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전자현미경을 교정하는 방법

모두 77항목의 전자현미경을 교정하는 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자현미경을 교정하는 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 계측 및 측정 합성, 광학 장비, 광전자공학, 레이저 장비, 길이 및 각도 측정, 분석 화학, 전자 디스플레이 장치, 광학 및 광학 측정, 공기질, 건축 자재, 고무 및 플라스틱 원료, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 금속 재료 테스트, 철강 제품, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합.


National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자현미경을 교정하는 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 전자현미경을 교정하는 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자현미경을 교정하는 방법

  • ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
  • ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
  • ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM D3849-13 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
  • ASTM D3849-14 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
  • ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM D3849-95a(2000) 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM D3849-07 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM D3849-22 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2530-06 Si(111) 단일 원자 수준을 사용하여 나노미터 이하 변위를 갖는 원자력 현미경의 Z 배율 교정을 위한 표준 절차
  • ASTM D3849-02 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
  • ASTM D3849-04 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
  • ASTM D7201-06(2020) 위상차 현미경(투과 전자 현미경 옵션 포함)을 사용하여 작업장에서 석면 섬유를 포함한 부유 섬유를 샘플링하고 계산하는 표준 관행
  • ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D3849-14a 카본블랙의 표준시험법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정
  • ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D7201-06(2011) 위상차 현미경(선택적으로 투과 전자 현미경)을 사용하여 작업장을 샘플링하고 공기 섬유(석면 섬유 포함) 함량을 계산하기 위한 표준 작업 절차
  • ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
  • ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자현미경을 교정하는 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자현미경을 교정하는 방법

  • KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드
  • KS D ISO 16592:2011 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
  • KS D ISO 16592-2011(2016) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내

International Organization for Standardization (ISO), 전자현미경을 교정하는 방법

  • ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
  • ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
  • ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
  • ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
  • ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
  • ISO 16592:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
  • ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

Association Francaise de Normalisation, 전자현미경을 교정하는 방법

  • NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • NF X21-007:2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

British Standards Institution (BSI), 전자현미경을 교정하는 방법

  • BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
  • BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
  • BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
  • BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
  • BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
  • BS ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.

KR-KS, 전자현미경을 교정하는 방법

  • KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자현미경을 교정하는 방법

  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

RU-GOST R, 전자현미경을 교정하는 방법

  • GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
  • GOST R 8.635-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 탐침 현미경, 교정 방법

German Institute for Standardization, 전자현미경을 교정하는 방법

  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
  • DIN ISO 16592:2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정 가이드(ISO 16592-2012)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자현미경을 교정하는 방법

  • GB/T 27760-2011 Si(111) 결정면 원자 단계를 사용하여 원자력 현미경의 나노미터 이하 높이 측정을 교정하는 방법

IT-UNI, 전자현미경을 교정하는 방법

  • UNI 7604-1976 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 현미경 사진 검사용 복제본 준비
  • UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경을 교정하는 방법

  • GB/T 34002-2017 마이크로빔 분석 투과전자현미경을 위한 주기구조 표준물질을 이용한 이미지 배율 보정 방법




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