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소분자 분석

모두 500항목의 소분자 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 소분자 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 어휘, 기르다, 광학 장비, 입자 크기 분석, 스크리닝, 농업 및 임업, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 실험실 의학, 향신료 및 조미료, 식품 첨가물, 비철금속, 보석류, 품질, 정보 기술(IT) 종합, 검은 금속, 화학 장비, 산업자동화 시스템, 길이 및 각도 측정, 음료수, 육류, 육류 제품 및 기타 동물성 식품, 지질학, 기상학, 수문학, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 연료, 금속 재료 테스트, 수학, 비파괴 검사, 건축 자재, 토목공학종합, 화학 제품, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 목공 장비, 표준화의 일반 원칙, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 금속 광석, 석탄, 원자력공학, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 광학 및 광학 측정, 비철금속 제품, 전자관, 토양질, 토양과학, 감각 분석, 물리학, 화학, 정보 기술 응용, 제공하다, 철강 제품, 낚시와 양식업, 전기공학종합, 종합 전자 부품, 수질, 항공우주 전기 장비 및 시스템, 내화물, 회사(기업)의 조직 및 관리.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 소분자 분석

  • KS D ISO 23833:2012 마이크로빔 분석전자 탐침 미세 분석어휘
  • KS D ISO 23833:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
  • KS D ISO 23833:2022 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • KS M 0035-1993 이온 크로마토그래피 분석의 일반 원리
  • KS A ISO 13320:2014 입자 크기 분석 레이저 회절 방법
  • KS D ISO 14595:2012 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
  • KS D 2518-2005 카드뮴 광전자 분광학
  • KS D 1951-1999(2006) 전자 무산소 구리 내성 분석
  • KS D 2518-1982 카드뮴 광전자 분광학
  • KS L 1584-2009 화학 분석을 위한 단일 손잡이 곡선 냄비가 있는 도자기 작은 냄비
  • KS L 1584-1985 화학 분석을 위한 단일 손잡이 곡선 냄비가 있는 도자기 작은 냄비
  • KS M 0012-1993 분자 흡수 광도 분석의 일반 규칙
  • KS M 0012-2009(2019) 분자 흡수 분광 분석의 일반 규칙
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
  • KS M 0035-2008 입자 크로마토그래피 분석 방법의 일반 원리
  • KS D 2553-2015 탄탈륨 원자 흡수 분광법
  • KS D 1949-1999 전자재료 텅스텐 니켈 공차 분석
  • KS M 0036-2008 이온 선택성 전극 분석의 일반 원리
  • KS D 2568-2008 탄탈륨의 원자 흡수 분광법
  • KS D 2553-2015(2020) 탄탈륨 원자흡광분석법 분석방법
  • KS E 3030-2007(2012) 철광석의 원자흡광분석법
  • KS D 2568-2019 탄탈륨 원자흡광분석법 분석방법
  • KS E 3030-1982 철광석의 원자흡광분석법
  • KS D ISO 17560-2003(2018) 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘 내 붕소 깊이 분포 측정 방법
  • KS D 1659-1993 철강의 원자흡광광도 분석방법
  • KS D 1659-2008(2019) 철강의 원자흡광광도 분석방법
  • KS D ISO 19319:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
  • KS A ISO 13320-1:2004 입자 크기 분석 레이저 회절 방법 1부: 일반 원리
  • KS A ISO 13320-1:2014 입자 크기 분석을 위한 레이저 회절 방법 1부: 일반 원리
  • KS D 1659-2008 강철의 원자흡광분석법
  • KS M 0016-1995 원자 흡수 분광법에 의한 화학 분석의 일반 원리
  • KS M 0016-2010(2020) 원자 흡수 분광법에 대한 일반 규칙
  • KS D 2587-1990(2006) 전자관 내 니켈 물질의 화학적 분석에 대한 일반 규칙
  • KS D 2086-2019 티타늄의 원자방출분광법 분석방법
  • KS D ISO 14595:2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
  • KS D ISO 17973-2011(2021) 표면 화학 분석 - 보통 분해능 오거 전자 분광계 - 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • KS D ISO 17973-2011(2016) 표면 화학 분석에서 중해상도 오제 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • KS D ISO 14594:2012 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
  • KS D ISO TR 17270:2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
  • KS D ISO 14237-2003(2018) 지하 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘에 균일하게 첨가된 붕소 원자 농도 측정 방법
  • KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
  • KS D 1950-1999 전자 내성 코발트 니켈 재료 분석 방법
  • KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
  • KS D ISO 17973:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • KS E ISO 2325:2002 코카콜라 입도 분석(공칭 최대 입자 크기는 20mm 이하)
  • KS M ISO 78-4-2010(2020) 표준 레이아웃 파트 4: 원자 흡수 분광학 표준
  • KS D ISO 14594:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
  • KS D ISO 22493:2012 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
  • KS L ISO 26845-2012(2022) 내화물 화학 분석을 위한 일반 요구 사항 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • KS L ISO 26845-2012(2017) 내화물 화학 분석을 위한 일반 요구 사항 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 소분자 분석

