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광선 산란

모두 24항목의 광선 산란와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 광선 산란와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 입자 크기 분석, 스크리닝, 길이 및 각도 측정, 어휘, 분석 화학, 표면 처리 및 도금, 원자력공학.


British Standards Institution (BSI), 광선 산란

International Organization for Standardization (ISO), 광선 산란

  • ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
  • ISO/FDIS 23484 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
  • ISO 23484:2023 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 입자 농도 측정
  • ISO 20804:2022 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 다공성 및 미립자 시스템의 비표면적 측정
  • ISO 3543:2000 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타선 후방 산란 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 광선 산란

  • T/CSCM 05-2020 소각 X선 산란을 통한 섬유 내 미세기공 분포 측정

German Institute for Standardization, 광선 산란

  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예

RU-GOST R, 광선 산란

  • GOST R 8.698-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 나노입자 및 필름의 공간 매개변수 소각 X선 산란 회절계를 사용한 측정 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광선 산란

  • GB/T 25451-2010 중수로 원자력 발전소 연료성분의 코팅 두께 측정을 위한 베타선 후방산란 방법
  • GB/T 20018-2005 금속 및 비금속 코팅 코팅 두께 측정 β선 후방 산란 방법

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