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Preparación de muestras de AFM
Preparación de muestras de AFM, Total: 13 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Preparación de muestras de AFM son: Física. Química, Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., Cerámica, pruebas de metales, Protección contra mercancías peligrosas, Calidad del aire.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Preparación de muestras de AFM
- GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Preparación de muestras de AFM
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM D6480-05(2010) Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
- ASTM D6480-99 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
- ASTM E1741-00 Práctica estándar para la preparación de muestras de partículas de plomo en el aire recolectadas durante las actividades de reducción y construcción para su análisis posterior mediante espectrometría atómica
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Preparación de muestras de AFM
- GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas
German Institute for Standardization, Preparación de muestras de AFM
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
PL-PKN, Preparación de muestras de AFM
- PN H87903-1972 Irwestigaciones o? aleaciones de cobre piezas fundidas Preparación y muestreo de ?es? piezas para exámenes de microscopía
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Preparación de muestras de AFM
- JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
IT-UNI, Preparación de muestras de AFM
- UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
- UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.
International Electrotechnical Commission (IEC), Preparación de muestras de AFM
- IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-2: Grafeno - Número de capas: microscopía de fuerza atómica, transmisión óptica, espectroscopia Raman