  • GB/T 17359-2023 원자번호 11 이상 원소의 마이크로빔 분석 및 정량 분석을 위한 에너지 분광법
  • GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
  • GB/T 32055-2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 분광법 원소 표면 분석
  • GB/T 21636-2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어
  • GB/T 22305.2-2008 카다몬 2부: 씨앗
  • GB/T 28634-2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 벌크 샘플 분광법의 정량적 점 분석.
  • GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
  • GB/T 20725-2006 분광학에 의한 정성적 점 분석의 전자 탐침 미세 분석 지침
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 29812-2013 산업 공정 제어 분석 객실 보안
  • GB 29812-2013 산업 공정 제어 분석 객실 보안
  • GB/T 25844-2010 산업용 현장 분석 캐빈 완성 시스템
  • GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
  • GB/T 4930-2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 분석 표준 샘플 기술 조건에 대한 지침
  • GB/T 15246-2022 황화물광물의 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 정량분석 방법
  • GB/T 29858-2013 분자 분광학의 다변량 교정 및 정량 분석의 일반 원리
  • GB/T 15337-1994 원자 흡수 분광법의 일반 원리
  • GB/T 15337-2008 원자 흡수 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19627-2005 입자 크기 분석 광자 상관 분광법
  • GB/T 2930.2-2001 마초 종자 검사 절차 명확성 분석
  • GB/T 15075-1994 전자 프로브 분석기의 검출 방법
  • GB/T 15074-2008 전자탐침 정량분석법의 일반원리
  • GB/T 26533-2011 Auger 전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 29161-2012 중성자 활성탄 온라인 분석기
  • GB/T 15074-1994 전자탐침 정량분석법의 일반원리
  • GB/T 30705-2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 분광법의 실험 매개변수 결정을 위한 지침
  • GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
  • GB/T 29732-2013 표면 화학 분석을 위한 중해상도 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정
  • GB/T 23470.2-2009 감각 분석 감각 분석 실험실 직원을 위한 일반 지침 파트 2: 평가 팀 리더 모집 및 교육.
  • GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
  • GB/T 3543.3-1995 작물 종자 검사 절차의 명확성 분석
  • GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 23414-2009 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
  • GB/T 28726-2012 가스 분석 - 헬륨 이온화 가스 크로마토그래피
  • GB/T 15244-2002 유리의 전자탐침 정량분석방법
  • GB/Z 32494-2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 화학 정보 해석
  • GB/T 15247-2008 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 강철의 탄소 함량 측정을 위한 교정 곡선 방법.
  • GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
  • GB/T 29731-2013 표면 화학 분석 고해상도 오거 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 스케일 교정
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 32277-2015 실리콘에 대한 기기 중성자 활성화 분석 테스트 방법

