고에너지 X선 고에너지 전자빔

모두 216항목의 고에너지 X선 고에너지 전자빔와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 고에너지 X선 고에너지 전자빔와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 방사선방호, 사진 기술, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 농업 및 임업, 길이 및 각도 측정, 종합 전자 부품, 범죄 예방, 비파괴 검사, 의료 장비, 광학 장비, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 쓰레기, 반도체 소재, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 도로 차량 장치, 계측 및 측정 합성, 전자관, 방사선 측정, 전자기 호환성(EMC), 종이와 판지, 전선 및 케이블, 비철금속, 환경 보호, 건강 및 안전, 물리학, 화학.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

JIS Z 4302:2002 감마선 및 고에너지 X선 필름 선량계
JIS Z 4302:1997 감마선 및 고에너지 X선용 필름 선량계
JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
JIS K 0167:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 지침

German Institute for Standardization, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
DIN 44402-14:1971-10 전자관의 전기적 특성 측정, 고진공 전자관 및 밸브의 열음극 방출 전류 측정 방법
DIN 6809-6:2020-11 임상 선량계측 6부: 원격 방사선 치료에서 고에너지 광자 및 전자 방사선의 사용
DIN 6809-6:2020 임상 선량 측정 6부: 원격 방사선 치료에서 고에너지 광자 및 전자 방사선의 사용
DIN 6800-2:2020-08 광자 및 전자 방사선 프로브 유형 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광자 및 전자 방사선 이온화 챔버 선량 측정
DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정
DIN 6800-2:2008 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정
DIN 6809-6:2004 임상 선량 측정 6부: 경피적 방사선 치료에서 고에너지 광자와 전자의 적용
DIN 44402-14:1971 전자관의 전기적 특성 시험 제14부: 고진공 전자관 가열 음극의 방출 전류 시험 방법
DIN EN 60601-2-54:2010 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항

British Standards Institution (BSI), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
BS EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 전자 가속기, 광자 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용되는 X선 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항입니다.
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
BS EN 60601-2-54:2009 의료 전자 장비 - 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 세부 요구 사항
BS EN 60601-2-54:2010 의료 전자 장비의 방사선 촬영 및 방사선 투시를 위한 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 세부 요구 사항
BS ISO 19318:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
20/30423741 DC BS ISO 19318 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
IEC 62607-6-21:2022 나노제조의 주요 제어특성 6-21부: 그래핀 기반 소재 원소 조성, C/O 비율: X선 광전자 분광학
BS ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보

International Organization for Standardization (ISO), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 4037:1979/Add 1:1983 선량계와 선량률 측정기를 교정하고 광자 에너지의 함수로 반응하는 X 및 감마 기준 방사선을 결정합니다. 부록 1: 필터링된 X 방사선에 대한 고속 시리즈
ISO 11452-4:2011 도로 차량 전자기 에너지를 방사하는 협대역 전자 간섭 부품에 대한 테스트 방법 4부: 와이어 하니스 여기 방법
ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 에너지 분광법 및 X선 광전자 분광법 결과 보고에 필요한 피크 강도 결정 방법 및 정보
ISO 20903:2019 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 결과 보고 시 필요한 피크 강도 및 정보를 결정하는 데 사용되는 방법

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

JJF 1026-1991 광자 및 고에너지 전자빔 흡수 선량 측정 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 25185-2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 43598-2023 X선 광전자 분광법을 이용한 나노기술 그래핀 분말의 산소 함량 및 탄소-산소 비율 측정
GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E995-11 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에서 배경 제거 기술 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E2735-14(2020) X선 광전자 분광법에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E2108-10 X선 광전자 분광계를 사용한 전자 에너지 다발 규모 결정을 위한 표준 관행
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM E2108-00 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도 교정을 위한 표준 운영 절차
ASTM E1523-97 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1523-15 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2108-05 X선 광전 분광계의 전자 결합 에너지 스케일 교정을 위한 표준 관행
ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM B965-09 전력 전자 응용 분야용 고성능 주석 코팅 연동선에 대한 납땜성 표준 사양
ASTM B965-09(2014) 납땜 가능한 전기 및 전자 응용 분야에 사용하도록 고안된 고성능 주석 도금 연동선에 대한 표준 사양
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

DB22/T 3529-2023 북방벼의 고에너지 중이온선 방사선 돌연변이 육종 기술규정

Professional Standard - Aerospace, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

QJ 2609-1994 고체로켓 모터 연소실의 고에너지 X선 탐상방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 19318-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
KS A IEC 61525-2003(2013) 방사선 방호 기기 - X, 감마, 고에너지 베타 및 중성자 방사선 - 직접 판독 개인 선량 등가 및/또는 선량 등가 비율 모니터
KS A IEC 61525:2016 방사선 방호 장비X 감마선, 고에너지 베타 및 중성자 방사선에 대한 직접 판독 개인 선량당량 및/또는 선량당량률 모니터
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
KS A IEC 60532-2016(2021) 방사선 방호 장비 - 설치된 선량계, 경고 구성 요소 및 모니터 - 50keV에서 7MeV 사이의 에너지를 갖는 X선 및 감마선
KS D ISO 18118-2005(2020) 표면 화학 분석에서 균질 물질의 정량 분석을 위해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자 사용에 대한 지침 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법
KS C IEC 60601-2-54:2012 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
KS D ISO 19319:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
KS C IEC 60601-2-68:2018 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Professional Standard - Electron, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드
SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법
SJ/Z 9010.13-1987 전자관의 전기적 특성 시험 제13부: 고진공 전자관의 열음극 방출 전류 시험 방법

