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AFM 샘플 준비

모두 14항목의 AFM 샘플 준비와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 AFM 샘플 준비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 물리학, 화학, 길이 및 각도 측정, 광학 및 광학 측정, 세라믹, 금속 재료 테스트, 위험물 보호, 공기질.


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, AFM 샘플 준비

  • GB/T 32262-2015 원자현미경 검출을 위한 DNA 시료의 제조 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), AFM 샘플 준비

  • ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
  • ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
  • ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D6480-99 표면 샘플링, 간접 준비 및 투과전자현미경을 통한 석면 구조수밀도 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E1741-00 원자 분광학 분석을 위한 방사능 붕괴 시 공기 중 미립자 납 시료 준비를 위한 표준 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, AFM 샘플 준비

  • GB/T 28872-2012 살아있는 세포 샘플에서 나노구조를 검출하기 위한 자기 구동 태핑 모드 원자력 현미경 방법

German Institute for Standardization, AFM 샘플 준비

  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법

PL-PKN, AFM 샘플 준비

  • PN H87903-1972 구리합금 주물에 관한 연구. 준비 및 샘플링 테스트. 현미경 관찰용 샘플

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), AFM 샘플 준비

  • JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법

IT-UNI, AFM 샘플 준비

  • UNI 7604-1976 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 현미경 사진 검사용 복제본 준비
  • UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

International Electrotechnical Commission (IEC), AFM 샘플 준비

  • IEC TS 62607-6-2:2023 나노제조 중요한 제어 특성 파트 6-2: 그래핀 층 수: 원자력 현미경, 광학 투과, 라만 분광학

未注明发布机构, AFM 샘플 준비

  • ASTM RR-D22-1038 2019 D6480-표면의 와이프 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조 번호 표면 부하 분석을 위한 테스트 방법

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