RO-ASRO, 소분자 분석

  • STAS 90-1988 밀가루. 분석방법
  • STAS 9475/2-1974 이온 교환기. 입자 크기 분석
  • STAS 2106-1984 책과 팜플렛. 페이지 매김에 대한 일반 규칙
  • STAS SR 13313-1995 철재료의 화학적 분석. 강철의 화학 분석에서 화염 원자 흡수 분광법 분석을 위한 표준 방법 초안 작성에 대한 권장 사항

HU-MSZT, 소분자 분석

Professional Standard - Education, 소분자 분석

  • JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
  • JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.
  • JY/T 020-1996 이온 크로마토그래피 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0575-2020 이온 크로마토그래피 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0566-2020 원자 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 0583-2020 집속 이온빔 시스템 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 0565-2020 전열 원자 흡수 분광 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0579-2020 전자 상자성 공명 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

American Gear Manufacturers Association, 소분자 분석

  • AGMA 06FTM11-2006 톱니 수가 적은 기어의 기어 톱니 파손 분석 : 분석 방법

Association Francaise de Normalisation, 소분자 분석

  • FD X50-159:2013 기능분석 및 가치분석 초중소기업을 위한 실용가이드 "기능분석 및 가치분석" 방법론 적용 가이드
  • FD V03-506*FD ISO/TR 17623:2015 분자 바이오마커 분석 옥수수의 SSR 분석
  • NF X21-016*NF ISO 15932:2014 마이크로빔 분석 전자현미경 어휘
  • NF ISO 15932:2014 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 어휘
  • FD V03-505*FD ISO/TR 17622:2015 분자 바이오마커 분석 해바라기의 SSR 분석
  • FD ISO/TR 17623:2015 바이오마커 분자분석 옥수수 SSR 분석방법
  • NF X21-009:2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • FD ISO/TR 17622:2015 해바라기의 바이오마커 SSR 분석 방법의 분자 분석
  • NF ISO 16577:2022 분자 바이오마커 분석 농업 및 식품 생산에서의 분자 바이오마커 분석 방법 용어집
  • NF V32-060-2*NF ISO 882-2:1993 카다몬 사양 2부: 씨앗
  • NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 두께 분석을 통한 실리콘 내 붕소 함량 결정
  • NF EN ISO 4307:2021 인간 DNA 추출을 위한 타액 사전 분석 공정 사양의 분자 체외 진단 분석
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF V03-502*NF ISO 16577:2016 분자 바이오마커 분석 용어 및 정의
  • NF X11-672:1996 입자 크기 분석 상관 광학 양자 분광법
  • NF X21-001:2006 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법
  • NF ISO 14237:2010 표면 화학 분석 균일하게 도핑된 물질을 사용한 실리콘 내 붕소 원자량의 2차 이온 질량 분석
  • NF ISO 13300-2:2006 감각 분석 실험실 작업자를 위한 감각 분석 일반 지침 2부: 팀 리더 모집 및 교육
  • NF X11-661:1990 입자 크기 분석, 분말 크기 결정, 광학 현미경 방법
  • NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자마이크로프로브 분석(캐스트 마이크로프로브) 파장분산분광법을 이용한 원소 매핑 분석법
  • NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
  • NF EN ISO 22753:2022 바이오마커의 분자 분석 종자 및 유전자 변형 종자의 여러 하위 샘플을 테스트할 때 얻은 분석 결과의 통계적 평가 방법에 대한 일반 요구 사항
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • NF C01-551-20:2001 전기 용어, 파트 551-20: 전력 전자 장치, 고조파 분석
  • NF A10-010:1986 철 합금의 화학적 분석 인 측정 분자 분광 광도법을 통한 측정
  • NF EN ISO 20813:2022 바이오마커의 분자분석 식품 및 식품 내 동물 종의 검출 및 식별을 위한 분석 방법
  • NF ISO 22949-1:2021 바이오마커의 분자분석 식품 및 식품 내 동물 종의 검출 및 식별을 위한 분석 방법
  • NF A06-012*NF EN 14242:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
  • A08-652:1994 티타늄 및 티타늄 합금의 화학적 분석과 플라즈마 방출 분광법 분석을 위해 따라야 할 규칙
  • NF U47-700:2019 동물 건강 분석 방법 분석 실험실의 전자 데이터 교환 시스템 ELabs 동물 건강
  • NF X21-010:2009 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 마이크로빔 분석 원자(나트륨)가 11개 이상인 원소의 에너지 분포 분광법(EDS)을 이용한 정량 분석

