DIN EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN EN ISO 13032:2012-06 석유 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN EN ISO 13032:2023-06 석유 및 관련 제품용 차량 연료의 저농도 황 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN 6800-2:2020-08 광자 및 전자 방사선 프로브 유형 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광자 및 전자 방사선 이온화 챔버 선량 측정
DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정
DIN 6800-2:2008 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정

British Standards Institution (BSI), 고에너지 X선 광전자 분광법

BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
BS ISO 19318:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
BS ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
BS EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
BS ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
20/30423741 DC BS ISO 19318 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
19/30354872 DC BS ISO 16795 핵 X선 형광 분광법을 통한 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
BS EN ISO 13032:2012 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 저농도 황 측정
IEC 62607-6-21:2022 나노제조의 주요 제어특성 6-21부: 그래핀 기반 소재 원소 조성, C/O 비율: X선 광전자 분광학
BS ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성 및 안정성
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
23/30458538 DC BS ISO 16795 핵 X선 형광 분광법을 통한 산화우라늄 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
PD ISO/TS 9516-4:2021 융합 준비 방법을 사용하여 철광석의 X선 형광 분광법을 통해 다양한 원소를 측정하기 위한 성능 기반 접근 방식
BS 2000-336:2003 석유 및 그 제품의 시험 방법 석유 제품 황 함량 측정 에너지 확산 X선 형광 분광법
BS ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 스캔을 통한 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 수정 규칙

International Organization for Standardization (ISO), 고에너지 X선 광전자 분광법

ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 16795:2004 원자력 X선 형광 분광법을 이용한 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
ISO/DIS 16795 원자력 X-선 형광 분광법을 이용한 산화우라늄 함유 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO/TR 18392:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광법배경 결정 절차
ISO 20903:2019 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 결과 보고 시 필요한 피크 강도 및 정보를 결정하는 데 사용되는 방법
ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 에너지 분광법 및 X선 광전자 분광법 결과 보고에 필요한 피크 강도 결정 방법 및 정보
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 반복성 및 강도 안정성
ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
ISO/DIS 13032 석유 및 관련 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
ISO/TS 9516-4:2021 철광석 X선 형광 분광법을 통한 다양한 원소 측정 4부: 성능 기반 용융물 준비 방법
ISO 13032:2012 석유 제품 자동차 연료의 저농도 황 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 및 스캐닝 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 보정 규칙
ISO 18118:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 민감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 안내.
ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 민감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 안내.
ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내

未注明发布机构, 고에너지 X선 광전자 분광법

DIN ISO 16129 E:2020-01 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하는 절차
DIN ISO 15472 E:2019-09 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정
BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정
DIN 6800-2 E:2019-07 광자 및 전자 방사선에 대한 프로브형 검출기를 사용한 선량 측정 절차 - 2부: 고에너지 광자 및 전자 방사선의 이온화 챔버 선량 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 12079-2012 엑스선관 광전성능 시험방법
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
GB/T 25185-2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
GB/T 17606-1998 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 원유 내 황 함량 측정
GB/T 17606-2009 원유의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
GB/T 43598-2023 X선 광전자 분광법을 이용한 나노기술 그래핀 분말의 산소 함량 및 탄소-산소 비율 측정
GB/T 17040-1997 석유 제품의 황 함량 측정(에너지 분산형 X선 형광 분광법)
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/T 17040-2008 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
GB/T 31472-2015 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/Z 21277-2007 전자 및 전기 제품에서 제한 물질인 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬을 신속하게 스크리닝합니다.X선 형광 분광법
GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법
GB/T 43275-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 장난감 플라스틱의 안티몬, 비소, 바륨, 카드뮴, 크롬, 납, 수은, 셀레늄의 스크리닝 및 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 고에너지 X선 광전자 분광법

ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E995-11 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에서 배경 제거 기술 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM E2735-14(2020) X선 광전자 분광법에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E1523-97 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1523-15 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E2108-10 X선 광전자 분광계를 사용한 전자 에너지 다발 규모 결정을 위한 표준 관행
ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2108-00 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도 교정을 위한 표준 운영 절차
ASTM E2108-05 X선 광전 분광계의 전자 결합 에너지 스케일 교정을 위한 표준 관행
ASTM E995-04 나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기에 대한 표준 가이드
ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2735-14 X선 광전자 분광학 40;XPS 41 테스트에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E2735-13 X선 광전자 분광법(XPS) 실험에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E902-05 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM D6445-99 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 황 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6445-99(2004)e1 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 황 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1523-03 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E1523-09 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM C1255-93(1999) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
ASTM C1255-18 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
ASTM C1255-93(2005) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
ASTM C1255-11 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 토양 내 우라늄 및 토륨 분석의 표준 시험 방법
ASTM D4294-10 에너지 산란 X선 형광 분광법을 이용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5839-96(2001) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5839-96(2006) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2120-10 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가를 위한 표준 작업 절차
ASTM D4294-98 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 표준 시험 방법
ASTM D4294-90(1998)e1 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 표준 시험 방법
ASTM D4294-21 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 및 석유 제품 내 황 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D4294-08 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 표준 시험 방법
ASTM D4294-08a 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 표준 시험 방법
ASTM D4294-08ae1 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 표준 시험 방법
ASTM E3309-21 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 통한 법의학 프라이밍 총상 잔류물(pGSR) 분석 보고를 위한 표준 가이드
ASTM D6481-14(2019) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 윤활유 내 칼슘 인, 황 및 아연 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6481-14 에너지 확산 X선 형광 분광법을 사용하여 윤활유 내 인, 황, 칼슘 및 아연을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5839-15 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐유의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5839-15(2023) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 유해 폐기물 연료의 미량 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1375-92(2005) 가스 분배 시스템 부품의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광 분석 시험 방법
ASTM E2120-00 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가에 대한 표준 사례
ASTM D6481-99(2004) 에너지 확산 X선 형광 분광법을 이용한 윤활유의 인, 황, 칼슘 및 아연 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6481-99 에너지 확산 X선 형광 분광법을 이용한 윤활유의 인, 황, 칼슘 및 아연 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM E2994-21 스파크 원자 방출 분광법 및 글로우 방전 원자 방출 분광법(특성 기반 방법)을 사용한 티타늄 및 티타늄 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D4294-16 에너지 확산 X선 형광 분광법을 이용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D4294-16e1 에너지 확산 X선 형광 분광법을 이용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E3284-23 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 사용한 프라이머 잔류물 법의학적 검사(pGSR) 교육을 위한 표준 관행

Professional Standard - Electron, 고에너지 X선 광전자 분광법

SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드
SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 고에너지 X선 광전자 분광법

KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
KS D ISO 19318-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
KS D ISO 18118-2005(2020) 표면 화학 분석에서 균질 물질의 정량 분석을 위해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자 사용에 대한 지침 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법
KS D ISO 19319:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS M ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
KS M ISO 20847-2006(2021) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정
KS M ISO 20847-2006(2016) 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS M ISO 20847:2006 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
KS D ISO 18118:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 민감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 안내.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 고에너지 X선 광전자 분광법

GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법
GB/T 17040-2019 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정
GB/T 41105.3-2021 비파괴 검사를 위한 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 분광학
GB/T 40196-2021 X선 형광 분광법을 이용한 목재 방부제 및 목재 방부제의 CCA 및 ACQ 측정 방법
GB/T 36226-2018 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분광법(반정량적 방법)을 통해 스테인리스강의 망간, 니켈, 크롬, 몰리브덴, 구리 및 티타늄 함량 측정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 고에너지 X선 광전자 분광법

GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항
GB/T 33352-2016 전자 및 전기 제품 X선 형광 분광법에서 제한 물질을 스크리닝하기 위한 일반 적용 규칙

KR-KS, 고에너지 X선 광전자 분광법

KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

Standard Association of Australia （SAA）, 고에너지 X선 광전자 분광법

AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역
AS ISO 18118:2006 표면 화학 분석. 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법. 균질 물질의 정량 분석에서 실험적으로 결정된 상대 감도 계수의 사용에 대한 안내
AS ISO 19318:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 요금통제 및 요금조정 보고방법
AS ISO 24237:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 강도 척도 반복성 및 불변성
AS/NZS 4356.7:1996 의료 전기 장비. 전기광학 X선 영상증배기의 특성. 변조 변환 함수 결정

Association Francaise de Normalisation, 고에너지 X선 광전자 분광법

NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
NF ISO 16795:2006 핵 X-선 형광 분광법을 통한 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 측정
NF M60-460*NF ISO 16795:2006 원자력용 X-선 형광 분광법을 이용한 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
NF M07-053*NF EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
NF X21-061:2008 표면 화학 분석나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 해상도 결정
NF EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
NF M60-513:1990 X선 및 γ선 표준 광선을 사용한 방사선 선량계 및 유량계 교정 및 X선 및 γ선 2광자 에너지에 대한 반응 측정 4MeV ~ 9MeV 에너지의 표준 광자 방사선
NF X21-058:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정에 사용되는 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
NF M60-512:1984 원자력 X, r 표준선을 이용한 방사선량계 및 유량계의 교정과 광자 에너지를 이용한 반응 측정
NF EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
NF M07-110*NF EN ISO 20847:2004 석유 제품 - 자동차 연료의 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
NF M07-145*NF EN ISO 13032:2012 석유 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법.
NF A09-230-3:1999 비파괴 검사 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 분광법
NF M60-512-1:1998 선량계 및 선량률 측정기의 교정과 광자 에너지 상호작용 반응으로 X선 및 감마선의 기준 방사선 측정
NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
NF ISO 22127:2020 고에너지 X선 방사선 치료의 선량 측정 감사를 위한 유리형 방사선광발광 선량계를 사용한 선량 측정

