주사전자현미경을 교정하는 방법

모두 46항목의 주사전자현미경을 교정하는 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경을 교정하는 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 길이 및 각도 측정, 전자 디스플레이 장치, 건축 자재, 철강 제품, 공기질, 광학 및 광학 측정, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 분석 화학.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 주사전자현미경을 교정하는 방법

JJF 1916-2021 주사전자현미경 교정 사양

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경을 교정하는 방법

ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM B748-90(2001) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 표준시험방법
ASTM F1372-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM F1372-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경을 교정하는 방법

DB31/T 297-2003 주사전자현미경 배율 교정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경을 교정하는 방법

KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드

International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경을 교정하는 방법

ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 13083:2015 표면 화학 분석 주사형 프로브 현미경 2D 도핑 이미징과 같은 응용 분야를 위한 SSRM 및 SCM과 같은 주사형 전자 프로브 현미경(ESPM)의 공간 분해능 및 교정 표준 정의

Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경을 교정하는 방법

NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경을 교정하는 방법

BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
BS ISO 13083:2015 표면 화학 분석 주사형 프로브 현미경 2D 도핑 이미징과 같은 응용 분야를 위한 SSRM 및 SCM과 같은 주사형 전자 프로브 현미경(ESPM)의 공간 분해능 및 교정 표준 정의

KR-KS, 주사전자현미경을 교정하는 방법

KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주사전자현미경을 교정하는 방법

JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

RU-GOST R, 주사전자현미경을 교정하는 방법

GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
GOST R 8.635-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 탐침 현미경, 교정 방법

German Institute for Standardization, 주사전자현미경을 교정하는 방법

DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법