British Standards Institution (BSI), 소분자 분석

  • PD ISO/TR 17623:2015 분자 바이오마커 분석. 옥수수의 SSR 분석
  • BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • BS ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
  • BS ISO 19430:2016 입자 크기 분석 입자 추적 분석(PTA) 방법
  • BS PD ISO/TR 17623:2015 분자 바이오마커 분석 옥수수의 SSR 분석
  • PD ISO/TR 17622:2015 분자 바이오마커 분석 해바라기의 SSR 분석
  • BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
  • BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
  • BS ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
  • BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • BS ISO 16577:2022 분자 바이오마커 분석 농업 및 식품 생산에서의 분자 바이오마커 분석 방법 용어집
  • BS ISO 24465:2023 표면 화학 분석을 위한 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 능력 결정
  • BS ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 이용한 연속주강 제품의 Mn 수지상 편석 정량분석
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS 6200-3.11.3:1997 철, 강철 및 기타 철 금속의 샘플링 및 분석 파트 3: 분석 방법 섹션 11: 코발트 함량 측정 하위 섹션 3: 화염 원자 흡수 분광 광도법
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
  • BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • 16/30323845 DC BS ISO 13484 분자 바이오마커 분석 식물 해충의 검출 및 식별을 위한 분자 생물학 분석에 대한 일반 요구 사항
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • 20/30393735 DC BS ISO 23692 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지석 분리 정량 분석
  • BS ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량분석기 분석 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
  • 21/30424562 DC BS ISO 16577 분자 바이오마커 분석 농업 및 식품 생산에서 분자 바이오마커 분석 방법에 대한 용어집
  • BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
  • BS 6200-3.7.1:1987 철, 강철 및 기타 철 금속의 샘플링 및 분석 파트 3: 분석 방법 섹션 7: 칼슘 함량 측정 하위 섹션 1: 강철: 화염 원자 흡수 분광법
  • BS 6200-3.16.4:1987 철, 강철 및 기타 철금속의 샘플링 및 분석 파트 3: 분석 방법 섹션 16: 납 함량 측정 하위 섹션 4: 강철: 화염 원자 흡수 분광법
  • BS ISO 16577:2016 분자 바이오마커 분석 용어 및 정의
  • 21/30404376 DC BS ISO 24465. 표면 화학 분석. 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 능력 결정
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 척도 선형성
  • BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
  • BS 6200-3.34.3:1990 철, 강철 및 기타 철 금속의 샘플링 및 분석 파트 3: 분석 방법 섹션 34: 바나듐 함량 측정 하위 섹션 3: 강철 및 주철: 불꽃 원자 흡수 분광법
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
  • BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
  • BS ISO 20411:2018 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 단일 이온 계수 동적 2차 이온 질량 분석 포화 강도 보정 방법
  • BS ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자 프로브 마이크로분석 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
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  • BS ISO 17862:2013 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기 강도 척도의 선형성
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  • BS EN 3830:2022 항공우주 시리즈 전자 시스템 부하 분석
  • BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS EN ISO 22753:2022 분자 바이오마커 분석 유전자 변형 종자 및 곡물의 하위 시료 테스트 그룹에서 얻은 분석 결과의 통계적 평가 방법에 대한 일반 요구 사항
  • PD ISO/TR 23173:2021 표면 화학 분석 전자 분광학 나노입자 코팅의 두께 및 조성 측정
  • DD ENV 13800-2000 납 및 납 합금 무연 매트릭스 분리 불꽃 원자 흡수 분광법 또는 유도 결합 플라즈마 방사선 분광법(ICP-ES) 분석.
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
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International Organization for Standardization (ISO), 소분자 분석

  • ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
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  • ISO/TS 20224-11:2024 분자 바이오마커 분석
  • ISO/TS 20224-10:2024 분자 바이오마커 분석
  • ISO/DIS 17174.2:2023 분자 바이오마커 분석
  • ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
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  • ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • ISO 23833:2006 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
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  • ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
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  • ISO 16577:2016 분자 바이오마커 분석 용어 및 정의
  • ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
  • ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
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  • ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
  • ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
  • ISO/PRF 14595 마이크로빔 분석 "전자 탐침 미세 분석" 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
  • ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
  • ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석을 위한 인증표준물질(CRM) 사양 가이드
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
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  • ISO 14594:2014 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
  • ISO 17560:2014 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 실리콘 내 실리콘의 심층 분석 방법
  • ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
  • ISO 22493:2014 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
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  • ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
  • ISO 2325:1979 코크스 입자 크기 분석(공칭 상단 입자 크기는 20mm 이하)
  • ISO 2325:1972 코크스 입자 크기 분석(공칭 최대 입자 크기는 20mm 이하)
  • ISO 2325:1986 코크스 입자 크기 분석(공칭 최대 입자 크기는 20mm 이하)
  • ISO/DIS 14594 마이크로빔 분석 "전자 프로브 미세분석" 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
  • ISO 19463:2018 마이크로빔 분석 EPMA(Electron Probe Microanalyzer) 품질 보증 절차 수행을 위한 지침
  • ISO 22753:2021 분자 바이오마커 분석을 위한 유전자 변형 종자 및 곡물의 하위 샘플링 시험에서 분석 결과의 통계적 평가 방법에 대한 일반 요구 사항
  • ISO 13084:2011 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 스케일 교정
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • ISO 178:1975 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
  • ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 소분자 분석

  • GB/T 40300-2021 마이크로빔 분석 분석용 전자현미경 용어
  • GB/T 21636-2021 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석(EPMA) 용어
  • GB/T 41072-2021 표면 화학 분석 전자 분광학 UV 광전자 분광학 안내서
  • GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석
  • GB/T 4930-2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 위한 표준시료의 기술적 조건에 대한 지침
  • GB/T 17360-2020 철강 내 저함량 실리콘 및 망간의 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 정량분석 방법
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 29732-2021 중해상도의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 보정 표면 화학 분석을 위한 오거 전자 분광기
  • GB/T 37666-2019 고대 도자기의 중성자 활성화 분석을 위한 기술 사양
  • GB/T 35099-2018 마이크로빔 분석 주사전자현미경-에너지분광학 단일입자 형태학 및 대기 미세입자의 원소 분석
  • GB/T 37182-2018 가스 분석 플라즈마 방출 가스 크로마토그래피

ET-QSAE, 소분자 분석

Indonesia Standards, 소분자 분석

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 소분자 분석

VE-FONDONORMA, 소분자 분석

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 소분자 분석

国家药监局, 소분자 분석

KR-KS, 소분자 분석

  • KS D ISO 23833-2022 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • KS D ISO 23833-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
  • KS M 0035-2008(2023) 이온 크로마토그래피 분석의 일반 원리
  • KS D ISO 14595-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 표준 물질 사양 가이드
  • KS D ISO 17560-2003(2023) 실리콘의 표면화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 붕소 깊이 분포 측정 현장 방법
  • KS D ISO 14237-2003(2023) 지하 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘에 균일하게 첨가된 붕소 원자의 농도 측정 방법
  • KS D ISO 14595-2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
  • KS D ISO TR 17270-2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
  • KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
  • KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • KS D ISO 14594-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드

AGMA - American Gear Manufacturers Association, 소분자 분석

  • 06FTM11-2006 작은 톱니 수 기어 변속기의 톱니 파손 분석: 분석적 접근 방식

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 소분자 분석

  • GB/T 22305.2-2017 카다몬 2부: 씨앗
  • GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
  • GB/T 2930.2-2017 잔디 종자 검사 절차 명확성 분석
  • GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법