Professional Standard - Nuclear Industry, 고에너지 X선 광전자 분광법

EJ/T 805-1993 X선 형광 분석을 위한 저에너지 광자 소스

Professional Standard - Judicatory, 고에너지 X선 광전자 분광법

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양

Group Standards of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법
T/KJFX 002-2017 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 쌀 및 그 제품의 카드뮴 신속한 측정
T/CSTM 00962-2022 불꽃 방전 원자 방출 분광계의 성능 평가 방법
T/LNWTA 003-2019 급수관 내 무기성분의 신속한 검출방법 에너지분산형 X선 형광분광법
T/CEC 423-2020 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 미네랄 절연유 및 윤활유의 황, 인 및 염소 함량 측정
T/FJEMIA 6-2022 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 토양 내 구리, 아연, 납, 니켈, 크롬 및 비소 함량을 신속하게 스크리닝합니다.

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB63/T 1678-2018 X-선 형광 분광법(에너지 분광법)을 통한 탕카의 미네랄 색소 측정

Professional Standard - Public Safety Standards, 고에너지 X선 광전자 분광법

GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

工业和信息化部/国家能源局, 고에너지 X선 광전자 분광법

JB/T 12962.1-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 1부: 일반 기술
JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 고에너지 X선 광전자 분광법

JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
JIS K 0167:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 지침
JIS K 0470:2008 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 토양 및 모래 내 비소 및 납 측정
JIS T 0306:2002 X-선 광전자 분광법을 이용한 금속 생체재료로 형성된 부동태막의 상태 분석
JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내

IN-BIS, 고에너지 X선 광전자 분광법

IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차

Professional Standard - Petrochemical Industry, 고에너지 X선 광전자 분광법

SH/T 0742-2004 휘발유의 황 함량 측정(에너지 분산형 X선 형광 분광법)
NB/SH/T 0822-2010 윤활유의 인, 황, 칼슘 및 아연 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법

GOSTR, 고에너지 X선 광전자 분광법

GOST ISO 8754-2013 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
GOST ISO 20847-2014 석유 제품의 황 함량 측정 자동차 연료 에너지 분산형 X선 형광 분광법
GOST 32139-2019 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB44/T 1826-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 합금 주얼리 구성 요소 측정
DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

BR-ABNT, 고에너지 X선 광전자 분광법

ABNT NBR 14533-2011 석유 및 석유 제품 - 황 X선 형광 분광법(에너지 분산형)

Danish Standards Foundation, 고에너지 X선 광전자 분광법

DS/EN ISO 8754:2004 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
DS/EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DS/EN ISO 13032:2012 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 저농도 황 측정

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB61/T 1162-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 토양 내 중금속 원소 측정
DB61/T 1580-2022 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 토양 및 퇴적물 내 무기 원소 측정

国家质量监督检验检疫总局, 고에너지 X선 광전자 분광법

SN/T 4567-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 산업용 황인 내 인 및 비소 측정

RU-GOST R, 고에너지 X선 광전자 분광법

GOST 34239-2017 석유 제품 단색 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
GOST R 51947-2002 석유 및 석유 제품 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
GOST 32139-2013 석유 및 석유 제품 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용한 황 함량 측정
GOST R ISO 16243-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
GOST 33305-2015 윤활유 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 인, 황, 칼슘 및 아연 측정
GOST R EN ISO 20847-2010 석유 제품 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 자동차 연료의 황 함량을 측정합니다.

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB41/T 1706-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 복합 비료의 칼륨 함량 측정
DB41/T 1705-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 복합비료의 인 함량 측정

Professional Standard - Energy, 고에너지 X선 광전자 분광법

NB/SH/T 6043-2021 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 납, 철, 망간 함량 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 고에너지 X선 광전자 분광법

SN/T 2003.4-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 4부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 정성 스크리닝 방법
SN/T 2003.5-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 5부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법
SN/T 3377-2012 페인트 내 납 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법 반정량적 스크리닝 방법
SN/T 2003.1-2005 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 카드뮴, 크롬 및 브롬 측정 1부: X선 형광 분광법을 이용한 정성 스크리닝 방법
SN/T 3816-2014 고무제품의 코발트, 비소, 크롬, 주석, 브롬, 납의 정량 스크리닝 방법 에너지 분산형 X선 형광 분광법
SN/T 2003.3-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 카드뮴, 크롬 및 브롬 측정 3부: X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법