Professional Standard - Judicatory, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

未注明发布机构, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

KR-KS, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS C IEC 60601-2-68-2018 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Professional Standard - Medicine, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

YY 0775-2010 원격 방사선 치료 계획 시스템을 위한 고에너지 X(γ) 빔 선량 계산 정확도 요구 사항 및 테스트 방법
YY/T 0829-2011 양전자 방출 및 X선 컴퓨터 단층촬영 시스템 성능 및 시험 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법

American National Standards Institute （ANSI), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

ANSI N43.3-1993 일반 방사선 안전에 대한 미국 국가 표준 최대 10Mev(메가전자볼트)의 방사선 에너지를 갖는 비의료용 X선 및 밀봉된 감마선 광원을 활용하는 장치
ANSI/HPS N43.16-2021 최대 10MeV 에너지의 X선 또는 감마선을 이용한 화물 및 차량 보안 검색 시스템의 방사선 안전
ANSI N43.3-2008 일반 방사선 안전 비의료용 X선 및 밀봉형 감마선 광원용 방사선 안전 에너지 10Mev(메가전자볼트) 미만 장치

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GJB 9763-2020 고체로켓 모터 연소실의 고에너지 X선 단층촬영 검출방법
GJB 9547-2018 대형고체로켓모터 연소실의 고에너지 X선 촬영 검출방법

Association Francaise de Normalisation, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
NF ISO 22127:2020 고에너지 X선 방사선 치료의 선량 측정 감사를 위한 유리형 방사선광발광 선량계를 사용한 선량 측정
NF C74-068*NF EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
NF X21-058:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정에 사용되는 방법 및 결과 보고에 필요한 정보

Professional Standard - Public Safety Standards, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

SAE - SAE International, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SAE J1742-2005 고전압 차량 전기 배선 하니스의 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항

Society of Automotive Engineers (SAE), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SAE J1742-2022 고전압 차량 전기 배선 하니스의 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항
SAE J1742-2010 도로 차량의 고전압 전기 배선 하니스에 대한 테스트 방법 및 커넥터의 일반 성능 요구 사항
SAE J1742-1998 고전압 온보드 도로 차량 전기 배선 장치에 대한 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항

Standard Association of Australia （SAA）, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

T/CAMIE 01-2022 폐회로기판 내 고가 전자장치의 지능적 분해를 위한 기술 요구사항
T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법

SE-SIS, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SIS SS-ISO 8769:1990 표면 오염 모니터 교정 참조 소스. 베타선 방사선원(0, 15MeV 이상의 최대 베타 에너지) 및 알파선 방사선원
SIS SS-ISO 8963:1990 8킬로전자볼트 ~ 1.3메가전자볼트 범위의 에너지를 갖는 방사선 보호용 X선 및 감마선 관련 방사선 선량계
SIS SS-ISO 7503-1:1990 표면 오염 평가. 1부: 베타 방출기(0.155MeV 이상의 최대 방사선 에너지) 및 알파 방출기

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

International Electrotechnical Commission (IEC), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

IEC 60151-13:1966 전자관의 전기적 특성 측정 13부: 고진공 전자관의 열음극 방출 전류 측정 방법
IEC 60601-2-54:2015 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
IEC 60601-2-54:2018 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
IEC 60601-2-68:2014 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
IEC 60601-2-54:2009/AMD1:2015 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항, 수정 사항 1
IEC 60601-2-54:2009/AMD2:2018 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항 수정 2
IEC 60601-2-54:2009 IEC 60601-2-54, 제1판: 의료 전자 장비 파트 2-54: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 개별 요구사항
IEC TS 62607-6-21:2022 나노 제조 중요한 제어 특성 파트 6-21: 그래핀 기반 재료 원소 조성 C/O 비율: X선 광전자 분광법

Lithuanian Standards Office , 고에너지 X선 고에너지 전자빔

LST EN 60601-2-68-2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Canadian Standards Association (CSA), 고에너지 X선 고에너지 전자빔

CAN/CSA-C22.2 NO.60601-2-68-2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

TR-TSE, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

TS 2453-1976 전자 튜브 및 전자 밸브의 전기적 성능 테스트. 파트 13: 고진공 전자관의 열음극 방출 전류 테스트 방법

GOSTR, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

YS/T 644-2007 백금-루테늄 합금 필름의 테스트 방법 X선 광전자 분광법을 통한 합금 백금 및 합금 루테늄 함량 측정.

ES-UNE, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

UNE-EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Professional Standard - Commodity Inspection, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

SN/T 2003.4-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 4부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 정성 스크리닝 방법
SN/T 2003.5-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 5부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법

Danish Standards Foundation, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

RU-GOST R, 고에너지 X선 고에너지 전자빔

GOST R ISO 16243-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고