VN-TCVN, 소분자 분석

RU-GOST R, 소분자 분석

GOSTR, 소분자 분석

German Institute for Standardization, 소분자 분석

United States Navy, 소분자 분석

YU-JUS, 소분자 분석

  • JUS B.H8.373-1977 석탄과 코크스의 분석 방법. 소형 코크스(표준 크기 20mm 이하)의 입도 분석
  • JUS E.B8.033-1978 제분 산업에 사용되는 밀 규격. 품질 분석을 위한 샘플링

Group Standards of the People's Republic of China, 소분자 분석

U.S. Air Force, 소분자 분석

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 소분자 분석

Professional Standard - Chemical Industry, 소분자 분석

  • HG/T 4096-2009 화학산업 현장분석실 완성시스템
  • HG/T 2954~2955-2008 원자흡광분광법 분석법 표준작성형식 분자흡광분광법 분석법 표준작성형식
  • HG/T 2955-2008 분자흡광분광법 분석법의 표준 작성 형식
  • HG/T 2955-1989(1997) 분자흡광분광법 분석방법에 대한 표준작성 규정

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 소분자 분석

US-ACEI, 소분자 분석

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 소분자 분석

未注明发布机构, 소분자 분석

  • DIN EN ISO 4307:2022 체외 진단 절차의 분자 분석. 타액 사전 분석 과정의 사양. 고립된 인간 DNA
  • BS EN 14242:2023 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • BS ISO 17974:2002(2010) 표면 화학 분석과 원소 및 화학 상태 분석을 위한 고해상도 오제 전자 분광계의 에너지 레벨 교정

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 소분자 분석

CZ-CSN, 소분자 분석

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 소분자 분석

Professional Standard - Forestry, 소분자 분석

CN-STDBOOK, 소분자 분석

PT-IPQ, 소분자 분석

  • NP 3755-1-1999 고체 연료. 콜라 입자 크기 분석. 파트 1: 20mm 이하의 입자 크기
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  • NP EN 1325-1-2001 어휘 관리, 가치 분석, 기능 분석을 수행합니다. 1부: 가치 분석 및 기능 분석
  • E E 16-1971 열분석 방법. 확장 분석. 관련 정량분석

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, 소분자 분석

工业和信息化部, 소분자 분석

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American Society for Testing and Materials (ASTM), 소분자 분석

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  • ASTM C1816-15 동위원소 존재비 및 함량 분석 전 우라늄, 아메리슘, 플루토늄을 포함하는 소량 시료의 이온 교환 분리에 대한 표준 관행
  • ASTM C1816-16 동위원소 존재비 및 함량 분석 전 우라늄, 아메리슘, 플루토늄을 포함하는 소량 시료의 이온 교환 분리에 대한 표준 관행

ZA-SANS, 소분자 분석

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(U.S.) Ford Automotive Standards, 소분자 분석

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 소분자 분석

Standard Association of Australia (SAA), 소분자 분석

  • AS 4549.1:1999 입자 크기 분석. 광자 상관 분광학
  • AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역
  • AS ISO 17560:2006 표면 화학 분석. 2차 이온 질량 분석법. 실리콘에 붕소 주입을 위한 깊이 분포 분석 방법

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Professional Standard - Aviation, 소분자 분석

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Professional Standard - Electron, 소분자 분석

American Nuclear Society (ANS), 소분자 분석

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IET - Institution of Engineering and Technology, 소분자 분석

ES-UNE, 소분자 분석

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Lithuanian Standards Office , 소분자 분석

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American National Standards Institute (ANSI), 소분자 분석

European Committee for Standardization (CEN), 소분자 분석

  • EN ISO 21572:2019 식품.분자 바이오마커 분석-단백질 방법
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AENOR, 소분자 분석

Professional Standard - Building Materials, 소분자 분석

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(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 소분자 분석

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 소분자 분석

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