VN-TCVN, 고에너지 X선 광전자 분광법

TCVN 3172-2008 석유 및 석유 제품 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 측정

BE-NBN, 고에너지 X선 광전자 분광법

NBN-ISO 8754:1993 석유 제품. 황 함량 측정. 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

CNS 14472-2000 석유 제품의 황 함량 측정(에너지 분산 X선 형광 분광법)

Professional Standard - Electricity, 고에너지 X선 광전자 분광법

DL/T 1653-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 인산염 에스테르 저항성 연료의 염소 함량 측정

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB53/T 423-2012 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 철인의 인, 망간, 티타늄, 크롬, 구리 및 바나듐 측정
DB53/T 549-2014 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 산업용 황인의 인 및 비소 함량 측정
DB53/T 550-2014 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 인산수소칼슘의 납, 비소, 카드뮴, 철 및 망간 함량 측정

工业和信息化部, 고에너지 X선 광전자 분광법

HG/T 6114-2022 폐산 내 중금속의 신속한 검출 방법: 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 고에너지 X선 광전자 분광법

YS/T 739-2010 X선 형광분광법을 이용한 알루미늄 전해질의 분자비 및 주요성분 측정
YS/T 644-2007 백금-루테늄 합금 필름의 테스트 방법 X선 광전자 분광법을 통한 합금 백금 및 합금 루테늄 함량 측정.

Lithuanian Standards Office , 고에너지 X선 광전자 분광법

LST EN ISO 8754:2003 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 8754:2003)
LST EN ISO 20847:2004 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정(ISO 20847:2004)
LST EN ISO 13032:2012 석유 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 13032:2012)

AENOR, 고에너지 X선 광전자 분광법

UNE-EN ISO 8754:2004 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 8754:2003)
UNE-EN ISO 20847:2004 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정(ISO 20847:2004)
UNE-EN ISO 13032:2012 석유 제품 - 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 13032:2012)

Professional Standard - Agriculture, 고에너지 X선 광전자 분광법

NY/T 4435-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 토양 내 구리, 아연, 납, 크롬 및 비소 함량 측정

Professional Standard - Medicine, 고에너지 X선 광전자 분광법

YY/T 1408-2016 단일광자 방출 및 X선 컴퓨터 단층촬영 시스템 성능 및 테스트 방법
YY/T 0829-2011 양전자 방출 및 X선 컴퓨터 단층촬영 시스템 성능 및 시험 방법

Professional Standard - Environmental Protection, 고에너지 X선 광전자 분광법

HJ 829-2017 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 대기 미립자 물질의 무기 원소 측정

European Committee for Standardization (CEN), 고에너지 X선 광전자 분광법

EN ISO 20847:2004 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
EN ISO 13032:2012 석유 제품 자동차 연료의 낮은 황 농도 측정 에너지 분산 X선 형광 분광법 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 고에너지 X선 광전자 분광법

IEC TS 62607-6-21:2022 나노 제조 중요한 제어 특성 파트 6-21: 그래핀 기반 재료 원소 조성 C/O 비율: X선 광전자 분광법

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB13/T 5396-2021 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 농장 토양에서 카드뮴, 비소, 납, 크롬, 구리, 니켈 및 아연을 신속하게 검출합니다.

Canadian General Standards Board （CGSB), 고에너지 X선 광전자 분광법

CGSB 3.0 NO. 16.1-98-CAN/CGSB-1998 석유 및 관련 제품에 대한 테스트 방법 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 가솔린 내 황 측정

American National Standards Institute （ANSI), 고에너지 X선 광전자 분광법

ANSI N43.3-1993 일반 방사선 안전에 대한 미국 국가 표준 최대 10Mev(메가전자볼트)의 방사선 에너지를 갖는 비의료용 X선 및 밀봉된 감마선 광원을 활용하는 장치

Professional Standard - Machinery, 고에너지 X선 광전자 분광법

JB/T 11602.3-2013 비파괴 검사 장비의 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 스펙트럼 테스트

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 광전자 분광법

DB36/T 1919-2023 휴대용 단일 파장 여기 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 수질 내 무기 원소를 현장에서 신속하게 측정

SE-SIS, 고에너지 X선 광전자 분광법

SIS SS-ISO 8963:1990 8킬로전자볼트 ~ 1.3메가전자볼트 범위의 에너지를 갖는 방사선 보호용 X선 및 감마선 관련 방사선 선량계